JPS61120075A - 比透磁率測定装置 - Google Patents
比透磁率測定装置Info
- Publication number
- JPS61120075A JPS61120075A JP24066284A JP24066284A JPS61120075A JP S61120075 A JPS61120075 A JP S61120075A JP 24066284 A JP24066284 A JP 24066284A JP 24066284 A JP24066284 A JP 24066284A JP S61120075 A JPS61120075 A JP S61120075A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnetic
- relative
- magnetic permeability
- head
- permeability
- Prior art date
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/12—Measuring magnetic properties of articles or specimens of solids or fluids
- G01R33/1223—Measuring permeability, i.e. permeameters
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は磁性体の比透磁率の測定に関するもので、特に
複雑な形状、異方性をもつ磁性体の微小領域の比透磁率
測定に好適な比透磁率測定装置に関する。
複雑な形状、異方性をもつ磁性体の微小領域の比透磁率
測定に好適な比透磁率測定装置に関する。
従来、比透磁率の測定に関しては共立出版″磁気″（昭
和４３年６月、第４２１頁）近角聴信、等に記載されて
いるようにリング状又は棒板状（反磁界を無視出来る）
の試料を用い、それに巻いたコイルのインダクタンスを
測定することによりμを算出する方法となっていた。ま
た、Ｊ。
和４３年６月、第４２１頁）近角聴信、等に記載されて
いるようにリング状又は棒板状（反磁界を無視出来る）
の試料を用い、それに巻いたコイルのインダクタンスを
測定することによりμを算出する方法となっていた。ま
た、Ｊ。
Ａｐｐｌ、ｐｈｙｓ、５５ （６） 、 １５Ｍａｒｃ
ｈ １９８４ （年）ｓｈｉｒｏｉｓｈｉ ｐ、ｐ、２
２３８に記載されている比透磁率の測定は異方性を持つ
磁性体の比透磁率の測定に関するもので試料が比較的大
きく、試料形状が複雑な場合は問題があった。
ｈ １９８４ （年）ｓｈｉｒｏｉｓｈｉ ｐ、ｐ、２
２３８に記載されている比透磁率の測定は異方性を持つ
磁性体の比透磁率の測定に関するもので試料が比較的大
きく、試料形状が複雑な場合は問題があった。
本発明の目的は複雑な試料形状で、かつ異方性をもつ磁
性体の微小領域の比透磁率の測定を容易に行なうことの
できる装置を提供することにある。
性体の微小領域の比透磁率の測定を容易に行なうことの
できる装置を提供することにある。
近年、磁気応用製品はいろいろな分野で盛んに使われ、
小型化の傾向がある。その中で特に小型で高性能を求め
られているものとして、磁気記録分野では磁気ヘッドが
ある。この磁気ヘッドに使われている材料として、磁束
密度が高く、比透磁率も大きいものが望まれ、磁性体の
異方性も積極的に利用されている。しかし、磁気ヘッド
は磁性材料を加工してヘッドの形になるまでの製造工程
が多く、工程を経る毎に、材料の磁気特性が変わり、実
際のヘッドになった場合の磁気特性は不明であった０本
発明はこの磁気ヘッドの様な複雑な形状で、かつ小型の
ものでも容易に比透磁率を測定できるようにしたもので
ある。本発明の装置は測定子が磁気リングコアからなり
、その両極に磁性体を近づけ上記リングコアのインダク
タンスの変化量を測定するように構成してなるものであ
る。
小型化の傾向がある。その中で特に小型で高性能を求め
られているものとして、磁気記録分野では磁気ヘッドが
ある。この磁気ヘッドに使われている材料として、磁束
密度が高く、比透磁率も大きいものが望まれ、磁性体の
異方性も積極的に利用されている。しかし、磁気ヘッド
は磁性材料を加工してヘッドの形になるまでの製造工程
が多く、工程を経る毎に、材料の磁気特性が変わり、実
際のヘッドになった場合の磁気特性は不明であった０本
発明はこの磁気ヘッドの様な複雑な形状で、かつ小型の
ものでも容易に比透磁率を測定できるようにしたもので
ある。本発明の装置は測定子が磁気リングコアからなり
、その両極に磁性体を近づけ上記リングコアのインダク
タンスの変化量を測定するように構成してなるものであ
る。
また、本発明においては、上記測定子として薄膜磁気ヘ
ッドを用いることもできる。
ッドを用いることもできる。
以下、本発明の一実施例になる装置の構成及び動作を第
１図により説明する。コイル２を巻回したリング状磁気
コアの測定子１の両極端に測定すべき試料５を近づけ、
磁気コアのインダクタンス（Ｌ）の変化をインピーダン
スメータ４で読み。
１図により説明する。コイル２を巻回したリング状磁気
コアの測定子１の両極端に測定すべき試料５を近づけ、
磁気コアのインダクタンス（Ｌ）の変化をインピーダン
スメータ４で読み。
以下の式に従ってμを算出する。
ａｌ ：磁路長（ｍ）
Ｌ ：インダクタンス（Ｈ）
μ。：４πＸ １０−’
Ｗ ニドラック幅（ｍ）
５、、：試料厚み（ｍ）
Ｎ ：コイル巻数
となり、試料の大きさは、ＷＸＱ、以上となる。
微小領域のμを測定するにはこのＷおよびＱｌを小さく
する必要がある。本発明ではこのＷおよびＱ５を極力小
さくするために薄膜磁気ヘッドを作製し、第２図に示す
ようなΩ１およびＷとした。
する必要がある。本発明ではこのＷおよびＱ５を極力小
さくするために薄膜磁気ヘッドを作製し、第２図に示す
ようなΩ１およびＷとした。
ここで同図（ａ）の円で囲んだ部分の拡大図が第２図（
ｂ）である。なお、この寸法は測定物の寸法により、定
められるが、また薄膜磁気ヘッドの製造技術により定ま
って来る寸法であり、特に規定はしないが現在の創造技
術では最小寸法がＷおよびＱｌとも１〜２μｍぐらいで
ある。また、より微小化するためにはヘッドのギャップ
深さのみを薄くする方法があるが、薄くする範囲が摺動
面よりある程度前さなければならない。この距離（ｘ）
はｘ ） Ｑ 、でなければならない。理想的には単磁
極型磁気記録用薄膜磁気ヘッドのように磁気ヘッドの両
極がヘッド摺動面より、ストレートになっているのが望
ましい。また、磁気ヘッドのギャップが小さい場合には
試料の膜厚が問題となりギャップ以下の膜厚にしなけれ
ばならない。これ以上の膜厚の場合には予め比透磁率、
膜厚のわかっている試料で較正曲線を取れば良い。
ｂ）である。なお、この寸法は測定物の寸法により、定
められるが、また薄膜磁気ヘッドの製造技術により定ま
って来る寸法であり、特に規定はしないが現在の創造技
術では最小寸法がＷおよびＱｌとも１〜２μｍぐらいで
ある。また、より微小化するためにはヘッドのギャップ
深さのみを薄くする方法があるが、薄くする範囲が摺動
面よりある程度前さなければならない。この距離（ｘ）
はｘ ） Ｑ 、でなければならない。理想的には単磁
極型磁気記録用薄膜磁気ヘッドのように磁気ヘッドの両
極がヘッド摺動面より、ストレートになっているのが望
ましい。また、磁気ヘッドのギャップが小さい場合には
試料の膜厚が問題となりギャップ以下の膜厚にしなけれ
ばならない。これ以上の膜厚の場合には予め比透磁率、
膜厚のわかっている試料で較正曲線を取れば良い。
本発明によれば、磁気ヘッドの各部の比透磁率の測定が
容易にできるので、磁気ヘッドの性能向上、および解析
などに役立つ効果がある。
容易にできるので、磁気ヘッドの性能向上、および解析
などに役立つ効果がある。
第３図は実際に磁気ヘッドの各部の比透磁率を測定した
一例を示したものであり、このようにして測定したヘッ
ド摺動面のトラック幅方向の比透磁率の大きさと記録再
生特性の関係図を第４図に示した。このように磁気ヘッ
ドに限らず、磁性応用したものの比透磁率が関係するも
のについて直接比透磁率を測定することにより広く適用
できる。
一例を示したものであり、このようにして測定したヘッ
ド摺動面のトラック幅方向の比透磁率の大きさと記録再
生特性の関係図を第４図に示した。このように磁気ヘッ
ドに限らず、磁性応用したものの比透磁率が関係するも
のについて直接比透磁率を測定することにより広く適用
できる。
【図面の簡単な説明】
第１図は比透磁率測定装置の構成を示す模式図、第２図
は磁気ヘッドの構造を示す斜視図、第３図は磁気ヘッド
各部の比透磁率、矢印は方向を表わし、数字は比透磁率
の大きさを表わす。第４図はヘッド側面に垂直な方向の
比透磁率と記録再生特性の関係図である。 １・・・磁気ヘッド、２・・・コイル、３・・・磁気ヘ
ッドギャップ、４・・・インダクタンスメータ（インピ
ーダンス）、５・・・磁性体、６・・・補助磁極、７・
・・コイル。 寥２図
は磁気ヘッドの構造を示す斜視図、第３図は磁気ヘッド
各部の比透磁率、矢印は方向を表わし、数字は比透磁率
の大きさを表わす。第４図はヘッド側面に垂直な方向の
比透磁率と記録再生特性の関係図である。 １・・・磁気ヘッド、２・・・コイル、３・・・磁気ヘ
ッドギャップ、４・・・インダクタンスメータ（インピ
ーダンス）、５・・・磁性体、６・・・補助磁極、７・
・・コイル。 寥２図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、測定子が磁気リングコアからなり、該磁気リングコ
アの両極に磁性体を近づけ、該磁気リングコアのインダ
クタンスの変化量より、該磁性体の比透磁率を測定する
ことを特徴とする比透磁率測定装置。 ２、特許請求の範囲第１項記載の磁気リングコアを薄膜
磁気ヘッドにすることを特徴とする比透磁率測定装置。 ３、特許請求の範囲第１項記載の磁気リングコアを単磁
極型薄膜磁気ヘッドにすることを特徴とする比透磁率測
定装置。 ４、特許請求の範囲第２、第３項記載の磁気ヘッドの両
極の少なくともギャップ深さが磁気ヘッドギャップに平
行になつていることを特徴とする比透磁率測定装置。 ５、上記磁気ヘッドギャップに平行になつている距離は
ギャップ長より大であることを特徴とする特許請求の範
囲第４項記載の比透磁率測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24066284A JPS61120075A (ja) | 1984-11-16 | 1984-11-16 | 比透磁率測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24066284A JPS61120075A (ja) | 1984-11-16 | 1984-11-16 | 比透磁率測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61120075A true JPS61120075A (ja) | 1986-06-07 |
Family
ID=17062831
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24066284A Pending JPS61120075A (ja) | 1984-11-16 | 1984-11-16 | 比透磁率測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61120075A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106885999A (zh) * | 2017-03-30 | 2017-06-23 | 苏州亚思科精密数控有限公司 | 能延长测试针使用寿命的小电感金属磁环电感分选装置 |
| CN107102212A (zh) * | 2017-03-30 | 2017-08-29 | 苏州亚思科精密数控有限公司 | 一种金属磁环小电感检测方法 |
-
1984
- 1984-11-16 JP JP24066284A patent/JPS61120075A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106885999A (zh) * | 2017-03-30 | 2017-06-23 | 苏州亚思科精密数控有限公司 | 能延长测试针使用寿命的小电感金属磁环电感分选装置 |
| CN107102212A (zh) * | 2017-03-30 | 2017-08-29 | 苏州亚思科精密数控有限公司 | 一种金属磁环小电感检测方法 |
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