JPS61140877A - デ−タ発生器 - Google Patents

デ−タ発生器

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Publication number
JPS61140877A
JPS61140877A JP59263039A JP26303984A JPS61140877A JP S61140877 A JPS61140877 A JP S61140877A JP 59263039 A JP59263039 A JP 59263039A JP 26303984 A JP26303984 A JP 26303984A JP S61140877 A JPS61140877 A JP S61140877A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
speed
signal
speed mode
low
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP59263039A
Other languages
English (en)
Inventor
Mitsuaki Kagawa
香川 光明
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Anritsu Corp
Original Assignee
Anritsu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Anritsu Corp filed Critical Anritsu Corp
Priority to JP59263039A priority Critical patent/JPS61140877A/ja
Publication of JPS61140877A publication Critical patent/JPS61140877A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/319Tester hardware, i.e. output processing circuits
    • G01R31/31917Stimuli generation or application of test patterns to the device under test [DUT]

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、データ発生器、特に設定された任意のパター
ン信号に対してN倍速のディジタルデータが得られるデ
ータ発生器に関するものである。
(従来の技術) 従来、試験用のデータ発生器またはAデータ発生器とし
ては、ユーザが任意にデータを設定できるプログラマゾ
ルなデータ発生器と2N−1のビット長(Nはシフトレ
ジスタの段数)を持つ擬似ランダムパターン発生器とが
あり、両者ともPOM分野の測定用信号源として欠かせ
ないものになっている。
最近、高速RA M 、 GgAs論理ICおよびPO
Mのギガピット7秒化等の実験等が盛んに行われており
、超高速のデータ発生器(前記プログラマブルなデータ
発生器、擬似ランダムパターン発生器)が必要不可欠と
なってきている。
しかしながら、超高速のデータ発生器を作るには、より
高速な論理工01すなわち回路規模が小さく高価なIO
を沢山使用することが必要となり、測定器として高価な
ものになる欠点がある。そこでより安く作るための手法
として、低速のデータ発生器と高速の速度変換器とを組
み合せて作る方法が要望されている。
第4図は従来の擬似ランダムパターン発生器の構成例で
あり、51はP N (Pseudo−random 
No1se)発生器でろってN段のシフトし〆ジスタで
構成されており、該シフトレジスタのN段目の出力と、
あらかじめ定められた段の出力とを排他的論理和回路5
2を介して初段のシフトレジスタへ入力することにより
、当該PN発生器51il″l:入力するクロックに応
じた2N−1ビツト周期の擬似ランダム信号(PN符号
のデータ1)を発生する。このデータ1を2N−1ビツ
トだけ遅延させる遅延回路53を介して得られるデータ
2とを、PN発生器51に入力されているクロックの1
/2周期でスイッチングするスイッチ回路54に入力す
ることにより、データ1とデータ2とがクロックの1/
2周期ごとに交互に切換えられ、多重化された形となり
、スイッチ回路54の出力は周期がスイッチングする前
の信号の1/2で、データストリーム(データの配列)
の全く同じものが得られるようになっている。なお55
はN逓倍回路である。
(発明が解決しようとする問題点) ところでこの方式は擬似ランダム信号の周期法則性を利
用してデータの高速化をはかるものであり、任意のパタ
ーン信号には適用できず、擬似ランダム信号に限定され
てしまう欠点があった。
本発明は、上記の欠点を解決することを目的としており
、低速の任意の所望のノミターン信号から同一の速度及
び高速の同一のパターン信号を発生させるデータ発生器
を提供することを目的としている。
(問題を解決するための手段) そのため本発明のデータ発生器は、高速のモード及び低
速のモードのディジタルデータを発生するデータ発生器
であって、所望のパターンを有するディジタルデータを
入力する入力手段と;高速及び低速のモードを切換える
モード切換え手段と、高速のモードを指定したときは該
入力されたデータを振り分けて順次格納し、低速のモー
ドを指定したときは該入力されたデータを並列に順次格
納する複数Nの記憶手段と、前記記憶手段に格納された
データを順次読み出し元のデータ順に配列して順次送り
出す読出し送出手段とを備え、高速のモードを指定した
ときは低速のN倍の速度でディジタルデータを発生する
ようにしたことを特徴としている。以下図面を参照しな
がら本発明の一実施例を説明する。
(実施例) 第1図は本発明に係るデータ発生器の一実施例構成、第
2図、第3図は速度変換の処理の仕方を説明するための
説明図である。
第1図において、データ入力手段1には任意に可変でき
るパターンのディジタル信号を出方している。例えば、
パネルスイッチ、ROM、およびGP−I B 、R8
−2320等にょクデータのパターン情報を任意に出力
させることができる。このデータ入力手段1からデータ
書込み手段2に対しそのデータ長およびデータ長の各ビ
ットに対しそれぞれ論理「0」または「1」のデータ情
報が出方されている。データ書込み手段2はモード切換
え手段3から入力される多重化するか否かのモード切換
え信号を受け、該モード切換え信号に応じてデータ入力
手段1から送られてくるパターンのディジタル信号を誉
き込み易い配列に編集した上でRAM4 、RAM5に
書き込む。モード切換え手段3からのモード切換え信号
が多重化しない低速のモードの信号をモード切換え手段
3が出力しているとき、RAM4 、RAM5には同一
のパターンのデータが格納される。今、データ入力手段
1から出力されるデータが、例えばA、B、O,・・・
、Hの順のデータ配列であったとすれば、RAM4.R
AM5には第2図(I)に示されているような状態で各
データが格納される。モード切換え手段3からのモード
切換え信号が多重化する高速のモードの信号をモード切
換え手段3が出力していると@、RAM4゜RAM5に
はデータ入力手段1から出力されるパターンのデータが
交互にそれぞれ格納される。前記説明例の如く、データ
入力手段1から出力されるデータ配列がA、B、O,・
・・、Hの順であるとき、第3図(I)に示されるより
に、)LAM4 にはA、0.E、G。
・・・の1つおきのパターンのデータが格納され、RA
M5にはB、D、F、H,・・・の1つおきのノミター
ンのデータが格納される。
データ読出し手段6にはクロック信号とデータ入力手段
1からのデータ長情報とが加えられている。このデータ
読出し手段6は2例えばプログ2マブルカウンタ等で構
成されており、データ入力手段1から入力されるデータ
長情報がNの場合にはN進カウンタとして動作する。こ
のデータ読出し手段6はクロック信号が1個入力するご
とに。
例えば+1変化するアトし・スカウンタとなっており、
RAM4.RAM5をアクセスする際のアトしIスを発
生させる。なおRAM4.RAM5に対スる読み出しの
アクセスはクロック信号に同期して同時(並列)に行わ
れるが、書き込みの場合はシリアルに行われる。
読み出し送出手段7はモード切換え手段3からのモード
切換え信号に応じて該読み出し送出手段7に入力される
1個のクロック信号に対し1回貰たは2回のスイッチン
グ切換を行う切換回路である。
ここでモード切換え手段3が低速のモードの多重化しな
いモード切換え信号を出力している場合。
RAM4.RAM5には前記で説明した様に、第2図(
I)の如く同一のデータが格納されているので。
同図叩に示されている如(RAM4から読み出されたデ
ータ列のデータ1とRAM5から読み出されたデータ列
のデータ2とは全く同じものとなっている。−万読み出
し送出手段7は、入力する1個のクロック信号に対し1
回のスイッチング切換を行うので、当該読み出し送出手
段7に入力するクロック信号ごとに’fLAM4とRA
M5との出力データを交互に出力することになる。すな
わちA、B、0.・・・。
Hの)ぞターンのデータが発生する。
モード切換え手段3が高速のモードの多重化するモード
切換え信号を出力している場合、 RA M 4゜RA
M5には第3図(11の如く格納されている。従ってR
AM4から読み出されたデータ列は同図(II)のデー
タ1に示された配列となり、RAM5から読み出された
データ列は同図(II)のデータ2に示された配列とな
る。−万読み出し送出手段711″1′、入力する1個
のクロック信号に対し2回のスイッチング切換を行うの
で、最初にRAM4側から切換が開始されるようにして
おけば、RAM4から読み出されたデータrAJを出力
した後几AM5がら読み出されたデータrJを出力する
。次のクロック信号によりRAM4からはrOJが読み
出□、されており、またRAM5からは「DJが読み出
されているので、読み出し送出手段7はデータ「0」、
「D」を順に出力する。
このように読み出し送出手段7はRAM4とRAM5と
にそれぞれ読み出δれるデータ1及びデータ2を交互に
切換えて第3図(II)に示されたデータ1とデータ2
とを多重化する。従ってデータ入力手段1から出力され
たA、B、O,・・・、Hのデータ配列と同等のデータ
配列でSかつクロック信号の2倍の符号速度となったデ
ータ列が読み出し送出手段7から出力される。
以上の説明はデータ入力手段1〃さら出力するデータを
2倍に速度変換する場合を例に挙げ説明したが%N倍の
符号速度変換を行うこともできる。
この場合は第1図の記憶装置をN個用意し、読み出し送
出手段7を到来する1個のクロック信号に対し8回スイ
ッチング切換するようにしておく。
を次モード切換え手段3から出力信号として低速及び高
速のモードの他に他のモードを実行させる信号を出力す
るようにしておけば、RAM4およびRAM5から読み
出されたデータ列1およびデータ列2について、互いに
ある一定のクロック個数分の位相差を有するデータ列に
したりすることもでき、データの配列を容易に変更する
ことも可能となる。
(発明の効果) 以上説明した如く、本発明によれば、クロック信号速度
と同速のみならずN倍速の同じデータ列の2種類の信号
が容易に発生でき、読み出し送出手段を除いた部分が低
速のIOで構成できるので、安価となる。ま次、高速の
モードの場合でろって。
例えばN=2とした場合、り四ツク信号速度と同速の2
系統の信号(データ1.データ2)の出力レベルを、イ
ンターフェイスの異なるレベルに設定できる。従ってよ
り汎用性が増すとともに、2系統の出力位相差を変える
ことも容易にできる。
例えば4PSKfiどディジタル無線変調用の試験信号
としても使用できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係るデータ発生器の一実施例構成、第
2図、第3図は速度変換の処理の仕方を説明するための
説明図、第4図は従来の擬似ランダムパターン発生器の
構成例である。 図中、1はデータ入力手段、2はデータ書込み手段、3
はモード切換え手段、4,5にRAM 。 6はデータ読み出し手段、7は読み出し送出手段。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 高速のモード及び低速のモードのディジタルデータを発
    生するデータ発生器であつて:所望のパターンを有する
    ディジタルデータを入力する入力手段と;高速及び低速
    のモードを切換えるモード切換え手段と;高速のモード
    を指定したときは該入力されたデータを振り分けて順次
    格納し、低速のモードを指定したときは該入力されたデ
    ータを並列に順次格納する複数(N)の記憶手段と;前
    記記憶手段に格納されたデータを順次読み出し元のデー
    タ順に配列して順次送り出す読出し送出手段とを備え、
    高速のモードを指定したときは低速のモードのN倍の速
    度でディジタルデータを発生するようにしたことを特徴
    とするデータ発生器。
JP59263039A 1984-12-14 1984-12-14 デ−タ発生器 Pending JPS61140877A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59263039A JPS61140877A (ja) 1984-12-14 1984-12-14 デ−タ発生器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59263039A JPS61140877A (ja) 1984-12-14 1984-12-14 デ−タ発生器

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS61140877A true JPS61140877A (ja) 1986-06-27

Family

ID=17384017

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP59263039A Pending JPS61140877A (ja) 1984-12-14 1984-12-14 デ−タ発生器

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JP (1) JPS61140877A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003505697A (ja) * 1999-07-23 2003-02-12 テラダイン・インコーポレーテッド 高精度マルチモデル半導体検査のための低コストタイミングシステム

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003505697A (ja) * 1999-07-23 2003-02-12 テラダイン・インコーポレーテッド 高精度マルチモデル半導体検査のための低コストタイミングシステム

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