JPS61134929A - 記録再生回路のチエツク方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、記録媒体上に光ビームを照射して熱的な反応
によりデータを記録する時、前記記録データの記録状況
をチェックする記録再生回路のチェック回路に係り、特
に前記記録再生回路のチェック回路の能動状態を検出す
る記録再生回路のチェック方法に関する。

情報処理装置の大容量の外部記憶装置として期待されて
いる光学的手法によるデータ記憶装置は。

記録媒体１例えば光デイスク媒体に光ビームを照射して
、熱的反応によりデータを記録し、再生する装置であり
、再生専用型光デイスク装置、追記型光デイスク装置、
書換え型光ディスク装置等が開発されている。

特に情報処理装置の大容量の外部記憶装置としては、書
換え型光ディスク装置が一番望ましい方式であるが１現
在はまだ実用化について研究開発中であり、追記型光デ
イスク装置が主力となっている。

上記追記型光デイスク装置は、ダイレクトリードアフタ
ライト（以下ＤＲＡＷと称する）方式と呼ばれており、
データを記録したら現像処理なしに直ぐ再生できること
が必要条件となっている。

又この方式は書込まれたデータの記録状態をチェックす
る手段としても利用される。即ち、第３図（１）に示す
ような書込みデータを光学ヘッドを経由して光ビームを
記録媒体に照射し、その反射光により第３図（２）のよ
うなモニタ信号が得られ、このモニタ信号を利用して書
込みが正常に動作しているかどうかを確認する。

このような確認手段は、データエラー率の高い追記型光
デイスク装置では、実用的な高信頼度のデータを取扱う
上で重要な機能であり、かかる確認手段が常に能動状態
にあるかどうかを簡易な方法で確認出来る方法が実用化
されることが期待されている。

〔従来の技術と発明が解決しようとする問題点〕第４図
は従来の記録再生回路のチェック方法を示すブロックダ
イヤグラム、第５図は第４図に示すブロックダイヤグラ
ムのタイムチャートをそれぞれ示す。

尚木説明は、追記型光デイスク装置を例に取り説明する
。

追記型光ディスク（図示してない）は平面基板の他に１
表面にあらかじめ情報記録のための案内？ｎ　（プリグ
ループ）を有するディスクを用いることが多い。本説明
例も案内溝（プリグループ）を有する追記型光ディスク
（図示してない）を前提とする。

尚前記案内溝（プリグループ）は、トランク。

セクタ番地情報等のヘッダ情報が予め定められた深さの
凹凸穴（ピント）として記録され、データ記録領域も同
様に定められた深さの連続溝として記録されているもの
とする。

このような光ディスク（図示してない）の所定位置にデ
ータを書込む場合、まず前記へノダ情報を読取るために
所定光量の光ビームを案内溝（プリグループ）に照射し
て前記ヘッダ情報を読取り。

所定セクタ番地を確認した時点で書込みデータ■を書込
み回路１経由光学系へフド２に送出し、光ディスク（図
示してない）上に書込む。

尚書込みデータ■を書込む場合に、光ディスク（図示し
てない）上に照射する光ビームの光量は。

ヘッダ情報を読取るために照射する光ビームの光量より
数倍高く、従って増幅部４の出力レベルは数倍高いレベ
ルが出力される。

第５図に示すような波形の書込みデータ■の反射光、即
ち書込みデータ■が正常状態で書込まれているどうかを
モニタするモニタ信号は、光検出回路３で検出され、増
幅部４で所定レベルに増幅され、第５図に示すような波
形の増幅部４の出力レベル■がコンパレータ６．７に送
出される。

コンパレータ６．７にはスライスレベル出力部。

５からスライスレベル（ａｌ、　（ｂｌがそれぞれ送出
されており、増幅部４の出力レベル■がスライスレベル
（ａ）、　（ｂ）と比較し、スライスレベル（ａ）、　
（ｂｌをオーバしたレベル部分がスライスされ、その出
力■。

■が第５図に示すような波形でそれぞれ論理積回路９，
１０に送出される。

論理積回路９．１０は、タイミング発生部８から出力さ
れるタイミング信号■、■とコンパレータ６．７のそれ
ぞれの出力■、■とを論理積計算し。

条件が一敗した時、論理和回路１１へ所定信号■を出力
する。

通常、正常な書込みが行われる場合は増幅部４の出力レ
ベル■の波形が位置（イ）、（ロ）、（ホ）〜（ト）に
示すように光ビームを照射した瞬間レベルが高く、その
後少し低下する形状を持ち。

しかもスライスレベルｔａ＋はオーバし、スライスレベ
ル（ｂｌよす高いレベルとなっている。尚レベル（Ｃ１
はグランドレベルを示す。

一方、波形位置（ハ）はスライスレベル（ａ）をオーバ
せず、波形位置（ニ）はスライスレベル（ｂｌをオーバ
した形状を示している。即ち、波形位置（ハ）、（ニ）
共に、光ビームを光デイスク媒体（図示してない）に照
射しても、その反射光量からなるモニタ値が規定値（ス
ライスレベル（ａｌ　、　（ｂｌ　）よりも低い状態を
示している。

この場合、論理積回路９．１０は書込み時の異常（エラ
ー等が発生）として論理和回路１１へ所定信号■を出力
するように論理積計算をする。尚波形位置（ハ）、（ニ
）の点線は正常時の波形を示す。

又波形位置（ニ）の場合１通常は読取り時のパワーと同
じ量の光ビームで照射を行っており、その正常レベルは
点線で示すレベルである。

上記のように、常に正常書込みが行われているかをモニ
タして、書込みデータ■の品質の維持を図っている。し
かし、光デイスク媒体（図示してない）の品質等が向上
して来るに伴い、上述の記録再生回路のチェック回路を
常に能動状態とすることがなくなりつつある。

かかる状態にある記録再生回路のチェック回路が万一障
害となっていても、書込みが正常で機能しないのか障害
により機能しないのか判別することが出来ないと言う問
題点がある。

〔問題点を解決するための手段〕

本発明は、上記問題点を解消した新規な記録再生回路の
チェック方法を実現することを目的とするものであり、
該問題点は、スライスレベルを可変するスライスレベル
可変手段と、前記チェック回路の能動状態を検出する機
能チェック手段とを設け、該データ記録動作時、該目標
位置に位置付けするためのデータ読取りレベルに対応し
たスライスレベルを設定し、該スライスレベルにて前記
チェック回路の能動状態をチェックする本発明による記
録再生回路のチェック方法により解決される。

〔作用〕

即ち、光デイスク媒体上の位置付は時に読取る案内溝（
プリグループ）エリアの信号を検出するエリア検出器を
設け、前記エリア検出器の出力信号をスライスレベル発
生部に送出する。

スライスレベル発生部はこの出力信号によりスライスレ
ベルを規定値より下げるか、又は増幅部の増幅率を上げ
て案内溝（プリグループ）エリアの読取りデータでコン
パレータが起動するレベルにし４て記録再生回路のチェ
ック回路の能動状態をデータ書込み時必ずチェックする
ようにする。

〔実施例〕

以下本発明の要旨を第１図、第２図に示す実施例により
具体的に説明する。

第１図は本発明に係る記録再生回路のチェック方法の一
実施例を示すブロックダイヤグラム、第２図は本発明に
係る記録再生回路のチェック方法のタイムチャート図を
それぞれ示す。尚全図を通じて同一符号は同一対象物を
示す。

本実施例は光デイスク媒体（図示してない）への書込み
データ■を記録する場合、所定位置への位置付けに案内
溝（プリグループ）を読取る期間（１）を利用して記録
再生回路のチェック回路の能動状態を事前にチェックす
る方法である。

即ち、案内溝（プリグループ）を読取る期間＋１１をエ
リア検出器１２が検出すると、エリア検出器１２は期間
（１）中その出力［相］をオンし、スライスレベル発生
部１３に出力する。スライスレベル発生部１３は出力［
相］を受けるとスライスレベル（ａｌ、　（ｂｌを第２
図に示すように縮小しコンパレータ６．７にそれぞれ送
出する。

尚案内溝（プリグループ）の読取りレベルは書込みデー
タ■のモニタ値よりも数分の１であり。

従ってスライスレベル（ａ）、　（ｂｌを縮小した状態
でコンパレータ６．７の能動状態をチェ・７りする。又
スライスレベルｆｂ）は案内溝（プリグループ）の読取
りレベルが常にスライスレベル（ｂｌをオーバするよう
に設定する。

尚本実施例の他に出力［相］を受けるとスライスレベル
発生部１３は増幅器４の増幅率アップを指示（点線で示
す）シ、書込みデータ■のモニタ値と同一レベルで案内
溝（プリグループ）の読取りデータをコンパレータ６．
７に出力し、コンパレータ６．７の能動状態をチェック
する方法も実施可能である。

次に、コンパレータ６の出力はインバータ１４を経由し
てラッチ回路１５へ、コンパレータ７の出力はラッチ回
路１６へ送出され、出力［相］によりラッチされ、ラッ
チされた信号＠、０が論理積回路１７に送出される。

論理積回路１７はラッチ回路１５．１６の出力信号＠。

■を受け、その論理積条件を取り、−敗した゛場合所定
信号■を出力する。この所定信号■は記録再生回路が正
常な能動状態にあることを示す信号となる。

（発明の効果〕 以上のような本発明によれば、記録再生回路の異常状態
発生を即時に検出することが可能なチェック方法を提供
出来ると言う効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係る記録再生回路のチェック方法の一
実施例を示すブロックダイヤグラム。 第２図は本発明に係る記録再生回路のチェック方法のタ
イムチャート図。 第３図は正常な書込みデータ波形とモニタ信号波形。 第４図は従来の記録再生回路のチェック方法を示すブロ
ックダイヤグラム。 第５図は第４図に示すブロックダイヤグラムのタイムチ
ャート図。 をそれぞれ示す。 図において。 ｌは書込み回路、　　　　２は光学系ヘッド。 ３は光検出器、　　　　　４は増幅器。 ５．１３はスライスレベル発生ｇＢ　＋６．７はコンパ
レータ、８はタイミング発生部。 ９、１０．１７は論理積回路。 １１は論理和回路、１２はエリア検出器。 １４はインバータ、　　　　　１５．１６はラッチ回路
。 をそれぞれ示す。 ￥−２唄 ■　　　−７ ￥−３呵

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 記録媒体に光ビームを照射して熱的な反応によりデータ
   を記録するために、前記記録媒体上に所定光量を照射し
   て所定データを読取り目標位置に位置付けし、その後該
   データを記録すると共に該データ記録時の光ビームの反
   射量によりモニタし、前記モニタ信号状態を設定された
   所定スライスレベルにてチェックするチェック回路を備
   えてなる記録再生回路において、前記スライスレベルを
   可変するスライスレベル可変手段と、前記チェック回路
   の能動状態を検出する機能チェック手段とを設け、該デ
   ータ記録動作時、該目標位置に位置付けするためのデー
   タ読取りレベルに対応したスライスレベルを設定し、該
   スライスレベルにて前記チェック回路の能動状態をチェ
   ックすることを特徴とする記録再生回路のチェック方法
   。