JPS6075120A - エンコ−ダ回路 - Google Patents

エンコ−ダ回路

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Publication number
JPS6075120A
JPS6075120A JP58184224A JP18422483A JPS6075120A JP S6075120 A JPS6075120 A JP S6075120A JP 58184224 A JP58184224 A JP 58184224A JP 18422483 A JP18422483 A JP 18422483A JP S6075120 A JPS6075120 A JP S6075120A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
amplifier
optical signal
photodetector
circuit
threshold value
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP58184224A
Other languages
English (en)
Inventor
Masao Arakawa
雅夫 荒川
Tomizo Terasawa
富三 寺澤
Shugo Endo
遠藤 修吾
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Electric Works Co Ltd
Original Assignee
Matsushita Electric Works Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Works Ltd filed Critical Matsushita Electric Works Ltd
Priority to JP58184224A priority Critical patent/JPS6075120A/ja
Publication of JPS6075120A publication Critical patent/JPS6075120A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K5/00Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
    • H03K5/01Shaping pulses
    • H03K5/08Shaping pulses by limiting; by thresholding; by slicing, i.e. combined limiting and thresholding
    • H03K5/082Shaping pulses by limiting; by thresholding; by slicing, i.e. combined limiting and thresholding with an adaptive threshold

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Manipulation Of Pulses (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明は、エンコータ回路、更に詳しくは、集積回路化
が可能なエンクー5回路に関するものである。
〔背景技術〕
従来のエンコータ回路は、例えば特開昭55−7690
7号公報に記載されたものがあるが、このものにあって
は、位相差1800を有する光信号を比較したものであ
り、固定スリットを2個設ける必要がある上、受光素子
を2個設ける必要があり、集積回路にした場合にチップ
面積が大きくなるという欠点を有していた。
〔発明の目的〕
本発明の目的とするところは、光信号を180゜位相差
を持たせる必要をなくして集積回路にした場合にチップ
面積を小さくできるようにすることにある。
〔発明の開示〕
実施例 第1図において、il+は光検出器で、光信号に応答し
て電気信号に変換するものであり、集積回路におけるタ
イオードのPN接合を用いたものである。+21は増巾
器で、光検出器i11から出力される電気信号を増巾す
るもので、帰還用タイオード(3)を有し、この帰還用
タイオード(3)によって入力される電気信号の範囲を
広げる。(4)は自動しきい値設定回路で、第2図のよ
うに構成し、増巾器(2)の出力信号のご−り電圧を・
ホールドし、且つそのV2の値を出力するものである。
(5)は比較器で、しステリシス特性を有し、増巾器(
2)および自動しきい値設定回路(4)の出力を比較し
、出力するものである。これらの回路で集積回路を形成
する場合、光検出器+11以外の回路においては、光の
影響を防ぐために、第3図のように、アルミニウム等に
よる光遮断用のマスク(6)を設ける。(7)は光検出
器以外の回路が入れられる部分て、マスク(6)との間
に電気的に分離するための酸化膜(8)を設ける。
動作 増1]器(2)の出力は第4図の三角状の電圧Vaで、
自動しきい値設定回路(4)の出力は一定の電圧vbと
なる。これらの出力を比較器(5)に入力すると、比較
器(61は第5図(a)のように自動しきい値設定回路
(4)の出力を自V#J的にΔ■なる微小な値だけ上下
するしステリシス特性を有するため、増1〕器(2)の
出力の安定性に効果をもたらす。そして、比較器(5+
より第5図(b)のような出力が得られる。第1図のよ
うな回路構成によって、光信号を1800位相差をもた
せる回路に比べ、固定ホイールに1800位相差をもた
せるようなスリットkWける必要がなくなる。
〔発明の効果〕
上述のように本発明は、光信号に応答して電気信号を発
生する光検出器と、帰還用タイオードを有し前記光検出
器の出力を増巾する増巾器と、ifJ記増巾器の出力の
ピーク電圧の172を出力する自動しきい値設定回路と
、しステリシス特性を有し前記増巾器および自動しきい
値設定回路の出力を比較し出力する比較器とより成るか
ら、光信号を1800位相差を持たせる必要がないため
、固定スリット全2個設ける必要がなく、同時に受光素
子を2個設ける必要がないため、集積回路にした場合に
チップ面積を小さくて゛きるきいう効果を奏するもので
ある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例のブロック回路図・第2図は
同上の自動しきい値設定回路の回路図、第3図(a)、
(b)は同上の回路で集積回路を形成したときの構成図
て゛、同図(a)は上面図、同図To)は一部切欠せる
縦断面図、第4図は同上の比較器の入力信号波形図、第
51凶(a)、(b)は同上の要部信号波形図である。 tll 光検出器、(21・増巾器、(3)・・・帰還
用タイオード、(4) 自動しきい値設定回路、(5)
・・比較器。 代理人 弁理士 石 1)長 七 第1図 第4図 第5図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. fi+光信号に応答して電気信号を発生する光検出器と
    、帰還用タイオードを有し前記光検出器の出力を増巾す
    る増巾器と、前記増巾器の出力のピーク電圧の1/2を
    出力する自動しきい値設定回路と、しステリシス特性を
    有し前記増巾器および自動しきい値設定回路の出力を比
    較し出力する比較器とより収ることを特徴とするエンコ
    ータ回路。
JP58184224A 1983-09-30 1983-09-30 エンコ−ダ回路 Pending JPS6075120A (ja)

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JP58184224A JPS6075120A (ja) 1983-09-30 1983-09-30 エンコ−ダ回路

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JPS6075120A true JPS6075120A (ja) 1985-04-27

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004157116A (ja) * 2002-11-06 2004-06-03 Micronas Gmbh 回転する対象の角度位置を検知する装置および方法

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5419631A (en) * 1977-07-14 1979-02-14 Mitsubishi Electric Corp Comparison detector

Patent Citations (1)

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