JPS6095661A - アドレスチエツク回路 - Google Patents

アドレスチエツク回路

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Publication number
JPS6095661A
JPS6095661A JP58202135A JP20213583A JPS6095661A JP S6095661 A JPS6095661 A JP S6095661A JP 58202135 A JP58202135 A JP 58202135A JP 20213583 A JP20213583 A JP 20213583A JP S6095661 A JPS6095661 A JP S6095661A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
address
circuit
check
signals
Prior art date
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Pending
Application number
JP58202135A
Other languages
English (en)
Inventor
Masaru Katagiri
片桐 勝
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Nippon Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp, Nippon Electric Co Ltd filed Critical NEC Corp
Priority to JP58202135A priority Critical patent/JPS6095661A/ja
Publication of JPS6095661A publication Critical patent/JPS6095661A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/02Detection or location of defective auxiliary circuits, e.g. defective refresh counters
    • G11C29/022Detection or location of defective auxiliary circuits, e.g. defective refresh counters in I/O circuitry
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/04Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
    • G11C29/08Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing
    • G11C29/12Built-in arrangements for testing, e.g. built-in self testing [BIST] or interconnection details
    • G11C29/18Address generation devices; Devices for accessing memories, e.g. details of addressing circuits

Landscapes

  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はアドレスチェック回路に関し、特に主記憶装置
におけるアドレスチェック回路に関する。
従来、この種の主記憶装置は第1図に示すよう忙中央処
理装置等の接続機器からメモリアクセス要求時に送出さ
れてくるアクセスアドレス11゜12’に保持するイン
タフェースレジスタ13.14と、該インタフェースレ
ジスタ13.14からのアクセスアドレスのうち何れか
一方をアドレス選択信号16によシ選択出力するアドレ
ス選択回路15と、記憶素子に供給するメモリアドレス
17により作動する複数の記憶素子からなる記憶部18
とを有している。この種の主記憶装置は大容量化に伴い
、用いられる記憶素子1すあたシのメモリ容量が増大の
傾向にあるため、記憶素子に供給するアドレス信号も増
加することとなり素子の入出力ビン数の制限によシアド
レス信号を2回に分けて供給するのが普通となっている
したがって、この主記憶装置の動作は選択回路15と選
択信号16で、記憶部18に供給するメモリアドレス1
7として最初にアクセスアドレス11を供給し、一定時
間経過後にアクセスアドレス12を供給して、その内容
を読出し、またはその位置にデータを書込むように働く
しかしながら主記憶装置においては、選択回路15ある
いは選択信号16にエラーが発生すると不正なアドレス
が記憶部に供給されることとなシ、従ってエラー発生時
にメモリアクセスがあると所謂データ化けという致命的
万障害を引き起こすという欠点を有していた。
−本発明の目的は従来の主記憶装置における欠点を除去
すると共に記憶部姉対して不正々アドレスでメモリアク
セスが行なわれたことを検出するアドレスチェック回路
を提供することにある。
本発明によれば、記憶部へのアドレスを時分割に供給す
る記憶素子を用いた主記憶装置におけるアドレスチェ、
り回路でありて、固定レベルヲ持チ互いに論理レベルの
異なる2信号を入力し、記憶部に対するアドレスの供給
切換えのタイミングに応じて何れか一方を選択するチェ
ック信号選択手段と、前記選択手段からの出力のレベル
変化を検出するレベル変化検出手段と、エラーが無い時
に前記レベル変化検出手段から出力される信号と同一位
相、同−論理状態および同一パルス巾を持った期待値信
号と前記レベル変化検出手段からの出力信号を比較し、
比較結果が一致しない時にエラー信号を出力する手段と
を含むIアドレスチェック回路が得られる。
次に本発明の実施例について図面を参照して説明する。
第2図は本発明の実施例を示す。第2図において、本発
明の主記憶装置は、第1図と同じ機能を持つインタフェ
ースレジスタ13,14、アドレス選択回路15および
記憶部18と、固定レベルの論理“0″と″IN信号を
入力しアドレス選択信号16によシ何れか一方を選択し
チェック信号2oを出力するチェック信号選択回路19
と、前記チェック信号20の立上り微分信号22を生成
する微分回路21と該微分回路21からの出力信号22
と期待値信号23とを入力し、両信号の比較結果が一致
しない時にエラー信号25を出力する比較回路24とを
含む。
なお、期待値信号23はエラーが無い場合に微分回路2
4から出力される微分信号22と同じ論理レベルを持っ
た信号である。第3図は本発明の一実施例におけるタイ
ムチャートを示す。
第3図において本実施例はエラーが無い場合を動作サイ
クル1で示し、中央処理装置等から動作要求(図示せず
)が来ると、アクセスアドレス11と12がインタフェ
ースレジスタ13.!:14に保持される。この時点に
おいてアドレス選択回路15ハアトレス切換信号16に
よシアタセスアドレス11側を選択しておシ、記憶部1
8に対するメモリアドレス17としてアクセスアドレス
11を供給する。アドレス選択回路15は動作サイクル
開始から一定時間経過後にアドレス切換信号16のレベ
ルが′θ″→“1#と変化し、メモリアドレス17とし
てアクセスアドレス12を供給する。一方、チェック信
号選択回路19はアドレス切換信号16と同じ変化をし
、そのチェック信号2oを送出する。従ってチェック信
号2oが“0”→”1#′に変化すると、微分回路21
はその微分信号22を出力する。比較回路24において
は前記微分信号22と期待値信号23とを比較する。こ
の場合には一致しているのでエラー信号25を出力しな
い。
次に本実施例は動作サイクル2において、アドレス切換
信号16にエラーが発生した場合、アドレス切換信号1
6が動作サイクル開始から規定時間後に”0″→″″1
″にならないため動作サイクル開始から規定時間後に記
憶部18に対して供給するメモリアドレスが本来アクセ
スアドレス12でなければならないのがアクセスアドレ
ス11を供給してしまう。一方、チェック信号選択回路
19はアドレス切換信号16が10″固定なのでチェッ
ク信号20も02に固定されたまま微分回路21に供給
される。従って、微分回路21はその微分信号22を出
力せず比較回路24からエラー信号25を出力する。
更に本実施例は動作サイクル3におりて、アドレス選択
回路15にエラーが発生した場合、アドレス選択回路1
5が固定的にアクセスアドレス12を選択することにな
るため本来、メモリアドレス17としてアクセスアドレ
ス11を供給しなければならない時にアクセスアドレス
12′jk:供給スることとなる。特にチェック信号選
択回路19はエラーの波及範囲がチップ全体に渡るよう
な場合にアドレス選択回路15と同一の不正動作を行う
こととなり、チェック信号20が゛ビ固定のまま微分回
路21に供給される。従って、微分回路21はその微分
信号22を出力せず動作サイクル2と同様に比較回路2
4からエラー信号25を出力する。
なお、記憶部18に供給するメモリアドレス17は使用
する記憶素子のワード数に依存するが、256kWX1
b素子全仮定した場合でも9信号(9信号の2回転送で
18信号→2 =256k) あればヨイ。従って本実
施例においてはアドレス選択回路15とチェック信号選
択回路19を合わせても高々10回路なので1チツプの
IC内に収容することは容易である。
本発明は以上説明したように不正なアドレス切換えが行
なわれたことを検出し、データ化は全未然に防ぐという
効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の主記憶装置を示すブロツク図、第2図は
本発明の一実施例を示すブロック図、第3図は本実施例
における各部のタイムチャー)k示す図である。 1142・・・・・・アクセスアドレス、13.14・
・・・・・インタフェースレジスタ、15・・−・・・
アドレス選択回路、16・・・・−・アドレス切換信号
、17・・・・・・メモリアドレス、18・・・・・・
記憶部、19・・・・・・チェック信号選択回路、20
・・・・・・チェック信号、21・・・・・・微分回路
、22・・・・・・微分信号、23・・・・・・期待値
信号、24・・・・・・比較回路、25・・・・・・エ
ラー信号。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 記憶部へのアドレスを時分割に供給する記憶素子を用い
    た主記憶装置におけるアドレスチェック回路であって、 固定レベルを持ち、互いに論理レベルの異なる2信号を
    入力し、記憶部に対するアドレスの供給切換えのタイミ
    ングに応じて何れか一方を選択出力するチェック信号選
    択手段と、 前記選択手段からの出力のレベル変化を検出する手段と
    、 エラーが無い時に前記レベル変化検出手段から出力され
    る信号と同一位相、同−論理状態および同一パルス巾を
    持った期待値信号と前記レベル変化検出手段からの出力
    信号を比較し、比較結果が一致しない時にエラー信号を
    出力する手段とを含むことを特徴とするアドレスチェッ
    ク回路。
JP58202135A 1983-10-28 1983-10-28 アドレスチエツク回路 Pending JPS6095661A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58202135A JPS6095661A (ja) 1983-10-28 1983-10-28 アドレスチエツク回路

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58202135A JPS6095661A (ja) 1983-10-28 1983-10-28 アドレスチエツク回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6095661A true JPS6095661A (ja) 1985-05-29

Family

ID=16452535

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58202135A Pending JPS6095661A (ja) 1983-10-28 1983-10-28 アドレスチエツク回路

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