JPS606833A - 分光光度計 - Google Patents
分光光度計Info
- Publication number
- JPS606833A JPS606833A JP11464683A JP11464683A JPS606833A JP S606833 A JPS606833 A JP S606833A JP 11464683 A JP11464683 A JP 11464683A JP 11464683 A JP11464683 A JP 11464683A JP S606833 A JPS606833 A JP S606833A
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- JP
- Japan
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- data
- memory
- function
- photometric
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- Prior art date
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
- G01N21/274—Calibration, base line adjustment, drift correction
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（イ）産業上の利用分野
本発明は単波長分光光度計に関する。
（ロ）従来技術
単波長分光光度計は一個のモノクロメータを用い、その
出射光束を三光束に分けて、一方は試料セルを透過させ
、他方は対照セルを透過させ、三光束の測光出力の比を
める構成であり、光源の変動、光学系の分光特性、溶媒
及びセルの分光透過特性等に対する補償はできるが、試
料自体に内在する原因例えば試料に光散乱性の粒子が混
入しているとか定量しようとする成分に対する測定上の
媒害成分が混入している等によって生ずるベースライン
の補正は、特別の場合を除きできなかった。このような
場合２波長分光計を用いればよいが、この種の装置は分
光手段を２台必要とするから高価となる。
出射光束を三光束に分けて、一方は試料セルを透過させ
、他方は対照セルを透過させ、三光束の測光出力の比を
める構成であり、光源の変動、光学系の分光特性、溶媒
及びセルの分光透過特性等に対する補償はできるが、試
料自体に内在する原因例えば試料に光散乱性の粒子が混
入しているとか定量しようとする成分に対する測定上の
媒害成分が混入している等によって生ずるベースライン
の補正は、特別の場合を除きできなかった。このような
場合２波長分光計を用いればよいが、この種の装置は分
光手段を２台必要とするから高価となる。
（ハ） 目 的
本発明は単波長分光光度計で−に連したような問題の解
決即ち自己ベースライン補正機能を有するものを得るこ
とを目的とする。
決即ち自己ベースライン補正機能を有するものを得るこ
とを目的とする。
（ニ）構 成
本発明分光光度計は測光出力の記録上で横軸上の−乃至
複数の点における測光データを指定したとき、それらの
データから最小二乗法まだはその他の方法による近似関
数を算出する手段と、上記測光出力から上記近似関数を
引算する手段と、その引算結果を表示する手段を備えた
ことを特徴とする。
複数の点における測光データを指定したとき、それらの
データから最小二乗法まだはその他の方法による近似関
数を算出する手段と、上記測光出力から上記近似関数を
引算する手段と、その引算結果を表示する手段を備えた
ことを特徴とする。
生の測光出力第１図ＡでカーブＦのようなものであった
とき、図示１〜４の点を指定し７て最小２乗法で２次曲
線を決定すると点線すのようになる。
とき、図示１〜４の点を指定し７て最小２乗法で２次曲
線を決定すると点線すのようになる。
そこでＦ−１〕のデータをめて記録すると第１図Ｂのよ
うな記録が得られてベースライン補正が実行されたこと
になる。もちろん２次曲線を最小２乗法で決定する場合
、指定する点は４点と限らず４点以上何点指定してもよ
い。３点だけ指定して最小２乗法を実行すると、その３
点を通る２次曲線が得られ、事実上３点を通る２次曲線
を決定する演算になるが、本発明はこのような一般化さ
れた場合丑で包含する。従って第１図Ａの４点によって
最小２乗法によシー直線を決定することもでき、逆に３
次式を決定することも可能である。即ち何次の多項式を
用いてベースラインを近似させるかについては選択の任
意性がある。
うな記録が得られてベースライン補正が実行されたこと
になる。もちろん２次曲線を最小２乗法で決定する場合
、指定する点は４点と限らず４点以上何点指定してもよ
い。３点だけ指定して最小２乗法を実行すると、その３
点を通る２次曲線が得られ、事実上３点を通る２次曲線
を決定する演算になるが、本発明はこのような一般化さ
れた場合丑で包含する。従って第１図Ａの４点によって
最小２乗法によシー直線を決定することもでき、逆に３
次式を決定することも可能である。即ち何次の多項式を
用いてベースラインを近似させるかについては選択の任
意性がある。
第］図Ａのカーブから４点１〜４を指定して２次曲線を
決定する場合について演算を簡単に述べると、１〜４各
点の波長値をｘ１〜Ｘ４、吸光度をη１〜＞７４とＬ５
、決定されたカーブＦをｙ： ａ Ｘ ＋１） Ｘ ＋
Ｃ トシ、コｔ７） 式ｉＣｘ ］、 、Ｘ２等を入れたと
きのｙの値をＹ１ｒｙ２等とし、 δｌ−（η１−ｙｉ ）、δ２・−（η２−’ｙ２）・
・・・・等をめる。計やはδ１（ｉ＝１．礼３，４）の
２乗の和が最小になるよう係数ａ、ｂ、ｃを決定するも
のである。即ち Ｓ−Σ δ １ をめＳをａ、’ｂ、ｃで微分して夫々を０としておくと
、丁１己３式ができる。
決定する場合について演算を簡単に述べると、１〜４各
点の波長値をｘ１〜Ｘ４、吸光度をη１〜＞７４とＬ５
、決定されたカーブＦをｙ： ａ Ｘ ＋１） Ｘ ＋
Ｃ トシ、コｔ７） 式ｉＣｘ ］、 、Ｘ２等を入れたと
きのｙの値をＹ１ｒｙ２等とし、 δｌ−（η１−ｙｉ ）、δ２・−（η２−’ｙ２）・
・・・・等をめる。計やはδ１（ｉ＝１．礼３，４）の
２乗の和が最小になるよう係数ａ、ｂ、ｃを決定するも
のである。即ち Ｓ−Σ δ １ をめＳをａ、’ｂ、ｃで微分して夫々を０としておくと
、丁１己３式ができる。
θｓ ｃｐｓ
−＋、＝ Ｑ −−〜 ＝〇−一にＯ
ａａ ａｂ ａｃ
この３式はａ、ｂ、ｃに関し、３元１次方程式であるか
ら、この３式からａ、ｂ、ｃが決定されるっなお近似手
段としては、この他にスプライン関数近似等の方法があ
るが、この場合についても計算手段がちがうほかは同様
である。
ら、この３式からａ、ｂ、ｃが決定されるっなお近似手
段としては、この他にスプライン関数近似等の方法があ
るが、この場合についても計算手段がちがうほかは同様
である。
（ホ）実施例
第２図に本発明の一実施例を示す。１は分光器、２？よ
測定部、３は測光回路で、これらは従来の単波長三光束
分光光度計と同じ構成である。即ち分光器１から出射し
た光は２光束に分割されて、夫々試別セルＳ及び対照セ
ルＲを透過し、交互に光電子増倍管Ｐに入射され、切換
スイッチＳｗにより対照セル透過光の測光出力が光電子
増倍管にフィードバンクされて、同測光出力が一定にな
るように感度制御がなされ、試料セル透過光の測光出力
がＡ ／ Ｄ変換器４に入力される。このＡ ／ Ｄ変
換されたデータはメモＩＪ Ｍに記憶せしめられる。
測定部、３は測光回路で、これらは従来の単波長三光束
分光光度計と同じ構成である。即ち分光器１から出射し
た光は２光束に分割されて、夫々試別セルＳ及び対照セ
ルＲを透過し、交互に光電子増倍管Ｐに入射され、切換
スイッチＳｗにより対照セル透過光の測光出力が光電子
増倍管にフィードバンクされて、同測光出力が一定にな
るように感度制御がなされ、試料セル透過光の測光出力
がＡ ／ Ｄ変換器４に入力される。このＡ ／ Ｄ変
換されたデータはメモＩＪ Ｍに記憶せしめられる。
制御回路ＣＰＵｌ−１分光器１の波長走査、メモＩＪ
Ｍの書込み読出し、以下述べる表示及び演算等装置全体
の制御を行っている。ＣＰＵはメモＩＪ Ｍに記憶され
た測光データを（、ＲＴに表示する。この表示が例えば
第１図Ａに示されたカーブＦである。
Ｍの書込み読出し、以下述べる表示及び演算等装置全体
の制御を行っている。ＣＰＵはメモＩＪ Ｍに記憶され
た測光データを（、ＲＴに表示する。この表示が例えば
第１図Ａに示されたカーブＦである。
オペレータはこのＣＲＴ上の表示を見てライトベンｂで
適当と思う幾つかの点（第１図Ａの１〜４等）をＣＲＴ
上で指定するとＣＰＵはその点の座標データを検知し、
オペレータが決定しようとするカーブの次数をキーボー
ドに上のキー操作で入力すると、ＣＰＵは」−記座標デ
ータと指定された次数とから、前述したような演算を実
行して第４図のカーブｂを決定し、カーブＦからｂを引
算した結果をＣＲＴ上に表示する。オペレータはこの表
示を見てベースライン補正が満足すべきものであるとき
は、オペレークは印字指令を行う。そうするとＣＰＵは
上記１ｊ’ｌ）のデータに基いてピーク頂点の波長１
ピーク面積等を検出し、記録計１（ＣにＦ−１〕のカー
ブの記録とデータの印字を行う。
適当と思う幾つかの点（第１図Ａの１〜４等）をＣＲＴ
上で指定するとＣＰＵはその点の座標データを検知し、
オペレータが決定しようとするカーブの次数をキーボー
ドに上のキー操作で入力すると、ＣＰＵは」−記座標デ
ータと指定された次数とから、前述したような演算を実
行して第４図のカーブｂを決定し、カーブＦからｂを引
算した結果をＣＲＴ上に表示する。オペレータはこの表
示を見てベースライン補正が満足すべきものであるとき
は、オペレークは印字指令を行う。そうするとＣＰＵは
上記１ｊ’ｌ）のデータに基いてピーク頂点の波長１
ピーク面積等を検出し、記録計１（ＣにＦ−１〕のカー
ブの記録とデータの印字を行う。
第３図はベースラインが時間的に変動する場合で、３回
測定を行つ／ζ結果を示す。各回の測定において上述操
作を行うことにより第４図のような吸収ピークだけのデ
ータを得ることができる。第３図のカーブイア 口、ノ
・と第４図のイ１１ロ、ノ一対応する。
測定を行つ／ζ結果を示す。各回の測定において上述操
作を行うことにより第４図のような吸収ピークだけのデ
ータを得ることができる。第３図のカーブイア 口、ノ
・と第４図のイ１１ロ、ノ一対応する。
第５図Ａは波長走査中ヘースライン変動がな１７）と認
められる場合で、オペレータが一点１だけを指定し、０
次と指定すると、ベースラインとして１の点を通る水平
線が決定され、第５図Ｂのような結果が表示される。
められる場合で、オペレータが一点１だけを指定し、０
次と指定すると、ベースラインとして１の点を通る水平
線が決定され、第５図Ｂのような結果が表示される。
上述実施例は波長走査を前提としているが、クロマトグ
ラフ検出器として分光光度計を用いるような場合、或は
ゲルスキャナー、ＴＣＬスキャナー等で独立変数が時間
とか距離となる場合でも本発明は適用でき、その場合、
初めに述べた説明中の変数Ｘが夫々時間とか距離に変る
だけである。
ラフ検出器として分光光度計を用いるような場合、或は
ゲルスキャナー、ＴＣＬスキャナー等で独立変数が時間
とか距離となる場合でも本発明は適用でき、その場合、
初めに述べた説明中の変数Ｘが夫々時間とか距離に変る
だけである。
（へ）効 果
本発明分光光度計は単波長分光光度計で自己ベースライ
ン補正が可能であシ、データ処理によって実現されてい
るので、２波長法を行う装置に比し安価にできる。
ン補正が可能であシ、データ処理によって実現されてい
るので、２波長法を行う装置に比し安価にできる。
第１図は本発明の詳細な説明するグラフ、第２図は本発
明の一実施例のブロック図、第３図、第４図、第５図は
夫々本発明が適用される状況例と適用結果を示すグラフ
である。 １・・・分光器、２・・・測定部、３・・・測光回路、
Ｍ・・・メモＩ）、ＣＰＵ・・・制御回路、Ｌ・・・ラ
イトベン Ｋ・・・キーボード。 代理人 弁理士 縣 浩 介
明の一実施例のブロック図、第３図、第４図、第５図は
夫々本発明が適用される状況例と適用結果を示すグラフ
である。 １・・・分光器、２・・・測定部、３・・・測光回路、
Ｍ・・・メモＩ）、ＣＰＵ・・・制御回路、Ｌ・・・ラ
イトベン Ｋ・・・キーボード。 代理人 弁理士 縣 浩 介
Claims (1)
- 測光回路出力を記憶するメモリと、測光回路出力を表示
する手段と、測定における独立変数に関して−乃至複数
の点を指定すると、その点における測光回路出力を用い
て最小２乗法またはスプライン関数近似、その他の方法
によって近似カーブを決定し、上記メモリに記憶された
データから上記決定されたカーブを引算して上記表示手
段に表示させる演算手段を備えたことを特徴とする分光
光度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11464683A JPS606833A (ja) | 1983-06-24 | 1983-06-24 | 分光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11464683A JPS606833A (ja) | 1983-06-24 | 1983-06-24 | 分光光度計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS606833A true JPS606833A (ja) | 1985-01-14 |
Family
ID=14643008
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11464683A Pending JPS606833A (ja) | 1983-06-24 | 1983-06-24 | 分光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS606833A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0521358A2 (en) * | 1991-06-30 | 1993-01-07 | Shimadzu Corporation | Absorbance analyzer and data processing method for chromatograph |
| JPH063268A (ja) * | 1992-06-23 | 1994-01-11 | Toshiba Ceramics Co Ltd | シリコンウエハの格子間酸素又は置換型炭素濃度の赤 外吸収分光法 |
| JPH06167466A (ja) * | 1992-11-27 | 1994-06-14 | Shimadzu Corp | 熱分析データ処理装置 |
| JP2011214878A (ja) * | 2010-03-31 | 2011-10-27 | Kurita Water Ind Ltd | 付着物検出装置 |
| CN108801944A (zh) * | 2018-07-23 | 2018-11-13 | 中南大学 | 一种基于二元状态转换的惩罚b样条平滑光谱基线校正方法 |
-
1983
- 1983-06-24 JP JP11464683A patent/JPS606833A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0521358A2 (en) * | 1991-06-30 | 1993-01-07 | Shimadzu Corporation | Absorbance analyzer and data processing method for chromatograph |
| JPH063268A (ja) * | 1992-06-23 | 1994-01-11 | Toshiba Ceramics Co Ltd | シリコンウエハの格子間酸素又は置換型炭素濃度の赤 外吸収分光法 |
| JPH06167466A (ja) * | 1992-11-27 | 1994-06-14 | Shimadzu Corp | 熱分析データ処理装置 |
| JP2011214878A (ja) * | 2010-03-31 | 2011-10-27 | Kurita Water Ind Ltd | 付着物検出装置 |
| CN108801944A (zh) * | 2018-07-23 | 2018-11-13 | 中南大学 | 一种基于二元状态转换的惩罚b样条平滑光谱基线校正方法 |
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