JPS61123499A - セラミツクス−金属接合用ろう材 - Google Patents
セラミツクス−金属接合用ろう材Info
- Publication number
- JPS61123499A JPS61123499A JP24410884A JP24410884A JPS61123499A JP S61123499 A JPS61123499 A JP S61123499A JP 24410884 A JP24410884 A JP 24410884A JP 24410884 A JP24410884 A JP 24410884A JP S61123499 A JPS61123499 A JP S61123499A
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- Japan
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- ceramics
- metal
- brazing material
- metals
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- Pending
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K35/00—Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting
- B23K35/22—Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting characterised by the composition or nature of the material
- B23K35/24—Selection of soldering or welding materials proper
- B23K35/30—Selection of soldering or welding materials proper with the principal constituent melting at less than 1550 degrees C
- B23K35/3006—Ag as the principal constituent
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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- B23K35/22—Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting characterised by the composition or nature of the material
- B23K35/24—Selection of soldering or welding materials proper
- B23K35/30—Selection of soldering or welding materials proper with the principal constituent melting at less than 1550 degrees C
- B23K35/302—Cu as the principal constituent
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Ceramic Products (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明はAg−Cu系合金よシなるセラミックスと金属
の接合用ろう材に関するものである。
の接合用ろう材に関するものである。
セラミックスと金属とは夫々異った原子結合状態を有し
、このためセラミックスと金属の化学反応性などの化学
的性質をはじめとして、熱膨張率、電気伝導度などの物
理的性質は大きく異なっている。そのためセラミックス
と金属を接合するには、両部材の接合界面を良く濡らし
、信頼性の高い冶金的接合を実施する方法が種々検討さ
れている。
、このためセラミックスと金属の化学反応性などの化学
的性質をはじめとして、熱膨張率、電気伝導度などの物
理的性質は大きく異なっている。そのためセラミックス
と金属を接合するには、両部材の接合界面を良く濡らし
、信頼性の高い冶金的接合を実施する方法が種々検討さ
れている。
このような接合方法として、一般にろう接は、母材に変
化を与えず、大きな加圧力を必要とせず、しかも操作が
容易であるなどの利点を有し、セラミックスと金属の重
要な接合方法となっている。このようにセラミックスと
金属とを良好に接合するろう材としては、従来、活性金
属を含むろう材が知られている。活性金属は、T1゜Z
rなど周期律表で■A族の元素を示し、何れもセラミッ
クスと金属の接合に有効であることが知られている。特
に活性金属はその融点が単体では高((Ti 1720
℃、 Zr 1860℃など)そのままでは、ろう材と
しては不向であ°るものの、Cu。
化を与えず、大きな加圧力を必要とせず、しかも操作が
容易であるなどの利点を有し、セラミックスと金属の重
要な接合方法となっている。このようにセラミックスと
金属とを良好に接合するろう材としては、従来、活性金
属を含むろう材が知られている。活性金属は、T1゜Z
rなど周期律表で■A族の元素を示し、何れもセラミッ
クスと金属の接合に有効であることが知られている。特
に活性金属はその融点が単体では高((Ti 1720
℃、 Zr 1860℃など)そのままでは、ろう材と
しては不向であ°るものの、Cu。
Ni、Feなどの遷移金属との合金においては、その共
晶組成領域において融点を数百度℃低下させ、例えば最
も低いT 1−Cu合金で872℃になる。
晶組成領域において融点を数百度℃低下させ、例えば最
も低いT 1−Cu合金で872℃になる。
このような現象に着目し、セラミックス母材と遷移金属
母材との接合界面に活性金属を介在させたり、セラミッ
クスとセラミックス母材の接合界面に活性金属と遷移金
属の両方を介在させて、前記金属の合金を生成せしめて
接合を行う方法などが特許(米国特許第2857663
号)に開示されている。
母材との接合界面に活性金属を介在させたり、セラミッ
クスとセラミックス母材の接合界面に活性金属と遷移金
属の両方を介在させて、前記金属の合金を生成せしめて
接合を行う方法などが特許(米国特許第2857663
号)に開示されている。
また、活性金属と遷移金属との合金をろう材として、セ
ラミックスと金属の接合を行う方法も考えられるが、活
性金属と遷移金属との合金は、その多くの組成域で脆性
であり、箔のようなろう材として望ましい形状にするこ
とが困難である。このため前記合金を溶融紡糸法と呼ば
れる方法にて非晶質構造を有する箔状に成形したろう材
が開発され特許(特開昭56−163093)に開示さ
れている。
ラミックスと金属の接合を行う方法も考えられるが、活
性金属と遷移金属との合金は、その多くの組成域で脆性
であり、箔のようなろう材として望ましい形状にするこ
とが困難である。このため前記合金を溶融紡糸法と呼ば
れる方法にて非晶質構造を有する箔状に成形したろう材
が開発され特許(特開昭56−163093)に開示さ
れている。
これらのろう材は多くの用途を満足させるものであるが
、セラミックスと金属との熱膨張係数が異なるものが多
く、特にエレクトロニクス部品で多く使用されるセラミ
ックスとCuの組合せ接合において問題がある。例えば
、St、N4セラミツクスはその熱膨張係数が約2.5
X10 /にで、またkLNは約4 X 10−’/
にであるのに対し、Cuは17X10−’/にと大きく
異っている。
、セラミックスと金属との熱膨張係数が異なるものが多
く、特にエレクトロニクス部品で多く使用されるセラミ
ックスとCuの組合せ接合において問題がある。例えば
、St、N4セラミツクスはその熱膨張係数が約2.5
X10 /にで、またkLNは約4 X 10−’/
にであるのに対し、Cuは17X10−’/にと大きく
異っている。
このため、熱膨張係数の大きく異なるセラミックスと金
属との接合においては、加熱に伴う画材の熱膨張差に起
因する応力の発生によりセラミックスにクラックが発生
する問題がある。
属との接合においては、加熱に伴う画材の熱膨張差に起
因する応力の発生によりセラミックスにクラックが発生
する問題がある。
また前記応力は加熱温度が高い程、増大するため、セラ
ミックスと金属の接合温度を低下させる必要がちシ、そ
めためには融点が低く、なお且つセラミックスと金属と
の接合性に優れたろう材の開発が望まれていた。
ミックスと金属の接合温度を低下させる必要がちシ、そ
めためには融点が低く、なお且つセラミックスと金属と
の接合性に優れたろう材の開発が望まれていた。
本発明はかかる点に鑑み種々研究を行った結果、融点を
低下して、熱応力に起因する〉ラックの発生を防止する
と共に、ゼラミックスとの濡れ性を改善して金属との接
合性に優れたセラミックス−金属接合用ろう材を提供す
るものである。
低下して、熱応力に起因する〉ラックの発生を防止する
と共に、ゼラミックスとの濡れ性を改善して金属との接
合性に優れたセラミックス−金属接合用ろう材を提供す
るものである。
本発明者らは、Ag−Cu合金にvt−m加することに
よシ、低融点で、しかもVの作用によりセラミックスと
金属との接合性を向上させたろう材を見い出したもので
ある。
よシ、低融点で、しかもVの作用によりセラミックスと
金属との接合性を向上させたろう材を見い出したもので
ある。
即ち本発明は、Vo、1〜10重量%、Cu25〜70
重量%、Ag30〜75重量%を含有することを特徴と
するものである。
重量%、Ag30〜75重量%を含有することを特徴と
するものである。
本発明においてAg−Cu合金は、その共晶組成領域に
おいて融点が779℃と低い融点を有し、これにVを添
加することによりセラミックスとの濡れ性が良好になる
。この場合Vの添加量が増加するに従って、合金の融点
が上昇すると共に、脆くなって行くが、0.1〜10重
量%の範囲に抑えることにより、ろう材の著しい融点上
昇を防ぐと同時に、セラミックスとの濡れ性が改善され
る。
おいて融点が779℃と低い融点を有し、これにVを添
加することによりセラミックスとの濡れ性が良好になる
。この場合Vの添加量が増加するに従って、合金の融点
が上昇すると共に、脆くなって行くが、0.1〜10重
量%の範囲に抑えることにより、ろう材の著しい融点上
昇を防ぐと同時に、セラミックスとの濡れ性が改善され
る。
なお本発明において、ろう材の合金組成を上記範囲に規
定した理由は、Vの添加量が0.1重量%未満では、融
点は低いもののセラミックスとの濡れ性が劣り、また1
0重量襲を越えると、ろう材の融点が著しく上昇する上
、脆くなるからである。またCuは25〜70fii%
、Agは30〜75重量%の範囲罠ないと、ろう材の融
点低下の効果が得られず、しかもセラミックスとの濡れ
性が悪くなるからである。
定した理由は、Vの添加量が0.1重量%未満では、融
点は低いもののセラミックスとの濡れ性が劣り、また1
0重量襲を越えると、ろう材の融点が著しく上昇する上
、脆くなるからである。またCuは25〜70fii%
、Agは30〜75重量%の範囲罠ないと、ろう材の融
点低下の効果が得られず、しかもセラミックスとの濡れ
性が悪くなるからである。
また本発明ろう材の製造方法としては、例えば常用の溶
湯急冷法を適用して製造することも可能である。これは
目的とするろう材の合金組成の溶融物を調整し、その溶
融物を高速回転する急冷用ドラムの表面に噴射して、連
続して箔状に形成するものである。この場合、冷却速度
は少なくとも10’℃/sea とすることによシ延
性に富んだ箔状のろう材を得ることができる。
湯急冷法を適用して製造することも可能である。これは
目的とするろう材の合金組成の溶融物を調整し、その溶
融物を高速回転する急冷用ドラムの表面に噴射して、連
続して箔状に形成するものである。この場合、冷却速度
は少なくとも10’℃/sea とすることによシ延
性に富んだ箔状のろう材を得ることができる。
また被接合母材の接合界面K % V e Cu g
kgを単独あるいは、組合せて、スノーツタリング法、
蒸着法などによシ堆積させるが、またはAg−Cu合金
箔の上KVをスパッタリング、蒸着等によシ堆積させて
も良い。更に一方の接合母材がAgまたはCuの場合に
は、CulたはAgの一方の箔とVを組合せ、接合時に
加熱して、合金化させて(良い。
kgを単独あるいは、組合せて、スノーツタリング法、
蒸着法などによシ堆積させるが、またはAg−Cu合金
箔の上KVをスパッタリング、蒸着等によシ堆積させて
も良い。更に一方の接合母材がAgまたはCuの場合に
は、CulたはAgの一方の箔とVを組合せ、接合時に
加熱して、合金化させて(良い。
本発明においで接合対象となるセラミックスとしては、
例えば窒化物(81,N4.AtN、 TINなど)、
炭化物(SiC、Ticなど)、酸化物(m2o3.Z
rO2。
例えば窒化物(81,N4.AtN、 TINなど)、
炭化物(SiC、Ticなど)、酸化物(m2o3.Z
rO2。
酸化バナジウム)をはじめとして各稽のセラミックスが
挙られる。
挙られる。
また接合対象となる金属としては、例えばCuあるいは
ステンレスなど各種の鉄鋼に適用することができる。
ステンレスなど各種の鉄鋼に適用することができる。
(実施例1)
15鞘角、厚さ2顛のAtNチッグと、141111角
、厚さ300μmの無酸素鋼箔の接合界面をトリフレ/
およびアセトンで洗浄、脱脂処理した後、無酸素鋼の接
合界面に蒸着法によシ厚さ7000XのVを堆積し、こ
のV蒸着層とAtNとの間に、厚さ10μmのAg−C
u合金箔を挿入して組合せた。
、厚さ300μmの無酸素鋼箔の接合界面をトリフレ/
およびアセトンで洗浄、脱脂処理した後、無酸素鋼の接
合界面に蒸着法によシ厚さ7000XのVを堆積し、こ
のV蒸着層とAtNとの間に、厚さ10μmのAg−C
u合金箔を挿入して組合せた。
次にこれを2X10 Torrの真空にしたホットプ
レス中にセットし、上下方向から1麺/−の圧力を印加
し、高周波加熱により接合部を850℃で3分間保持し
て接合を行った。
レス中にセットし、上下方向から1麺/−の圧力を印加
し、高周波加熱により接合部を850℃で3分間保持し
て接合を行った。
このようにして得られた接合部材の接合面を切断して、
光学顕微鏡で観察した結果、接合部にゲイトやクラック
は認められず、良好な接合状態を示していた。また断面
部のEPMA分析を行ったところAtNと、ろう材の界
面にVが凝集し、接合が成されていることが確認された
。
光学顕微鏡で観察した結果、接合部にゲイトやクラック
は認められず、良好な接合状態を示していた。また断面
部のEPMA分析を行ったところAtNと、ろう材の界
面にVが凝集し、接合が成されていることが確認された
。
(実施例2)
151E11角、厚さ3絽の81.N4チツプと、15
關角、厚さ3鴎の鉄鋼(JIS 、545C)チップの
接合界面をトリクレンおよびアセトンで洗浄、脱脂処理
した後、Ag69.5重量%、Cu29.5重量% 、
V 1.0重量%の合金を溶湯急冷法によシ厚さ55
μmととした箔状ろう材を接合部材間に挿入し、上記実
施例1と同様にホットプレスして接合部材を形成した。
關角、厚さ3鴎の鉄鋼(JIS 、545C)チップの
接合界面をトリクレンおよびアセトンで洗浄、脱脂処理
した後、Ag69.5重量%、Cu29.5重量% 、
V 1.0重量%の合金を溶湯急冷法によシ厚さ55
μmととした箔状ろう材を接合部材間に挿入し、上記実
施例1と同様にホットプレスして接合部材を形成した。
このようにして得られた接合部材の接合部断面を光学顕
微鏡で観察した結果、接合部に&イドやクラックは認め
られず良好な接合状態を示していた。
微鏡で観察した結果、接合部に&イドやクラックは認め
られず良好な接合状態を示していた。
(実施例3)
直径15露、厚さ10fiノv205円板と直径15絹
、厚さ21111の無酸素鋼円板の接合界面にVを蒸着
法によシ厚さ7000Xに堆積させ、両円板の間に厚さ
10μmのAg箔を挿入し、上記実施例1と同様にホッ
トプレスして接合した。
、厚さ21111の無酸素鋼円板の接合界面にVを蒸着
法によシ厚さ7000Xに堆積させ、両円板の間に厚さ
10μmのAg箔を挿入し、上記実施例1と同様にホッ
トプレスして接合した。
このようにして得られた接合部材についても同様に顕微
鏡観察で接合部断面を観察した結果、ゲイトやクラック
は認められず、また接合部のEMPA分析の結果、Ag
−Cu−V合金層が形成され、特にVはv203側に高
濃度に分布して接合していることが確認された。
鏡観察で接合部断面を観察した結果、ゲイトやクラック
は認められず、また接合部のEMPA分析の結果、Ag
−Cu−V合金層が形成され、特にVはv203側に高
濃度に分布して接合していることが確認された。
以上説明した如く、本発明に係るセラミックス−金属接
合用ろう材によれば、融点を低下して、熱応力に起因す
るクラックの発生を防止すると共に、セラミックスとの
濡れ性を改善して、金属との接合性を向上させることが
でき、特にエレクトロニクス部品におけるセラミックス
基板とCu配線との接合に効果的である。
合用ろう材によれば、融点を低下して、熱応力に起因す
るクラックの発生を防止すると共に、セラミックスとの
濡れ性を改善して、金属との接合性を向上させることが
でき、特にエレクトロニクス部品におけるセラミックス
基板とCu配線との接合に効果的である。
Claims (1)
- V(バナジウム)0.1〜10重量%、Cu(銅)25
〜70重量%、Ag(銀)30〜75重量%を含有する
ことを特徴としたセラミックス−金属接合用ろう材。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24410884A JPS61123499A (ja) | 1984-11-19 | 1984-11-19 | セラミツクス−金属接合用ろう材 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24410884A JPS61123499A (ja) | 1984-11-19 | 1984-11-19 | セラミツクス−金属接合用ろう材 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61123499A true JPS61123499A (ja) | 1986-06-11 |
Family
ID=17113871
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP24410884A Pending JPS61123499A (ja) | 1984-11-19 | 1984-11-19 | セラミツクス−金属接合用ろう材 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61123499A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1302273A2 (en) * | 2001-10-09 | 2003-04-16 | Hohoemi Brains, Inc. | Brazing-filler material and method for brazing diamond |
-
1984
- 1984-11-19 JP JP24410884A patent/JPS61123499A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1302273A2 (en) * | 2001-10-09 | 2003-04-16 | Hohoemi Brains, Inc. | Brazing-filler material and method for brazing diamond |
EP1302273A3 (en) * | 2001-10-09 | 2004-07-28 | Hohoemi Brains, Inc. | Brazing-filler material and method for brazing diamond |
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