JPS60923B2 - セラミック半導体用電極材料 - Google Patents
セラミック半導体用電極材料Info
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- JPS60923B2 JPS60923B2 JP540680A JP540680A JPS60923B2 JP S60923 B2 JPS60923 B2 JP S60923B2 JP 540680 A JP540680 A JP 540680A JP 540680 A JP540680 A JP 540680A JP S60923 B2 JPS60923 B2 JP S60923B2
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Landscapes
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- Conductive Materials (AREA)
- Ceramic Capacitors (AREA)
- Thermistors And Varistors (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はチタン酸バリウム系セラミック半導体と極めて
良好な電気的接触を形成するための電極材料に関する。
良好な電気的接触を形成するための電極材料に関する。
従来公知の、チタン酸バリウム系半導体にオーム性接点
を形成する方法としてはニッケル無電解〆ッキ(化学メ
ッキ等)法、或いはインジウム、インジウム合金(ln
−Ga系、Ag−ln系「 Ag−ln−Pd系等)そ
の他の低融点金属を用いる方法等がある。しかし一般に
メッキ法においては、電極所定面にのみメッキ層を形成
するためには、全面にメッキした後周辺部を研摩するか
、メッキレジストにより非メッキ面をマスキングする等
の複雑な工程が必要となり、複雑な形状の試料には適用
困難な場合が生ずる。
を形成する方法としてはニッケル無電解〆ッキ(化学メ
ッキ等)法、或いはインジウム、インジウム合金(ln
−Ga系、Ag−ln系「 Ag−ln−Pd系等)そ
の他の低融点金属を用いる方法等がある。しかし一般に
メッキ法においては、電極所定面にのみメッキ層を形成
するためには、全面にメッキした後周辺部を研摩するか
、メッキレジストにより非メッキ面をマスキングする等
の複雑な工程が必要となり、複雑な形状の試料には適用
困難な場合が生ずる。
さらに、このようにして形成された後においてもニッケ
ルの場合30000以上の温度では酸化が次第に進行し
導通が劣化する。またインジウム、ガリウム等の低融点
金属を用いる電極では、これらの融点が低いため当然な
がら高温での使用はできない。
ルの場合30000以上の温度では酸化が次第に進行し
導通が劣化する。またインジウム、ガリウム等の低融点
金属を用いる電極では、これらの融点が低いため当然な
がら高温での使用はできない。
加えて極めて高価なため大量生産に通しない。これらの
他に、銀又は銀系ペーストを単層又は第二層として鱗付
ける電極形成法も多く提案されているが、多層焼付は工
程を複雑化させ、一般に良好な導通を安定的に得るには
その性能はなお不十分であった。
他に、銀又は銀系ペーストを単層又は第二層として鱗付
ける電極形成法も多く提案されているが、多層焼付は工
程を複雑化させ、一般に良好な導通を安定的に得るには
その性能はなお不十分であった。
耐熱性を高めるために、Ni−W合金を用いるもの、A
gにTjを配合したもの等も見られるが、これらの場合
良好な導通を蟻性にせざるを得ないという難点がある。
gにTjを配合したもの等も見られるが、これらの場合
良好な導通を蟻性にせざるを得ないという難点がある。
本発明は従来技術の上述の欠点を除去し、チタン酸バリ
ウム系半導体に対し、極めて良好な導通を与える電極材
料を提供することを目的とする。即ち、本発明の電極材
料は、金属粉末成分としてアンチモン粉末3〜5の重量
%と残部銀粉末とを含有することを特徴とする(第1の
態様)。さらに本発明の電極材料は、金属粉末成分とし
てアンチモン3〜3匹重量%と残部銀粉末とを含有する
ことを特徴とする(第2の態様)。本発明の電極材料は
金属粉末成分とガラス粉末の適量(数%〜10%程度)
とから成り、その他ペースト化剤として有機バインダー
及び溶剤を適当量含有した電極材ペーストとして一般に
使用に供せられる。
ウム系半導体に対し、極めて良好な導通を与える電極材
料を提供することを目的とする。即ち、本発明の電極材
料は、金属粉末成分としてアンチモン粉末3〜5の重量
%と残部銀粉末とを含有することを特徴とする(第1の
態様)。さらに本発明の電極材料は、金属粉末成分とし
てアンチモン3〜3匹重量%と残部銀粉末とを含有する
ことを特徴とする(第2の態様)。本発明の電極材料は
金属粉末成分とガラス粉末の適量(数%〜10%程度)
とから成り、その他ペースト化剤として有機バインダー
及び溶剤を適当量含有した電極材ペーストとして一般に
使用に供せられる。
第1の態様(Ag−Sb系)において、金属粉末成分は
、アンチモン粉末及び銀粉末から成るが、ここにアンチ
モンはチタン酸バリウム系半導体に対してオーム接触を
形成し良好な導通付与成分であることが本発明において
明らかとなった。
、アンチモン粉末及び銀粉末から成るが、ここにアンチ
モンはチタン酸バリウム系半導体に対してオーム接触を
形成し良好な導通付与成分であることが本発明において
明らかとなった。
銀単独ではオーム接触とならず、アンチモンを3%以上
含有することにより効果が現われる。アンチモン50%
を超えると、アンチモンの酸化が生じ易く導通が得にく
)なり「 また電極強度も低下傾向を示す。他方銀は、
電極層中の主要導体を構成すると共に、微粉末として用
いることができるのでその場合通常の糠付温度以下で蛭
綾が進行しアンチモンの不必要な酸化を防止する役割を
も有する。
含有することにより効果が現われる。アンチモン50%
を超えると、アンチモンの酸化が生じ易く導通が得にく
)なり「 また電極強度も低下傾向を示す。他方銀は、
電極層中の主要導体を構成すると共に、微粉末として用
いることができるのでその場合通常の糠付温度以下で蛭
綾が進行しアンチモンの不必要な酸化を防止する役割を
も有する。
以上の理由によりアンチモンは約5の重量%以下とされ
る。上記組成を有する電極材料は、銀粉、アンチモン粉
及びガラス粉から成る無機成分に適量の有機バインダー
及び溶剤を混合しペースト状としてチタン酸バリウム系
半導体表面にスクリーン印刷その他公知の方法により塗
布し、例えば約500qoで焼付けて電極となる。
る。上記組成を有する電極材料は、銀粉、アンチモン粉
及びガラス粉から成る無機成分に適量の有機バインダー
及び溶剤を混合しペースト状としてチタン酸バリウム系
半導体表面にスクリーン印刷その他公知の方法により塗
布し、例えば約500qoで焼付けて電極となる。
本発明の第2の態様は、Ag−Sb−Sn系の金属成分
を含有する電極材料である。
を含有する電極材料である。
第1の態様(Ag−Sb系)においてと同様アンチモン
は、ここでも主要なオーム性接点の形成要素をなすが、
アンチモンースズ複合金属粉末(Sb−Sn金属粉末)
として銀粉に混合することにより、一層優れた電極材料
を得ることができることが、本発明により明らかとなっ
た。即ち「Ag−Sb系(銀に対しアンチモン単独添加
)の場合には、アンチモンの蒸気圧が高く、焼付中又は
高温使用時におけるアンチモンの薄散のおそれがあり、
注意を要する。
は、ここでも主要なオーム性接点の形成要素をなすが、
アンチモンースズ複合金属粉末(Sb−Sn金属粉末)
として銀粉に混合することにより、一層優れた電極材料
を得ることができることが、本発明により明らかとなっ
た。即ち「Ag−Sb系(銀に対しアンチモン単独添加
)の場合には、アンチモンの蒸気圧が高く、焼付中又は
高温使用時におけるアンチモンの薄散のおそれがあり、
注意を要する。
他方、Ag−Sn系(スズ単独添加)の場合には導通及
び安定性がなお不十分であるがLAg−Sb−Sn系金
属成分とすることにより、極めて良好な導通と共にもア
ンチモンの薄散防止も実現される。ここで複合金属粉末
とは2種類以上の合金粉末及び/又は単体金属粉末の混
合粉末を意味する。Sb−Sn複合金属粉末としては合
金粉末が好ましいがスズ粉末とアンチモン粉末の混合粉
末も暁付け時に容易に合金化するので用いることができ
る。
び安定性がなお不十分であるがLAg−Sb−Sn系金
属成分とすることにより、極めて良好な導通と共にもア
ンチモンの薄散防止も実現される。ここで複合金属粉末
とは2種類以上の合金粉末及び/又は単体金属粉末の混
合粉末を意味する。Sb−Sn複合金属粉末としては合
金粉末が好ましいがスズ粉末とアンチモン粉末の混合粉
末も暁付け時に容易に合金化するので用いることができ
る。
この合金化によりアンチモンは安定化され導通改善に寄
与することができる。なお本発明の電極材料は、チタン
酸バリウムを主成分としたセラミック半導体に用いるこ
とができ、付加成分としては例えば希土類元素を含有す
るもの(正特性サーミスター等)、Cu,Mn,Bi,
m等の酸化物を混入したもの(境界層セラミックコンデ
ンサー等)等に使用することができる。
与することができる。なお本発明の電極材料は、チタン
酸バリウムを主成分としたセラミック半導体に用いるこ
とができ、付加成分としては例えば希土類元素を含有す
るもの(正特性サーミスター等)、Cu,Mn,Bi,
m等の酸化物を混入したもの(境界層セラミックコンデ
ンサー等)等に使用することができる。
上記Sb−Sn複合金属粉末は、アンチモン3重量%以
上でアンチモンの導通効果が現われ、また、アンチモン
はほぼ5匹重量%以下において所望の安定性を得ること
ができる。
上でアンチモンの導通効果が現われ、また、アンチモン
はほぼ5匹重量%以下において所望の安定性を得ること
ができる。
このためSb−Sn複合金属粉末の組成はアンチモン3
〜5の重量%残部スズとする。Ag−Sb−Sn系金属
成分におけるSb−Sn複合金属粉末は3重量%以上で
良好な導通を実現し、約3の重量%以下において酸化防
止、及び所望の電極強度が実現されるが「約30%を越
えると抵抗値が増大しまた電極強度が極度に低下する。
〜5の重量%残部スズとする。Ag−Sb−Sn系金属
成分におけるSb−Sn複合金属粉末は3重量%以上で
良好な導通を実現し、約3の重量%以下において酸化防
止、及び所望の電極強度が実現されるが「約30%を越
えると抵抗値が増大しまた電極強度が極度に低下する。
従ってSb−Sn複合金属粉末は金属成分中3〜30重
量%とする。か)る組成を有する金属粉末成分は、第1
の態様と同様にガラス粉末、有機バインダー及び溶剤を
混合しペースト状とし、塗布焼付けされて電極となる。
量%とする。か)る組成を有する金属粉末成分は、第1
の態様と同様にガラス粉末、有機バインダー及び溶剤を
混合しペースト状とし、塗布焼付けされて電極となる。
本発明の電極材料を形成した後、公知の如く銀、金、そ
の他の金属被覆層、その他公知の保護層を付加形成する
ことは当然可能である。
の他の金属被覆層、その他公知の保護層を付加形成する
ことは当然可能である。
以下実施例について述べるが本発明はこれに限定される
ものではない。
ものではない。
実施例 1
第1表に示す組成の金属粉末成分(銀0.2〜1仏、そ
の他は350メッシュスルー)各100のこガラス粉末
(Tg約400qo粒径数山以下)を各5タ添加し、さ
らに有機バインダーとしてエチルセルロース2夕「溶剤
としてテルピネオール20の卑加えも乳鉢で1粉ト間混
合しペーストを作製した。
の他は350メッシュスルー)各100のこガラス粉末
(Tg約400qo粒径数山以下)を各5タ添加し、さ
らに有機バインダーとしてエチルセルロース2夕「溶剤
としてテルピネオール20の卑加えも乳鉢で1粉ト間混
合しペーストを作製した。
このべ−ストを200メッシュのステンレス金網を介し
て、別途作製したイットリウムをドープしたチタン酸バ
リウム系半導体(160肋J×3肋t抵抗値2.00、
YO.5モル%)の両面にスクリーン印刷した。印刷後
100〜150℃で乾燥し「約500qoで5分間大気
中にて焼付け、炉冷して厚さ数十ミクロンの電極を得た
。室温下で電気抵抗を測定しさらに300oo×10独
特間の大気中加熱後の室温抵抗値を測定し、その結果を
第1表に示す。なお対比のため銀のみの場合(No.R
I)をも同様にして処理し、測定した。
て、別途作製したイットリウムをドープしたチタン酸バ
リウム系半導体(160肋J×3肋t抵抗値2.00、
YO.5モル%)の両面にスクリーン印刷した。印刷後
100〜150℃で乾燥し「約500qoで5分間大気
中にて焼付け、炉冷して厚さ数十ミクロンの電極を得た
。室温下で電気抵抗を測定しさらに300oo×10独
特間の大気中加熱後の室温抵抗値を測定し、その結果を
第1表に示す。なお対比のため銀のみの場合(No.R
I)をも同様にして処理し、測定した。
その結果本発明の電極材料は極めて優れた導通を示し、
高温処理後にもほとんど室温抵抗の変化が認められず、
極めて高温安定性が高い電極材料であることを示した。
なお、銀に対するアンチモンの配合割合と、室温抵抗の
関係(第1表記教)を第1図にグラフとして示す。第1
表 金 属 成 分 抵 抗 値 (Q)アンチ
銀 3000C×100豚手車量(重量
室温抵抗競願黍雲室発) %) 温抵抗 RI O IOO >1000 −2
3 97 4.8 4.83
5 95 2.3 2.34
10 90 2.0 2.05
15 85 1.8 1.96
25 75 2.7 2.87
50 50 3.5 3.48
60 40 10 −実施例 2
アンチモン及びスズの純金属(試薬級)べレットをアン
チモン含有比が5,10,30,5の雲量%となるよう
配合し、タンマン炉で溶解後金型に鋳込んで冷却し、冷
却後ャスリによって徴粉化しざらにらし「かし、機によ
り−350メッシュのSb一Sn合金微粉末を得た。
高温処理後にもほとんど室温抵抗の変化が認められず、
極めて高温安定性が高い電極材料であることを示した。
なお、銀に対するアンチモンの配合割合と、室温抵抗の
関係(第1表記教)を第1図にグラフとして示す。第1
表 金 属 成 分 抵 抗 値 (Q)アンチ
銀 3000C×100豚手車量(重量
室温抵抗競願黍雲室発) %) 温抵抗 RI O IOO >1000 −2
3 97 4.8 4.83
5 95 2.3 2.34
10 90 2.0 2.05
15 85 1.8 1.96
25 75 2.7 2.87
50 50 3.5 3.48
60 40 10 −実施例 2
アンチモン及びスズの純金属(試薬級)べレットをアン
チモン含有比が5,10,30,5の雲量%となるよう
配合し、タンマン炉で溶解後金型に鋳込んで冷却し、冷
却後ャスリによって徴粉化しざらにらし「かし、機によ
り−350メッシュのSb一Sn合金微粉末を得た。
この合金粉末を3〜5の重量%、残部銀粉末から成る金
属成分を調合し、さらに金属成分95重量%に対し5重
量%の実施例1に用いたのと同一のガラス粉末を添加混
合し、以下実施例1と同様にして電極を形成し、炉冷後
室温抵抗を測定した。第2図にSb−Sn合金のアンチ
モン配合量と室温抵抗の関係を示す。
属成分を調合し、さらに金属成分95重量%に対し5重
量%の実施例1に用いたのと同一のガラス粉末を添加混
合し、以下実施例1と同様にして電極を形成し、炉冷後
室温抵抗を測定した。第2図にSb−Sn合金のアンチ
モン配合量と室温抵抗の関係を示す。
この場合の金属成分中の合金粉末は15重量%(残部銀
)である。Sb−Sn合金中のアンチモン3〜5の重量
%の範囲は極めて良好な導通を示した。第3図は、Sb
−Sn合金粉末の金属成分中における含有量と室温抵抗
の関係を示す。この場合の合金粉末の組成はアンチモン
5重量%、残部スズである。図示の通り、金属成分中の
合金粉末3〜3の重量%の範囲は良好な導通を示した。
なお、合金粉末3の重量%を越えたものは電極強度が極
めて低く、わずかの衝撃ではがれ落ちた。
)である。Sb−Sn合金中のアンチモン3〜5の重量
%の範囲は極めて良好な導通を示した。第3図は、Sb
−Sn合金粉末の金属成分中における含有量と室温抵抗
の関係を示す。この場合の合金粉末の組成はアンチモン
5重量%、残部スズである。図示の通り、金属成分中の
合金粉末3〜3の重量%の範囲は良好な導通を示した。
なお、合金粉末3の重量%を越えたものは電極強度が極
めて低く、わずかの衝撃ではがれ落ちた。
第1図は、本発明の−態様における実施例の金属成分中
Sb含有量と試料の室温抵抗値との関係を示すグラフを
、第2図及び第3図は他の態様における実施例について
、Sb−Sn合金中のSb含有量並びに金属成分中のS
b−Sn含有量と抵抗値との関係を夫々示すグラフを、
夫々示す。 第1図 第2図 第3図
Sb含有量と試料の室温抵抗値との関係を示すグラフを
、第2図及び第3図は他の態様における実施例について
、Sb−Sn合金中のSb含有量並びに金属成分中のS
b−Sn含有量と抵抗値との関係を夫々示すグラフを、
夫々示す。 第1図 第2図 第3図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 金属粉末成分として、アンチモン粉末3〜50重量
%と残部銀粉末とを含有することを特徴とするチタン酸
バリウム系セラミツク半導体用電極材料。 2 金属粉末成分として、アンチモン3〜50重量%残
部スズより成る複合金属粉末3〜30重量%と残部銀粉
末とを含有することを特徴とするチタン酸バリウム系セ
ラミツク半導体用電極材料。 3 複合金属粉末はアンチモン及びスズの合金粉末であ
る特許請求の範囲第2項記載の電極材料。 4 複合金属粉末がアンチモン粉末及びスズ粉末の混合
粉末である特許請求の範囲第2項記載の電極材料。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP540680A JPS60923B2 (ja) | 1980-01-21 | 1980-01-21 | セラミック半導体用電極材料 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP540680A JPS60923B2 (ja) | 1980-01-21 | 1980-01-21 | セラミック半導体用電極材料 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS56103401A JPS56103401A (en) | 1981-08-18 |
| JPS60923B2 true JPS60923B2 (ja) | 1985-01-11 |
Family
ID=11610254
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP540680A Expired JPS60923B2 (ja) | 1980-01-21 | 1980-01-21 | セラミック半導体用電極材料 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60923B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2677161B2 (ja) * | 1993-07-08 | 1997-11-17 | 双葉電子工業株式会社 | 蛍光表示管 |
| JPH08153415A (ja) * | 1994-11-29 | 1996-06-11 | Futaba Corp | 導電ペースト |
| JP4839121B2 (ja) * | 2006-04-03 | 2011-12-21 | 株式会社東陽機械製作所 | 低融点等内容物用包装機及びその包装方法 |
-
1980
- 1980-01-21 JP JP540680A patent/JPS60923B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS56103401A (en) | 1981-08-18 |
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