JPS6173026A - 重量判定方法 - Google Patents
重量判定方法Info
- Publication number
- JPS6173026A JPS6173026A JP19478384A JP19478384A JPS6173026A JP S6173026 A JPS6173026 A JP S6173026A JP 19478384 A JP19478384 A JP 19478384A JP 19478384 A JP19478384 A JP 19478384A JP S6173026 A JPS6173026 A JP S6173026A
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- Japan
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- slit
- measured
- weight
- image
- measurement
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- Pending
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、野菜、果物等の物品の重量を、重早−センサ
を用いることなく非接触で判定する、重量判定方法に関
する。
を用いることなく非接触で判定する、重量判定方法に関
する。
(従来技術とその問題点)
物品の重量は、1.Wcセンサにより検出されるのか一
般である。しかしながら、凹凸面を有する野菜等の重量
を判定しようとする場合には1重量センサを用いること
なく、非接触の状態で重量を判定したいという要望があ
る。
般である。しかしながら、凹凸面を有する野菜等の重量
を判定しようとする場合には1重量センサを用いること
なく、非接触の状態で重量を判定したいという要望があ
る。
従来、このような要望に効果的に対応できる重量判定方
法は開発されていなかった。
法は開発されていなかった。
(発明の目的)
本発明の目的は、被測定物にスリットパターンを投影し
、被測定物を移動させながらそのスリットの被測定物上
の曲り具合を連続して検出することにより被測定物のス
リット位置の高さを演算し、これに基づいて被測定物の
重量を判定できるようにした、重量判定方法を提供する
ことにある。
、被測定物を移動させながらそのスリットの被測定物上
の曲り具合を連続して検出することにより被測定物のス
リット位置の高さを演算し、これに基づいて被測定物の
重量を判定できるようにした、重量判定方法を提供する
ことにある。
(発明の概要)
本発明の重量判定方法は、被測定物を移動させながら、
スリットパターンを被測定物の斜め上方より投影して、
当該投影面をテレビカメラにより連続して撮影して、テ
レビカメラから取込まれた画像より被測定物のスリット
位置の高さを演算して、これに基づいて被測定物の体積
を求め、該体積に見かけヒの比重を乗算して、被測定物
の重量を判定することを特徴とするものである。
スリットパターンを被測定物の斜め上方より投影して、
当該投影面をテレビカメラにより連続して撮影して、テ
レビカメラから取込まれた画像より被測定物のスリット
位置の高さを演算して、これに基づいて被測定物の体積
を求め、該体積に見かけヒの比重を乗算して、被測定物
の重量を判定することを特徴とするものである。
(実施例)
以ド、本発明の実施例について図により説明する。第1
図(a)、(b)は、本発明による重量量定方法の原理
を説明する説明図である。第1図(a)に示すように、
IN+!置板七置板層された被測定物の上方には、テレ
ビカメラを設2する。また、テレビカメラの光軸と0の
角度で、投影器で投影されるスリットのスリットパター
ン投影軸を設定することにより、被測定物にスリットパ
ターンを投影すると、テレビカメラ側から見ると、スリ
ット位置がdだけずれて見える。このスリットのずれ(
縞模様)dを調べることにより、次式で物体の厚さく高
さ)hが得られる。
図(a)、(b)は、本発明による重量量定方法の原理
を説明する説明図である。第1図(a)に示すように、
IN+!置板七置板層された被測定物の上方には、テレ
ビカメラを設2する。また、テレビカメラの光軸と0の
角度で、投影器で投影されるスリットのスリットパター
ン投影軸を設定することにより、被測定物にスリットパ
ターンを投影すると、テレビカメラ側から見ると、スリ
ット位置がdだけずれて見える。このスリットのずれ(
縞模様)dを調べることにより、次式で物体の厚さく高
さ)hが得られる。
h=dtan(π−θ) −・・−・(1)これ
より、第1図(b)のように、スリットのずれd1〜d
4から、各スリットの高さを求めると、この高さの積算
により、後述するように被測定物の上半面からN′IK
した擬似の体積が求められ、これに被測定物の見かけ上
の比重を乗算することにより、重量センサを用いること
なく、被測定物の@量を判定することができる。
より、第1図(b)のように、スリットのずれd1〜d
4から、各スリットの高さを求めると、この高さの積算
により、後述するように被測定物の上半面からN′IK
した擬似の体積が求められ、これに被測定物の見かけ上
の比重を乗算することにより、重量センサを用いること
なく、被測定物の@量を判定することができる。
第2図は、本発明により、被測定物の重量を判定するた
めの概略のブロック図である0図において、コンベアA
に載置された被測定物Bの斜め上方にスリット投影器C
を設け、被測定物上に投影されるスリットパターンを、
被測定物の上方に設置したテレビカメラDにより撮影し
、画像をモニタテレビEと、A/DコンバータFに取込
む、A/Dコンバータは、例えば8ビツトの256×2
56の画素としての画像に交換し、これを画像用メモリ
Gに記憶させる0画像用メモリGは、パスラインNを介
して、フロッピィデスクH1主メモリエ、プリンタJ、
CRTK、キーボードL等のハードウェアと共にCPU
Mに接続される。
めの概略のブロック図である0図において、コンベアA
に載置された被測定物Bの斜め上方にスリット投影器C
を設け、被測定物上に投影されるスリットパターンを、
被測定物の上方に設置したテレビカメラDにより撮影し
、画像をモニタテレビEと、A/DコンバータFに取込
む、A/Dコンバータは、例えば8ビツトの256×2
56の画素としての画像に交換し、これを画像用メモリ
Gに記憶させる0画像用メモリGは、パスラインNを介
して、フロッピィデスクH1主メモリエ、プリンタJ、
CRTK、キーボードL等のハードウェアと共にCPU
Mに接続される。
CPUMは、第4図のフローチャートで説明する処理を
行ない、被測定物の重量を判定する。
行ない、被測定物の重量を判定する。
第3図は1本発明の詳細な説明図である0本発明におい
ては、1本のスリットを被測定物に投影し、被1111
定物は矢印方向に移動させることにより、被測定物の凹
凸がスリットの曲り具合から連続して■、(す、■のよ
うに検出できる。このため、スリ7)によるスキャニン
グ速度を変えることにより、第1図(b)のような横縞
状のスリットパターンを投影した場合と比較して、要求
精度の応した計算精度が得られ、重量判定の処理スピー
ドが向上できるものである。
ては、1本のスリットを被測定物に投影し、被1111
定物は矢印方向に移動させることにより、被測定物の凹
凸がスリットの曲り具合から連続して■、(す、■のよ
うに検出できる。このため、スリ7)によるスキャニン
グ速度を変えることにより、第1図(b)のような横縞
状のスリットパターンを投影した場合と比較して、要求
精度の応した計算精度が得られ、重量判定の処理スピー
ドが向上できるものである。
第4図は、本発明の処理手順を説明するフローチャート
である。次に、このフローチャートについて説明する。
である。次に、このフローチャートについて説明する。
(1)被測定物に投影されたスリットパターンを撮影し
たテレビカメラによる画像は、ピクセル(pixel)
単位での大きさしかわからないので、実空間における大
きさは予め単位の較正をしておく必要がある。ステップ
A1では、画像におけるピクセル値がcm単位ではどれ
だけの値に相当するかを求める処理を行なう。このため
に、例えば直径Acmの白い紙をテレビカメラで撮影し
、その画像を取込むことで、Acmの画像がピクセル値
ではどれだけになるかを求め、これよりBcm’相当の
ピクセル数を計算する。この結果をステップA7で説明
する被測定物のcrn’単位への変換に用いる。(−例
として、A=8cm、B=512cm”とする)。
たテレビカメラによる画像は、ピクセル(pixel)
単位での大きさしかわからないので、実空間における大
きさは予め単位の較正をしておく必要がある。ステップ
A1では、画像におけるピクセル値がcm単位ではどれ
だけの値に相当するかを求める処理を行なう。このため
に、例えば直径Acmの白い紙をテレビカメラで撮影し
、その画像を取込むことで、Acmの画像がピクセル値
ではどれだけになるかを求め、これよりBcm’相当の
ピクセル数を計算する。この結果をステップA7で説明
する被測定物のcrn’単位への変換に用いる。(−例
として、A=8cm、B=512cm”とする)。
(2)次に被測定物を移動させ(ステップA2)、被測
定物上のスリット投影面のずれ(!模様)のデータを記
憶する(ステップA3)。
定物上のスリット投影面のずれ(!模様)のデータを記
憶する(ステップA3)。
(3)このデータに基づいて(1)式によりスリット位
置の高さを演算しくステップA4)、被測定物がスリッ
ト投影面から離脱するまで、ステップA5.A4の処理
を縁返す(ステップAs)。
置の高さを演算しくステップA4)、被測定物がスリッ
ト投影面から離脱するまで、ステップA5.A4の処理
を縁返す(ステップAs)。
(4)被測定物上のスリット投影面はテレビカメラによ
り撮影され、ピクセル単位の画像が得られる。被測定物
の上部半分の体積は、各ピクセル位置の高さの和として
求める(ステップA6)。
り撮影され、ピクセル単位の画像が得られる。被測定物
の上部半分の体積は、各ピクセル位置の高さの和として
求める(ステップA6)。
即ち、各ピクセル幅の積分値により体積が求められる。
(5)画像より得られた体積はピクセル単位であるため
、これを実空間のc m”単位に換算する(ステツブA
7)、これには、ステップA、で求めた較正値を利用し
、例えば、ステップA6で得られたビクセル単位の体積
を、512 cm″相当のビクセル数で除算し、更にこ
れを512倍することによりcm″単位の体積を求める
。
、これを実空間のc m”単位に換算する(ステツブA
7)、これには、ステップA、で求めた較正値を利用し
、例えば、ステップA6で得られたビクセル単位の体積
を、512 cm″相当のビクセル数で除算し、更にこ
れを512倍することによりcm″単位の体積を求める
。
(6)スリットパターンの投影は、被測定物の上方から
のみ行なっているので、被測定物の下部の形状について
は上部の形状と同一とみなして、全体の体積値の補正を
行なう(ステップA日)。
のみ行なっているので、被測定物の下部の形状について
は上部の形状と同一とみなして、全体の体積値の補正を
行なう(ステップA日)。
(7)全体の体積に、被測定物の見かけ上の比重を3?
算して重量に換算する(ステップA9)。
算して重量に換算する(ステップA9)。
(8)得られた重量値をCRTやプリンタ等に出力する
(ステップAgo)。
(ステップAgo)。
(8)次の被測定物の処理があるかどうかをチェックし
くステップAlt)、次の処理がある場合には、ステッ
プA2〜Al(+の処理を繰返す。
くステップAlt)、次の処理がある場合には、ステッ
プA2〜Al(+の処理を繰返す。
(発明の効果)
以上説明したように1本発明によれば、被測定物にスリ
ットパターンを投影し、被測定物を移動させながらその
スリットの被測定物上の曲り具合を連続して検出するこ
とにより被測定物のスリット位置の高さを@算し、これ
に基づいて被測定物の重量を判定しているので1重量セ
ンサを用いることなく非接触で被測定物の重量を判定す
ることができる。
ットパターンを投影し、被測定物を移動させながらその
スリットの被測定物上の曲り具合を連続して検出するこ
とにより被測定物のスリット位置の高さを@算し、これ
に基づいて被測定物の重量を判定しているので1重量セ
ンサを用いることなく非接触で被測定物の重量を判定す
ることができる。
第1図(a)、(b)は、本発明の基本原理の説明図、
第2図は本発明の概略のブロック図、第3図は本発明の
詳細な説明図、第4図はフローチャートである。 A・・・コンベア、B・・・被測定物、C・・・スリッ
ト投影器、D・・・テレビカメラ、E・・・モニタテレ
ビ、F・・・A/Dコンバータ、G・・・画像用メモリ
、H・・・フロッピーディスク、■・・・主メモリ、J
・・・プリンタ、K・・・CRT、L・・・キーボード
、M・・・CPU、N・・・パスライン。 特許出願人 株式会社 石田衡器製作所代 理
人 弁理士 辻 實(外1名)
第2図は本発明の概略のブロック図、第3図は本発明の
詳細な説明図、第4図はフローチャートである。 A・・・コンベア、B・・・被測定物、C・・・スリッ
ト投影器、D・・・テレビカメラ、E・・・モニタテレ
ビ、F・・・A/Dコンバータ、G・・・画像用メモリ
、H・・・フロッピーディスク、■・・・主メモリ、J
・・・プリンタ、K・・・CRT、L・・・キーボード
、M・・・CPU、N・・・パスライン。 特許出願人 株式会社 石田衡器製作所代 理
人 弁理士 辻 實(外1名)
Claims (1)
- 被測定物を移動させながら、スリットパターンを被測定
物の斜め上方より投影して、当該投影面をテレビカメラ
により連続して撮影し、テレビカメラから取込まれた画
像より被測定物のスリット位置の高さを演算して、これ
に基づいて被測定物の体積を求め、該体積に見かけ上の
比重を乗算して、被測定物の重量を判定することを特徴
とする、重量判定方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19478384A JPS6173026A (ja) | 1984-09-19 | 1984-09-19 | 重量判定方法 |
EP85306694A EP0178090B1 (en) | 1984-09-19 | 1985-09-19 | Volume determination process |
DE8585306694T DE3580647D1 (de) | 1984-09-19 | 1985-09-19 | Verfahren zum bestimmen eines volumens. |
US07/120,170 US4767212A (en) | 1984-09-19 | 1987-11-12 | Volume determination process |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19478384A JPS6173026A (ja) | 1984-09-19 | 1984-09-19 | 重量判定方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6173026A true JPS6173026A (ja) | 1986-04-15 |
Family
ID=16330179
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19478384A Pending JPS6173026A (ja) | 1984-09-19 | 1984-09-19 | 重量判定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6173026A (ja) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4842188A (ja) * | 1971-10-08 | 1973-06-19 | ||
JPS53125866A (en) * | 1977-04-09 | 1978-11-02 | Tomonori Matsuda | Discriminating method for surface profile |
-
1984
- 1984-09-19 JP JP19478384A patent/JPS6173026A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4842188A (ja) * | 1971-10-08 | 1973-06-19 | ||
JPS53125866A (en) * | 1977-04-09 | 1978-11-02 | Tomonori Matsuda | Discriminating method for surface profile |
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