JPS6080707A - 傾斜角度計測装置 - Google Patents

傾斜角度計測装置

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JPS6080707A
JPS6080707A JP18903583A JP18903583A JPS6080707A JP S6080707 A JPS6080707 A JP S6080707A JP 18903583 A JP18903583 A JP 18903583A JP 18903583 A JP18903583 A JP 18903583A JP S6080707 A JPS6080707 A JP S6080707A
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light reflecting
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俊弘 津村
Takeshi Tsumura
津村 豪
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    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
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    • G01C15/02Means for marking measuring points
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/26Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes

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  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Optical Elements Other Than Lenses (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の分野 この発明は、傾斜角度計測装置に関し、特にたとえば観
測物体から基準平面上における基準線を見たとき該観測
物体が基準平面に対してなす傾斜角度を計測する装置に
関する。
先行技術の説明 従来、土木機械やa業機械などのために種々の傾斜角度
計測@置が提案されまたは実現されている。しかしなが
ら、従来の傾斜角度計測装置は、精度の低いものが多く
、逆に精度の高いものは装置が大形かつ高価であるとい
う欠点があった。
発明の目的 それゆえに、この発明の主たる目的は、簡単な構成で精
度の高い計測が行なえる全く新規な傾斜角度計量装置を
提供することである。
発明の要約 この発明は、要約すれば、入射した光を同一方向に反射
するという特異な光学的性質を有する光反射手段に向け
て、観測物体から指向性の鋭い光ビームを回動走査し、
光反射手段からの反射光を受光してこの反射光に含まれ
る情報に基づいて観測物体が基準平面に対してなす傾斜
角度を計測するようにしたものである。さらに詳細には
、光反射手段を構成する3つの光反射鏡面が交差するこ
とによって形成される3本の交線のうち1木の交線は基
準平面上にお()る基準線と一致するように配置され、
また光反射鏡面の1つには、傾斜角度を示すためのコー
ドマτりが形成される。そして、観測物体では、光反射
手段に向けて回動走査した光ビームが光反射手段の光軸
中心を通過するように光ビームの回動走査方向を制御し
、またこの制御の後光ビームが前記光反射手段における
1本の交線をなぞるように光ビームの回動走査方向を制
御し、この制御の後受光手段からの受光出力に含まれる
コードマークの情報を読取って上記傾斜角度を検出する
ようにしている。
この発明の上述の目的およびその他の目的と特徴は、図
面を参照して行なう以下の詳細な説明から一層明らかと
なろう。
実施例の説明 第1図はこの発明に用いられる光反射手段の一例のコー
ナキューブを示す外観斜視図である。第2図はコーナキ
ューブの内部に収納される鏡の立体斜視図である。図に
おいて、コーナキューブCCの内部には、第2図に示す
ように、3枚の鏡1゜2および3を立体的に組合わした
ものが収納される。これらIa1〜3は、それぞれの光
反射鏡面1a、2aおよび3aが互いに直交するように
組合わされる。このような構成によって、コーナキュー
ブCCは、以下に説明するような光学的性質を有する。
すなわち、コーナキューブCCは入射した光を入射方向
と同一方向に反射する。今、コーナキューブCCに入射
角度θ1で入射した光し1を考えてみる。この入射光L
1は、光反射鏡面1a−3aで各1回ずつ反射され、コ
ーナキューブCCの光軸Oに対して対称な位置から出射
する。このとき、反射光し1は入射光L1ど平行であり
、その反射角度は入射光L1の入射角度ど等しい。した
がって、反射光L1は、入射光L1が入射してきた方向
と同一の方向に反射される。この関係は、入射光の入射
角度にかかわらず成立する。たとえば、入射光し2と反
射光L2どは互いに平行であり、かつ入射光L2の入射
角度ど反射光L2の反射角度はともに02と等しい。
第3図はこの発明の一実施例に用いられるコーナキュー
ブCCの光反射鏡面の上面図である。第2図でも説明し
たように、このコーナキューブCCは光反射鏡面18〜
3aを互いに直交りるように立体的に組合わせて構成さ
れる。したがって、第3図では平面的に示されているが
、実際には3つの光反射鏡面18〜3aが交わる光軸中
心00が最も凹んだ部分となるような立体的な構造にな
っている。ここで、各光反射鏡面が交差する部分には交
線C1,C2およびC3が形成される。この3本の交線
のうち交線C2は、基準線x−Xと一致するようにコー
ナキューブCCが位置決めされる。すなわち、第2図に
示されるように、交線C2は基準線X−x上に位置する
ことになる。一方、光反射鏡面1aには、コードマーク
CMが形成される。したがって、光反射鏡面1a上を光
ビームが走査すると、反射光にはコードマークCMによ
る符号情報が含まれることになる。コードマークCMは
、いわゆるアブソリューI〜タイプのロータリエンコー
ダに付されるコードマークと同様の原理であり、光反射
鏡面1aの2等分線1bからの中心角を2値符号で表わ
すものである。また、光反tJ4#It面2aには、光
軸中心00付近にマークMAが形成される。このマーク
MAは、光反射鏡面上を通る光ビームが交線C2と一致
するように光ビームの回動走査方向を制御するときに用
いられるものである。
第4図および第5図はこの発明の一実施例の使用態様を
説明するための図であり、特に、第4図は静止物体’+
00の傾斜角度をn1測′する場合を示し、第5図は飛
行機等の移動体200の傾斜角度を計測する場合を示づ
。図において、静止物体100fQるいは移動体200
からは、指向性の鋭い光ビームたとえはレーザビームL
BがコープキューブCCに向Gノて回動走査される。こ
のレーザビーム[BがコーナキューブCCに当たると、
コーナキューブCCはレーザビームLBを入射方向と同
一方向に反射する。したがって、静止物体100あるい
は移動体200でこの反射光を受光する。
受光した反射光の中には、第3図で示したコードマーク
CMによる符号情報か含まれている。したがって、この
符号情報を読取れば、静止物体100あるいは移動体2
00の傾斜角度αが計測0きる。なお、この傾斜角度α
は、静止物体100あるいは移動体200などの観測物
体から基準線X−Xを見たときに、I[Ii!測物体が
基準平面300に対してなす角度である。基準平面30
0は基準線x−Xを含む平面であり、コーナキュー1C
Cの交線C2と、光反射鏡111aの2等分線lb(第
3図参照)が、この基準平面300上に位置するように
コーナキューブCCが配置されている。′第6A図およ
び第6B図は静止物体100や移動体200などの観測
物体に設けられるビームスキャナBSを示す外観図であ
り、特に、第6A図はその側面図を示し、第6B図はそ
の上面図を示す。図において、ビームスキャナBSは、
レーザ光源や受光素子が収納された円筒4と、この円筒
4に連結されたモータM1とを含む。モータM1は円筒
4を回動することによって、レーザビームLBを回動走
査させる。円筒4およびモータM1は保持部材8によっ
て保持される。この保持部材8の開面中央部には、モー
タM2が連結される。
モータM2は、保持部材8を回動することによって、レ
ーザビームLBで形成される光走査面を回動させる。モ
ータM2の外周側面には、モータM3が連結される。モ
ータM3はモータM2を回動することにより、レーザビ
ームLBで形成される光走査面を第6A図の上下方向に
回動させる。モータM2およびM3は保持部材9によっ
て保持される。この保持部材9は観測物体′100ある
いは200に固定される。
第7図は第6A図に示す円筒4の縦断面図である。図に
おいて、円筒4の内周壁には、たとえば半導体レーザな
どのレーザ光源5が設ジノられる。
このレーザ光源5から発射されたレーザビームしBは、
円筒4の側面に形成された孔6から外部へ出射される。
また、円筒4の内部には、レーザビームLBの光路上に
、ハーフミラ−7がほぼ45度の角度で配置される。こ
のハーフミラ−7は、レーザ光源5からのレーザビーム
LBを通過させるとともに、コーナキューブCCに反射
されて戻ってきた光を円筒4の底面41の方向に反lす
る。
円筒4の底面41には、ハーフミラ−7によって反射さ
れた光を受光するだめの受光素子BDが配置される。こ
の受光素子BDは、第8図に示すように、半円形の受光
素子BDIおよびBD2と、中心部に配置される小円形
の受光素子Bl)Oからなる。
第9図は第6図に示すビームスキャナBSを駆勤しかつ
観測物体100あるいは20’Oの傾斜角度αを検出す
る回路の概略ブロック図である。この回路は、vA測動
物体100るいは200に設【プられる。図において、
CPU10には、ROM11およびRAM12が接続さ
れる。ROM11はたとえば第10図に示すような動作
プログラムを記憶し、CPU10はこの動作プログラム
に従って動作を行なう、、CPU10には、さらにイン
ターフェイス13が接続される。このインターフェイス
13には、受光素子BDO,BD1およびBO2からの
受光出力が与えられる。また、これら受光素子BDO,
BDIおよびBO2の出力は、ORゲート14を介して
インターフェイス13に与えられる。さらに、インター
フェイス13には、駆動回路15.16および17が接
続される。各駆動回路15〜17は、それぞれ、インタ
ーフェイス13を介してCPLlloから与えられる制
御信号に基づいて、モータM1〜M3を駆動する。
第10図は第9図に示すCPU10の動作を説明するた
め′のフロー1V−トである。以下、第3図ないし第1
0図を参照してこの発明の一実施例の動作について説明
でる。
まず、第10図に示すステップ$1において、駆動回路
15が能動化され、モータM1にJ−る1ノーザビーム
LBの回動走査が開始される。続いて、ステップS2に
おいて、受光素子BDの受光用ツノのパターンが読取ら
れる。すなわち、ORゲート14の出力は、ザンブリン
グされてRAM12に記憶されており、CPIJIOは
、モータM1によるレーザビームL Bの1回の回動走
査が終了するごとに、そのとき記憶された受光出力のパ
ターンをRAM12から読取る。続いて、ステップS3
に進み、コーナキューブCC上の走査線(レーザビーム
LBがコーナキューブCCの光反射鏡面を走査する線)
がコーナキューブCCの光軸中心OOを通ったか否かが
判断される。ここで、コーナキューブCCの光軸中心0
0(第3図参照)付近に入射り、た光は、入射光と全く
同一の光路を辿ってビームスキ1アナBSに戻ってくる
。このようにして戻ってきたレーザ光は、ハーフミラ−
7によって反射され、受光素子BDの中心部に位置する
受光素子B D Oに当たる。したがって、レーザビー
ムLBの1回の回動走査の間に受光素子BDOから受光
出力が導出されれば、コーナキューブCC上の走査線が
光軸中心OO上を通過していることになる。
上述のステップS3において、コーナキューブCC上の
走査線が光軸中心00上を通過していないと判断された
場合は、ステップs4に進む。このステップS4では、
走査線が光軸中心OOよりも上側(第3図において)に
ずれているが否かが判断される。もし、走査線が光軸中
心00よりも上側にずれていると判断すれば、ステップ
S5に進み、モータM3を第6Δ図において時π1方向
(矢印Rの方向)に回動させる。これによって、コーナ
キューブCC上の走査線が徐々に下がる。
一方、ステップS4において、走査線が光軸中心00よ
りも下側にずれていると判断されれば、ステップS6に
進む。このステップS6では、ステップS5とは逆に、
モータM3を第6A図において反時計方向く矢印りの方
向)に回動させる。これによって、走査線が徐々に上が
る。上述のステップS5およびS6の後は、再びステッ
プ82以下の動作が繰返される。ここで、走査線が上側
にずれているか否かは、レーザビームLBの1回の回動
走査にJ3いて受光素子BDIとBO2とのどちらがよ
り長く受光出力を導出したかによっ−(判断きれる。そ
の理由を以下に説明づる。
第1図で説明したように、コーナキューICCに入射し
た光は、同一の部分からは出射せず、光軸Oを中心どし
て点対称の位置から出射づる。したがって、たとえば第
3図のコーナキューブCCにおいて、基準線x−xより
も上側の光反射鏡面に入射した光は、内部で複数回反射
された後、最終的には基準線x−Xよりも下側の光反射
鏡面C反射されて出射する。逆に、基準線X−Xよりも
下側の光反@鏡面に入射した光は、内部で複数回反射さ
れた後、最終的にはM準線X−xよりも上側の光反射鏡
面で反射されて出射する。これに対して、受光素子BD
Iは基準線X−Xよりも下側の光反射鏡面から出射した
光を受光づるように配置されている。また、受光素子B
D2は基準線X−Xよりも上側の光反射鏡面から出射し
Iこ光を受光するように配置されている。今、第3図に
示づ走査線SCハN1(なお、光反射鏡面18〜3aは
立体的に組合されているので、走査線は途中で折れ曲が
ったように見えている)のように、光軸中心00←二対
して上側にずれCいる走査線を考えると、この走査線は
基準線X−Xよりも上側の領域を通る部分が下側の領域
を通る部分よりも長くなる。したがって、コーナキュー
ブCCから出射する反射光は、基準線X−Xを境として
F側の光反ms面から出る時間の方が上側の光反射鏡面
から出る時間よりも長くなる。これに応じて、受光素子
BDでは、受光素子BDIの受光時間が受光素子BD2
の受光時間よりも長くなるつそこで、受光素? B D
−1からの受光出力の導出時間が受光素子BD2からの
受光用ノJの導出時間よりも長いときは、走査線が光軸
中心OOに対して上側にずれていると判断できる。上述
とは逆に、受光素子BD2からの受光出力の導出時間が
受光素子B01からの受光出力の導出時間よりも長いと
きは、走査線が光軸中心OOに対してF側にずれCいる
と判断できる。
ステップ82〜S6の動作の繰返しによ−)C1走査線
5CAN1は走査線S CA N 2のように光軸中心
OO上を通過するようになる。したがって、ステップ8
3 ′c(のことが判断され、ステラIS7に進む。ス
テップ87で′は、再び受光素子BDの受光出力のパタ
ーンが読取られる。ぞして、ステップS8に進み、走査
線が基準線X−Xに対し′(右上がりになっCいるか右
下がりになっ−(いるかが判別される。この判別は、上
述のステップS7においC読取られた受光パターンに基
づいて行なわれる。づなわち、受光素子BD2から19
られる受光出力にン一りMA(第3図参照)にイロ当す
る符号が含まれCいないS合は走査線が右上がりCある
と判断され、逆に受光素子BD2から得られる受光出力
にマークMAに相当する符号が含まれている場合は走査
線が右下がりであると判断される。たとえば、第3図に
示す走査線5CAN2の場合は、走査線がマークMA上
を通らないため、受光素子BD2からはマークMAに相
当する符号が得られない。()たがって、走査線が右上
がりであると判断される。続いて、ステップS9に進み
、走査線が交線C2と一致したか否かが判断される。
もし、一致していないと判断されれば、ステップ310
に進み、走査線が右上がりか否かが判断される。この判
IWiは、前述のステップ$8の判別結果に基づいて行
なわれる。もし、走査線が右上がりであると判断されれ
ば、ステップ311に進み、走査線が右下がりとなる方
向にモータM2が回動される。一方、走査線が右下がり
と判断されれば、ステップ812に進み、走査線が右上
がりとなる方向にモータM2が回動される。これらステ
ップ811および813の後は、再びステップ87以下
の動作が繰返される。ステップ87〜312の動作の繰
返しによって、走査線は徐々に交線C2に近付き、#l
終的には交IC2の近傍で右上がりの状態と右下がりの
状態とを交互に繰返すことになる。この実施例χは、ご
のように走査線が右上がりの状態と右1−・がりの状態
とを某Rに繰返1ようになったとき、走査線が交線C2
に一致したと見なしている。そのことかステップS9で
判断されると、ズう゛ツブS13に進み、再び受光バー
ンが読取られる。このとぎ、走査線は第3図て示づ走査
線5CAN3のようになっている。づなわち、光軸中心
OOから右側半分の走査線は交線C2ど一致し、光軸中
心00から2LllI斗分の走査線は基Lシー線x−X
に刻し1角度αを右づる轢どなっている。この角度αは
、第4図あるいは第5図で示した観測物体の傾斜角度α
ど等しい。したかって、このとき受光パターンに含まれ
るコート情報(コードマークCMに基づく情報)を読取
れば、観測物体100あるいは200の傾斜角度αをめ
ることができる。その動作が、ステップ514rf)な
われる。その後、再びステップS2の動作に戻る。
なお、上述の実施例Cは、基準面300(第5図参照)
に対して上側にある観測物体の傾斜角度を検出する場合
を説明したが、基準面300に対して下側にある観測物
体の傾斜角度を検出できることももちろんである。
また、上述の実施例では、コードマークCMの基準角1
a(0°)を光反射鏡面1aの2等分線1bに選Iυだ
ため、この2等分線1bを中心として±45°の範囲で
傾斜角度αを測定することができるが、コードマークC
Mの基準角度は光反射鏡面1aの開き角度90°の範囲
内でどのように選んでもよい。この場合、コードマーク
CMの基準角醜と光mG2とが基準平面300上に位置
づるように設定されることは勿論である。
また、コードマークCMは基準角度からの角度情報を2
進符号で表わすものであればどのような形態であっても
よい。そして、第3図の実施例ではコードマークCN4
を直線的に配置しているが、いわゆるロータリ1ンコー
ダと全く同様に同心円状に配置してもよい。
また、上述の説明ではコーナキューブの一例として3枚
の鏡を立体的に組合わせてなるものを説明したか、周知
のJ、うに、」−ナキュ−1にはその他の構成のものも
提案されている。たとえば、第212!Iて示づ光反射
鏡面1a〜3aで囲まれる空間形状と有りるガラスの透
明体を準備し、光反射鏡面1a〜3aに相当プる端面に
銀蒸着などによって光反射鏡面を外部から形成し、残り
の一端を平面にし°(この平面から光を入射させるよう
な]−プキューブもある。この発明はこのにうなソリッ
ドスj−トタイブの」−ナキューブももちろん用いるこ
とができる。
また、上述の実施例では、光反射鏡面にマークMAを形
成りるようにしたが、これに代えて、受光素FBD1J
5よびBD2をさらに2等分して中心角が90度の4つ
の受光素子を設()、受光出力がこれら4つの受光素子
のいずれから得られたかによって走歪線の右上がりと右
下がりとを判別づることができる。
また、この発明はロボットやマニピュレータ等の移動部
の傾斜角度を測定することもできる。
発明の効果 以上のように、この発明によれば、簡単かつ安価な構成
でしかも極めて正確に傾斜角の測定が行なえる全りFT
現な傾斜角測定装置を費ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明に用いられる光反射手段の一例の二J
−ナキューブを示ず外観斜視図であるn第2図はコーナ
キューブの内部に収納される鏡の立体斜視図である。第
3図はこの発明の一実施例に用いられるコーナキューブ
の光反射鏡面の上面図である。第4図および第5図はこ
の発明の一実施例の使用態様を説明するだめの図解図で
あり、特に、第4図は静止物体100の傾斜角度な測定
づる場合を示し、第5図は移動体200の傾斜角面を測
定する場合を示す。第6A図および第6B図はこの発明
の一実施例に用いられるビ゛−・ムスキャナBSを示す
外観図であり、特に、第6A図はその側面図を示し、第
6B図はその上面図を示り。 第7図は第6A図に示す円筒4の縦断面図でよ)る第8
図は第7図に示す受光素子BDの平面図である。第9図
は第6図に示すビームスキャナBSを駆動し、かつ観測
物体の傾斜角ηFを泊詐づる電気回路の概略ブロック図
である。第10図は第9図に示すcpu i oの動作
を説明づるためのフローチャートである。 図において、CC↓まコーナキューブ、18〜3aは光
反射鏡面、CMはコードマーク、MAはマーク、C1〜
C3は交線、100は静止物体、200は移動体、BS
はど一ムスキャカ、M1〜M3はモータ、5はレーデ光
源、B Dは受光素子、10はCP IJ、11はRO
M、12はRA Mを示す。 特許出願人 津 村 俊 弘 津 村 豪 (ほか2名) ・冨 □ 第3図 〆°。 第6A14 第68図

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. (1) 観測物体から基準平面上における基準線を見た
    とき、該観測物体が基準平面に対してなす傾斜角度を計
    測する装置であって、 平面状の3つの光反射鏡面を互いに直交するように立体
    的に組合わせた構造からなり、入射した光を同一方向に
    反射する光反射手段を備え、前記光反射鏡面が交差する
    ことによって形成される3本の交線のうち1本の交線は
    前記基準線と一致するように配置され、かつ 前記1本の交線を含まない光反射鏡面には、前記傾斜角
    度を示すためのコードマークが形成され、前記観測物体
    は、 前記光反射手段に向けて指向性の鋭い光ビームを回動走
    査する手段と、 前記光反射手段からの反射光を受光する手段と、 前記回動走査された光ビームがたどる走査線が前記光反
    射手段の光軸中心を通過するように前記回動走査手段を
    制御する第1の制御手段と、前記第1の制御手段による
    制御の後、前記回動走査された光ビームがたどる走査線
    が前記光反射手段における前記1本の交線と一致するよ
    うに前記回動走査手段を制御する第2の制御手段と、前
    記第1の制御手段と前記第2の制御手段とによる制御の
    後、前記受光手段の受光出力に含まれる前記コードマー
    クの情報を読取って前記傾斜角度を検出する手段とを含
    む、傾斜角度計測装置。
  2. (2) 前記観測物体は移動物体である、特許請求の範
    囲第1項記載の傾斜角度計測装置。
  3. (3) 前記移動物体は、ロボットやマニピュレータ等
    の移動部である、特許請求の範囲第2項記載の傾斜角度
    計測装置。
  4. (4) 前記観測物体は静止物体である、特許請求の範
    囲第1項記載の傾斜角度計測装置。
  5. (5) 前記光反射鏡面には、さらに第2のマークが形
    成され、 前記第2の制御手段は、前記受光手段の出力に含まれる
    前記第2のマークによる情報に基づいて前記制御を行な
    うことを特徴とする特許請求の範囲第1項ないし第4項
    のいずれかに記載の傾斜角度計測装置。
JP18903583A 1983-10-07 1983-10-07 傾斜角度計測装置 Granted JPS6080707A (ja)

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JP18903583A JPS6080707A (ja) 1983-10-07 1983-10-07 傾斜角度計測装置

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JP18903583A JPS6080707A (ja) 1983-10-07 1983-10-07 傾斜角度計測装置

Publications (2)

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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0468677A2 (en) * 1990-07-18 1992-01-29 Spectra Precision, Inc. Three dimensional position sensing system and method
JPH0411413U (ja) * 1990-05-21 1992-01-30
FR2707000A1 (en) * 1993-06-21 1994-12-30 Bertin & Cie Method and device for measuring angles by reflectometry
JP2006288613A (ja) * 2005-04-08 2006-10-26 Hoyu Co Ltd 脱染剤用塗布具及びかかる脱染剤用塗布具を用いた脱染方法
CN108489479A (zh) * 2017-12-29 2018-09-04 合肥中导机器人科技有限公司 激光导航精确定位方法、机器人导航方法及激光导航系统
WO2019188961A1 (ja) * 2018-03-26 2019-10-03 株式会社トプコン ターゲット装置、測量システム
JP2020020673A (ja) * 2018-08-01 2020-02-06 株式会社トプコン 角度検出システムおよび角度検出方法
WO2020026978A1 (ja) * 2018-08-01 2020-02-06 株式会社トプコン 角度検出システムおよび角度検出方法

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0411413U (ja) * 1990-05-21 1992-01-30
EP0468677A2 (en) * 1990-07-18 1992-01-29 Spectra Precision, Inc. Three dimensional position sensing system and method
FR2707000A1 (en) * 1993-06-21 1994-12-30 Bertin & Cie Method and device for measuring angles by reflectometry
JP2006288613A (ja) * 2005-04-08 2006-10-26 Hoyu Co Ltd 脱染剤用塗布具及びかかる脱染剤用塗布具を用いた脱染方法
CN108489479A (zh) * 2017-12-29 2018-09-04 合肥中导机器人科技有限公司 激光导航精确定位方法、机器人导航方法及激光导航系统
WO2019188961A1 (ja) * 2018-03-26 2019-10-03 株式会社トプコン ターゲット装置、測量システム
JP2019168406A (ja) * 2018-03-26 2019-10-03 株式会社トプコン ターゲット装置、測量システム
JP2020020673A (ja) * 2018-08-01 2020-02-06 株式会社トプコン 角度検出システムおよび角度検出方法
WO2020026978A1 (ja) * 2018-08-01 2020-02-06 株式会社トプコン 角度検出システムおよび角度検出方法
WO2020026980A1 (ja) * 2018-08-01 2020-02-06 株式会社トプコン 角度検出システムおよび角度検出方法
JP2020020671A (ja) * 2018-08-01 2020-02-06 株式会社トプコン 角度検出システムおよび角度検出方法

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