CN107102212A - 一种金属磁环小电感检测方法 - Google Patents

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马峻
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    • G01R27/2611—Measuring inductance
    • G—PHYSICS
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Abstract

本发明公开了一种金属磁环小电感检测方法，包括步骤为：标准磁环电感测试；待测磁环放置；上金属盖高度下降；上金属盖与测试针及下金属环之间的配合压力测试：金属导向套筒套装在测试针外周的指定位置后，上金属盖高度继续下降，旋转盘开始在电机的驱动下转动，电流互感器将对电机的回路电流进行检测；待测磁环电感测试：当电流互感器所检测的电机回路电流在设定范围内时，升降支架高度停止下降，将此时电感测试仪上的稳定电感读数减去初始电感即为待测磁环电感。本发明能使金属罩与测试针紧密接触配合，从而电感测试精度高，测试方便、快捷。另外，还能延长测试针的使用寿命。

Description

一种金属磁环小电感检测方法
技术领域
本发明涉及磁环电感分选方法，特别是一种金属磁环小电感检测方法。
背景技术
小电感金属磁环，尤其是镍锌铁氧体磁环，单匝电感量单位在nH级别，现有电感测试仪基本不能直接测试；为测试其电感并避免仪表及测试误差，需绕多圈金属导线，通常在50圈以上；测试完成后，再将绕线拆除，测试十分不便，费时费力、效率低下，且浪费了大量导线。
2012年7月11日公开的第201120445738.0号中国发明，揭示了一种环形磁环电感分选工具；该分选工具包括绕有金属导线的环形磁环、与导线相连的电感测试仪、金属柱、金属台、环形绝缘罩、底座等。
该结构基本能够完成小电感环形磁环的电感分选，但在使用中，因金属罩高度高，重量重，每次测试需将金属罩从金属柱上取下、放回操作；长时间测试后，测试者手会感觉酸痛、肿胀。
另外，金属罩闭合时，会来回摩擦绕在磁环上的金属导线，使绝缘层脱落，需经常更换并重新绕制金属导线，使用不便。
2013年4月25日公开的申请号为201310149474.8的中国发明专利申请，其发明创造的名称为一种小电感环形磁芯电感分选工具，包括金属底座、绕有金属导线的磁环、电感测试仪、金属柱，所述磁环为磁场源，所述金属柱、金属罩、无盖金属盒相接触，共同构成闭合磁通路；无盖金属盒与环形绝缘盖相配合，金属罩与环形绝缘盖活动配合，所述金属柱从上之下依次穿过金属罩、环形绝缘盖、磁环与无盖金属盒；无盖金属盒侧边开有孔，允许磁环上绕制的金属导线穿过。
201310149474.8专利申请基本解决了201120445738.0中所存在的技术问题，然而两个专利申请，均存在如下技术问题，有待进行解决：为使金属罩能顺利套装进金属中，故金属罩上的孔洞直径大于金属柱的外径，因而，当金属罩盖合后，金属罩与金属柱之间具有间隙，因而电感测试频繁跳动，不稳定，需要人为左右晃动金属罩，使金属罩与金属柱相接触，故测试繁琐，误差大，测试精度差。另外，金属罩左右晃动过程中，会对金属柱来回多次撞击，从而金属柱磨损快，使用寿命短。
发明内容
本发明要解决的技术问题是针对上述现有技术的不足，而提供一种金属磁环小电感检测方法，该金属磁环小电感检测方法当金属罩与金属台相盖合后，能使金属罩与测试针紧密接触配合，从而电感测试精度高，测试方便、快捷。另外，还能延长测试针的使用寿命。
为解决上述技术问题，本发明采用的技术方案是：
一种金属磁环小电感检测方法，包括以下步骤。
步骤1，标准磁环电感测试：标准磁环套设在位于绝缘盖和金属台之间的测试针的圆柱部上，缠绕在标准磁环上的金属线与电感测试仪相连接，上金属盖盖合在下金属环上；此时，电感测试仪显示电感读数为初始电感。
步骤2，待测磁环放置：上金属盖高度上升，将待测磁环套装在测试针的圆柱部外周并放置在绝缘盖上。
步骤3，上金属盖高度下降：上金属盖在升降支架的带动下，高度下降，使上金属盖上的金属导向套筒套装在测试针的外周。
步骤4，上金属盖与测试针及下金属环之间的配合压力测试：金属导向套筒套装在测试针外周的指定位置后，上金属盖高度继续下降，旋转盘开始在电机的驱动下转动，电流互感器将对电机的回路电流进行检测；上金属盖与测试针及下金属环之间的配合压力与电机的回路电流呈线性关系，上金属盖与测试针及下金属环之间的配合压力大小的改变将引起回路电流的变化。
步骤5，待测磁环电感测试：当步骤4中的电流互感器所检测的电机回路电流在设定范围内时，升降支架高度停止下降，将此时电感测试仪上的稳定电感读数减去步骤1中的初始电感即为待测磁环电感。
所述步骤1中，缠绕在标准磁环上的金属线从金属台中穿出后与电感测试仪相连接
所述步骤4中，金属导向套筒套装在测试针外周的指定位置，通过设置在升降支架上的位移传感器进行检测控制。
所述标准磁环与测试针的圆柱部之间设置有绝缘填充物。
所述下金属环的上表面设置有与上金属盖下表面相配合的环形凹槽。
本发明采用上述方法后，当金属罩与金属台相盖合后，能使金属罩与测试针紧密接触配合，从而电感测试精度高，测试方便、快捷。另外，还能延长测试针的使用寿命。上述压力测试方法，上金属盖与测试针及下金属环之间的配合压力测试准确，且对电磁场不影响。
附图说明
图1显示了本发明一种能延长测试针使用寿命的小电感金属磁环电感分选装置的结构示意图。
其中有：
1.绝缘底座；2.金属台；
3.测试针；31.圆柱部；32.圆锥部；
41.上金属盖；411.中心孔；412.金属导向套筒；413.金属锥形凸台；42.下金属环；421.环形凹槽；
5.升降支架；51.升降横杆；511.位移传感器；52.水平横杆；53.连接轴；
6.旋转盘；61.电机；62.电流互感器；63.绝缘连杆；
7.标准磁环；71.绝缘填充物；72.金属线；
8.绝缘罩；9.电感测试仪；10.待测磁环。
具体实施方式
下面结合附图和具体较佳实施方式对本发明作进一步详细的说明。
如图1所示，一种能延长测试针使用寿命的小电感金属磁环电感分选装置，包括绝缘底座1、金属台2、测试针3、金属罩、升降支架5、旋转盘6、标准磁环7、绝缘罩8、电流互感器62和电感测试仪9。
金属台放置在绝缘底座上。
测试针为金属材料制成，测试针包括一体同轴设置的圆柱部和圆锥部，圆锥部位于圆柱部顶端。
圆柱部底端与金属台固定连接，优选为可拆卸连接，测试针可更换。
圆柱部从下至上依次穿过标准磁环和绝缘罩。
标准磁环作为磁场源，标准磁环外周缠绕有金属线，并通过金属线与电感测试仪相连接。
进一步，上述标准磁环与测试针的圆柱部之间优选设置有绝缘填充物，因而能防止标准磁环晃动，电感测试更为准确。
金属台上优选设置有能使标准磁环外周缠绕的金属线穿过的穿线孔，因而能避免金属线的磨损。
金属罩包括同轴设置的下金属环和上金属盖，下金属环同轴套设在绝缘罩的外周，下金属环底部与金属台固定连接。
上金属盖的中心设置有中心孔411，上金属盖下表面同轴设置有金属导向套筒412，金属导向套筒底部内表面同轴设置有金属锥形凸台413。
上金属盖的正上方设置有旋转盘6，旋转盘通过绝缘连杆与上金属盖固定连接，旋转盘顶端通过升降支架与绝缘底座固定连接，旋转盘及上金属盖能在升降支架的带动下进行升降。
旋转盘能在电机61的驱动作用下转动，电机与电流互感器相连接。
上述升降支架5优选包括升降竖杆51和水平横杆53，升降竖杆的高度能够升降，升降竖杆内优选设置有能检测升降支架升降位移的位移传感器511。
水平横杆的底部优选设置有连接轴53和电机。
旋转盘优选通过轴承套装在连接轴53的外周，旋转盘的外周优选设置有齿轮，该齿轮与电机齿轮相啮合。
上金属盖在高度下降过程中，测试针的圆锥部依次从金属锥形凸台、金属导向套筒和上金属盖的中心孔穿过，当上金属盖下表面与下金属环上表面相接触配合时，金属锥形凸台与测试针的圆锥部的底部相接触。
进一步，上述下金属环的上表面优选设置有与上金属盖下表面相配合的环形凹槽，从而能对上金属盖进行限位。
一种金属磁环小电感检测方法，包括以下步骤。
步骤1，标准磁环电感测试：标准磁环套设在位于绝缘盖和金属台之间的测试针的圆柱部上，缠绕在标准磁环上的金属线优选从金属台中穿出后与电感测试仪相连接，上金属盖盖合在下金属环上；此时，电感测试仪显示电感读数为初始电感。
步骤2，待测磁环放置：上金属盖高度上升，将待测磁环套装在测试针的圆柱部外周并放置在绝缘盖上。
步骤3，上金属盖高度下降：上金属盖在升降支架的带动下，高度下降，使上金属盖上的金属导向套筒套装在测试针的外周。
步骤4，上金属盖与测试针及下金属环之间的配合压力测试：金属导向套筒套装在测试针外周的指定位置后，上金属盖高度继续下降，旋转盘开始在电机的驱动下转动，电流互感器将对电机的回路电流进行检测；上金属盖与测试针及下金属环之间的配合压力与电机的回路电流呈线性关系，上金属盖与测试针及下金属环之间的配合压力大小的改变将引起回路电流的变化。
上述电机优选为伺服电机，伺服电机匀速转动。
上述金属导向套筒套装在测试针外周的指定位置，通过设置在升降支架上的位移传感器进行检测控制。
本发明中，通过检测上金属盖与测试针及下金属环之间的配合压力，从而使上金属盖、下金属环和测试针紧密接触配合，测试针的圆锥部与金属导向套筒中的金属锥形凸台为锥形环面接触，因而接触更为紧密，测试针部分点位磨损，对电感测试结果影响不大。
即使测试针正常测试的锥形环面严重磨损，通过降低上金属盖的高度，进行适当高度补偿，仍能延长测试针的使用寿命。
步骤5，待测磁环电感测试：当步骤4中的电流互感器所检测的电机回路电流在设定范围内时，升降支架高度停止下降，将此时电感测试仪上的稳定电感读数减去步骤1中的初始电感即为待测磁环电感。
以上详细描述了本发明的优选实施方式，但是，本发明并不限于上述实施方式中的具体细节，在本发明的技术构思范围内，可以对本发明的技术方案进行多种等同变换，这些等同变换均属于本发明的保护范围。

Claims (5)

1.一种金属磁环小电感检测方法，其特征在于：包括以下步骤：
步骤1，标准磁环电感测试：标准磁环套设在位于绝缘盖和金属台之间的测试针的圆柱部上，缠绕在标准磁环上的金属线与电感测试仪相连接，上金属盖盖合在下金属环上；此时，电感测试仪显示电感读数为初始电感；
步骤2，待测磁环放置：上金属盖高度上升，将待测磁环套装在测试针的圆柱部外周并放置在绝缘盖上；
步骤3，上金属盖高度下降：上金属盖在升降支架的带动下，高度下降，使上金属盖上的金属导向套筒套装在测试针的外周；
步骤4，上金属盖与测试针及下金属环之间的配合压力测试：金属导向套筒套装在测试针外周的指定位置后，上金属盖高度继续下降，旋转盘开始在电机的驱动下转动，电流互感器将对电机的回路电流进行检测；上金属盖与测试针及下金属环之间的配合压力与电机的回路电流呈线性关系，上金属盖与测试针及下金属环之间的配合压力大小的改变将引起回路电流的变化；
步骤5，待测磁环电感测试：当步骤4中的电流互感器所检测的电机回路电流在设定范围内时，升降支架高度停止下降，将此时电感测试仪上的稳定电感读数减去步骤1中的初始电感即为待测磁环电感。
2.根据权利要求1所述的金属磁环小电感检测方法，其特征在于：所述步骤1中，缠绕在标准磁环上的金属线从金属台中穿出后与电感测试仪相连接。
3.根据权利要求1所述的金属磁环小电感检测方法，其特征在于：所述步骤4中，金属导向套筒套装在测试针外周的指定位置，通过设置在升降支架上的位移传感器进行检测控制。
4.根据权利要求1所述的金属磁环小电感检测方法，其特征在于：所述标准磁环与测试针的圆柱部之间设置有绝缘填充物。
5.根据权利要求1所述的金属磁环小电感检测方法，其特征在于：所述下金属环的上表面设置有与上金属盖下表面相配合的环形凹槽。
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