JPH0377647B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0377647B2 JPH0377647B2 JP57045318A JP4531882A JPH0377647B2 JP H0377647 B2 JPH0377647 B2 JP H0377647B2 JP 57045318 A JP57045318 A JP 57045318A JP 4531882 A JP4531882 A JP 4531882A JP H0377647 B2 JPH0377647 B2 JP H0377647B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- internal electrodes
- conductive paste
- ceramic capacitor
- ceramic
- particles
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 29
- 239000003985 ceramic capacitor Substances 0.000 claims description 20
- 239000000843 powder Substances 0.000 claims description 15
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 claims description 14
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 claims description 13
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims description 12
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 12
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 11
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 10
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 7
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 239000000956 alloy Substances 0.000 claims description 6
- 229910000510 noble metal Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 claims description 5
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000010931 gold Substances 0.000 claims description 4
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 3
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000004332 silver Substances 0.000 claims description 3
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 claims description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 claims description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910052787 antimony Inorganic materials 0.000 claims description 2
- WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N antimony atom Chemical compound [Sb] WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 claims description 2
- JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N bismuth atom Chemical compound [Bi] JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 2
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 229910052752 metalloid Inorganic materials 0.000 description 9
- 150000002738 metalloids Chemical class 0.000 description 9
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 8
- 230000032798 delamination Effects 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 239000002923 metal particle Substances 0.000 description 5
- 229910052573 porcelain Inorganic materials 0.000 description 5
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 4
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 3
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 3
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 3
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 230000002542 deteriorative effect Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 description 2
- 238000003475 lamination Methods 0.000 description 2
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 2
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 2
- GEIAQOFPUVMAGM-UHFFFAOYSA-N ZrO Inorganic materials [Zr]=O GEIAQOFPUVMAGM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 1
- 238000001354 calcination Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000007606 doctor blade method Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 230000008719 thickening Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Ceramic Capacitors (AREA)
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
- Conductive Materials (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
<産業上の利用分野>
本発明は、磁器コンデンサの内部電極材料とし
て使用される内部電極用導電性ペーストに関す
る。
て使用される内部電極用導電性ペーストに関す
る。
<従来の技術>
内部電極構造の磁器コンデンサとしては、積層
磁器コンデンサが最も良く知られているが、この
他にも、電極の一方または両方を誘電体磁器の内
部に埋設した単層型の磁器コンデンサ等、他のタ
イプのものも最近提案されている。これらの内部
電極構造の磁器コンデンサは、小型かつ大容量で
絶縁性が高いこと、高い周波数範囲まで優れた周
波数特性を示すこと、一般にモノリシツクな防湿
構造となるので外装なしにチツプ部品として使用
できること、高信頼度であること等の特長があ
り、回路の厚膜化、モジユール化の一端を担なう
重要部品として、電子計算機、通信機、テレビ受
像機、ラジオ受信機、電子時計、電卓等の各種の
電子機器に広く利用されつつある。
磁器コンデンサが最も良く知られているが、この
他にも、電極の一方または両方を誘電体磁器の内
部に埋設した単層型の磁器コンデンサ等、他のタ
イプのものも最近提案されている。これらの内部
電極構造の磁器コンデンサは、小型かつ大容量で
絶縁性が高いこと、高い周波数範囲まで優れた周
波数特性を示すこと、一般にモノリシツクな防湿
構造となるので外装なしにチツプ部品として使用
できること、高信頼度であること等の特長があ
り、回路の厚膜化、モジユール化の一端を担なう
重要部品として、電子計算機、通信機、テレビ受
像機、ラジオ受信機、電子時計、電卓等の各種の
電子機器に広く利用されつつある。
この種の磁器コンデンサは、適当な誘電体磁器
粉とバインダと溶剤とを混合してペースト化した
ものを、ドクターブレード法、ロールコータ法ま
たはスクリーン印刷法等の手段によつてシート化
し、このシート化されたグリーンシートの上に内
部電極となる内部電極用導電性ペーストを塗布印
刷した後、これらを必要とする層数に合せて順次
積み重ね、次にこの積層体を自然雰囲気中で、
1250〜1400℃の温度条件で焼成した後、焼結体の
端面に前記内部電極と導通する端部電極を付与し
て製造するのが一般的である。
粉とバインダと溶剤とを混合してペースト化した
ものを、ドクターブレード法、ロールコータ法ま
たはスクリーン印刷法等の手段によつてシート化
し、このシート化されたグリーンシートの上に内
部電極となる内部電極用導電性ペーストを塗布印
刷した後、これらを必要とする層数に合せて順次
積み重ね、次にこの積層体を自然雰囲気中で、
1250〜1400℃の温度条件で焼成した後、焼結体の
端面に前記内部電極と導通する端部電極を付与し
て製造するのが一般的である。
この場合、内部電極用導電性ペーストとして
は、金属粉末を有機質ビヒクル中に均一に分散さ
せてペースト化したものを使用することとなる
が、金属粉としては、誘電体磁器の焼結温度以上
の融点を有し、しかも自然雰囲気中で1250〜1400
℃の温度で焼成しても、誘電体磁器と接触して酸
したりまたは反応を起さない金属材料を使用する
ことが条件となる。この条件を満足する金属粉末
として従来は、白金、金、パラジウムもしくはこ
れらの合金またはこれらと銀の合金等を用いてき
た。
は、金属粉末を有機質ビヒクル中に均一に分散さ
せてペースト化したものを使用することとなる
が、金属粉としては、誘電体磁器の焼結温度以上
の融点を有し、しかも自然雰囲気中で1250〜1400
℃の温度で焼成しても、誘電体磁器と接触して酸
したりまたは反応を起さない金属材料を使用する
ことが条件となる。この条件を満足する金属粉末
として従来は、白金、金、パラジウムもしくはこ
れらの合金またはこれらと銀の合金等を用いてき
た。
<発明が解決しようとする課題>
しかし、これらの金属と、誘電体磁器との間の
縮率が極端に異なるため、焼成時に誘電体磁器と
内部電極を構成する金属による電極との界面にデ
ラミネーシヨンが発生して、取得容量が大幅に変
動し、実用性が損なわれるため、同時焼成が困難
であつた。また、金属の粒子が焼成時に異常粒成
長し、空孔や電極切れ等を発生すると言う問題も
あつた。かかる欠点の改善策として、金属粒子と
共に、共材となる誘電体磁器粒子を数〜十数%添
加して内部電極用導電性ペーストを調製する方法
が提案されている。この従来技術によれば、デラ
ミネーシヨンの発生を抑制することは可能である
が、共材が絶縁体であるため、共材量を増加させ
てデラミネーシヨン抑制作用を向上させる程に、
電極としての品質が低下し、磁器コンデンサとし
ての電気的特性が悪化してしまう難点があつた。
縮率が極端に異なるため、焼成時に誘電体磁器と
内部電極を構成する金属による電極との界面にデ
ラミネーシヨンが発生して、取得容量が大幅に変
動し、実用性が損なわれるため、同時焼成が困難
であつた。また、金属の粒子が焼成時に異常粒成
長し、空孔や電極切れ等を発生すると言う問題も
あつた。かかる欠点の改善策として、金属粒子と
共に、共材となる誘電体磁器粒子を数〜十数%添
加して内部電極用導電性ペーストを調製する方法
が提案されている。この従来技術によれば、デラ
ミネーシヨンの発生を抑制することは可能である
が、共材が絶縁体であるため、共材量を増加させ
てデラミネーシヨン抑制作用を向上させる程に、
電極としての品質が低下し、磁器コンデンサとし
ての電気的特性が悪化してしまう難点があつた。
そこで、本発明の課題は、内部電極を構造する
金属粒子の異常粒成長を抑制して空孔や電極切れ
の発生を抑制すると共に、電極の縮率と誘電体磁
器の縮率を合せてデラミネーシヨンの発生を抑制
し、電極品質及び電気的特性を劣化させることな
く、同時焼成ができるようにした磁器コンデンサ
の内部電極材料を提供することである。
金属粒子の異常粒成長を抑制して空孔や電極切れ
の発生を抑制すると共に、電極の縮率と誘電体磁
器の縮率を合せてデラミネーシヨンの発生を抑制
し、電極品質及び電気的特性を劣化させることな
く、同時焼成ができるようにした磁器コンデンサ
の内部電極材料を提供することである。
<課題を解決するための手段>
上述した課題解決のため、本発明は、誘電体磁
器の内部に埋設される内部電極を形成するために
用いられる磁器コンデンサの内部電極用導電性ペ
ーストであつて、 金属粉末と共に、共材として、金属酸化物また
は半金属酸化物で成る粒子の表面を導電体2でコ
ーテイングした導電性粉末を、有機質ビヒクル中
に共存させてあり、 前記粒子は、粒径が0.5〜1μmの範囲になるよ
うに分級されていること を特徴とする。
器の内部に埋設される内部電極を形成するために
用いられる磁器コンデンサの内部電極用導電性ペ
ーストであつて、 金属粉末と共に、共材として、金属酸化物また
は半金属酸化物で成る粒子の表面を導電体2でコ
ーテイングした導電性粉末を、有機質ビヒクル中
に共存させてあり、 前記粒子は、粒径が0.5〜1μmの範囲になるよ
うに分級されていること を特徴とする。
<作 用>
白金、金、パラジウムもしくはこれらの合金ま
たはこれらと銀との合金等の貴金属粉末を導電成
分とする内部電極用導電性ペーストを調製する場
合に、貴金属粉末と共に、共材として、第1図に
示すように、金属酸化物または半金属酸化物で成
る粒子1の表面を導電体2でコーテイングした導
電性粉末を、有機質ビヒクル中に共存させる。
たはこれらと銀との合金等の貴金属粉末を導電成
分とする内部電極用導電性ペーストを調製する場
合に、貴金属粉末と共に、共材として、第1図に
示すように、金属酸化物または半金属酸化物で成
る粒子1の表面を導電体2でコーテイングした導
電性粉末を、有機質ビヒクル中に共存させる。
金属酸化物の粒子1は磁器コンデンサとなる誘
電体磁器と同一の組成のもの、例えば、磁器コン
デンサとして一般に用いられているBaTiO3,
TiO2,Al2O3,ZrO2,SiO2等の絶縁性酸化物に
よつて構成する。また半金属酸化物の粒子1は、
半導体磁器コンデンサを得る場合に使用されるも
のであつて、原子価制御型の半導体セラミツク、
カーボン、シリコン、アンチモンまたはビスマス
等によつて構成される。これらの金属酸化物また
は半金属酸化物を仮焼成した後、微粉砕して粒子
1を得る。
電体磁器と同一の組成のもの、例えば、磁器コン
デンサとして一般に用いられているBaTiO3,
TiO2,Al2O3,ZrO2,SiO2等の絶縁性酸化物に
よつて構成する。また半金属酸化物の粒子1は、
半導体磁器コンデンサを得る場合に使用されるも
のであつて、原子価制御型の半導体セラミツク、
カーボン、シリコン、アンチモンまたはビスマス
等によつて構成される。これらの金属酸化物また
は半金属酸化物を仮焼成した後、微粉砕して粒子
1を得る。
粒子1は、粒径が1μm以下、理想的には0.5〜
0.8μm程度に分級する。粒子1の粒径が0.5μmよ
りも細かいと、表面の活性が増し、デラミネーシ
ヨンや、焼成クラツク等の不具合を発生し易くな
る。粒径が1μmを超えると、電極の平滑性が低下
し、焼成過程で電極切れの不具合を発生し易くな
る。粒子1の粒径を0.5〜1μmの範囲に設定する
と、上述の問題を回避できる。
0.8μm程度に分級する。粒子1の粒径が0.5μmよ
りも細かいと、表面の活性が増し、デラミネーシ
ヨンや、焼成クラツク等の不具合を発生し易くな
る。粒径が1μmを超えると、電極の平滑性が低下
し、焼成過程で電極切れの不具合を発生し易くな
る。粒子1の粒径を0.5〜1μmの範囲に設定する
と、上述の問題を回避できる。
そして、上述のようにして所定の粒径に分級さ
れた金属酸化物粒子または半金属酸化物粒子1の
表面に導電体2をコーテイングする。導電体2
は、内部電極用導電性ペーストの主成分となる貴
金属と同一のもの、即ち白金、金、パラジウムも
しくはこれらの合金等によつて構成する。これら
の貴金属のコーテイング方法としては、溶液還元
法が適当である。導電性粉末を構成する貴金属導
電体2と金属酸化物1との割合は7:3(重量比)
程度が好ましい。
れた金属酸化物粒子または半金属酸化物粒子1の
表面に導電体2をコーテイングする。導電体2
は、内部電極用導電性ペーストの主成分となる貴
金属と同一のもの、即ち白金、金、パラジウムも
しくはこれらの合金等によつて構成する。これら
の貴金属のコーテイング方法としては、溶液還元
法が適当である。導電性粉末を構成する貴金属導
電体2と金属酸化物1との割合は7:3(重量比)
程度が好ましい。
上述のようにして調製された内部電極用導電性
ペーストは、従来の内部電極用導電性ペーストと
同様に、スクリーン印刷法等の手段によつて、グ
リーンシート上に所定のパターンとなるように印
刷塗布し、必要とする層数だけ積み重ねて熱圧着
した後、通常の手によつて焼成する。
ペーストは、従来の内部電極用導電性ペーストと
同様に、スクリーン印刷法等の手段によつて、グ
リーンシート上に所定のパターンとなるように印
刷塗布し、必要とする層数だけ積み重ねて熱圧着
した後、通常の手によつて焼成する。
この場合、本発明に係る内部電極用導電性ペー
ストは、金属酸化物または半金属酸化物粒子1の
表面に導電体2をコーテイングした導電性粉末を
含有するから、内部電極用導電性ペーストの縮率
と磁器コンデンサを構成する誘電体磁器の縮率と
の差がなくなり、デラミネーシヨンの発生が抑制
されると共に、金属粒子の異常粒成長及び空孔の
発生が抑制される。
ストは、金属酸化物または半金属酸化物粒子1の
表面に導電体2をコーテイングした導電性粉末を
含有するから、内部電極用導電性ペーストの縮率
と磁器コンデンサを構成する誘電体磁器の縮率と
の差がなくなり、デラミネーシヨンの発生が抑制
されると共に、金属粒子の異常粒成長及び空孔の
発生が抑制される。
しかも、誘電体磁器を単独の共材として用いる
従来のものと異なつて、金属酸化物または半金属
酸化物粒子の表面に白金等の導電体をコーテイン
グしてあるので、電極の導電性が高く、電気的特
性の良好な磁器コンデンサを実現することができ
る。
従来のものと異なつて、金属酸化物または半金属
酸化物粒子の表面に白金等の導電体をコーテイン
グしてあるので、電極の導電性が高く、電気的特
性の良好な磁器コンデンサを実現することができ
る。
第2図は本発明に係る内部電極用導電性ペース
トを使用した磁器コンデンサと、誘電体磁器を単
独の共材として用いた従来の内部電極用導電性ペ
ーストを使用した磁器コンデンサとの、共材添加
量−電極比抵抗特性図である。曲線L1は本発明
に係る内部電極用導電性ペーストを用いた場合の
特性、曲線L2は誘電体磁器粉末を単独の共材と
して用い、これをパラジウム粉末と共に有機質ビ
ヒクル中に分散させた従来の内部電極用導電性ペ
ーストを用いた場合の特性をそれぞれ示してい
る。
トを使用した磁器コンデンサと、誘電体磁器を単
独の共材として用いた従来の内部電極用導電性ペ
ーストを使用した磁器コンデンサとの、共材添加
量−電極比抵抗特性図である。曲線L1は本発明
に係る内部電極用導電性ペーストを用いた場合の
特性、曲線L2は誘電体磁器粉末を単独の共材と
して用い、これをパラジウム粉末と共に有機質ビ
ヒクル中に分散させた従来の内部電極用導電性ペ
ーストを用いた場合の特性をそれぞれ示してい
る。
第2図から明らかなように、本発明に係る内部
電極用導電性ペーストを使用した場合は、従来の
内部電極用導電性ペーストを使用した場合に比べ
て、比抵抗値が格段に小さく、導電性が非常に優
れている。しかも、従来の内部電極用導電性ペー
ストを使用た場合には、共材の添加量が増えるに
従つて比抵抗値が急激に増大し、18重量%程度の
少ない共材添加量で電極の断線を生じ、電極形成
が不可能になるのに対し、本発明に係る内部電極
用導電性ペーストを使用した場合には、共材の添
加量の増大にも拘わらず、比抵抗値の増加が非常
に小さく、共材添加量30重量%でも9×10-5Ωcm
程度の低い比抵抗値を示し、コンデンサ電極とし
て充分に実用に耐え得る導通性を確保することが
できる。
電極用導電性ペーストを使用した場合は、従来の
内部電極用導電性ペーストを使用した場合に比べ
て、比抵抗値が格段に小さく、導電性が非常に優
れている。しかも、従来の内部電極用導電性ペー
ストを使用た場合には、共材の添加量が増えるに
従つて比抵抗値が急激に増大し、18重量%程度の
少ない共材添加量で電極の断線を生じ、電極形成
が不可能になるのに対し、本発明に係る内部電極
用導電性ペーストを使用した場合には、共材の添
加量の増大にも拘わらず、比抵抗値の増加が非常
に小さく、共材添加量30重量%でも9×10-5Ωcm
程度の低い比抵抗値を示し、コンデンサ電極とし
て充分に実用に耐え得る導通性を確保することが
できる。
<発明の効果>
以上述べたように、本発明によれば、次のよう
な効果が得られる。
な効果が得られる。
(a) 金属粉末と共に、共材として、金属酸化物ま
たは半金属酸化物で成る粒子の表面を導電体で
コーテイングした導電性粉末を、有機質ビヒク
ル中に共存させてあるから、内部電極を構造す
る金属粒子の異常粒成長を抑制して空孔や電極
切れの発生を抑制すると共に、電極の縮率と誘
電体磁器の縮率を合せてデラミネーシヨンの発
生を抑制し、電極としての品質及び電気的特性
を劣化させることなく、同時焼成ができるよう
にした内部電極用導電性ペーストを提供するこ
とができる。
たは半金属酸化物で成る粒子の表面を導電体で
コーテイングした導電性粉末を、有機質ビヒク
ル中に共存させてあるから、内部電極を構造す
る金属粒子の異常粒成長を抑制して空孔や電極
切れの発生を抑制すると共に、電極の縮率と誘
電体磁器の縮率を合せてデラミネーシヨンの発
生を抑制し、電極としての品質及び電気的特性
を劣化させることなく、同時焼成ができるよう
にした内部電極用導電性ペーストを提供するこ
とができる。
(b) 金属酸化物または半金属酸化物で成る粒子
は、粒径が0.5〜1μmの範囲になるように分級
されているから、デラミネーシヨンや、焼成ク
ラツク等の発生を防止すると共に、電極の平滑
性低下を防ぎ、焼成過程における電極切れを回
避し得る内部電極用導電性ペーストを提供でき
る。
は、粒径が0.5〜1μmの範囲になるように分級
されているから、デラミネーシヨンや、焼成ク
ラツク等の発生を防止すると共に、電極の平滑
性低下を防ぎ、焼成過程における電極切れを回
避し得る内部電極用導電性ペーストを提供でき
る。
第1図は本発明に係る内部電極用導電性ペース
トを構成する導電性粉末の構造をモデル化して示
す断面図、第2図は本発明に係る内部電極用導電
性ペーストの効果を説明するための共材添加量−
比抵抗特性を示す図である。 1……金属酸化物または半金属酸化物粒子、2
……導電体。
トを構成する導電性粉末の構造をモデル化して示
す断面図、第2図は本発明に係る内部電極用導電
性ペーストの効果を説明するための共材添加量−
比抵抗特性を示す図である。 1……金属酸化物または半金属酸化物粒子、2
……導電体。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 誘電体磁器の内部に埋設される内部電極を形
成するために用いられる磁器コンデンサの内部電
極用導電性ペーストであつて、 金属粉末と共に、共材として、金属酸化物また
は半金属酸化物で成る粒子の表面を導電体でコー
テイングした導電性粉末を、有機質ビヒクル中に
共存させてあり、 前記粒子は、粒径が0.5〜1μmの範囲になるよ
うに分級されていること を特徴とする磁器コンデンサの内部電極用導電性
ペースト。 2 前記金属酸化物粒子は、BaTiO3,TiO2,
Al2O3,ZrO2,SiO2等の絶縁性酸化物の少なくと
も一種でなることを特徴とする特許請求の範囲第
1項に記載の磁器コンデンサの内部電極用導電性
ペースト。 3 前記半金属酸化物粒子は、原子価制御型の半
導体セラミツク、カーボン、シリコン、アンチモ
ン、ビスマス等の少なくとも一種で成ることを特
徴とする特許請求の範囲第1項に記載の磁器コン
デンサの内部電極用導電性ペースト。 4 前記導電体は、白金、金、パラジウム、銀等
の貴金属もしくはその合金の少なくとも一種より
成ることを特徴とする特許請求の範囲第1項、第
2項または第3項に記載の磁器コンデンサの内部
電極用導電性ペースト。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4531882A JPS58163102A (ja) | 1982-03-20 | 1982-03-20 | 磁器コンデンサの内部電極用導電性ペ−スト |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4531882A JPS58163102A (ja) | 1982-03-20 | 1982-03-20 | 磁器コンデンサの内部電極用導電性ペ−スト |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58163102A JPS58163102A (ja) | 1983-09-27 |
JPH0377647B2 true JPH0377647B2 (ja) | 1991-12-11 |
Family
ID=12715951
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4531882A Granted JPS58163102A (ja) | 1982-03-20 | 1982-03-20 | 磁器コンデンサの内部電極用導電性ペ−スト |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58163102A (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6185703A (ja) * | 1984-10-02 | 1986-05-01 | 七生工業株式会社 | 導電体材料組成物 |
JPS63301274A (ja) * | 1987-05-15 | 1988-12-08 | デユポンジヤパンリミテツド | 導電性ペ−スト組成物 |
JPH0686463B2 (ja) * | 1988-07-01 | 1994-11-02 | 明治製菓株式会社 | 新規セフェム化合物、その製造法及び抗菌剤 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5212452A (en) * | 1975-07-18 | 1977-01-31 | Taiyo Yuden Kk | Ceramic capacitor |
JPS5238196A (en) * | 1975-09-22 | 1977-03-24 | Shoei Kagaku Kogyo Kk | Electrode coating material |
JPS5642910A (en) * | 1979-09-18 | 1981-04-21 | Tdk Electronics Co Ltd | Conducting material and producing same |
JPS57198254A (en) * | 1981-05-29 | 1982-12-04 | C Uyemura & Co Ltd | Manufacture of inorganic fine particle coated with metal |
-
1982
- 1982-03-20 JP JP4531882A patent/JPS58163102A/ja active Granted
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5212452A (en) * | 1975-07-18 | 1977-01-31 | Taiyo Yuden Kk | Ceramic capacitor |
JPS5238196A (en) * | 1975-09-22 | 1977-03-24 | Shoei Kagaku Kogyo Kk | Electrode coating material |
JPS5642910A (en) * | 1979-09-18 | 1981-04-21 | Tdk Electronics Co Ltd | Conducting material and producing same |
JPS57198254A (en) * | 1981-05-29 | 1982-12-04 | C Uyemura & Co Ltd | Manufacture of inorganic fine particle coated with metal |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS58163102A (ja) | 1983-09-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0964415B1 (en) | Electronic device and method of producing the same | |
US20030064873A1 (en) | Conductive paste for terminal electrodes of monolithic ceramic electronic component, method for making monolithic ceramic electronic component, and monolithic ceramic electronic component | |
JPH0387091A (ja) | アルミナ多層配線基板及びその製造方法 | |
JPH0666219B2 (ja) | 積層セラミックスコンデンサ | |
EP0332254B1 (en) | Multilayer capacitor | |
JP3064659B2 (ja) | 積層型セラミック素子の製造方法 | |
JP2000216046A (ja) | 積層セラミック電子部品 | |
JP2005353845A (ja) | 積層型チップバリスタ | |
JP3831537B2 (ja) | 電子デバイスおよびその製造方法 | |
JP4262141B2 (ja) | 積層型チップバリスタ及びその製造方法 | |
JPH0377647B2 (ja) | ||
JPH11340090A (ja) | 粒界絶縁型積層セラミックコンデンサの製造方法 | |
JP3064676B2 (ja) | 積層セラミック磁器素子 | |
JPH08148369A (ja) | 導電性ペースト | |
JPS58154102A (ja) | 磁器コンデンサ | |
JPH05275271A (ja) | 積層セラミックコンデンサ | |
JPH0982560A (ja) | 積層セラミックコンデンサ | |
JP3951329B2 (ja) | 誘電体磁器組成物 | |
JPH04260316A (ja) | セラミック積層体 | |
JP3464130B2 (ja) | 積層セラミックコンデンサ | |
JP3070238B2 (ja) | 積層型セラミック素子の製造方法 | |
JP2000150293A (ja) | 積層セラミックコンデンサ | |
JP3502731B2 (ja) | 積層セラミックコンデンサ | |
JP2000252156A (ja) | 積層セラミックコンデンサ | |
JPH03116916A (ja) | 積層型電子部品 |