JPS61109157A - ソフトウエアの性能測定装置 - Google Patents

ソフトウエアの性能測定装置

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Publication number
JPS61109157A
JPS61109157A JP59228994A JP22899484A JPS61109157A JP S61109157 A JPS61109157 A JP S61109157A JP 59228994 A JP59228994 A JP 59228994A JP 22899484 A JP22899484 A JP 22899484A JP S61109157 A JPS61109157 A JP S61109157A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
performance
test
performance measurement
measurement
host computer
Prior art date
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Pending
Application number
JP59228994A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshiaki Nagai
義明 永井
Hideki Chigira
千吉良 英毅
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Original Assignee
Agency of Industrial Science and Technology
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Filing date
Publication date
Application filed by Agency of Industrial Science and Technology filed Critical Agency of Industrial Science and Technology
Priority to JP59228994A priority Critical patent/JPS61109157A/ja
Publication of JPS61109157A publication Critical patent/JPS61109157A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/30Monitoring
    • G06F11/34Recording or statistical evaluation of computer activity, e.g. of down time, of input/output operation ; Recording or statistical evaluation of user activity, e.g. usability assessment

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Debugging And Monitoring (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、TSSシステムなどにおけるソフトウェア開
発およびテストに係り、特に、テストおよび性能測定の
効率化、省力化に好適なソフトウェアの性能測定装置に
関する。
〔発明の背景〕
従来のTSS向はソフトウェアのテストおよび性能測定
は、端末装置から対象ソフトウェアを起動し、システム
からの出力メツセージに従い、テストあるいは性能測定
実施者が、必要項目を入力してソフトウェアを実行し、
同時に所要時間を測定し、結果をまとめていたので、テ
ストあるいは性能測定を行なっている間、テストあるい
は性能測定実施者は端末を離れることができず、あるい
は不注意で所要時間を記録し忘れた場合などソフトウェ
アを再実行しなければならないというような欠点があっ
た6 〔発明の目的〕 本発明の目的は、テストあるいは性能測定を行なうTS
S向はソフトウェアの使用する端末のエミュレーション
を行ないながら、テストあるいは性能測定を行なうため
の手順に従い、自動的にホスト計算機との間で信号のや
りとりを行ない結果を測定する如き、ソフトウェアの性
能測定装置を提供することにある。
〔発明の概要〕
本発明は、テストあるいは性能測定のための作業の自動
化のため、マイクロプロセッサを用いたTSS端末のエ
ミュレーション装置に、■ホスト計算機と端末との間の
信号のやりとりの記憶装置。
■不揮発性記憶装置に予め記憶しておいたテストあるい
は性能測定のための手順に従い、ホスト計算機へ信号を
送る機構、■テストあるいは性能測定ポイントにおける
時間測定機構、■テストあるいは性能測定結果まとめ機
構、を結合したもめである。
〔発明の実施例〕
以下、本発明の一実施例を第1図から第3図により説明
する。
先ず、本実施例の構成を第1図により説明する。
ホスト計算機1は、テストあるいは性能測定を行なうソ
フトウェアを実行する計算機である。ホスト計算機1は
、モデム2,3を経て、本実施例の装置4と結びつける
マイクロプロセッサ5は、テストあるいは性能測定処理
の制御を行なうためのものである。制御手順用メモリ6
は、テストあるいは性能測定のための制御手順を格納す
るメモリであり、テストあるいは性能測定の実行前に補
助記憶装置(フレキシブルディスクなど)14から読み
込まれる。ハードウェアクロックβは、性能測定のとき
の所要時間を計測するために用いるソフトウェアタイマ
8には、バッテリーバックアップを行なっておくと、毎
使用時、日時の初期設定をする必要が無く便利である。
ワークエリア9は、ホスト計算機1から送ってきた信号
を一時蓄えたり、性能測定実施後、実施結果をまとめる
ときにワークエリアとして使用する。コンソール入出力
インターフェース10は、本装置の利用者がホスト計算
機から送られてくる信号をモニタしたり、本装置の初期
設定などを行なうために用いる。補助記憶装置インター
フェース12は、フレキシブルディスク14などの補助
記憶装置とのインターフェースを行なうために用いる。
次に、本実施例の動作を第2図と第3図により説明する
。第2図に、本実例全体の制御手順を示す。15におい
て、ホスト計算機1のTSS端末としてエミュレーショ
ンを行なう端末モードを初期設定する(たとえば、回線
の速度、ASCII。
EBCDIKなどのコードの種類)616において、予
め作成して、補助記憶装置上に格納しておいたテストあ
るいは性能測定手順プログラムを制御手順用メモリ6へ
読み込む。性能測定手順プログラム19は、第3図のよ
うな要素から構成される。ログ情報作成モジュール20
は、ホスト計算機1と本装置4との信号の受渡し、およ
び、ハードウェアタイマ8により測定された時刻を補助
記憶装置14へ蓄える。ホスト計算機へ送る信号のテキ
ストと手順モジュール21は、ホスト計算機1へ送るテ
キストとそのテキストを送るべきタイミングを定めてい
るモジュールである。このモジュールは、ホスト計算機
lからの信号がもしAならば、Bというテキストを送れ
という型のプロダクションルールのような形式で記述・
蓄積できる。
時刻情報の記録モジュール22は、必要な時点でハード
ウェアタイマ8を読みに行き、記録する。
17において、16で設定したプログラムを走らせ、ホ
スト計算機上で稼動しているソフトウェアのテストある
いは性能測定を行なう618において、被測定プログラ
ムが終了したならば、ログ情報からピックアップコード
とのマツチングによりテストポイントごとの所要時間の
情報を計算しまとめる。
本実施例によれば、比較的低価格な装置で、R5232
Cなどのシリアル回線で結ばれたTSSシステム上の端
末稼動ソフトウェアの性能測定が省力化できるという効
果がある。
〔発明の効果〕 本発明によれば、マイクロコンピュータによるTSSシ
ステムの端末エミュレータとテストあるいは性能測定実
験自動実行装置を結合したものにより、テストあるいは
性能測定作業者が端末の付近にいなくても自動的にテス
トあるいは性能測定を行なってくれるので、省力化、実
験誤りの減少という効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例の全体構成図、第2図は本発明
の全体制御手順図、第3図は性能測定手順プログラムの
構造図である。 符号の説明 1・・・ホスト計算機、2,3・・・モデム、4・・・
本発明の装置、5・・・マイクロプロセッサ、6・・・
制御手順用メモリ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. ホスト計算機と端末との間の信号のやりとりを記録保持
    する手段、ファイル中に蓄えたテストあるいは性能測定
    指示情報に従って自動テストを行なう手段、ホスト側か
    ら信号情報が送られた時間を計測記録する手段、各種記
    憶情報から、予め指定されたピックアップコードとのマ
    ッチングによる必要情報検索・編集を行なうまとめ情報
    を出力する手段を設けたことを特徴とする、ソフトウェ
    アの性能測定装置。
JP59228994A 1984-11-01 1984-11-01 ソフトウエアの性能測定装置 Pending JPS61109157A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59228994A JPS61109157A (ja) 1984-11-01 1984-11-01 ソフトウエアの性能測定装置

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JP59228994A JPS61109157A (ja) 1984-11-01 1984-11-01 ソフトウエアの性能測定装置

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JPS61109157A true JPS61109157A (ja) 1986-05-27

Family

ID=16885096

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP59228994A Pending JPS61109157A (ja) 1984-11-01 1984-11-01 ソフトウエアの性能測定装置

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008047792A (ja) * 2006-08-21 2008-02-28 Toppan Printing Co Ltd 太陽電池部材および太陽電池部材シート
JP2010141111A (ja) * 2008-12-11 2010-06-24 Sharp Corp 太陽電池装置、その製造方法、並びに電子機器

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5394741A (en) * 1977-01-31 1978-08-19 Toshiba Corp Automatic appreciating method for quality of on-line system
JPS5848162A (ja) * 1981-09-18 1983-03-22 Fujitsu Ltd 端末の応答時間測定方式

Patent Citations (2)

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