JPS6113462A - 光磁気ヘツド - Google Patents
光磁気ヘツドInfo
- Publication number
- JPS6113462A JPS6113462A JP59133162A JP13316284A JPS6113462A JP S6113462 A JPS6113462 A JP S6113462A JP 59133162 A JP59133162 A JP 59133162A JP 13316284 A JP13316284 A JP 13316284A JP S6113462 A JPS6113462 A JP S6113462A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lens
- ratio
- polarization
- angle
- plane
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B11/00—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor
- G11B11/10—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field
- G11B11/105—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing
- G11B11/10532—Heads
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
C発明の利用分野〕
本発明は、光磁気情報記録装置の光磁気ヘッドに係り、
特に、微小偏光回転を高感度に検出して、高SNの再生
を可能とする光磁気ヘッドに関する。
特に、微小偏光回転を高感度に検出して、高SNの再生
を可能とする光磁気ヘッドに関する。
書き換え可能な光学的情報記録装置として、光磁気ディ
スクが知られている。この種の装置としては例えばN、
I+wamura and C,Ota ; Jap
an J。
スクが知られている。この種の装置としては例えばN、
I+wamura and C,Ota ; Jap
an J。
Appl、 Phys、 19 (1980) L73
1に記載されているものが挙げられる。情報の記録、消
去は、光照射による熱磁気記録であるので、容易に実現
できる。
1に記載されているものが挙げられる。情報の記録、消
去は、光照射による熱磁気記録であるので、容易に実現
できる。
しかし、情報の再生は、磁化による偏光面の1度以下の
回転を検出して行なうので、信号光量が僅かしか得られ
ず、S/N比が/hさいという問題があった。
回転を検出して行なうので、信号光量が僅かしか得られ
ず、S/N比が/hさいという問題があった。
本発明の目的は、高S/N比の再生を可能とする光磁気
ヘッドを提供することにある。
ヘッドを提供することにある。
光磁気情報記録再生装置では、僅かな偏光面回転を、高
感度検出するためには消光比の高い光学ヘッドにしなけ
ればならない。本発明は、光磁気記録媒体上に、レーザ
光を絞り込むレンズの光学的異方性と光学ヘッドの消光
比との関係に着目し、レンズの光学的異方性の主軸を該
レンズに入射するレーザ光ビームの直線偏光面に一致さ
せることにより、消光比を高めたことを特徴とする。
感度検出するためには消光比の高い光学ヘッドにしなけ
ればならない。本発明は、光磁気記録媒体上に、レーザ
光を絞り込むレンズの光学的異方性と光学ヘッドの消光
比との関係に着目し、レンズの光学的異方性の主軸を該
レンズに入射するレーザ光ビームの直線偏光面に一致さ
せることにより、消光比を高めたことを特徴とする。
以下、本発明の一実施例を、第1図により説明する。第
1図は、光磁気ディスク用の光磁気ヘッドの構成を示し
た図である。半導体レーザ1から出射された光ビームは
、コリメートレンズ2によって平行ビームにされ、三角
プリズム3によって断面の光強度分布が円形に変換され
る。ビームスプリッタ−4を通過後、絞り込みレンズ5
によって、記録膜(垂直磁化膜)がついたディスク6上
に回折限界の光スポットとして絞り込まれる。電磁コイ
ル7は、記録・消去用の磁場を与えるものである。情報
の再生は、反射光のカー回転を検出することによる。デ
ィスク6からの反射光は、絞り込みレンズ5を再び通過
した後、ビームスプリッタ−4でけり出され、さらにビ
ームスプリッタ−8でけり出されてから、検光子9を通
過して、ミラーで反射され、レンズを介して光検出器1
0に導かれ、磁化情報とヘッダー信号とが検出される。
1図は、光磁気ディスク用の光磁気ヘッドの構成を示し
た図である。半導体レーザ1から出射された光ビームは
、コリメートレンズ2によって平行ビームにされ、三角
プリズム3によって断面の光強度分布が円形に変換され
る。ビームスプリッタ−4を通過後、絞り込みレンズ5
によって、記録膜(垂直磁化膜)がついたディスク6上
に回折限界の光スポットとして絞り込まれる。電磁コイ
ル7は、記録・消去用の磁場を与えるものである。情報
の再生は、反射光のカー回転を検出することによる。デ
ィスク6からの反射光は、絞り込みレンズ5を再び通過
した後、ビームスプリッタ−4でけり出され、さらにビ
ームスプリッタ−8でけり出されてから、検光子9を通
過して、ミラーで反射され、レンズを介して光検出器1
0に導かれ、磁化情報とヘッダー信号とが検出される。
ビームスプリッタ−8を通過した光は、自動焦点や、ト
ラッキング制御用の制御信号検出光学系11に導かれる
0例えば、ビームスプリッタ−8を通過した光は、ビー
ムスプリッタ−で2分され、一方は球面レンズを介して
トラックずれ検出の2分割光検出器へ、他方は、球面レ
ンズと円柱レンズから非点収差光学系を通し、ナイフェ
ツジで一部遮へいされ、焦点ずれ検出の光検出器へ導か
れる。トラックずれ検出法や焦点ずれ検出法は既にいく
つもの方法が知られており、いずれの方法も本発明の光
磁気ヘッドに適用できる。
ラッキング制御用の制御信号検出光学系11に導かれる
0例えば、ビームスプリッタ−8を通過した光は、ビー
ムスプリッタ−で2分され、一方は球面レンズを介して
トラックずれ検出の2分割光検出器へ、他方は、球面レ
ンズと円柱レンズから非点収差光学系を通し、ナイフェ
ツジで一部遮へいされ、焦点ずれ検出の光検出器へ導か
れる。トラックずれ検出法や焦点ずれ検出法は既にいく
つもの方法が知られており、いずれの方法も本発明の光
磁気ヘッドに適用できる。
かかる光磁気ヘッドによって磁化情報が検出され名原理
を説明する。第2図は、第1図の主要部分を、抜き出し
たもので、プリズム3を通過した照射レーザ光は、紙面
内に偏光したP偏光であるとする。ディスクに設けられ
た垂直磁化膜6−1からの反射光の偏光面は、カー効果
によってカー回転角θ1だけ回転し、紙面に垂直な偏光
成分。
を説明する。第2図は、第1図の主要部分を、抜き出し
たもので、プリズム3を通過した照射レーザ光は、紙面
内に偏光したP偏光であるとする。ディスクに設けられ
た垂直磁化膜6−1からの反射光の偏光面は、カー効果
によってカー回転角θ1だけ回転し、紙面に垂直な偏光
成分。
S偏光を含むことになる。磁化の上下向きに従って、左
右逆向きにカー回転するので、検光子9を通過すると、
光強度の変化として検出される。
右逆向きにカー回転するので、検光子9を通過すると、
光強度の変化として検出される。
第3図は、検光子によって、偏光面の回転が、光強度の
大小に変換されることを説明するための図である。検光
子の消光位置からの回転角をθ。
大小に変換されることを説明するための図である。検光
子の消光位置からの回転角をθ。
とすると、検光子通過光量は、検光子通過軸への電気ベ
クトルの射影分(振幅)の自乗で与えられるので、十〇
1.−01左右逆向きにカー回転した光の差、すなわち
信号光量は、次式で与えられる。
クトルの射影分(振幅)の自乗で与えられるので、十〇
1.−01左右逆向きにカー回転した光の差、すなわち
信号光量は、次式で与えられる。
5ocsun”(θ、十〇、) −5in” (θ
、−〇、)=sin(2θA)・5in(20k)=A
C(1)一方、雑音は、検光子通過後のDC光量に比例
するディスク媒体雑音や、レーザ光強度ゆらぎに支配さ
れていると著えると、 N ac sin”θ1+(消光比)−1=DC(2)
ここで(消光比)−1とは、θ、;0の消光状態におい
ても、検光子をもれて出てくる光の成分のθ、=90°
の場合の光量に対する比のことである。
、−〇、)=sin(2θA)・5in(20k)=A
C(1)一方、雑音は、検光子通過後のDC光量に比例
するディスク媒体雑音や、レーザ光強度ゆらぎに支配さ
れていると著えると、 N ac sin”θ1+(消光比)−1=DC(2)
ここで(消光比)−1とは、θ、;0の消光状態におい
ても、検光子をもれて出てくる光の成分のθ、=90°
の場合の光量に対する比のことである。
第4図は、式(1)、(2)を、θ、を横軸にして描い
たものである。S/Nを最大にするθ1は、AC/DC
すなわちコントラストを最大にするθ1であり、式(1
)、(2)から の条件から(3)を極大にするθ、を求めると8、 =
sin−1(melt) −’ (4)となる。
たものである。S/Nを最大にするθ1は、AC/DC
すなわちコントラストを最大にするθ1であり、式(1
)、(2)から の条件から(3)を極大にするθ、を求めると8、 =
sin−1(melt) −’ (4)となる。
第5図は、S、Nを対数表示した場合のθ、依存性を示
したものである。消光比の異なる2つの場合が示されて
おり、消光比が大きく、(消光比)−1が小さくなると
、S/Nが良くなる、最大のS/Nを与えるθえが小さ
くなることがわかる。
したものである。消光比の異なる2つの場合が示されて
おり、消光比が大きく、(消光比)−1が小さくなると
、S/Nが良くなる、最大のS/Nを与えるθえが小さ
くなることがわかる。
以上説明したように、光磁気ヘッドの消光比はS/Nを
決定する大きな要因である。消光比を良くすることがS
/Nの改善につながる。次に、絞り込みレンズの光学異
方性が消光比を決めていることを実験データを基に説明
する。
決定する大きな要因である。消光比を良くすることがS
/Nの改善につながる。次に、絞り込みレンズの光学異
方性が消光比を決めていることを実験データを基に説明
する。
第6図は、図中の測定系で消光特性を評価したデータで
あり、横軸はθ1.縦軸は、検光子通過光電工を、θ、
=90″′の場合の光量工。で割つた値である。レンズ
なしの場合は、θ、冒0でI/工。は最小になる。レン
ズを挿入すると、I/I0の最小値は大きくなり、かつ
、その最小値を与えるθあはOではなくなる。また、レ
ンズを光軸まわりに回転すると、消光特性が変化する。
あり、横軸はθ1.縦軸は、検光子通過光電工を、θ、
=90″′の場合の光量工。で割つた値である。レンズ
なしの場合は、θ、冒0でI/工。は最小になる。レン
ズを挿入すると、I/I0の最小値は大きくなり、かつ
、その最小値を与えるθあはOではなくなる。また、レ
ンズを光軸まわりに回転すると、消光特性が変化する。
このように、レンズを挿入すると、消光特性は悪くなり
、その程度は、レンズの出来具合やレンズの光軸まわり
の回転位置に支配されている。第6図には、2つの異な
るレンズについて測定した結果を示しである。
、その程度は、レンズの出来具合やレンズの光軸まわり
の回転位置に支配されている。第6図には、2つの異な
るレンズについて測定した結果を示しである。
第7図はあるレンズについてレンズの光軸まわりの回転
角を横軸に、(消光比)−1を縦軸にプロットしたもの
である。レンズの回転によって消光比が変化することが
わかる。
角を横軸に、(消光比)−1を縦軸にプロットしたもの
である。レンズの回転によって消光比が変化することが
わかる。
レンズ通過後の光の偏光状態を調べて見ると、直線偏光
ではなくなり、主軸が回転した楕円偏光になっている。
ではなくなり、主軸が回転した楕円偏光になっている。
これは、レンズが位相板の役目をしていることになり、
レンズは、円対称ではなく光学的異方性を有しているこ
とを示す。レンズの異方性の原因としては、ガラス母材
の歪や、レンズ組み合わせ時の軸ズレ等が考えられる。
レンズは、円対称ではなく光学的異方性を有しているこ
とを示す。レンズの異方性の原因としては、ガラス母材
の歪や、レンズ組み合わせ時の軸ズレ等が考えられる。
第7図で、消光比はレンズ回転角の180°周期で変化
している。(消光比)−1が最小になる角度では、レン
ズの異方性の軸と入射レーザ光の直線偏光面とが一致し
ている。その角度から約45@ずれたレンズ回転角に設
定するとレンズの異方性を最も大きく感じて(消光比)
−1が大きくなってしまう、光磁気ヘッドに絞り込みレ
ンズを組み込む時に(消光比)−1が最小値を与えるよ
うにすることが、本発明の要点である。こうすることに
よって、S/N良い情報再生ができる。
している。(消光比)−1が最小になる角度では、レン
ズの異方性の軸と入射レーザ光の直線偏光面とが一致し
ている。その角度から約45@ずれたレンズ回転角に設
定するとレンズの異方性を最も大きく感じて(消光比)
−1が大きくなってしまう、光磁気ヘッドに絞り込みレ
ンズを組み込む時に(消光比)−1が最小値を与えるよ
うにすることが、本発明の要点である。こうすることに
よって、S/N良い情報再生ができる。
なお、コリメータレンズ2の光学異方性は厳しい仕様を
要求する必要はない。その理由はビームスプリッタ−4
で、S偏光はほぼ100%反射され、P偏光のみが50
%前後前後するので、ビームスプリッタ−4を通過する
ことで、直線偏光のP偏光対S偏光比が向上するからで
ある。
要求する必要はない。その理由はビームスプリッタ−4
で、S偏光はほぼ100%反射され、P偏光のみが50
%前後前後するので、ビームスプリッタ−4を通過する
ことで、直線偏光のP偏光対S偏光比が向上するからで
ある。
本発明によれば、絞り込みレンズの回転調整によって、
光磁気ヘッドの消光比を改善でき、もって、S/Nを向
上させる効果がある。
光磁気ヘッドの消光比を改善でき、もって、S/Nを向
上させる効果がある。
第1図は本発明の一実施例である光磁気ヘッドの構成図
、第2図乃至第5図は磁気光学再生の原理、消光比とS
/Nとの関係を説明する図、第6図及び第7図は絞り込
みレンズと、消光比との関係を説明するための図である
。 1・・・半導体レーザ、4・・・ビームスプリッタ、5
・・・絞り込みレンズ、6・・・記録媒体、9・・・検
光子、vJl 図 第 2 図 6−1重J【確イヒ月要。 第 3112111 一θに十〇、 y14 図 Sinθ4=j(う狂拘−1
、第2図乃至第5図は磁気光学再生の原理、消光比とS
/Nとの関係を説明する図、第6図及び第7図は絞り込
みレンズと、消光比との関係を説明するための図である
。 1・・・半導体レーザ、4・・・ビームスプリッタ、5
・・・絞り込みレンズ、6・・・記録媒体、9・・・検
光子、vJl 図 第 2 図 6−1重J【確イヒ月要。 第 3112111 一θに十〇、 y14 図 Sinθ4=j(う狂拘−1
Claims (1)
- 1、レーザ光源と、該レーザ光源からのレーザ光ビーム
を垂直磁化膜を有する情報記録媒体に絞り込むレンズと
、該記録媒体からのレーザ光ビームを検光子を介して検
出する検出系とからなり、該レンズの光学的異方性の主
軸を、該レンズに入射するレーザ光ビームの直線偏光面
に一致させたことを特徴とする光磁気ヘッド。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59133162A JPS6113462A (ja) | 1984-06-29 | 1984-06-29 | 光磁気ヘツド |
KR1019850004501A KR920007294B1 (ko) | 1984-06-29 | 1985-06-25 | 광자기 정보 기록장치의 광헤드 |
DE8585108077T DE3582366D1 (de) | 1984-06-29 | 1985-06-28 | Optischer kopf fuer magneto-optischen speicher. |
EP85108077A EP0166460B1 (en) | 1984-06-29 | 1985-06-28 | Optical head for magneto-optical memory |
US06/750,476 US4672593A (en) | 1984-06-29 | 1985-07-01 | Optical head with improved extinction ratio for magneto-optical memory |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59133162A JPS6113462A (ja) | 1984-06-29 | 1984-06-29 | 光磁気ヘツド |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6113462A true JPS6113462A (ja) | 1986-01-21 |
Family
ID=15098137
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59133162A Pending JPS6113462A (ja) | 1984-06-29 | 1984-06-29 | 光磁気ヘツド |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6113462A (ja) |
-
1984
- 1984-06-29 JP JP59133162A patent/JPS6113462A/ja active Pending
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