JPS61128340A - デ−タ処理装置の診断方式 - Google Patents
デ−タ処理装置の診断方式Info
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- JPS61128340A JPS61128340A JP59249544A JP24954484A JPS61128340A JP S61128340 A JPS61128340 A JP S61128340A JP 59249544 A JP59249544 A JP 59249544A JP 24954484 A JP24954484 A JP 24954484A JP S61128340 A JPS61128340 A JP S61128340A
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- Japan
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- circuit
- calculation
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-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、電子計算機本体（データ処理装置）の診断方
式に係り、特に機械語命令によって組まれた診断プログ
ラムを使ってテストプロセッサの制御の下に被テストプ
ロセッサを診断する方式に関するものである。
式に係り、特に機械語命令によって組まれた診断プログ
ラムを使ってテストプロセッサの制御の下に被テストプ
ロセッサを診断する方式に関するものである。
従来のデータ処理装置の診断方式は、主としてマイク冒
プログラムを使りて自分自身の処理装置内部を診断し、
不良個所の指摘を行うものである。しかし、この方式は
、自分自身の処理装置を診断する方式のため、マイクシ
ブ四グラムの制御が及ばない部分の診断ができないこと
とマイクロプルグラムによって診断プログラムを作成す
ることは処理装置ハードウェアに熟知した者でなければ
できず、そうでない者が容易に診断プログラムを作成で
きないという火点がありた。なおこの種の診断方式に関
する先行技術として、たとえば特開昭５６−２０４９５
２号公報および特開昭５６−８０７４７号公報に記載さ
れた技術が挙げられる。
プログラムを使りて自分自身の処理装置内部を診断し、
不良個所の指摘を行うものである。しかし、この方式は
、自分自身の処理装置を診断する方式のため、マイクシ
ブ四グラムの制御が及ばない部分の診断ができないこと
とマイクロプルグラムによって診断プログラムを作成す
ることは処理装置ハードウェアに熟知した者でなければ
できず、そうでない者が容易に診断プログラムを作成で
きないという火点がありた。なおこの種の診断方式に関
する先行技術として、たとえば特開昭５６−２０４９５
２号公報および特開昭５６−８０７４７号公報に記載さ
れた技術が挙げられる。
本発明の目的は、機械語命令レベルの診断プログラムを
使ってテストプロセッサの制−の下に被テストプロセッ
サを診断する処理装置の診断方式を提供することにある
。
使ってテストプロセッサの制−の下に被テストプロセッ
サを診断する処理装置の診断方式を提供することにある
。
本発明は、機械語命令によって構成された診断プログラ
ム、演算用データおよび演算結果が格納される主記憶装
置と、この演算用データをとり出して所定の演算を行い
その演算結果をこの主記憶装置に格納する被テストプロ
セッサと、診断プログラムからとり出された機械語命令
に基づいて被テストプロセッサに必要な演算属性を指示
するとともに被テストプロセッサからその演算の終了報
告を受けて上記主記憶装置に格納された演算結果の正当
性をチェックし障害個所を指摘するテストプロセッサと
を有するデータ処理装置の診断方式を特徴とする。
ム、演算用データおよび演算結果が格納される主記憶装
置と、この演算用データをとり出して所定の演算を行い
その演算結果をこの主記憶装置に格納する被テストプロ
セッサと、診断プログラムからとり出された機械語命令
に基づいて被テストプロセッサに必要な演算属性を指示
するとともに被テストプロセッサからその演算の終了報
告を受けて上記主記憶装置に格納された演算結果の正当
性をチェックし障害個所を指摘するテストプロセッサと
を有するデータ処理装置の診断方式を特徴とする。
以下本発明の一実施例について図面を用いて説明する。
第１図は、本実施例の構成を示すブロック図である。１
２は被テストプロセッサ（被Ｔ Ｐ Ｕ）１３はテスト
プロセッサ（ＴＰＵ）であり、１１は被Ｔ Ｐ Ｕ １
２およびＴ Ｐ Ｕ １３によ′りて共有される主記憶
装置である。被ＴＰＵ１２の論理構造（あるいはアーキ
テクチャ）とＴＰＵ １５の論理構造は同一であっても
よいし、また異なっていても構わない。主記憶装置（Ｍ
Ｓ）１１には診断プログラムが格納される記憶領域（以
下この領域またはプログラムをＴ Ｍ Ｄ ５５ ：
ＴｅｓｔＭａｉｎｔ・ｎａｚｚｏｅ Ｄｉゆｏｓｓ ｐ
ｒｏｇｒａｍと略称する）と、このＴＭＤ５５が使用す
るデータおよび演算結果が格納される記憶領域（以下こ
の領域をデータ／結果３４と略称する）とを有する。１
４はＴＰＵＬ５が有する入出力処°理装置（ＩＯＰ）で
あり、入出力チャンネルを含む。入出力装置（Ｉｌｏ）
１６および表示装置（ＣＤ）１５は工０Ｐ１４に接続さ
れる入出力装置である。命令受付回路２６はＭＳ１１中
のＴＭＤ３３から機械語命令を受ける回路、起動回路２
７は命令受付回路２６が受けた命令に基づいて被Ｔ Ｐ
Ｕ １２に対してパス１９を介して起動をかける回路
、起動受付回路２８はこの起動を受付ける回路、演算回
路３２はデータ／結果３４からパ□ス２０を介してデー
タを入力し、起動回路２７によって指定された演算を行
い、その結果をパス２１を介して再びデータ／結果３４
“に格納する機能をもった回路１終了−゛込み回路３０
は指定された一群の演算が終了゛し娑３ときパス２２を
介してＴＰＵ１５に終了割込みを暴ける回路である。再
びＴＰ’Ｕ１３に戻りて演算回路３５はこの被ＴＰＵ１
２からの終了割込みによらて起動される回路であり、デ
ータ／結果３４からデータを入力し、演算回路３２で行
う演算と等価の遺−を行う回路である。比較回路３１は
演算回路３５で行われた積算結果とデータ／結果３４か
ら入力され嬉演算結果とを比較する回路である。
２は被テストプロセッサ（被Ｔ Ｐ Ｕ）１３はテスト
プロセッサ（ＴＰＵ）であり、１１は被Ｔ Ｐ Ｕ １
２およびＴ Ｐ Ｕ １３によ′りて共有される主記憶
装置である。被ＴＰＵ１２の論理構造（あるいはアーキ
テクチャ）とＴＰＵ １５の論理構造は同一であっても
よいし、また異なっていても構わない。主記憶装置（Ｍ
Ｓ）１１には診断プログラムが格納される記憶領域（以
下この領域またはプログラムをＴ Ｍ Ｄ ５５ ：
ＴｅｓｔＭａｉｎｔ・ｎａｚｚｏｅ Ｄｉゆｏｓｓ ｐ
ｒｏｇｒａｍと略称する）と、このＴＭＤ５５が使用す
るデータおよび演算結果が格納される記憶領域（以下こ
の領域をデータ／結果３４と略称する）とを有する。１
４はＴＰＵＬ５が有する入出力処°理装置（ＩＯＰ）で
あり、入出力チャンネルを含む。入出力装置（Ｉｌｏ）
１６および表示装置（ＣＤ）１５は工０Ｐ１４に接続さ
れる入出力装置である。命令受付回路２６はＭＳ１１中
のＴＭＤ３３から機械語命令を受ける回路、起動回路２
７は命令受付回路２６が受けた命令に基づいて被Ｔ Ｐ
Ｕ １２に対してパス１９を介して起動をかける回路
、起動受付回路２８はこの起動を受付ける回路、演算回
路３２はデータ／結果３４からパ□ス２０を介してデー
タを入力し、起動回路２７によって指定された演算を行
い、その結果をパス２１を介して再びデータ／結果３４
“に格納する機能をもった回路１終了−゛込み回路３０
は指定された一群の演算が終了゛し娑３ときパス２２を
介してＴＰＵ１５に終了割込みを暴ける回路である。再
びＴＰ’Ｕ１３に戻りて演算回路３５はこの被ＴＰＵ１
２からの終了割込みによらて起動される回路であり、デ
ータ／結果３４からデータを入力し、演算回路３２で行
う演算と等価の遺−を行う回路である。比較回路３１は
演算回路３５で行われた積算結果とデータ／結果３４か
ら入力され嬉演算結果とを比較する回路である。
次に第１図を用いて本実施例の動作概要を説明する。ｌ
１０１６は外部記憶装置であり、ＴＭＤが格納されてい
る。ＴＰＵｌｓは、ｌ０Ｐ１４を介し、ｌ１０１６から
ＴＭＤをＭＳ １１の領域、ＴＭＤ３３にロードする。
１０１６は外部記憶装置であり、ＴＭＤが格納されてい
る。ＴＰＵｌｓは、ｌ０Ｐ１４を介し、ｌ１０１６から
ＴＭＤをＭＳ １１の領域、ＴＭＤ３３にロードする。
ＴＭＤ中の、−、’ 、； −−’、’ −、’
、、’ −−−＋ 、 ’−＋ Ａ Ａ イ
ＬＬ う ７、。
、、’ −−−＋ 、 ’−＋ Ａ Ａ イ
ＬＬ う ７、。
へ送られる。命令受付回路２６はこの命令を解読し、そ
れが被ＴＰＵ１２を起動する命令であれば、起動回路２
７およびパス１９を介して被ＴＰＵ１２を起動する。そ
れが被ＴＰＵ １２を起動する命令でなければＴＰＵ１
５内部で実行され−ることになる。このようにして被Ｔ
Ｐ Ｏ１２が起動されると、′起動受付回路２８は演
算を行うに必要なＭＳアドレス、演算の種類などの情報
を受けとり、演算回路３２を駆動する。演算回路３２は
、データ／結果３４から入力されるデータによって指定
された演算を行い、その演算結果をデータ／結果３４に
格納する。一連の演算が終了すると、終了割込み回路５
０はパス２２を介してＴＰＵ１３に終了割込みをかける
。
れが被ＴＰＵ１２を起動する命令であれば、起動回路２
７およびパス１９を介して被ＴＰＵ１２を起動する。そ
れが被ＴＰＵ １２を起動する命令でなければＴＰＵ１
５内部で実行され−ることになる。このようにして被Ｔ
Ｐ Ｏ１２が起動されると、′起動受付回路２８は演
算を行うに必要なＭＳアドレス、演算の種類などの情報
を受けとり、演算回路３２を駆動する。演算回路３２は
、データ／結果３４から入力されるデータによって指定
された演算を行い、その演算結果をデータ／結果３４に
格納する。一連の演算が終了すると、終了割込み回路５
０はパス２２を介してＴＰＵ１３に終了割込みをかける
。
ＴＰＵＩ３は、データ／結果３４から入力されるデータ
に基づいて演算回路３５を使用して自身で演算を行い、
その結果とデータ／結果３４から人力される演算結果と
を比較回路３１によって比較する。両者の結果が一致す
れば診断を先へ准め−＃Ｓが木−音で本りげパスバシＴ
ｎＰＩ３を介しＣＤ１５上にＴＭＤ中の診断データと障
害個所を表示する。
に基づいて演算回路３５を使用して自身で演算を行い、
その結果とデータ／結果３４から人力される演算結果と
を比較回路３１によって比較する。両者の結果が一致す
れば診断を先へ准め−＃Ｓが木−音で本りげパスバシＴ
ｎＰＩ３を介しＣＤ１５上にＴＭＤ中の診断データと障
害個所を表示する。
第２図は、第１図に示すブロックの中で演算回路３２お
よび演算回路３５を中心にしてより詳細な構成を示すも
のである。演算回路３２はＲＥＧｌ 、ＲＥＧ２ 、・
−ＲＥ Ｇ扉で示されるように複数個のレジスタを備え
ている。また演算器１．演算器２．・・・演算器ルで示
されるように複数個の演算器を備えている。演算器３５
はＲＥＧＡ 、ＲＥＧｌ３およびＲＥＧＤに示されるよ
うに複数個のレジスタを備えている。またこの例では演
算器Ａで示されるようにただ１つの演算器を備えている
。ＴＰＵ１３中のＲＥＧＣで示されるレジスタは、デー
タ／結果３４から入力される被ＴＰＵ１２の演算結果を
格納するレジスタである。
よび演算回路３５を中心にしてより詳細な構成を示すも
のである。演算回路３２はＲＥＧｌ 、ＲＥＧ２ 、・
−ＲＥ Ｇ扉で示されるように複数個のレジスタを備え
ている。また演算器１．演算器２．・・・演算器ルで示
されるように複数個の演算器を備えている。演算器３５
はＲＥＧＡ 、ＲＥＧｌ３およびＲＥＧＤに示されるよ
うに複数個のレジスタを備えている。またこの例では演
算器Ａで示されるようにただ１つの演算器を備えている
。ＴＰＵ１３中のＲＥＧＣで示されるレジスタは、デー
タ／結果３４から入力される被ＴＰＵ１２の演算結果を
格納するレジスタである。
ところで被ＴＰＵ１２の診断の対象となるのは、各レジ
スタが正常に動作するか否かということ、各演算器が正
常に動作するか否かということ％ＭＳ１１．ＭＳアドレ
スタ間を結ぶパスが正常に動作するか否かということお
よび全体を制御する制御系が正常に動作するか否かとい
うことである。このような診断を行うために、起動回路
２７から起動受付は回路２８および演算器起動回路２９
に対してデータを入力すべきＭＳアドレス、演算結果を
格納すべきＭＳアドレス、使用するレジスタ番号、使用
する演算器の番号および該演算器で実行すべき演算の種
類などの情報を渡す。演算器起動回路２９は受けとった
情報に基づいて必要な演算器を選択する回路である。診
断の順序は、まず各レジスタと該レジスターＭＳ間のパ
スが１つずつ診断され、これらが正常に動作することが
確認された上ですでに確認されたレジスタおよびパスを
使ってまだ未確認の演算器およびレジスター演算器間の
パスが１つずつ診断され、このようにして次第に診断の
範囲を拡大していく方式がとられる。
スタが正常に動作するか否かということ、各演算器が正
常に動作するか否かということ％ＭＳ１１．ＭＳアドレ
スタ間を結ぶパスが正常に動作するか否かということお
よび全体を制御する制御系が正常に動作するか否かとい
うことである。このような診断を行うために、起動回路
２７から起動受付は回路２８および演算器起動回路２９
に対してデータを入力すべきＭＳアドレス、演算結果を
格納すべきＭＳアドレス、使用するレジスタ番号、使用
する演算器の番号および該演算器で実行すべき演算の種
類などの情報を渡す。演算器起動回路２９は受けとった
情報に基づいて必要な演算器を選択する回路である。診
断の順序は、まず各レジスタと該レジスターＭＳ間のパ
スが１つずつ診断され、これらが正常に動作することが
確認された上ですでに確認されたレジスタおよびパスを
使ってまだ未確認の演算器およびレジスター演算器間の
パスが１つずつ診断され、このようにして次第に診断の
範囲を拡大していく方式がとられる。
第３図は、ＴＭＤｓｓ中の機械語命令で構成された診断
プログラムの一例を示すものである。
プログラムの一例を示すものである。
以下このプログラムのシーケンスを追いながら、第２図
をも参照して診断の具体的動作について述べるｏ ＴＰ
Ｕ１３が’ＥＸＶＰ ＭＳ ７ ’の命令を受は取る
と、以下テストルーチンを実行すべきことを知り、次の
シーケンスアドレスを退避した後、次の命令をＭＳ７か
らとり出す。命令受付回路２６は、ＭＳ７から始まる命
令を次々に受けとり、これらを駆動受付回路２８および
演算器起動回路２９に対する指令に変換してこれら回路
に渡す。最初の命令は、データ／結果３４中のＭＳ４．
の内容をＲＥＧｌにロードするための命令、次の命令′
はＲＥＧｌの内容をＭＳ５へ格納するための命令である
。’ＥＮＤ ’はテストルーチンの終了を示す命令であ
り、命令受付回路２６がこの命令を解読したとき被ＴＰ
Ｕ１２に対する指令を完結し、起動回路２７を介して起
動受付回路２Ｂおよび演算器起動回路２９を起動する。
をも参照して診断の具体的動作について述べるｏ ＴＰ
Ｕ１３が’ＥＸＶＰ ＭＳ ７ ’の命令を受は取る
と、以下テストルーチンを実行すべきことを知り、次の
シーケンスアドレスを退避した後、次の命令をＭＳ７か
らとり出す。命令受付回路２６は、ＭＳ７から始まる命
令を次々に受けとり、これらを駆動受付回路２８および
演算器起動回路２９に対する指令に変換してこれら回路
に渡す。最初の命令は、データ／結果３４中のＭＳ４．
の内容をＲＥＧｌにロードするための命令、次の命令′
はＲＥＧｌの内容をＭＳ５へ格納するための命令である
。’ＥＮＤ ’はテストルーチンの終了を示す命令であ
り、命令受付回路２６がこの命令を解読したとき被ＴＰ
Ｕ１２に対する指令を完結し、起動回路２７を介して起
動受付回路２Ｂおよび演算器起動回路２９を起動する。
演算回路３２は、指定されたＲＥＧｌ 、ＭＳ４および
ＭＳ５を基に所定のロード／ストアｔ、 鐸１．％−？
ａｔｍ話ｍ ｔ、 ’％Ｊ Ｑ ＜ Ｌ−飲＆ｂ ”ｔ
’ Ｘ −、−１７’ｌ ８作が終了したとき終了割込
み回路３０を介してＴＰＵ１３に終了割込みをかける。
ＭＳ５を基に所定のロード／ストアｔ、 鐸１．％−？
ａｔｍ話ｍ ｔ、 ’％Ｊ Ｑ ＜ Ｌ−飲＆ｂ ”ｔ
’ Ｘ −、−１７’ｌ ８作が終了したとき終了割込
み回路３０を介してＴＰＵ１３に終了割込みをかける。
命令受付回路２６は退避されたシーケンスアドレスをも
とに戻して次の命令’Ｌ ＲＥＧＣ、ＭＳ′ｓ ’を
ＴＭＤ３３からとり出す。以下ＴＰＵ１５で行われる動
作を命令の実行順序に従って述べると、まずＭＳ５の内
容、すなわち被ＴＰＵ１２の演算結果をＲＥＧＣにロー
ドし、次にＭＳ４の内容、すなわちデータをＲＥＧＡに
ロードし、次にＲＥＧＡの内容をＲＥＧＤに移し、次に
ＲＥＧＣの内容とＲＥＧＤの内容とを比較図、路５１に
よって比較し、最後に両者が等しければ次の命令’ＥＸ
ＶＰ ＭＳａ ’に進み、等シくすけれ。
とに戻して次の命令’Ｌ ＲＥＧＣ、ＭＳ′ｓ ’を
ＴＭＤ３３からとり出す。以下ＴＰＵ１５で行われる動
作を命令の実行順序に従って述べると、まずＭＳ５の内
容、すなわち被ＴＰＵ１２の演算結果をＲＥＧＣにロー
ドし、次にＭＳ４の内容、すなわちデータをＲＥＧＡに
ロードし、次にＲＥＧＡの内容をＲＥＧＤに移し、次に
ＲＥＧＣの内容とＲＥＧＤの内容とを比較図、路５１に
よって比較し、最後に両者が等しければ次の命令’ＥＸ
ＶＰ ＭＳａ ’に進み、等シくすけれ。
ばＢＮＥ命令で指定されたアドレスへ分岐して上記のＣ
Ｄ１５上に障害情報を表示するルーチンを実行する。両
者が等しい場合、ＭＳｌｌと被ＴＰＵ１２の間のパス２
０．パス２１およびＲＥＧｌの正常性が確認されたこと
になる。以下同様にして、ＭＳ８から始まるルーチ、ン
が実行されることによって、被ＴＰＵ１２のＲＥＧ２に
対するロード／ストアの診断が行われる。このようにし
て、ＲＥＧｌからＲＥＧｍまでのレジスタに対するロー
ド／ストア動作が確認されたとき、各演算器を含めた診
断に移ることができる。ＴＭＤｓｓ において、 ＥＸ
ｖＰ Ｍ８９′によって起動されるルーチンはこの一例
を示すものであり、ここにおいてはたとえば演算器１を
使う加算動作が診断される。ＭＳ４およびＭＳ５に適当
なデータが格納されているものとすると、まずＭＳ４の
内容がＲｕＯ２にロードされ、次にＭＳ５の内容がＲＥ
ＧＢにロードされ、ＲｕＯ２の内容とＲｕＯ５の内容と
が演算器１によって加算されて結果がＲＥＧｌに格納さ
れる。次にＲＥＧｌの内容がＭＳ６に格納されて診断ル
ーチンが終了する。終了割込みを受けたＴＰＵ１３はま
ずＭＳ６の内容をＲＥＧＣにロードし、次にＭＳ４の内
容をＲＥＧＡにロードし、次にＭＳ５の内容をＲＥＧＢ
にロードし、次にＲＥＧＡの内容とＲＥＧＢの内容とを
加算して結果をＲＥＧＤに格納する。すなわち被ＴＰＵ
１２で行われた演算と等価の演算がＴＰυ１３で行われ
たことになる。次にＲＥＧＤの内容とＲＥＧＣの内容と
を比較回路５１によって比較し、最後に両者が等しけれ
ば診断を続行する。このようにして、演算器１から演算
器ルまでの演算器に対する各種演算について診断が行わ
れる。演算器路までの診断がＨＴした後−ＲＥＧ１〜Ｒ
ＥＧＦ＋ｌと演算器１〜演算器かとの間のデータ・パス
で残ったものについてそれぞれデータ・バスを変えなが
ら診断が行われる。
Ｄ１５上に障害情報を表示するルーチンを実行する。両
者が等しい場合、ＭＳｌｌと被ＴＰＵ１２の間のパス２
０．パス２１およびＲＥＧｌの正常性が確認されたこと
になる。以下同様にして、ＭＳ８から始まるルーチ、ン
が実行されることによって、被ＴＰＵ１２のＲＥＧ２に
対するロード／ストアの診断が行われる。このようにし
て、ＲＥＧｌからＲＥＧｍまでのレジスタに対するロー
ド／ストア動作が確認されたとき、各演算器を含めた診
断に移ることができる。ＴＭＤｓｓ において、 ＥＸ
ｖＰ Ｍ８９′によって起動されるルーチンはこの一例
を示すものであり、ここにおいてはたとえば演算器１を
使う加算動作が診断される。ＭＳ４およびＭＳ５に適当
なデータが格納されているものとすると、まずＭＳ４の
内容がＲｕＯ２にロードされ、次にＭＳ５の内容がＲＥ
ＧＢにロードされ、ＲｕＯ２の内容とＲｕＯ５の内容と
が演算器１によって加算されて結果がＲＥＧｌに格納さ
れる。次にＲＥＧｌの内容がＭＳ６に格納されて診断ル
ーチンが終了する。終了割込みを受けたＴＰＵ１３はま
ずＭＳ６の内容をＲＥＧＣにロードし、次にＭＳ４の内
容をＲＥＧＡにロードし、次にＭＳ５の内容をＲＥＧＢ
にロードし、次にＲＥＧＡの内容とＲＥＧＢの内容とを
加算して結果をＲＥＧＤに格納する。すなわち被ＴＰＵ
１２で行われた演算と等価の演算がＴＰυ１３で行われ
たことになる。次にＲＥＧＤの内容とＲＥＧＣの内容と
を比較回路５１によって比較し、最後に両者が等しけれ
ば診断を続行する。このようにして、演算器１から演算
器ルまでの演算器に対する各種演算について診断が行わ
れる。演算器路までの診断がＨＴした後−ＲＥＧ１〜Ｒ
ＥＧＦ＋ｌと演算器１〜演算器かとの間のデータ・パス
で残ったものについてそれぞれデータ・バスを変えなが
ら診断が行われる。
以上述べた通りであり、この診断方式は、機械語命令レ
ベルで実行されるので、被ＴＰＵの八−ドウエア論理を
変更しても機械語命令が変更されない限り診断プログラ
ム（ＴＭＤ）を変更する必要がない。このようにして１
診断プログラムの作成およびメンテナンスの工数低減で
きる。
ベルで実行されるので、被ＴＰＵの八−ドウエア論理を
変更しても機械語命令が変更されない限り診断プログラ
ム（ＴＭＤ）を変更する必要がない。このようにして１
診断プログラムの作成およびメンテナンスの工数低減で
きる。
本発明によれば、機械語命令レベルの診断プ四グラムを
使ってテストプロセッサの制御の下に被テストプロセッ
サを診断することができるので、診断プログラムの作成
およびメンテナンスにかかる工数を低減できるという効
果がある。
使ってテストプロセッサの制御の下に被テストプロセッ
サを診断することができるので、診断プログラムの作成
およびメンテナンスにかかる工数を低減できるという効
果がある。
第１図は本発明の一実施例の概略構成を示すブロック図
、第２図は第１図において特に演算回路を中心により詳
細化したブロック図、第３図は診断プログラム（ＴＭＤ
）およびデータ／結果領域の一例を示す図である。 １１・・・主記憶装置（ＭＳ）、 １２・・・被テストプロセッサ（被ＴＰＵ）、１５−・
・テストプロセッサ（ＴＰＵ’）、２６−・・命令受付
回路、 ２７・−起動回路、 ３０・・・終了割込み回路、 ３１・・・比較回路、 ５２．５５−・・演算回路、
、第２図は第１図において特に演算回路を中心により詳
細化したブロック図、第３図は診断プログラム（ＴＭＤ
）およびデータ／結果領域の一例を示す図である。 １１・・・主記憶装置（ＭＳ）、 １２・・・被テストプロセッサ（被ＴＰＵ）、１５−・
・テストプロセッサ（ＴＰＵ’）、２６−・・命令受付
回路、 ２７・−起動回路、 ３０・・・終了割込み回路、 ３１・・・比較回路、 ５２．５５−・・演算回路、
Claims (1)
- 機械語命令によって構成された診断プログラム、演算用
データおよび演算結果が格納される主記憶装置と、前記
演算用データをとり出して所定の演算を行いその演算結
果を前記主記憶装置に格納する被テストプロセッサと、
前記診断プログラムからとり出された機械語命令に基づ
いて前記被テストプロセッサに必要な演算属性を指示す
るとともに前記被テストプロセッサからその演算の終了
報告を受けて前記主記憶装置に格納された演算結果の正
当性をチェックするテストプロセッサとを有することを
特徴とする処理装置の診断方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59249544A JPS61128340A (ja) | 1984-11-28 | 1984-11-28 | デ−タ処理装置の診断方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59249544A JPS61128340A (ja) | 1984-11-28 | 1984-11-28 | デ−タ処理装置の診断方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61128340A true JPS61128340A (ja) | 1986-06-16 |
Family
ID=17194567
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59249544A Pending JPS61128340A (ja) | 1984-11-28 | 1984-11-28 | デ−タ処理装置の診断方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61128340A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008176437A (ja) * | 2007-01-17 | 2008-07-31 | Fujitsu Ltd | システム状態診断システム、システム状態診断方法、およびシステム状態診断プログラム |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5135096A (ja) * | 1974-09-20 | 1976-03-25 | Hitachi Ltd | Denryokugaikan |
-
1984
- 1984-11-28 JP JP59249544A patent/JPS61128340A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JPS5135096A (ja) * | 1974-09-20 | 1976-03-25 | Hitachi Ltd | Denryokugaikan |
Cited By (2)
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| JP4720749B2 (ja) * | 2007-01-17 | 2011-07-13 | 富士通株式会社 | システム状態診断システム、システム状態診断方法、およびシステム状態診断プログラム |
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