JPS61121204A - 導電ペ−スト - Google Patents
導電ペ−ストInfo
- Publication number
- JPS61121204A JPS61121204A JP24202884A JP24202884A JPS61121204A JP S61121204 A JPS61121204 A JP S61121204A JP 24202884 A JP24202884 A JP 24202884A JP 24202884 A JP24202884 A JP 24202884A JP S61121204 A JPS61121204 A JP S61121204A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- conductive
- conductive paste
- powder
- multilayer ceramic
- temperature
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
- Conductive Materials (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、Ntを主成分とし、非酸化雰囲気中で焼成
される導電ペーストに関する。
される導電ペーストに関する。
非酸化雰囲気中で焼成して製造される積層セラミックコ
ンデンサは、従来において、その内部電極と外部電極が
同一の導電ペーストを用いて作られていた。そしてこの
導電ペースト中の導電粉末は、Ni粉末のみからなって
いた。
ンデンサは、従来において、その内部電極と外部電極が
同一の導電ペーストを用いて作られていた。そしてこの
導電ペースト中の導電粉末は、Ni粉末のみからなって
いた。
この種の積層セラミックコンデンサの製造方法を説明す
る。まずセラミック材料を用いて未焼結磁器シートを作
り、これに内部電極用の導電ペーストを印刷する。この
シートを数枚積層して切断する。次いでこれを非酸化雰
囲気中で1100〜1300℃の温度で焼成する。得ら
れた積層体の側面に外部電極用の導電ペーストを塗布し
。
る。まずセラミック材料を用いて未焼結磁器シートを作
り、これに内部電極用の導電ペーストを印刷する。この
シートを数枚積層して切断する。次いでこれを非酸化雰
囲気中で1100〜1300℃の温度で焼成する。得ら
れた積層体の側面に外部電極用の導電ペーストを塗布し
。
これを非酸化雰囲気中で1100〜1150℃の温度で
焼成することにより、積層セラミックコンデンサチップ
となる。
焼成することにより、積層セラミックコンデンサチップ
となる。
しかしながら、こうして作られた積層セラミックコンデ
ンサチップの場合、内部電極がセラミックの焼結工程と
同時に行われるそれ自身の焼付工程と、外部電極の焼付
工程との2度に亙って高温に晒されるため、この間に内
部電極の導電成分が異常に粒子成長しやすい。この結果
2従来の導電ペーストを使用して生産されたものは、静
電容量C1誘電体損失tanδ1等価直列抵抗ESR等
の平均値が所定の規格すれすれで。
ンサチップの場合、内部電極がセラミックの焼結工程と
同時に行われるそれ自身の焼付工程と、外部電極の焼付
工程との2度に亙って高温に晒されるため、この間に内
部電極の導電成分が異常に粒子成長しやすい。この結果
2従来の導電ペーストを使用して生産されたものは、静
電容量C1誘電体損失tanδ1等価直列抵抗ESR等
の平均値が所定の規格すれすれで。
中には所定の規格範囲に入らないものがあった。
この発明の目的は、従来のNi導電ペーストに於ける上
記の問題を解決することにある。即ち、外部電極用の導
電ペーストの焼付温度を。
記の問題を解決することにある。即ち、外部電極用の導
電ペーストの焼付温度を。
従来より20〜330℃程低くすることにより、内部電
極中の導電成分の異常な粒子成長を抑え。
極中の導電成分の異常な粒子成長を抑え。
もって積層セラミックコンデンサチップの特性の平均値
をより高いレベルとし、その全てが所定の規格範囲を満
足できるようにすることを目的とする。
をより高いレベルとし、その全てが所定の規格範囲を満
足できるようにすることを目的とする。
この発明による導電ペーストは、導電粉末とバインダと
からなるもので、導電粒子は、Ni粉末を80〜99重
量%と、Cu、Pb、Sn粉末の何れか1種以上1〜2
0重量%とからなるものである。なお、バインダは従来
公知の9例えばエチルセルローズとブチルカルピトール
等からなる。
からなるもので、導電粒子は、Ni粉末を80〜99重
量%と、Cu、Pb、Sn粉末の何れか1種以上1〜2
0重量%とからなるものである。なお、バインダは従来
公知の9例えばエチルセルローズとブチルカルピトール
等からなる。
Cu、Pb、Sn等はNiに比べて融点の低い金属であ
り、焼き付は温度を下げるという点で何れも同じ作用を
示す、このため、これらの金属成分を含む導電ペースト
は、従来のNiのみの導電粉末からなるものに比べて2
0〜330℃低い温度で焼き付けることができる。従っ
てこれを積層セラミックコンデンサの外部電極用の導電
ペーストとして使用して、従来より低い温度で焼き付け
ることによって、高温による内部電極の導電粒子の異常
な成長を防ぐことができる。よって上記コンデンサの静
電容量C1誘電体損失tanδ9等価直列抵抗ESR等
の特性の平均値を従来のものより高いレベルにすること
ができる。
り、焼き付は温度を下げるという点で何れも同じ作用を
示す、このため、これらの金属成分を含む導電ペースト
は、従来のNiのみの導電粉末からなるものに比べて2
0〜330℃低い温度で焼き付けることができる。従っ
てこれを積層セラミックコンデンサの外部電極用の導電
ペーストとして使用して、従来より低い温度で焼き付け
ることによって、高温による内部電極の導電粒子の異常
な成長を防ぐことができる。よって上記コンデンサの静
電容量C1誘電体損失tanδ9等価直列抵抗ESR等
の特性の平均値を従来のものより高いレベルにすること
ができる。
なお、導電粉末中の組成比の下限を、上記のように限定
したのは2次ぎの理由による。即ち。
したのは2次ぎの理由による。即ち。
導電ペーストの焼付温度を従来に比べて20℃以上低く
することができるのは、導電粉末中にCu、Pb、Sn
等の金属粉末を1重量%以上含ませたときであることに
よる。
することができるのは、導電粉末中にCu、Pb、Sn
等の金属粉末を1重量%以上含ませたときであることに
よる。
例えば9導電粉末としてNi粉末のみを含む従来の導電
ペーストでは、その焼付温度が1100℃程度である。
ペーストでは、その焼付温度が1100℃程度である。
これに対し、導電粉末中に1重量%のCu粉末を含む導
電ペーストの焼付温度は1080℃であり、20℃低い
温度で焼き付けることができる。
電ペーストの焼付温度は1080℃であり、20℃低い
温度で焼き付けることができる。
また、導電粉末中の組成比の上限を、上記のように限定
した理由は、導電ペーストの焼付温度や、これに伴う積
層セラミックコンデンサの特性面によるものではなく、
他の実用上の理由による。即ち、Cu、Pb、Sn等の
金属を多く含む電極は、溶融した半田に接すると、電極
を構成する金属が溶融半田中に溶は出す、いわゆる電極
食われ現象を生ずるからである。
した理由は、導電ペーストの焼付温度や、これに伴う積
層セラミックコンデンサの特性面によるものではなく、
他の実用上の理由による。即ち、Cu、Pb、Sn等の
金属を多く含む電極は、溶融した半田に接すると、電極
を構成する金属が溶融半田中に溶は出す、いわゆる電極
食われ現象を生ずるからである。
電極食われが生じたか否かについては、溶融した270
±5℃の半田中に、積層セラミックコンデンサチップを
20土1秒間浸漬した後、電極面積が浸漬前の90%以
上残るか否かで判定した。
±5℃の半田中に、積層セラミックコンデンサチップを
20土1秒間浸漬した後、電極面積が浸漬前の90%以
上残るか否かで判定した。
上記Cu、Pb、Sn等の粉末が導電粉末中に含まれる
量が、20重量%まではこの条件で電極の食われが生じ
ないものと判定された。
量が、20重量%まではこの条件で電極の食われが生じ
ないものと判定された。
次ぎにこの発明の実施例と比較例について説明する。
導電粉末として純度99.9%のNi粉末90g。
Cu粉末10g及びバインダーとしてエチルセルローズ
16gとブチルカルピトール64gを摺潰機で5時間粗
部合した。その後、ロールミルで1時間混練し、別表の
l!h5の欄に示した組成の導電粉末を含む導電ペース
トを作った。
16gとブチルカルピトール64gを摺潰機で5時間粗
部合した。その後、ロールミルで1時間混練し、別表の
l!h5の欄に示した組成の導電粉末を含む導電ペース
トを作った。
次いでこの導電ペーストを次ぎの方法で積層セラミック
コンデンサの外部電極として使用した。まずBaTiO
2系のセラミック材料と内部電極用のNi導電ペースト
を使用して未焼成の積層チップを作製した。そしてこれ
を2%のH2ガスを含むN2ガス雰囲気中において12
50℃の温度で焼成した0次いで積層チップの側面に露
出した内部電極に接して同積層チップの両側面に上記外
部電極用の導電ペーストを約50μmの厚さではり均一
に塗布し、これを乾燥固化させた。さらにこれを2%の
H2ガスを含むN2ガス雰囲気中において990℃で約
1時間保持して焼き付けた。この温度を別表に示す。
コンデンサの外部電極として使用した。まずBaTiO
2系のセラミック材料と内部電極用のNi導電ペースト
を使用して未焼成の積層チップを作製した。そしてこれ
を2%のH2ガスを含むN2ガス雰囲気中において12
50℃の温度で焼成した0次いで積層チップの側面に露
出した内部電極に接して同積層チップの両側面に上記外
部電極用の導電ペーストを約50μmの厚さではり均一
に塗布し、これを乾燥固化させた。さらにこれを2%の
H2ガスを含むN2ガス雰囲気中において990℃で約
1時間保持して焼き付けた。この温度を別表に示す。
こうして作られた500個の積層セラミックコンデンサ
を1昼夜常温で放置した。その後、市販のLCRメータ
(YHP4274A)でIKHzにおける静電容量Cと
誘電体損失tanδを測定し、インピーダンスアナライ
ザ(YHP4191^)を使用して等価直列抵抗ESR
を測定した。この平均値を別表の1llll15の欄に
示す。
を1昼夜常温で放置した。その後、市販のLCRメータ
(YHP4274A)でIKHzにおける静電容量Cと
誘電体損失tanδを測定し、インピーダンスアナライ
ザ(YHP4191^)を使用して等価直列抵抗ESR
を測定した。この平均値を別表の1llll15の欄に
示す。
以下同様にしてそれぞれ別表各欄に示す組成の導電粉末
を含む導電ペーストを作った。そしてこれを外部電極用
材料として使用し、何れも同じ構造と規格の積層セラミ
ックコンデンサを製作した。
を含む導電ペーストを作った。そしてこれを外部電極用
材料として使用し、何れも同じ構造と規格の積層セラミ
ックコンデンサを製作した。
この内tlhlは、N12〜25に示した実施例との比
較のため作られた従来の導電ペーストの導電粉末の組成
と、これを使用して作られた積層セラミックコンデンサ
の特性を500個の平均値で示したものである。
較のため作られた従来の導電ペーストの導電粉末の組成
と、これを使用して作られた積層セラミックコンデンサ
の特性を500個の平均値で示したものである。
この結果、N12〜25の積層セラミックコンデンサは
、静電容量Cが307nF + 80%−20%、誘電
体損失tanδが3.2%以下9等価直列抵抗ESRが
50mΩという規格を全てが満足した。これに対して、
111[LLの積層セラミックコンデンサで上記の規格
を満足したものは500個中8o個であった。
、静電容量Cが307nF + 80%−20%、誘電
体損失tanδが3.2%以下9等価直列抵抗ESRが
50mΩという規格を全てが満足した。これに対して、
111[LLの積層セラミックコンデンサで上記の規格
を満足したものは500個中8o個であった。
以上説明した通り、この発明によれば、導電粉末がNi
粉末のみからなる従来のものに比べて低い温度で焼き付
けが可能な導電ペーストを提供することができる。これ
によって内部電極中の導電成分の異常な粒子成長を抑え
、積層セラミックコンデンサの特性値のレベルを高クシ
。
粉末のみからなる従来のものに比べて低い温度で焼き付
けが可能な導電ペーストを提供することができる。これ
によって内部電極中の導電成分の異常な粒子成長を抑え
、積層セラミックコンデンサの特性値のレベルを高クシ
。
所定の規格範囲を全て満足させることができるようにな
る。
る。
Claims (1)
- 導電粉末とバインダとからなる導電ペーストにおいて、
導電粉末が、Ni粉末80〜99重量%と、Cu、Pb
、Sn粉末の何れか1種以上1〜20重量%とからなる
ことを特徴とする導電ペースト。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24202884A JPS61121204A (ja) | 1984-11-16 | 1984-11-16 | 導電ペ−スト |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24202884A JPS61121204A (ja) | 1984-11-16 | 1984-11-16 | 導電ペ−スト |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61121204A true JPS61121204A (ja) | 1986-06-09 |
Family
ID=17083193
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP24202884A Pending JPS61121204A (ja) | 1984-11-16 | 1984-11-16 | 導電ペ−スト |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61121204A (ja) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS593909A (ja) * | 1982-06-29 | 1984-01-10 | ニチコン株式会社 | セラミツクコンデンサ用電極ペ−スト |
JPS59161467A (ja) * | 1983-03-04 | 1984-09-12 | Tokyo Ink Kk | 導電性塗料 |
-
1984
- 1984-11-16 JP JP24202884A patent/JPS61121204A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS593909A (ja) * | 1982-06-29 | 1984-01-10 | ニチコン株式会社 | セラミツクコンデンサ用電極ペ−スト |
JPS59161467A (ja) * | 1983-03-04 | 1984-09-12 | Tokyo Ink Kk | 導電性塗料 |
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