JPS58124946A - 探触子接触状態確認方法 - Google Patents
探触子接触状態確認方法Info
- Publication number
- JPS58124946A JPS58124946A JP57007908A JP790882A JPS58124946A JP S58124946 A JPS58124946 A JP S58124946A JP 57007908 A JP57007908 A JP 57007908A JP 790882 A JP790882 A JP 790882A JP S58124946 A JPS58124946 A JP S58124946A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inspected
- time
- probe
- reflected
- gain
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/22—Details, e.g. general constructional or apparatus details
- G01N29/30—Arrangements for calibrating or comparing, e.g. with standard objects
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/02—Indexing codes associated with the analysed material
- G01N2291/028—Material parameters
- G01N2291/0289—Internal structure, e.g. defects, grain size, texture
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Ultra Sonic Daignosis Equipment (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は被検査物と探触子間の接触状態の確認方法に
関するものである。
関するものである。
非破壊検査の一つとしての超音波探傷法においては、超
音波探触子（以下探触子〕と被探査物との接触状態が特
に重要な要点である。一般には、油や水等の液体を探触
子と被検査物間へ塗布して超音波が被検査物へ土丹に入
射するようにしている。上記接触状態を確認する従来の
手段としては９種々こころみられており２例えば垂直探
傷法即ち超音波を被検査物表面（以下探傷面）から垂直
に超音波を入射させる方法においては、被検査物底面の
反射波を監視することが一つの手段である。この手段は
一般に探傷面と底面とがｌ’＋ソ平行な場合が殆んどで
あるから、採用可能である。一方、斜角探傷法即ち超音
波を探傷面から斜めに入射させる方法においては、上述
の垂直探傷法の場合のように底面の反射波を監視するこ
とが一探触子法（１個の探触子で送信と受信の両機能を
もたせる方法）に於てむずかしい、以下第１図により、
従来性われている斜角探傷法に於ける接触状態の確認方
法を説、明する。図において、（１）は探触子、（２）
は接触媒質、（３）は被検査物である。送信用振動子（
ＳＴ）から発射された超栓波（ＵＳ）は探触子内のアク
リル等を伝播して入射点（ＰＩ）に到りその一部は接触
媒質（２）を介して被検査物（３）へ入射される。一方
入射点（ＰＩ ）で反射された超音波（ＵＳ）をもう一
つの振動子（Ｓ Ｒ、）にて受信して９図示していない
受信器で増幅し。
音波探触子（以下探触子〕と被探査物との接触状態が特
に重要な要点である。一般には、油や水等の液体を探触
子と被検査物間へ塗布して超音波が被検査物へ土丹に入
射するようにしている。上記接触状態を確認する従来の
手段としては９種々こころみられており２例えば垂直探
傷法即ち超音波を被検査物表面（以下探傷面）から垂直
に超音波を入射させる方法においては、被検査物底面の
反射波を監視することが一つの手段である。この手段は
一般に探傷面と底面とがｌ’＋ソ平行な場合が殆んどで
あるから、採用可能である。一方、斜角探傷法即ち超音
波を探傷面から斜めに入射させる方法においては、上述
の垂直探傷法の場合のように底面の反射波を監視するこ
とが一探触子法（１個の探触子で送信と受信の両機能を
もたせる方法）に於てむずかしい、以下第１図により、
従来性われている斜角探傷法に於ける接触状態の確認方
法を説、明する。図において、（１）は探触子、（２）
は接触媒質、（３）は被検査物である。送信用振動子（
ＳＴ）から発射された超栓波（ＵＳ）は探触子内のアク
リル等を伝播して入射点（ＰＩ）に到りその一部は接触
媒質（２）を介して被検査物（３）へ入射される。一方
入射点（ＰＩ ）で反射された超音波（ＵＳ）をもう一
つの振動子（Ｓ Ｒ、）にて受信して９図示していない
受信器で増幅し。
目祁あるいは電気的に監視することが出来る。
このように超音波（ＵＳ）が入射点（ＰＩ）迄到達して
いることを監視することで接触状態を確認している。し
かし、この方法は、垂直探傷の場合のように被検査物中
を透過してきた超音波を監視する方法でないために、確
実に被検査物（３）に入射していることの確証にはなら
ないと共に、接触状態確認用の振動子（ＳＲ）を特別に
設ける必要があり、探触子（１）の製作費用増大の一因
を成しているという欠点を有していた。
いることを監視することで接触状態を確認している。し
かし、この方法は、垂直探傷の場合のように被検査物中
を透過してきた超音波を監視する方法でないために、確
実に被検査物（３）に入射していることの確証にはなら
ないと共に、接触状態確認用の振動子（ＳＲ）を特別に
設ける必要があり、探触子（１）の製作費用増大の一因
を成しているという欠点を有していた。
この発明は従来のこのような問題点の改善を図るもので
、す、下、第２図を用いて説明する。
、す、下、第２図を用いて説明する。
図にお・いて、（１）け探触子、（２）ｉｌ−を接剤１
媒質、（３）は被検査物、（４）は送信器、（５）は受
信器、（６）は表示器、（力は時間マーカ発生器、（８
）は利得開側１器である。
媒質、（３）は被検査物、（４）は送信器、（５）は受
信器、（６）は表示器、（力は時間マーカ発生器、（８
）は利得開側１器である。
このような構成において送信器（４）で発生された正気
信号パルスは探触子（１）内振動子（ＳＴ）へ印加され
超音波（ＵＳ）に変換され、アクリル等を伝播し、接触
媒質（２）を介して被検査物（３）・＼入射される。超
音波（ＵＳ ）は溶接部（３）等の欠陥（ＦＬ）で反射
され２反射された超音波（ＵＳ）の一部は再び振動子（
ＳＴ）で電気信号に変換された後、受信器（５）で所定
の大きさ即ちブラウン管等で形成される表示器（６）で
十分目初出来る種変に増幅される。第２図ｆａ）は表示
器（６）に表示された波形例を示したもので（Ｔｌは送
信波、（Ｆ）は欠陥（ＦＬ）からの反射波をそれぞれ表
している。一方時間マーカ発生器（刀では７ｇｊ２図（
ｂ）のように送信パルス（Ｔｌがら時間（ｔＧＳ）遅れ
２時間（ｔＧＬ）なるマーカを発生させ。
信号パルスは探触子（１）内振動子（ＳＴ）へ印加され
超音波（ＵＳ）に変換され、アクリル等を伝播し、接触
媒質（２）を介して被検査物（３）・＼入射される。超
音波（ＵＳ ）は溶接部（３）等の欠陥（ＦＬ）で反射
され２反射された超音波（ＵＳ）の一部は再び振動子（
ＳＴ）で電気信号に変換された後、受信器（５）で所定
の大きさ即ちブラウン管等で形成される表示器（６）で
十分目初出来る種変に増幅される。第２図ｆａ）は表示
器（６）に表示された波形例を示したもので（Ｔｌは送
信波、（Ｆ）は欠陥（ＦＬ）からの反射波をそれぞれ表
している。一方時間マーカ発生器（刀では７ｇｊ２図（
ｂ）のように送信パルス（Ｔｌがら時間（ｔＧＳ）遅れ
２時間（ｔＧＬ）なるマーカを発生させ。
利得制御器（８）に接続される。利得制御器（８）は。
受信器（５）の利得を制御する機能を有し、上記時間（
ｔＧＬ、）だけ、それ以外の時間における利得より高め
るように作動させていると共に、その量を可変すること
も可能である。第２図（ａｌに示した波形（ＲＥ）は時
間（ｔＧＬ）の範囲に現われる反射波で、一般に林の如
き波形であることから林状エコーと呼ばれており、材料
の組織を成す粒子と粒子の境界面から反射されたもので
ある。このように林状エコーは被検査物中に欠陥が無く
ても得られるが、欠陥反射波に比較すると反射の量が小
さいため、林状エコーを監皆す小たｔには受信器（５）
の利得を通常の欠陥を検出するのに要する利得より高め
る必要がある。
ｔＧＬ、）だけ、それ以外の時間における利得より高め
るように作動させていると共に、その量を可変すること
も可能である。第２図（ａｌに示した波形（ＲＥ）は時
間（ｔＧＬ）の範囲に現われる反射波で、一般に林の如
き波形であることから林状エコーと呼ばれており、材料
の組織を成す粒子と粒子の境界面から反射されたもので
ある。このように林状エコーは被検査物中に欠陥が無く
ても得られるが、欠陥反射波に比較すると反射の量が小
さいため、林状エコーを監皆す小たｔには受信器（５）
の利得を通常の欠陥を検出するのに要する利得より高め
る必要がある。
以上説明したようにこの発明によれば任意に設定出来る
時間（ｔＧＬ）内の林状エコーを確認することが可能で
あり、超音波が被検査物中に伝播していることを確証出
来ると共に２通常の欠陥検出時の利得で超音波探傷でき
る特徴も兼ね倫えている。
時間（ｔＧＬ）内の林状エコーを確認することが可能で
あり、超音波が被検査物中に伝播していることを確証出
来ると共に２通常の欠陥検出時の利得で超音波探傷でき
る特徴も兼ね倫えている。
第１図は斜角探傷法に於て、従来性われている接触状態
の確認方法について説明した図、第２図は、この発明に
よる接触状態の確認方法について説明した図であり２図
において、（１）は探触子、（２）は接触媒質、（３）
は被検食物２（４）は送信器、（５）は受信器、（６）
は表示器、（７）は時間マーカ発生器、（８）は利得制
挿Ｉ器である。同２図中同一あるいは相当部分には同一
符号を付して示しである。 代理人 葛 野 信 −
の確認方法について説明した図、第２図は、この発明に
よる接触状態の確認方法について説明した図であり２図
において、（１）は探触子、（２）は接触媒質、（３）
は被検食物２（４）は送信器、（５）は受信器、（６）
は表示器、（７）は時間マーカ発生器、（８）は利得制
挿Ｉ器である。同２図中同一あるいは相当部分には同一
符号を付して示しである。 代理人 葛 野 信 −
Claims (1)
- 電気パルスを受けて超音波パルスに変換する探触子を用
いて、超音波パルスを被検査物へ入射させ、上記被検査
物内部に存在する欠陥等の反射波を上記探触子で再び電
気パルスに変換した後受信器にて増幅し、ブラウン管等
の表示器で観測することにより、被検査物の超音波探傷
を実施する方法において超音波送信パルスから設定可能
な任意の時間遅れた所定の時間内だけ他の時間の受信増
幅度よりも利得を増大させる手段を設け、その手段によ
って、被検査物の組織を形成する粒子と粒子境界面の反
射液を観測し、上記境界面からの反射波の存在をもって
探
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57007908A JPS58124946A (ja) | 1982-01-21 | 1982-01-21 | 探触子接触状態確認方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57007908A JPS58124946A (ja) | 1982-01-21 | 1982-01-21 | 探触子接触状態確認方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58124946A true JPS58124946A (ja) | 1983-07-25 |
Family
ID=11678645
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57007908A Pending JPS58124946A (ja) | 1982-01-21 | 1982-01-21 | 探触子接触状態確認方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58124946A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5585250A (en) * | 1978-09-27 | 1980-06-27 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | Coupling check method of ultrasonic probe |
-
1982
- 1982-01-21 JP JP57007908A patent/JPS58124946A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5585250A (en) * | 1978-09-27 | 1980-06-27 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | Coupling check method of ultrasonic probe |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US2527986A (en) | Supersonic testing | |
| US2875607A (en) | Ultrasonic testing apparatus | |
| JP2013242202A (ja) | 超音波検査方法及び超音波検査装置 | |
| US3009353A (en) | Ultrasonic measurement apparatus | |
| US3583211A (en) | Pulse-echo ultrasonic test apparatus | |
| JPWO2020039850A1 (ja) | 接合界面の評価方法および接合界面の評価装置 | |
| JPS6321135B2 (ja) | ||
| JP2012068209A (ja) | 超音波材料診断方法及び装置 | |
| JPS61122562A (ja) | 亀裂深さの測定方法 | |
| JPS591980B2 (ja) | 超音波検査装置 | |
| JPS58124946A (ja) | 探触子接触状態確認方法 | |
| JP2004347572A (ja) | 超音波探傷装置および超音波探傷方法 | |
| JPH0552461B2 (ja) | ||
| JPH05288723A (ja) | ピッチキャッチ式超音波探傷方法 | |
| JPS6326344B2 (ja) | ||
| JPS6128301B2 (ja) | ||
| JPH04301762A (ja) | 圧電変換子とその計測装置 | |
| JP3562159B2 (ja) | 金属板の多チャンネル自動超音波探傷方法および装置 | |
| JP2739972B2 (ja) | 超音波探傷装置 | |
| JPS63261151A (ja) | 超音波探触子 | |
| JP6987554B2 (ja) | 非破壊検査装置及びその方法 | |
| JP2002328120A (ja) | 超音波探触子および超音波探傷方法 | |
| JPH06242086A (ja) | 超音波検査装置 | |
| Cho et al. | A study on the guided wave mode conversion using self-calibrating technique | |
| JPS59148864A (ja) | 角鋼片の超音波探傷法 |