JPS6173025A - 重量判定方法 - Google Patents
重量判定方法Info
- Publication number
- JPS6173025A JPS6173025A JP19478284A JP19478284A JPS6173025A JP S6173025 A JPS6173025 A JP S6173025A JP 19478284 A JP19478284 A JP 19478284A JP 19478284 A JP19478284 A JP 19478284A JP S6173025 A JPS6173025 A JP S6173025A
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- JP
- Japan
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- slit
- weight
- measured
- height
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- Pending
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、野菜、果物等の物品の重量を、重量センサを
用いることなく非接触で判定する、重量判定方法に関す
る。
用いることなく非接触で判定する、重量判定方法に関す
る。
（咲来技術とその問題点）
物品のｆｆ１ｆｆｉは、ｆｆｉ量センサにより検出され
るのが一般である。しかしながら、凹凸面を有する野菜
等の重量を判定しようとする場合には、重量センサを用
いることなく、非接触の状態で重量を判定したいという
要望がある。
るのが一般である。しかしながら、凹凸面を有する野菜
等の重量を判定しようとする場合には、重量センサを用
いることなく、非接触の状態で重量を判定したいという
要望がある。
従来、このような要望に効果的に対応できる重量判定方
法は開発されていなかった。
法は開発されていなかった。
（発明の目的）
本発明の目的は、被測定物にスリットパターンを投影し
、そのスリットの被測定物上の曲り具合より被測定物の
各スリット位置の高さを演算し、これに基づいて被測定
物の重量を判定できるようにした、重量判定方法を提供
することにある。
、そのスリットの被測定物上の曲り具合より被測定物の
各スリット位置の高さを演算し、これに基づいて被測定
物の重量を判定できるようにした、重量判定方法を提供
することにある。
（発明の概要）
本発明は、スリットパターンを被測定物の斜め上方より
投影して、当該投影面をテレビカメラにより撮影し、テ
レビカメラから取り込まれた画像より被測定物の各スリ
ット位置の高さを演算して、これに基づいて被測定物の
体積を求め、該体積に見かけ上の比重を乗算して、被測
定物の重量を判定するものである。
投影して、当該投影面をテレビカメラにより撮影し、テ
レビカメラから取り込まれた画像より被測定物の各スリ
ット位置の高さを演算して、これに基づいて被測定物の
体積を求め、該体積に見かけ上の比重を乗算して、被測
定物の重量を判定するものである。
そして、スリンドパターンを横縞状とすることを実施態
様項とするものである。
様項とするものである。
（実施例）
以下、本発明の実施例について図により説明する。第１
図（ａ）、（ｂ）は、本発明による重量判定方法の原理
を説明する説明図である。第１図（ａ）に示すように、
載置板−ヒに′ａ、置された被測定物の上方には、テレ
ビカメラを設置する。また、テレビカメラの光軸とθの
角度で、投影器で投影されるスリットのスリットパター
ン投影軸を設定することにより、被測定物にスリットパ
ターンを投影すると、テレビカメラ側から見ると、スリ
７）位置がｄだけずれて見える。このスリットのずれ（
縞模様）ｄを調べることにより、次式で物体の厚さく高
さ）ｈが得られる。
図（ａ）、（ｂ）は、本発明による重量判定方法の原理
を説明する説明図である。第１図（ａ）に示すように、
載置板−ヒに′ａ、置された被測定物の上方には、テレ
ビカメラを設置する。また、テレビカメラの光軸とθの
角度で、投影器で投影されるスリットのスリットパター
ン投影軸を設定することにより、被測定物にスリットパ
ターンを投影すると、テレビカメラ側から見ると、スリ
７）位置がｄだけずれて見える。このスリットのずれ（
縞模様）ｄを調べることにより、次式で物体の厚さく高
さ）ｈが得られる。
ｈ＝ｄｔａｎ（π−θ） ・・・・・・（１）これ
より、第１図（ｂ）のように、スリットのずれｄ、−ｃ
ｔ、から、各スリットの高さを求めると、この高さの積
算により、後述するように被測定物の上半面から概算し
た擬似の体積が求められ、これに被測定物の見かけヒの
比重を乗算することにより、ｆｆｕｉｔセンサを用いる
ことなく、被測定物の重量を判定することができる。
より、第１図（ｂ）のように、スリットのずれｄ、−ｃ
ｔ、から、各スリットの高さを求めると、この高さの積
算により、後述するように被測定物の上半面から概算し
た擬似の体積が求められ、これに被測定物の見かけヒの
比重を乗算することにより、ｆｆｕｉｔセンサを用いる
ことなく、被測定物の重量を判定することができる。
第２図は、本発明により、被測定物の重量を判定するた
めの概略のブロック図である。図において、コンベアＡ
に載置された被測定物Ｂの斜め上方にスリット投影器Ｃ
を設け、被測定物上に投影されるスリットパターンを、
被測定物の上方に設置したテレビカメラＤにより撮影し
、画像をモニタテレビＥと、Ａ／ＤコンバータＦに取込
む、Ａ／Ｄコンバータは、例えば８ビツトの２５６×２
５６の画素としての画像に交換し、これを画像用メモリ
Ｇに記憶させる。画像用メモリＧは、パスラインＮを介
して、フロッピィデスクＨ１主メモリエ、プリンタＪ、
ＣＲＴＫ、キーボードＬ等のハードウェアと共にＣＰＵ
Ｍに接続される。ＣＰＵＭは、第４図のフローチャート
で説明する処理を行ない、被測定物の重量を判定する。
めの概略のブロック図である。図において、コンベアＡ
に載置された被測定物Ｂの斜め上方にスリット投影器Ｃ
を設け、被測定物上に投影されるスリットパターンを、
被測定物の上方に設置したテレビカメラＤにより撮影し
、画像をモニタテレビＥと、Ａ／ＤコンバータＦに取込
む、Ａ／Ｄコンバータは、例えば８ビツトの２５６×２
５６の画素としての画像に交換し、これを画像用メモリ
Ｇに記憶させる。画像用メモリＧは、パスラインＮを介
して、フロッピィデスクＨ１主メモリエ、プリンタＪ、
ＣＲＴＫ、キーボードＬ等のハードウェアと共にＣＰＵ
Ｍに接続される。ＣＰＵＭは、第４図のフローチャート
で説明する処理を行ない、被測定物の重量を判定する。
第３図は、本発明の詳細な説明図で横縞状のスリ７）パ
ターンを被測定物の斜め上方より投影したときの、被測
定物上でのスリットパターンの曲り具合を表わしたもの
である。
ターンを被測定物の斜め上方より投影したときの、被測
定物上でのスリットパターンの曲り具合を表わしたもの
である。
：５４図は、本発明の処理手順を説明するフローチャー
トである６次に、このフローチャートについて説明する
。
トである６次に、このフローチャートについて説明する
。
（１）被測定物に投影されたスリットパターンを撮：杉
したテレビカメラによる画像は、ピクセル（ｐｉｘｅｌ
）４１位での大きさしかわからないので、実空間におけ
る大きさは予め単位の較正をしておく必要がある。ステ
ップＡ、では、画像におけるピクセル値がｃｍ単位では
どれだけの値に相当するかを求める処理を行なう、この
ために、例えば直径Ａｃｍの白い紙をテレビカメラで撮
影し、その画像を取込むことで、Ａｃｍの画像がピクセ
ル値ではどれだけになるかを求め、これよりＢｃｍゝ相
当のピクセル数を計算する。この結果をステップＡ５で
説明する被測定物のｃ ｍ”単位への変換に用いる。（
−例として、Ａ＝８ｃｍ、Ｂ＝５１２ｃｍ’とする） （２）被測定物上のスリット高さを求めるための基準点
として、スリットの各原点位置を記憶させる（ステップ
Ａ２）。
したテレビカメラによる画像は、ピクセル（ｐｉｘｅｌ
）４１位での大きさしかわからないので、実空間におけ
る大きさは予め単位の較正をしておく必要がある。ステ
ップＡ、では、画像におけるピクセル値がｃｍ単位では
どれだけの値に相当するかを求める処理を行なう、この
ために、例えば直径Ａｃｍの白い紙をテレビカメラで撮
影し、その画像を取込むことで、Ａｃｍの画像がピクセ
ル値ではどれだけになるかを求め、これよりＢｃｍゝ相
当のピクセル数を計算する。この結果をステップＡ５で
説明する被測定物のｃ ｍ”単位への変換に用いる。（
−例として、Ａ＝８ｃｍ、Ｂ＝５１２ｃｍ’とする） （２）被測定物上のスリット高さを求めるための基準点
として、スリットの各原点位置を記憶させる（ステップ
Ａ２）。
（３）被測定物に投影されたスリットのずれ（縞模様）
を測定し、これよりスリットが投影されている位置の高
さを（１）式により演算する（ステップＡ３）、投影さ
れたスリットとスリットとの間は、被測定物の高さが同
一とみなして処理する。
を測定し、これよりスリットが投影されている位置の高
さを（１）式により演算する（ステップＡ３）、投影さ
れたスリットとスリットとの間は、被測定物の高さが同
一とみなして処理する。
（４）被測定物上のスリット投影面はテレビカメラによ
り撮影され、ピクセル単位の画像が得られる。被測定物
の上部半分の体積は、各ピクセル位置の高さの和として
求める（ステップＡ４）。
り撮影され、ピクセル単位の画像が得られる。被測定物
の上部半分の体積は、各ピクセル位置の高さの和として
求める（ステップＡ４）。
即ち、各ピクセル幅の積分値により体積が求められる。
（５）画像より得られた体積はピクセル単位であるため
、これを実空間のｃｒｔ単位に換算する（ステップＡ５
）、これには、ステップＡ１で求めた較直値を利用し、
例えば、ステップＡ４で得られたピクセル単位の体積を
、５１２ ｃｒｎ’相当のピクセル数で除算し、更にこ
れを５１２倍することによリｃ ｍ’単位の体積を求め
る。
、これを実空間のｃｒｔ単位に換算する（ステップＡ５
）、これには、ステップＡ１で求めた較直値を利用し、
例えば、ステップＡ４で得られたピクセル単位の体積を
、５１２ ｃｒｎ’相当のピクセル数で除算し、更にこ
れを５１２倍することによリｃ ｍ’単位の体積を求め
る。
（８）スリットパターンの投影は、被測定物の上方から
のみ行なっているので、被測定物の下部の形状について
は上部の形状と同一とみなして、全体の体積値の補正を
行なう（ステップＡｓ）。
のみ行なっているので、被測定物の下部の形状について
は上部の形状と同一とみなして、全体の体積値の補正を
行なう（ステップＡｓ）。
（７）全体の体積に、被測定物の見かけ上の比重を乗算
して重量に換算する（ステップＡ７）。
して重量に換算する（ステップＡ７）。
（８） ｉ’ｊられたＴ＜ ！＋Ｉ： ４ゴ１をＣＲＴ
やプリンタ等に１１１力する（ステップＡ日）。
やプリンタ等に１１１力する（ステップＡ日）。
（９）次の被測定物の処理があるかどうかをチェックし
くステップＡ９）、次の処理がある場合には、ステップ
Ａ３〜Ａ日の処理を繰返す。
くステップＡ９）、次の処理がある場合には、ステップ
Ａ３〜Ａ日の処理を繰返す。
（発明の効果）
以上説明したように、本発明によれば、被測定物の斜め
上方より被測定物にスリットパターンを投影し、そのス
リットの被測定物上の曲り具合により被測定物の各スリ
ット位置の高さを演算し、これに基づいて被測定物の重
量を判定しているので１重量センサを用いることなく非
接触で被測定物の重量を判定することができる。
上方より被測定物にスリットパターンを投影し、そのス
リットの被測定物上の曲り具合により被測定物の各スリ
ット位置の高さを演算し、これに基づいて被測定物の重
量を判定しているので１重量センサを用いることなく非
接触で被測定物の重量を判定することができる。
第１図（ａ）、（ｂ）は、本発明の基本原理の説明図、
第２図は本発明の概略のブロック図、第３図は本発明の
詳細な説明図、第４図はフローチャートである。 Ａ・・・コンベア、Ｂ・・・被測定物、Ｃ・・・スリッ
ト投影器、Ｄ・・・テレビカメラ、Ｅ・・・モニタテレ
ビ、Ｆ・・・Ａ／Ｄコンバータ、Ｇ・・・画像用メモリ
、Ｈ・・・フロッピーディスク、Ｉ 両生メモリ、Ｊ・
・・プリンタ、Ｋ・・・ＣＲＴ、Ｌ・・・キーボード、
Ｍ・・・ＣＰＵ、Ｎ・・・パスライン。 特許出願人 株式会社 石田衡器製作所代 理
人 弁理士 辻 實（外１名）
第２図は本発明の概略のブロック図、第３図は本発明の
詳細な説明図、第４図はフローチャートである。 Ａ・・・コンベア、Ｂ・・・被測定物、Ｃ・・・スリッ
ト投影器、Ｄ・・・テレビカメラ、Ｅ・・・モニタテレ
ビ、Ｆ・・・Ａ／Ｄコンバータ、Ｇ・・・画像用メモリ
、Ｈ・・・フロッピーディスク、Ｉ 両生メモリ、Ｊ・
・・プリンタ、Ｋ・・・ＣＲＴ、Ｌ・・・キーボード、
Ｍ・・・ＣＰＵ、Ｎ・・・パスライン。 特許出願人 株式会社 石田衡器製作所代 理
人 弁理士 辻 實（外１名）
Claims (2)
- （１）スリットパターンを被測定物の斜め上方より投影
して、当該投影面をテレビカメラにより撮影し、テレビ
カメラから取込まれた画像より被測定物の各スリット位
置の高さを演算して、これに基づいて被測定物の体積を
求め、該体積に見かけ上の比重を乗算して、被測定物の
重量を判定することを特徴とする、重量判定方法。 - （２）スリットパターンの形状を横縞状としたことを特
徴とする特許請求の範囲第（１）項に記載の重量判定方
法。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19478284A JPS6173025A (ja) | 1984-09-19 | 1984-09-19 | 重量判定方法 |
| EP85306694A EP0178090B1 (en) | 1984-09-19 | 1985-09-19 | Volume determination process |
| DE8585306694T DE3580647D1 (de) | 1984-09-19 | 1985-09-19 | Verfahren zum bestimmen eines volumens. |
| US07/120,170 US4767212A (en) | 1984-09-19 | 1987-11-12 | Volume determination process |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19478284A JPS6173025A (ja) | 1984-09-19 | 1984-09-19 | 重量判定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6173025A true JPS6173025A (ja) | 1986-04-15 |
Family
ID=16330163
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19478284A Pending JPS6173025A (ja) | 1984-09-19 | 1984-09-19 | 重量判定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6173025A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013015394A (ja) * | 2011-07-04 | 2013-01-24 | Daifuku Co Ltd | 農産物の体積測定装置 |
| US8712501B2 (en) | 2006-11-08 | 2014-04-29 | Siemens Aktiengesellschaft | Method and device for surface scanning of a patient |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4842188A (ja) * | 1971-10-08 | 1973-06-19 | ||
| JPS53125866A (en) * | 1977-04-09 | 1978-11-02 | Tomonori Matsuda | Discriminating method for surface profile |
-
1984
- 1984-09-19 JP JP19478284A patent/JPS6173025A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4842188A (ja) * | 1971-10-08 | 1973-06-19 | ||
| JPS53125866A (en) * | 1977-04-09 | 1978-11-02 | Tomonori Matsuda | Discriminating method for surface profile |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8712501B2 (en) | 2006-11-08 | 2014-04-29 | Siemens Aktiengesellschaft | Method and device for surface scanning of a patient |
| JP2013015394A (ja) * | 2011-07-04 | 2013-01-24 | Daifuku Co Ltd | 農産物の体積測定装置 |
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