JPS61122562A - 亀裂深さの測定方法 - Google Patents
亀裂深さの測定方法Info
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- JPS61122562A JPS61122562A JP59247568A JP24756884A JPS61122562A JP S61122562 A JPS61122562 A JP S61122562A JP 59247568 A JP59247568 A JP 59247568A JP 24756884 A JP24756884 A JP 24756884A JP S61122562 A JPS61122562 A JP S61122562A
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- Japan
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- wave
- surface wave
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- probes
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
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- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/041—Analysing solids on the surface of the material, e.g. using Lamb, Rayleigh or shear waves
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/04—Wave modes and trajectories
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野1
本発明は、表面波を用いて、被検体の亀裂深さを測定す
るための方法に関する。
るための方法に関する。
[従来の技術]
第12〜15図に示すように、従来の亀裂深さの測定方
法では、次のようにして亀裂深さdを求めている。
法では、次のようにして亀裂深さdを求めている。
第12図に示すごとく、まず、被検体5の健全部(亀裂
のない部分)に2個の表面波探触子1,1を相対して設
置した状態で、表面波Rを送り、被検体5を伝播してく
る超音波のエコー3を検出器を構成するブラウン管4の
中央近傍に表示されるように調整する。(第13図参照
) 次いで、第14図に示すごとく、2個の表面波探触子1
,1の開隔2aを一定に保ったまま、亀裂2を挟むよう
にして、表面波探触子1,1を亀裂2のある表面に設置
する。
のない部分)に2個の表面波探触子1,1を相対して設
置した状態で、表面波Rを送り、被検体5を伝播してく
る超音波のエコー3を検出器を構成するブラウン管4の
中央近傍に表示されるように調整する。(第13図参照
) 次いで、第14図に示すごとく、2個の表面波探触子1
,1の開隔2aを一定に保ったまま、亀裂2を挟むよう
にして、表面波探触子1,1を亀裂2のある表面に設置
する。
この状態で、表面波Rを送って、ブラウン管4上に超音
波のエコー6を表示すると、第13図に示す超音波の立
上りよりら第15図に示す超音波の立上りが遅れる。す
なわち、亀裂2の長さρの往復分だけ、伝播時間が長く
なる。
波のエコー6を表示すると、第13図に示す超音波の立
上りよりら第15図に示す超音波の立上りが遅れる。す
なわち、亀裂2の長さρの往復分だけ、伝播時間が長く
なる。
この遅れ時間差を2Tとして、表面波速度(音速)をV
rとすると、次式により、亀裂の長さCが求まり、この
亀裂長さρを亀裂深さdとみなす6ジ(=d)=TXV
r なお、第i 3.15図中の符号T′は健全部を通過さ
せた際の表面波の伝播時間(縦波伝播時間)に対応する
時間を表わす。
rとすると、次式により、亀裂の長さCが求まり、この
亀裂長さρを亀裂深さdとみなす6ジ(=d)=TXV
r なお、第i 3.15図中の符号T′は健全部を通過さ
せた際の表面波の伝播時間(縦波伝播時間)に対応する
時間を表わす。
[発明が解決しようとする問題、克1
しかしながら、このような従来の亀裂深さの測定方法で
は、亀裂2が被検体5の縁部から垂直に入っている場合
には、亀裂長さρ(= T X Vr)がそのまま亀裂
深さdとなるが、亀裂2が斜めに入っている場合には、
亀裂長さQ(=TXVr)は亀裂深さdとは一致しない
という問題点がある。
は、亀裂2が被検体5の縁部から垂直に入っている場合
には、亀裂長さρ(= T X Vr)がそのまま亀裂
深さdとなるが、亀裂2が斜めに入っている場合には、
亀裂長さQ(=TXVr)は亀裂深さdとは一致しない
という問題点がある。
一般に、自然欠陥を対象に亀裂深さdを測定する場合に
、亀裂2がどの方向に入るかは未知であるので、5
従来方法では、必ずしも正確な亀裂深さ
dを測定することができないという問題点がある。
、亀裂2がどの方向に入るかは未知であるので、5
従来方法では、必ずしも正確な亀裂深さ
dを測定することができないという問題点がある。
本発明は、このような問題点を解決しようとするもので
、被検体の縁部から斜めに形成された亀裂においても、
その亀裂の深さを正確に測定できるようにした、゛亀裂
深さの測定方法を提供することを目的とする。
、被検体の縁部から斜めに形成された亀裂においても、
その亀裂の深さを正確に測定できるようにした、゛亀裂
深さの測定方法を提供することを目的とする。
[問題点を解決するだめの手段]
このため本発明の亀裂深さの測定方法は、被検体の亀裂
を挟んで2つの表面波探触子を相対させ、これらの表面
波探触子の一方から表面波を上記被検体へ向けて送り、
その他方で上記亀裂を経由した表面波を受けてその受信
信号を検出器に送ることにより上記亀裂の深さを測定す
るに際し、上記2つの表面波探触子間の上記亀裂の表面
を経由した表面波の縦波伝播時間を測定するとともに、
上記亀裂の先端部で横波に変換されて上記被検体中を伝
播してくる振動波の横波伝播時間を測定して、これらの
縦波伝播時間と横波伝播時間とに基づき上記亀裂の深さ
を測定することを特徴としている。
を挟んで2つの表面波探触子を相対させ、これらの表面
波探触子の一方から表面波を上記被検体へ向けて送り、
その他方で上記亀裂を経由した表面波を受けてその受信
信号を検出器に送ることにより上記亀裂の深さを測定す
るに際し、上記2つの表面波探触子間の上記亀裂の表面
を経由した表面波の縦波伝播時間を測定するとともに、
上記亀裂の先端部で横波に変換されて上記被検体中を伝
播してくる振動波の横波伝播時間を測定して、これらの
縦波伝播時間と横波伝播時間とに基づき上記亀裂の深さ
を測定することを特徴としている。
[作用J
上述の本発明の亀裂深さの測定方法では、亀裂の表面を
経由した表面波の縦波伝播時間を測定するとともに、亀
裂の先端部で表面波が横波に変換されて被検体中を伝播
してくる横波伝播時間を測定して、これらの縦波伝播時
間と横波伝播時間とに基づき演算を行ない、亀裂の深さ
を測定することができる。
経由した表面波の縦波伝播時間を測定するとともに、亀
裂の先端部で表面波が横波に変換されて被検体中を伝播
してくる横波伝播時間を測定して、これらの縦波伝播時
間と横波伝播時間とに基づき演算を行ない、亀裂の深さ
を測定することができる。
[実施例1
以下、図面により本発明の実施例について説明すると、
第1〜8図は本発明の一実施例としての亀裂深さの測定
方法を示すもので、第1,2図はそれぞれその左側に傾
斜した亀裂の測定状態を示す模式図および波形図、第3
.4図はそれぞれその亀裂の生成していない被検体の測
定状態を示す模式図および波形図、第5゜6図はそれぞ
れその傾斜していない亀裂の測定状態を示す模式図およ
び波形図、第7,8図はそれぞれその右側に傾斜した亀
裂の測定状態を示す模式図および波形図、第9〜11図
は本発明の方法を実施するための装置を示すもので、第
9図はその装置の構成図、第10.11図はいずれもそ
の切換装置の切換状態を示す模式図である。
第1〜8図は本発明の一実施例としての亀裂深さの測定
方法を示すもので、第1,2図はそれぞれその左側に傾
斜した亀裂の測定状態を示す模式図および波形図、第3
.4図はそれぞれその亀裂の生成していない被検体の測
定状態を示す模式図および波形図、第5゜6図はそれぞ
れその傾斜していない亀裂の測定状態を示す模式図およ
び波形図、第7,8図はそれぞれその右側に傾斜した亀
裂の測定状態を示す模式図および波形図、第9〜11図
は本発明の方法を実施するための装置を示すもので、第
9図はその装置の構成図、第10.11図はいずれもそ
の切換装置の切換状態を示す模式図である。
第9〜11図に示すように、本発明の方法を実施するた
めの装置では、被検体5の亀裂2ないし健全部を挟むよ
うに2つの表面波探触子1,1が相対して設けられてお
り、これらの表面波探触子1,1のうちの一方(送信側
)から表面波Rを発信させるように、超音波探傷器8か
らコード3.0を介して表面波発生信号が表面波探触子
1のうちの一方へ送られる。
めの装置では、被検体5の亀裂2ないし健全部を挟むよ
うに2つの表面波探触子1,1が相対して設けられてお
り、これらの表面波探触子1,1のうちの一方(送信側
)から表面波Rを発信させるように、超音波探傷器8か
らコード3.0を介して表面波発生信号が表面波探触子
1のうちの一方へ送られる。
そして、表面波探触子1のうちの他方(受信側)で受け
た表面波Rのエコーは、超音波探傷器8を介してブラウ
ン管4上に表示される。
た表面波Rのエコーは、超音波探傷器8を介してブラウ
ン管4上に表示される。
まだ、表面波探触子1,1と超音波探傷器8との間には
、フード10の接続を、第10.11図に示すように切
換えるための切換装置9が介装されていて、この切換え
により、表面波探触子1,1の受信側と送信側とが入れ
換わるように構7&されている。
、フード10の接続を、第10.11図に示すように切
換えるための切換装置9が介装されていて、この切換え
により、表面波探触子1,1の受信側と送信側とが入れ
換わるように構7&されている。
このような本発明の方法を実施するための装置を用いて
、次の手順により、亀裂深さdを測定する。
、次の手順により、亀裂深さdを測定する。
まず、第3図に示すように、被検本5の健全部の表面に
、2個の表面波探触子1,1を相対して設置する。
、2個の表面波探触子1,1を相対して設置する。
そして、表面波Rを送信することによって、第4図に示
すように、超音波のエコー3がブラウン管4のはぼ中央
位置にくるように、超音波探傷H8を調整する。
すように、超音波のエコー3がブラウン管4のはぼ中央
位置にくるように、超音波探傷H8を調整する。
次に、2個の表面波探触子1,1の間の距離2aを一定
に保ったまま、第1.S、7図に示すように、亀裂2を
含む被検体5の表面に2個の表面波探触子1,1を設置
する。
に保ったまま、第1.S、7図に示すように、亀裂2を
含む被検体5の表面に2個の表面波探触子1,1を設置
する。
そして、送信側の表面波探触子1から表面波Rを被検体
5の表面に送って、亀裂2の表面を伝播して、受信側の
表面波探触子1へ至る。この表面波Rは、第2゜6.8
図に示すように、ブラウン管4上では超音波エコー6と
して観察される。これにより、健全部での表面波Rの到
達時間である伝播時間T′と亀裂2がある場合の表面波
Rの到達時間T0との差2Tが求められる。
5の表面に送って、亀裂2の表面を伝播して、受信側の
表面波探触子1へ至る。この表面波Rは、第2゜6.8
図に示すように、ブラウン管4上では超音波エコー6と
して観察される。これにより、健全部での表面波Rの到
達時間である伝播時間T′と亀裂2がある場合の表面波
Rの到達時間T0との差2Tが求められる。
さらに、亀裂2の表面を伝わった表面波Rの一部は、亀
裂2の先端で横波Sにモード変換され、この横波Sへ
は被検体5中を伝播して最短距離ΔXで
受信側の表面波探触子1に至る。
裂2の先端で横波Sにモード変換され、この横波Sへ
は被検体5中を伝播して最短距離ΔXで
受信側の表面波探触子1に至る。
従って第2.6.8図に符号7で示すごとく、ブラウン
管4上では、表面波Rによる逓音波エコー6の前に、横
波Sによる超音波エフ−7が立ち上がる。
管4上では、表面波Rによる逓音波エコー6の前に、横
波Sによる超音波エフ−7が立ち上がる。
このエコー7により、亀裂がある場合の表面波Rの到達
時間(横波伝播時間)T1が観察される。
時間(横波伝播時間)T1が観察される。
このように、横波Sによる超音波エコー7の立ち上がる
ことは、発明者によって発見された事柄である。
ことは、発明者によって発見された事柄である。
健全部での表面波Rの到達時間である伝播時間T′と、
亀裂2がある場合の横波Sの到達時間である伝播時開T
、 どの差を2Tとすると、次式が成立する。
亀裂2がある場合の横波Sの到達時間である伝播時開T
、 どの差を2Tとすると、次式が成立する。
T、 =I(a+ff)/Vrl+fΔ×/■s)・・
・(2)T=ρ/ V r ・
・・(3)第2,3式より、亀裂2の先端から受信側表
面波探触子1までの距離Δ×および亀裂2の長さρは、
次式により求まる。
・(2)T=ρ/ V r ・
・・(3)第2,3式より、亀裂2の先端から受信側表
面波探触子1までの距離Δ×および亀裂2の長さρは、
次式により求まる。
Δ×=vs(T、−(a+p)/vr)・・・(4)ジ
=TXVr ・・・(5)第2〜
4式において、aは表面波探触子間の距離の(1/2)
、Vrは縦波の伝播速度、Vsは横波の伝播速度をそれ
ぞれ示している。
=TXVr ・・・(5)第2〜
4式において、aは表面波探触子間の距離の(1/2)
、Vrは縦波の伝播速度、Vsは横波の伝播速度をそれ
ぞれ示している。
なお、伝播時間T′と差2Tとの和は、縦波伝播時開(
表面波伝播時間)T、を表わしている。
表面波伝播時間)T、を表わしている。
このようにして求められたΔx、4および予め与えられ
たaは、三角形の各辺の長さに相当するので、三角形の
高さに相当する亀裂2の深さdは、次式により求められ
る。
たaは、三角形の各辺の長さに相当するので、三角形の
高さに相当する亀裂2の深さdは、次式により求められ
る。
・・・(6)
このように、第2〜6式を用いることによって、亀裂2
に傾きがある場合もない場合も、同一の演算により求め
ることができる。
に傾きがある場合もない場合も、同一の演算により求め
ることができる。
また、上述の亀裂深さdを求める過程において、切換装
置9を切換えることによって第10図に示す接続状態に
おいて測定される第2式の伝播時間T、=T、cと、第
11図に示す接続状態において測定される第2式の伝播
時開T、=T、イとをそれぞれ求めて、伝播時間Tlc
、T1くの大小関係から、傾斜の有無と傾きの方向とを
求めることができる。
置9を切換えることによって第10図に示す接続状態に
おいて測定される第2式の伝播時間T、=T、cと、第
11図に示す接続状態において測定される第2式の伝播
時開T、=T、イとをそれぞれ求めて、伝播時間Tlc
、T1くの大小関係から、傾斜の有無と傾きの方向とを
求めることができる。
すなわち、T、、>Tldの場合には、亀裂2が、第1
図に示すように、左側へ傾いており、T、e=7.7の
場合には、亀裂2が第5図に示すように、傾いておらず
、TI!<”rl−の場合には、亀裂2が、第7図に示
すように、右側へ傾いている。
図に示すように、左側へ傾いており、T、e=7.7の
場合には、亀裂2が第5図に示すように、傾いておらず
、TI!<”rl−の場合には、亀裂2が、第7図に示
すように、右側へ傾いている。
このように、切換装置9を、超音波探傷器8と表面波探
触子1.1との間に介装すると、表面波探触子1を被検
体5に取り付けたり取り脱したりする手間が省けて、表
面波探触子1.1間の距離を一定に保てるので、煩わし
さが解消され、作業性も向上する。
触子1.1との間に介装すると、表面波探触子1を被検
体5に取り付けたり取り脱したりする手間が省けて、表
面波探触子1.1間の距離を一定に保てるので、煩わし
さが解消され、作業性も向上する。
[発明の効果1
以上詳述したように、本発明の亀裂深さの測定方法によ
れば、被検体の亀裂を挟んで2つの表面波探触子を相対
させ、これらの表面波探触子の一方から表面波を上記被
検体へ向けて送り、その池方で上記亀裂を経由した表面
波を受けてその受信信号を検出器に送ることにより上記
亀裂の深さを測定するに際し、上記2つの表面波探触子
間の上記亀裂の表面を経由した表面波の縦波伝播時間を
測定するとともに、上記亀裂の先端部で横波に変換され
て上記被検体中を伝播してくる振動波の横波伝播時間を
測定して、これらの縦波伝播時問と横波伝播時間とに基
づき上記亀裂の深さを測定するというwR素な構造で、
次のような効果ないし利点を得ることができる。
れば、被検体の亀裂を挟んで2つの表面波探触子を相対
させ、これらの表面波探触子の一方から表面波を上記被
検体へ向けて送り、その池方で上記亀裂を経由した表面
波を受けてその受信信号を検出器に送ることにより上記
亀裂の深さを測定するに際し、上記2つの表面波探触子
間の上記亀裂の表面を経由した表面波の縦波伝播時間を
測定するとともに、上記亀裂の先端部で横波に変換され
て上記被検体中を伝播してくる振動波の横波伝播時間を
測定して、これらの縦波伝播時問と横波伝播時間とに基
づき上記亀裂の深さを測定するというwR素な構造で、
次のような効果ないし利点を得ることができる。
(1) 被検体の縁部から斜めに形成された亀裂にお
いても、その亀裂の深さを正確に測定することができる
。
いても、その亀裂の深さを正確に測定することができる
。
・ (2)非破壊検査技術の精度向上に大きく寄与でき
る。
る。
第1〜8図は本発明の一実施例としての亀裂深さの測定
方法を示すもので、第1,2図はそれぞ枕その左側に傾
斜した亀裂の測定状態を示す模式図および波形図、第3
,4図はそれぞれその亀裂の生成していない被検体の測
定状態を示す模式図および波形図、第5゜6図はそ九ぞ
れその傾斜していない亀裂の測定状態を示す模式図およ
び波形図、@7.8図はそれぞれその右側に傾斜した亀
裂のより定状態を示す模式図および波へ 形図、第9〜11図は本発明の方法を実施するだめの装
置を示すもので、第9図はその装置の構成図、第10.
11図はいずれもその切換装置の切換状態を示す模式図
であr)、第12〜15図は従来の亀裂深さの測定方法
を示すもので、第12.13図はそれぞれその亀裂の生
成していない被検体の測定状態を示す模式図および波形
図、第14.15図はそれぞれその傾斜していない亀裂
の測定状態を示す模式図および波形図である。 1・・表面波探触子、2・・亀裂、3・・超音波エコー
、4・・ブラウン管、5・・被検体、6,7・・超音波
エコー、8・・超音波探傷器、9・・切換装置、10・
・フード。 復代理人 弁理士 飯沼義彦 第1図 第3図 第5図 第7図 18図 第9図 M 10図 第11図 i ド第12図
方法を示すもので、第1,2図はそれぞ枕その左側に傾
斜した亀裂の測定状態を示す模式図および波形図、第3
,4図はそれぞれその亀裂の生成していない被検体の測
定状態を示す模式図および波形図、第5゜6図はそ九ぞ
れその傾斜していない亀裂の測定状態を示す模式図およ
び波形図、@7.8図はそれぞれその右側に傾斜した亀
裂のより定状態を示す模式図および波へ 形図、第9〜11図は本発明の方法を実施するだめの装
置を示すもので、第9図はその装置の構成図、第10.
11図はいずれもその切換装置の切換状態を示す模式図
であr)、第12〜15図は従来の亀裂深さの測定方法
を示すもので、第12.13図はそれぞれその亀裂の生
成していない被検体の測定状態を示す模式図および波形
図、第14.15図はそれぞれその傾斜していない亀裂
の測定状態を示す模式図および波形図である。 1・・表面波探触子、2・・亀裂、3・・超音波エコー
、4・・ブラウン管、5・・被検体、6,7・・超音波
エコー、8・・超音波探傷器、9・・切換装置、10・
・フード。 復代理人 弁理士 飯沼義彦 第1図 第3図 第5図 第7図 18図 第9図 M 10図 第11図 i ド第12図
Claims (1)
- 被検体の亀裂を挟んで2つの表面波探触子を相対させ、
これらの表面波探触子の一方から表面波を上記被検体へ
向けて送り、その他方で上記亀裂を経由した表面波を受
けてその受信信号を検出器に送ることにより上記亀裂の
深さを測定するに際し、上記2つの表面波探触子間の上
記亀裂の表面を経由した表面波の縦波伝播時間を測定す
るとともに、上記亀裂の先端部で横波に変換されて上記
被検体中を伝播してくる振動波の横波伝播時間を測定し
て、これらの縦波伝播時間と横波伝播時間とに基づき上
記亀裂の深さを測定することを特徴とする、亀裂深さの
測定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59247568A JPS61122562A (ja) | 1984-11-20 | 1984-11-20 | 亀裂深さの測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59247568A JPS61122562A (ja) | 1984-11-20 | 1984-11-20 | 亀裂深さの測定方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61122562A true JPS61122562A (ja) | 1986-06-10 |
Family
ID=17165427
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59247568A Pending JPS61122562A (ja) | 1984-11-20 | 1984-11-20 | 亀裂深さの測定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61122562A (ja) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JP2002131289A (ja) * | 2000-10-26 | 2002-05-09 | Mitsubishi Electric Corp | 超音波探傷装置および方法 |
JP2007017298A (ja) * | 2005-07-07 | 2007-01-25 | Toshiba Corp | 表面検査方法およびその表面検査装置 |
JP2008008844A (ja) * | 2006-06-30 | 2008-01-17 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 超音波探傷方法及び装置 |
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