JPS61114108A - 重量判定方法 - Google Patents
重量判定方法Info
- Publication number
- JPS61114108A JPS61114108A JP23645584A JP23645584A JPS61114108A JP S61114108 A JPS61114108 A JP S61114108A JP 23645584 A JP23645584 A JP 23645584A JP 23645584 A JP23645584 A JP 23645584A JP S61114108 A JPS61114108 A JP S61114108A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measured
- slit
- weight
- pattern
- object body
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、野菜、果物等の物品の重量を１重量センサを
用いることなく非接触で判定する、重量判定方法に関す
る。
用いることなく非接触で判定する、重量判定方法に関す
る。
（従来技術とその問題点）
物品の重量は、重量センサにより検出されるのが一般で
ある。しかしながら、凹凸面を有する野菜等を冷凍した
まま、その重量を判定しようとする場合には、重量セン
サを用いることなく、非接触の状態で重量を判定したい
という要望がある。
ある。しかしながら、凹凸面を有する野菜等を冷凍した
まま、その重量を判定しようとする場合には、重量セン
サを用いることなく、非接触の状態で重量を判定したい
という要望がある。
従来、このような要望に効果的に対応できる重量判定方
法は開発されていなかった。また、物品の表面キズは目
視により判定していたが、個人差がある上、キズを見落
し、不良品をそのまま出荷する場合がある等の問題があ
った。
法は開発されていなかった。また、物品の表面キズは目
視により判定していたが、個人差がある上、キズを見落
し、不良品をそのまま出荷する場合がある等の問題があ
った。
（発明の目的）
本発明の目的は、被測定物の斜め上方より横縞状のスリ
ットパターンを投影し、そのスリットの被測定物上の曲
り具合より被測定物の各スリット位置の高さを演算し、
これに基づいて被測定物の重量を測定できるようにする
と共に、被測定物に投影されたスリットパターンの微分
値を求めることにより被測定物の表面キズの有無を判定
できるようにした、重量判定方法を提供することにある
。
ットパターンを投影し、そのスリットの被測定物上の曲
り具合より被測定物の各スリット位置の高さを演算し、
これに基づいて被測定物の重量を測定できるようにする
と共に、被測定物に投影されたスリットパターンの微分
値を求めることにより被測定物の表面キズの有無を判定
できるようにした、重量判定方法を提供することにある
。
（発明の概要）
本発明の重量判定方法は、横縞状のスリットパターンを
被測定物の斜め上方より投影して、当該投影面をテレビ
カメラにより撮影し、テレビカメラから取込まれた画像
より被測定物の各スリット位置の高さを演算して、これ
に基づいて被測定物の体積を求め、該体積に見かけ上の
比重を乗算して、被測定物の重量を測定すると共に、被
測定物に投影されたスリットパターンの微分値を求める
ことにより、被測定物の表面キズの有無を判定すること
を特徴とするものである。
被測定物の斜め上方より投影して、当該投影面をテレビ
カメラにより撮影し、テレビカメラから取込まれた画像
より被測定物の各スリット位置の高さを演算して、これ
に基づいて被測定物の体積を求め、該体積に見かけ上の
比重を乗算して、被測定物の重量を測定すると共に、被
測定物に投影されたスリットパターンの微分値を求める
ことにより、被測定物の表面キズの有無を判定すること
を特徴とするものである。
（実施例）
以下、本発明の実施例について図により説明する。
第１図（ａ）、（ｂ）は、本発明による重量判定方法の
原理を説明する説明図である。第１図（ａ）に示すよう
に、載置板上に載置された被測定物の」三方には、テレ
ビカメラを設置する。また、テレビカメラの光軸Ｚとθ
の角度で、投影器で投影されるスリットのスリットパタ
ーン投影軸を設定することにより、被測定物にスリット
パターンを投影すると、テレビカメラ側から見ると、ス
リット位置がｄだけずれて見える。このスリットのずれ
（縞模様）ｄを調べることにより、次式で被測定物の厚
さく高さ）ｈが得られる。
原理を説明する説明図である。第１図（ａ）に示すよう
に、載置板上に載置された被測定物の」三方には、テレ
ビカメラを設置する。また、テレビカメラの光軸Ｚとθ
の角度で、投影器で投影されるスリットのスリットパタ
ーン投影軸を設定することにより、被測定物にスリット
パターンを投影すると、テレビカメラ側から見ると、ス
リット位置がｄだけずれて見える。このスリットのずれ
（縞模様）ｄを調べることにより、次式で被測定物の厚
さく高さ）ｈが得られる。
ｈ＝ｄ ＊ ｔ ａｎ （ｗ／２−θ）・・・・・・（
１）これより、第１図（ｂ）のように、各スリットのず
れｄ１〜ｄ４から、各スリットが載置台」二に投影され
る部分（以下スリット位置という）の被測定物の高さを
求めると、この高さの積算により後述するように被測定
物の上半面から概算した擬似の体積が求められ、これに
被測定物の見かけ上の比重を乗算することにより、重量
センサを用いることなく、被測定物の重量を判定するこ
とができる。そして、テレビカメラＤにて撮影されたス
リットパターンのデータを後述の装置にて、一定のサン
プリング周期で微分する。この微分値は、前回の微分値
と比較される。これらの差分が一定値以内であれば被測
定物の表面にキズなしと判定し、これらの差分が一定値
を越えれば被測定物の表面にキズありと判定する。
１）これより、第１図（ｂ）のように、各スリットのず
れｄ１〜ｄ４から、各スリットが載置台」二に投影され
る部分（以下スリット位置という）の被測定物の高さを
求めると、この高さの積算により後述するように被測定
物の上半面から概算した擬似の体積が求められ、これに
被測定物の見かけ上の比重を乗算することにより、重量
センサを用いることなく、被測定物の重量を判定するこ
とができる。そして、テレビカメラＤにて撮影されたス
リットパターンのデータを後述の装置にて、一定のサン
プリング周期で微分する。この微分値は、前回の微分値
と比較される。これらの差分が一定値以内であれば被測
定物の表面にキズなしと判定し、これらの差分が一定値
を越えれば被測定物の表面にキズありと判定する。
第２図は、本発明により、被測定物の重量を判定するた
めの概略のブロック図である。図において、コンベアＡ
に載置された被測定物Ｂの斜め上方にスリット投影器Ｃ
を設け、被測定物を所定位置に停止させた後、該被測定
物上に投影される横縞状のスリットパターンを、被測定
物の上方（真上）に設置したテレビカメラＤにより撮影
し、そのスリット画像をモニタテレビＥと、Ａ／Ｄコン
バータＦに取込む。Ａ／ＤコンバータＦは、例えば８ビ
ツトの２５６Ｘ２５６の画素としての画像に交換し、こ
れを画像用メモリＧに記憶させる。
めの概略のブロック図である。図において、コンベアＡ
に載置された被測定物Ｂの斜め上方にスリット投影器Ｃ
を設け、被測定物を所定位置に停止させた後、該被測定
物上に投影される横縞状のスリットパターンを、被測定
物の上方（真上）に設置したテレビカメラＤにより撮影
し、そのスリット画像をモニタテレビＥと、Ａ／Ｄコン
バータＦに取込む。Ａ／ＤコンバータＦは、例えば８ビ
ツトの２５６Ｘ２５６の画素としての画像に交換し、こ
れを画像用メモリＧに記憶させる。
画像用メモリＧは、パスラインＮを介して、フロッピィ
デスクＨ１主メモリＩ、プリンタＪ、ＣＲＴＫ、 キ
ーボードＬ等のハードウェアと共にＣＰＵＭに接続され
る。ＣＰＵＭは、第４図で説明する処理を行ない、被測
定物の重量と表面キズの有無を判定する。
デスクＨ１主メモリＩ、プリンタＪ、ＣＲＴＫ、 キ
ーボードＬ等のハードウェアと共にＣＰＵＭに接続され
る。ＣＰＵＭは、第４図で説明する処理を行ない、被測
定物の重量と表面キズの有無を判定する。
第３図は、本発明の詳細な説明図である。横縞状のスリ
ットパターンを被測定物の斜め上方より投影すると、被
測定物の凹凸によりスリットパターンに縞模様のずれが
生じ、これに基づいて（１）式よりスリット位置の被測
定物の高さが求められる。この際に、縞模様の微分値を
とり、微分値が不連続であれば、被測定物に表面キズが
あるものと判定する。
ットパターンを被測定物の斜め上方より投影すると、被
測定物の凹凸によりスリットパターンに縞模様のずれが
生じ、これに基づいて（１）式よりスリット位置の被測
定物の高さが求められる。この際に、縞模様の微分値を
とり、微分値が不連続であれば、被測定物に表面キズが
あるものと判定する。
第４図は、本発明の処理手順を説明するフローチャート
である。次に、このフローチャートについて説明する。
である。次に、このフローチャートについて説明する。
（１）被測定物に投影された横縞状のスリットパターン
を撮影したテレビカメラによる画像は、ビクセル（ｐｉ
ｘｅｌ）単位での大きさしかわからないので、実空間に
おける大きさは予め単位の較正しておく必要がある。ス
テップＡ１では、画像におけるビクセル値がｃｍ単位で
はどれだけの値に相当するかを求める処理を行なう、こ
のために、例えば直径Ａｃｍの白い紙をテレビカメラで
撮影し、その画像を取込むことで、Ａｃｍの画像がピク
セル値ではどれだけになるかを求め、これよりＢｃｍ’
相当のピクセル数を計算する。この結果をステップＡ５
で説明する被測定物のＣｍ３単位への変換に用いる。（
−例として、Ａ＝８ｃｍ、Ｂ＝５１２ｃｎ）’とする） （２）被測定物上のスリット高さを求めるための基準点
として、スリットの各原点位置を記憶させる（ステップ
Ａ２）・ （３）被測定物に投影されたスリットのずれ（縞模横）
を測定し、これよりスリットが投影されている位置の高
さを（１）式により演算する（ステップＡ５）、投影さ
れたスリットとスリットとの間は、被測定物の高さが同
一とみなして処理する。
を撮影したテレビカメラによる画像は、ビクセル（ｐｉ
ｘｅｌ）単位での大きさしかわからないので、実空間に
おける大きさは予め単位の較正しておく必要がある。ス
テップＡ１では、画像におけるビクセル値がｃｍ単位で
はどれだけの値に相当するかを求める処理を行なう、こ
のために、例えば直径Ａｃｍの白い紙をテレビカメラで
撮影し、その画像を取込むことで、Ａｃｍの画像がピク
セル値ではどれだけになるかを求め、これよりＢｃｍ’
相当のピクセル数を計算する。この結果をステップＡ５
で説明する被測定物のＣｍ３単位への変換に用いる。（
−例として、Ａ＝８ｃｍ、Ｂ＝５１２ｃｎ）’とする） （２）被測定物上のスリット高さを求めるための基準点
として、スリットの各原点位置を記憶させる（ステップ
Ａ２）・ （３）被測定物に投影されたスリットのずれ（縞模横）
を測定し、これよりスリットが投影されている位置の高
さを（１）式により演算する（ステップＡ５）、投影さ
れたスリットとスリットとの間は、被測定物の高さが同
一とみなして処理する。
（４）一定のサンプリング周期毎に縞模様（スリットパ
ターン）のデータの微分をとる、すなわち縞模様のまが
り具合を見る。この微分値は前回の微分値と比較される
。これらの差分が一定値以内であれば被測定物の表面に
キズなしと判定し、これらの差分が一定値を越えれば被
測定物の表面にキズありと判定する。（ステップＡ４）
。
ターン）のデータの微分をとる、すなわち縞模様のまが
り具合を見る。この微分値は前回の微分値と比較される
。これらの差分が一定値以内であれば被測定物の表面に
キズなしと判定し、これらの差分が一定値を越えれば被
測定物の表面にキズありと判定する。（ステップＡ４）
。
（５）被測定物上のスリット投影面はテレビカメラによ
り撮影され、ビクセル単位の画像が得られる。被測定物
の上部半分の体積は、各ビクセル位置の高さの和として
求める（ステップＡ５）。
り撮影され、ビクセル単位の画像が得られる。被測定物
の上部半分の体積は、各ビクセル位置の高さの和として
求める（ステップＡ５）。
即ち、各ピクセル幅の積分値により体積が求められる。
（８）画像より得られた体積はビクセル単位であるため
、これを実空間のＣｍ単位に換算する（ステップＡ６）
。これには、ステップＡＩで求めた較正値を利用し、例
えば、ステップＡ５で得られたビクセル単位の体積を、
５１２ ｃ ｍ’相当のビクセル数で除算し、更にこれ
を５１２倍することによりｃ ｍｌ単位の体積を求める
。
、これを実空間のＣｍ単位に換算する（ステップＡ６）
。これには、ステップＡＩで求めた較正値を利用し、例
えば、ステップＡ５で得られたビクセル単位の体積を、
５１２ ｃ ｍ’相当のビクセル数で除算し、更にこれ
を５１２倍することによりｃ ｍｌ単位の体積を求める
。
（７）スリットパターンの投影は、被測定物の上方から
のみ行なっているので、被測定物の下部の形状について
は上部の形状と同一とみなして、全体の体積値の補正を
行なう（ステップＡ７）。
のみ行なっているので、被測定物の下部の形状について
は上部の形状と同一とみなして、全体の体積値の補正を
行なう（ステップＡ７）。
（８）全体の体積に、被測定物の見かけ上の比重を乗算
して重量に換算する（ステップＡｓ）。
して重量に換算する（ステップＡｓ）。
（９）得られた重量値をＣＲＴやプリンタ等に出力する
（ステップＡ９）。
（ステップＡ９）。
（ｌＯ）次の被測定物の処理があるかどうかをチェック
しくステップＡ１ｏ）、次の処理がある場合には、ステ
ップＡ３〜Ａ９の処理を繰返す。
しくステップＡ１ｏ）、次の処理がある場合には、ステ
ップＡ３〜Ａ９の処理を繰返す。
（発明の効果）
以上説明したように、本発明によれば、被測定物に横縞
状のスリットパターンを投影し、そのスリットの被測定
物上の曲り具合により被測定物の各スリット位置の高さ
を演算し、これに基づいて被測定物の重量を判定してい
るので、重量センサを用いることなく非接触で被測定物
の重量を判定することができる。また、被測定物上に投
影されたスリットパターンの微分値をとることにより。
状のスリットパターンを投影し、そのスリットの被測定
物上の曲り具合により被測定物の各スリット位置の高さ
を演算し、これに基づいて被測定物の重量を判定してい
るので、重量センサを用いることなく非接触で被測定物
の重量を判定することができる。また、被測定物上に投
影されたスリットパターンの微分値をとることにより。
被測定物の表面キズの有無を判定することができる。
第１図（ａ）、（ｂ）は１本発明の基本原理の説明図、
第２図は本発明の概略のブロック図、第３図は本発明の
詳細な説明図、第４図はフローチャートである。 Ａ・・・コンベア、Ｂ・・・被測定物、Ｃ・・・スリッ
ト投影器、Ｄ・・・テレビカメラ、Ｅ・・・モニタテレ
ビ、Ｆ・・・Ａ／Ｄコンバータ、Ｇ・・・画像用メモリ
、Ｈ・・・フロッピーディスク、■・・・主メモリ、Ｊ
・・・プリンタ、Ｋ・・・ＣＲＴ、Ｌ・・・キーボード
、Ｍ・・・ＣＰＵ、Ｎ・・・パスライン 特許出願人 株式会社 石田衡器製作所代 理
人 弁 理 士 辻 實第
１図 （α） 第１図（ｂ） ｄｌ ｄｚ （Ｉｓ ｔｉ４ 第４図 又ノルトノ！ターン 八〇ターン
第２図は本発明の概略のブロック図、第３図は本発明の
詳細な説明図、第４図はフローチャートである。 Ａ・・・コンベア、Ｂ・・・被測定物、Ｃ・・・スリッ
ト投影器、Ｄ・・・テレビカメラ、Ｅ・・・モニタテレ
ビ、Ｆ・・・Ａ／Ｄコンバータ、Ｇ・・・画像用メモリ
、Ｈ・・・フロッピーディスク、■・・・主メモリ、Ｊ
・・・プリンタ、Ｋ・・・ＣＲＴ、Ｌ・・・キーボード
、Ｍ・・・ＣＰＵ、Ｎ・・・パスライン 特許出願人 株式会社 石田衡器製作所代 理
人 弁 理 士 辻 實第
１図 （α） 第１図（ｂ） ｄｌ ｄｚ （Ｉｓ ｔｉ４ 第４図 又ノルトノ！ターン 八〇ターン
Claims (1)
- 横縞状のスリットパターンを被測定物の斜め上方より投
影して、当該投影面をテレビカメラにより撮影し、テレ
ビカメラから取込まれた画像より被測定物の各スリット
位置の高さを演算して、これに基づいて被測定物の体積
を求め、該体積に見かけ上の比重を乗算して、被測定物
の重量を測定すると共に、被測定物に投影されたスリッ
トパターンの微分値を求める手段と、該微分値の不連続
を検知する手段とを有し該微分値の不連続の有無により
被測定物の表面キズの有無を判定することを特徴とする
重量判定方法。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23645584A JPS61114108A (ja) | 1984-11-09 | 1984-11-09 | 重量判定方法 |
| DE8585306694T DE3580647D1 (de) | 1984-09-19 | 1985-09-19 | Verfahren zum bestimmen eines volumens. |
| EP85306694A EP0178090B1 (en) | 1984-09-19 | 1985-09-19 | Volume determination process |
| US07/120,170 US4767212A (en) | 1984-09-19 | 1987-11-12 | Volume determination process |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23645584A JPS61114108A (ja) | 1984-11-09 | 1984-11-09 | 重量判定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61114108A true JPS61114108A (ja) | 1986-05-31 |
Family
ID=17000999
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23645584A Pending JPS61114108A (ja) | 1984-09-19 | 1984-11-09 | 重量判定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61114108A (ja) |
-
1984
- 1984-11-09 JP JP23645584A patent/JPS61114108A/ja active Pending
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