JPS606805A - 光学的エツジ位置検出方法 - Google Patents
光学的エツジ位置検出方法Info
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- JPS606805A JPS606805A JP58106673A JP10667383A JPS606805A JP S606805 A JPS606805 A JP S606805A JP 58106673 A JP58106673 A JP 58106673A JP 10667383 A JP10667383 A JP 10667383A JP S606805 A JPS606805 A JP S606805A
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- memory
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/028—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by measuring lateral position of a boundary of the object
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、光学的エツジ検出方法に関する。
圧姑中あるいは搬送中の走行する鋼材の板巾を測定する
装置としては、測定精度及び保全性等を尚める為に、板
巾を非接触で測定することができる光学的１］組が用い
られるようになってきた。光学的巾計には、（１）被測
定材の背面側にバックライトを設置Ｎシて被測定材の陰
影を撮像することにより中細を得る透過光方式、（１１
）被測重相の表面を光源で照らして反射光画像を撮像す
ることにより［ＩＪ仙をイ４する反射光方式及び（Ｉｌ
＋）被測定材が熱間圧夕Ｅ材のように熱放射する場合に
その放射光を撮像１−る放射光方式等がある。
装置としては、測定精度及び保全性等を尚める為に、板
巾を非接触で測定することができる光学的１］組が用い
られるようになってきた。光学的巾計には、（１）被測
定材の背面側にバックライトを設置Ｎシて被測定材の陰
影を撮像することにより中細を得る透過光方式、（１１
）被測重相の表面を光源で照らして反射光画像を撮像す
ることにより［ＩＪ仙をイ４する反射光方式及び（Ｉｌ
＋）被測定材が熱間圧夕Ｅ材のように熱放射する場合に
その放射光を撮像１−る放射光方式等がある。
被測定材が例えば熱間圧Ｉｊ１される調料である場合、
透過光方式では、鋼材を搬送するローラテーブルの下方
に該テーブル全中域に亘って光源を設置する必要がある
上、これらの光ωには落下するスケール等に対する保護
や防じん対策を施さなくてはならず、設置場所も制約を
受けるという問題があり、反射光方式の場合には、光エ
ネルギーの大きい光源を必要とし、被測足利の表面が均
仙でない場合ニハ反射パターンが不揃いになって測定不
能となり、熱間圧！ｊＪＦ、杉の場合には特に反射率が
低い為に通さない。
透過光方式では、鋼材を搬送するローラテーブルの下方
に該テーブル全中域に亘って光源を設置する必要がある
上、これらの光ωには落下するスケール等に対する保護
や防じん対策を施さなくてはならず、設置場所も制約を
受けるという問題があり、反射光方式の場合には、光エ
ネルギーの大きい光源を必要とし、被測足利の表面が均
仙でない場合ニハ反射パターンが不揃いになって測定不
能となり、熱間圧！ｊＪＦ、杉の場合には特に反射率が
低い為に通さない。
上記２つの方式にくらべて放射光方式の場合には光源を
必要としないので、保全面や設置棚Ｒ「に対する制約が
少く、熱間圧延される調料のｒｔＪ計として最も適して
いるが、測定精度が高くないという理由がら実用される
ことが少なく、現在では透過光方式の光学的巾計が多用
されている。
必要としないので、保全面や設置棚Ｒ「に対する制約が
少く、熱間圧延される調料のｒｔＪ計として最も適して
いるが、測定精度が高くないという理由がら実用される
ことが少なく、現在では透過光方式の光学的巾計が多用
されている。
次に、放射光方式の測定精度が低くい理由について説明
づ−る。分解能が高くかつ走査点揮度を正確に電気信号
（電圧）に変換づ′る理想的な撮像装置を用いて被測定
物である赤熱物体を中方向に走査した場合の映像信号を
第１図（、）に示す。走査点が結像画像中の赤熱物体の
エツジにさじか＼ると映像信号は零レベルから急峻に立
上がり、走査点が巾方向中央部へ移動するに伴って表面
温度分布に対応した波形を描く。自然冷却される赤熱物
体は角隈部が他部に比して早く冷却されるので映像信号
は上記急峻対立上り後はゆるやかに上昇して一定レベル
に達する波形となも。この映像信号を適当なしきい値レ
ベルと比較して白（Ｈ）レベルと黒（Ｌ）レベルに２値
化し、Ｈレベルの期間を例えばクロックパルスを計数し
てめることにより赤熱物体の巾を６１１１定することが
できる。
づ−る。分解能が高くかつ走査点揮度を正確に電気信号
（電圧）に変換づ′る理想的な撮像装置を用いて被測定
物である赤熱物体を中方向に走査した場合の映像信号を
第１図（、）に示す。走査点が結像画像中の赤熱物体の
エツジにさじか＼ると映像信号は零レベルから急峻に立
上がり、走査点が巾方向中央部へ移動するに伴って表面
温度分布に対応した波形を描く。自然冷却される赤熱物
体は角隈部が他部に比して早く冷却されるので映像信号
は上記急峻対立上り後はゆるやかに上昇して一定レベル
に達する波形となも。この映像信号を適当なしきい値レ
ベルと比較して白（Ｈ）レベルと黒（Ｌ）レベルに２値
化し、Ｈレベルの期間を例えばクロックパルスを計数し
てめることにより赤熱物体の巾を６１１１定することが
できる。
しかし、通常のＪ７φ像装儂では、分ｗｌ′能に限りが
あり、映像信号は、高域周波数がカントされる上、感度
波長が放射光物体の発光波長にくらべて短波長側にある
と６ｎ度変化にダ」イる変化割合が大きくなるので、実
際には第１図（ａ）に示したような急峻な立上りの映像
イに号を得ることができず、第１図（ｂ）に示す如く立
上りがなまるので、しきい値レベルのｊｉｓ？定が非常
に難しい上、被測定物の温度が異ると同図（ｃ）に示す
如く映像信号の波形が）′４つたものになる為、しきい
値レベルが固定されて（・石場合には、Ｈレベルとなる
時点がΔｔ１＋Δｔ２だけ相違する結果となる。これに
は映イト信号の波高に対応してしきい値を自動的に岸化
させたり（ダイナミックスレショールド法）、露光量や
利得を自動的に変化させて一定の映像信号を得る（ＡＧ
Ｃ）等により補正することができるが、第１図（ｄ）に
示す如く、被測定物の角隈部から中央部にかけての温度
分布が異る場合の映像信号に対しては補正や修正の方法
がなく、しきい値比較法を用いて正確なエツジｈ′装置
を砂出することはできない。
あり、映像信号は、高域周波数がカントされる上、感度
波長が放射光物体の発光波長にくらべて短波長側にある
と６ｎ度変化にダ」イる変化割合が大きくなるので、実
際には第１図（ａ）に示したような急峻な立上りの映像
イに号を得ることができず、第１図（ｂ）に示す如く立
上りがなまるので、しきい値レベルのｊｉｓ？定が非常
に難しい上、被測定物の温度が異ると同図（ｃ）に示す
如く映像信号の波形が）′４つたものになる為、しきい
値レベルが固定されて（・石場合には、Ｈレベルとなる
時点がΔｔ１＋Δｔ２だけ相違する結果となる。これに
は映イト信号の波高に対応してしきい値を自動的に岸化
させたり（ダイナミックスレショールド法）、露光量や
利得を自動的に変化させて一定の映像信号を得る（ＡＧ
Ｃ）等により補正することができるが、第１図（ｄ）に
示す如く、被測定物の角隈部から中央部にかけての温度
分布が異る場合の映像信号に対しては補正や修正の方法
がなく、しきい値比較法を用いて正確なエツジｈ′装置
を砂出することはできない。
更に、しきい値比較法では、しきい値レベルを高く設定
すると、角隈部の温度が高くない被測定物に対しては真
のエツジ位置より内側をエツジ位置として検ＩＪ３ Ｌ
、しきい値レベルを低く＼設定すると真のエツジ位置よ
り外。
すると、角隈部の温度が高くない被測定物に対しては真
のエツジ位置より内側をエツジ位置として検ＩＪ３ Ｌ
、しきい値レベルを低く＼設定すると真のエツジ位置よ
り外。
１１１１＋をエツジ位置として検出する傾向がある・こ
の傾向は、映像信号が第１図（ｅ）に示す如く段階状と
なる固体撮像素子（固体イメージセ゛ンサ）を用いた場
合に著るしい。
の傾向は、映像信号が第１図（ｅ）に示す如く段階状と
なる固体撮像素子（固体イメージセ゛ンサ）を用いた場
合に著るしい。
このように、放射光方式による映像信号をしきい値比較
法を用いて信号処理した場合には、被測定物のエツジ位
置を正確に検出１−るコトカ、難しく、幅計として十分
な抑１定精度が得られなかった。しかし、放射光方式そ
のものは前記した如く、光源が不要である等の大きな利
点があり、特に固体イメージセンサを用いる場合には悪
環境下でも安心して使用することができ上記利点を史に
助長することができるので、又、透過光方式や反射光方
式による巾測定の場合にもしきい値比較法を用いた場合
のエツジ位置検出精度が被沖］定物と他部との明度差に
よって左右されるので、常に高精度のエツジ位置検出を
可能にする信号処理方法の開発が切望されていた。
法を用いて信号処理した場合には、被測定物のエツジ位
置を正確に検出１−るコトカ、難しく、幅計として十分
な抑１定精度が得られなかった。しかし、放射光方式そ
のものは前記した如く、光源が不要である等の大きな利
点があり、特に固体イメージセンサを用いる場合には悪
環境下でも安心して使用することができ上記利点を史に
助長することができるので、又、透過光方式や反射光方
式による巾測定の場合にもしきい値比較法を用いた場合
のエツジ位置検出精度が被沖］定物と他部との明度差に
よって左右されるので、常に高精度のエツジ位置検出を
可能にする信号処理方法の開発が切望されていた。
本発明は、上記した従来の問題点に鑑みてなされたもの
で、映像信号の相隣る走を点の値を順次差分して差分信
ぢを作り、−走査サイクルにおける該差分信号列の最大
値及び／または最小値を与える差分信号を検出し、その
走査アドレスと走査間隔から演算処理によりエツジ位置
を検出する構成とすることによって、被測定物の明度や
輝度に左右されることなく、簡単な信号処理と演や、処
理を用いて費用をかけることなく実用的に高い検出精度
が得られる光学的エツジ位置検出方法を提供することを
目的とする。
で、映像信号の相隣る走を点の値を順次差分して差分信
ぢを作り、−走査サイクルにおける該差分信号列の最大
値及び／または最小値を与える差分信号を検出し、その
走査アドレスと走査間隔から演算処理によりエツジ位置
を検出する構成とすることによって、被測定物の明度や
輝度に左右されることなく、簡単な信号処理と演や、処
理を用いて費用をかけることなく実用的に高い検出精度
が得られる光学的エツジ位置検出方法を提供することを
目的とする。
以下、本発明の一実施例を図面を参照して説明する。
第２図において、１０は圧延ラインのローラテーブルで
あって、その上を被測定物（赤熱物体）である厚板（板
巾：９００〜４，５００＋ｍ、温度７００〜１，０００
℃）２０が走行する。３０は固体イメージセンサ−であ
って、例えば、１０２４個の画素の光電面がピッチｄで
１列に並び該光電面にレンズを通して厚板２０を含む図
に剛線で示す範１ｍ （’５ＣＯＰ）の像が結像される
＾さに設置され、該結像を厚板２０の板中方向に走査す
る。固体イメージセンサ−３０からは一走査サイクルに
第３図に示すごとき映像信号Ｆ （Ｘ）が取り出される
。この映像信号Ｆ （ｘ）は図示しないタイミング回路
が発生するタイミングパルスＣＫ毎に１画素分づつサン
プルホールド回路３１に取り込まれ、続いてＡＤ変換回
路３２に送り込まれ、その大きさもしくは高さＶｎ（ｎ
：画素アドレス、１．２・・・ｍ・・・）に対応するデ
ジタル値（信月）（説明の便宜上、Ｖｎとする）に変換
されてＩｌｊｌ遂次される。３３は引算回路であってデ
ジタル値Ｖｍとこれに対して１画素分だけ遅延されたメ
モＩＪＭＯのＶｍ １を減荀−シて差分信号Ｌｍ”Ｖｍ
Ｖｍ Ｈを送出する。この差分信号ＬｍはメモリＭ１
に送られ、タイミングパルスＣＫの発生毎にメモリＭ１
から次段のメモリＭ２に入力される。メモＩＪ Ｍ １
の内容はコンパレータＣ１とセレクタＳＥＩに入力され
る。コンパレータＣ１はメモリＭ１からの入力とメモｌ
ＪＭ３からの入力を比較して前者が大である場合に出力
する。この出力は選択指令ＳＸとしてセレクタＳＥＩに
入力される。
あって、その上を被測定物（赤熱物体）である厚板（板
巾：９００〜４，５００＋ｍ、温度７００〜１，０００
℃）２０が走行する。３０は固体イメージセンサ−であ
って、例えば、１０２４個の画素の光電面がピッチｄで
１列に並び該光電面にレンズを通して厚板２０を含む図
に剛線で示す範１ｍ （’５ＣＯＰ）の像が結像される
＾さに設置され、該結像を厚板２０の板中方向に走査す
る。固体イメージセンサ−３０からは一走査サイクルに
第３図に示すごとき映像信号Ｆ （Ｘ）が取り出される
。この映像信号Ｆ （ｘ）は図示しないタイミング回路
が発生するタイミングパルスＣＫ毎に１画素分づつサン
プルホールド回路３１に取り込まれ、続いてＡＤ変換回
路３２に送り込まれ、その大きさもしくは高さＶｎ（ｎ
：画素アドレス、１．２・・・ｍ・・・）に対応するデ
ジタル値（信月）（説明の便宜上、Ｖｎとする）に変換
されてＩｌｊｌ遂次される。３３は引算回路であってデ
ジタル値Ｖｍとこれに対して１画素分だけ遅延されたメ
モＩＪＭＯのＶｍ １を減荀−シて差分信号Ｌｍ”Ｖｍ
Ｖｍ Ｈを送出する。この差分信号ＬｍはメモリＭ１
に送られ、タイミングパルスＣＫの発生毎にメモリＭ１
から次段のメモリＭ２に入力される。メモＩＪ Ｍ １
の内容はコンパレータＣ１とセレクタＳＥＩに入力され
る。コンパレータＣ１はメモリＭ１からの入力とメモｌ
ＪＭ３からの入力を比較して前者が大である場合に出力
する。この出力は選択指令ＳＸとしてセレクタＳＥＩに
入力される。
セレクタＳＥＬは上記選択指令を受けるとメモリＭ１の
内容をメモリＭ３に書き込む。上記選択指令ＳＸが無い
場合、メモリＭ３の出力が選択されメモＩＪ Ｍ ３の
内容は変化しない。
内容をメモリＭ３に書き込む。上記選択指令ＳＸが無い
場合、メモリＭ３の出力が選択されメモＩＪ Ｍ ３の
内容は変化しない。
また、コンパレータＣ１からの選択指令ＳＸはゲート回
路Ｇ１に入力される。該ゲート回路Ｇ１は上記コンパレ
ータＣ１の出力とタイミングパルスＣＫを共に受けると
ランチ指令ＴＸをラッチ回ｍＲ１に送出する。ラッチ回
路Ｒ１はタイミングパルスＣＫをＩｌ数ｆるカウンタ３
４の計数値（走査アドレス）ｘ＝ｍを取り込んで記憶す
る。メモリＭ１の出力は、又、コンパレータＣ２及びセ
レクタＳＥ２にモ入力すレル。コンパレータＣ２はコン
パレータＣ１とは逆にメモリＭ １の出力がメモリＭ４
の出力の内容より小である場合に出力する。この出力は
選択指令ＳＹとしてセレクタＳＥ２に供給される。セレ
クタＳＥ２は選択指令ｓｙを受けるとメモリＭ１の出力
をメモリＭ４に書き込む。上記選択指令が無い場合はメ
モｌＪＭ４の出力が選択され、メモリＭ４の内容は変化
しない。父、コンパレータＣ２からの選択指令ＳＹはゲ
ート回路Ｇ２に入力される。ゲート回路Ｇ２は上記出力
ＳＹとタイミングパルスＣＫを共に受けるとラッチ指令
ＴＹをランチ回路Ｒ２に送出する。ラッチ回路Ｒ２には
ゲート回路Ｇ２が出力した時のカウンタ３４のｔｌ”数
値ｘ＝ｍか奮き込まれる。
路Ｇ１に入力される。該ゲート回路Ｇ１は上記コンパレ
ータＣ１の出力とタイミングパルスＣＫを共に受けると
ランチ指令ＴＸをラッチ回ｍＲ１に送出する。ラッチ回
路Ｒ１はタイミングパルスＣＫをＩｌ数ｆるカウンタ３
４の計数値（走査アドレス）ｘ＝ｍを取り込んで記憶す
る。メモリＭ１の出力は、又、コンパレータＣ２及びセ
レクタＳＥ２にモ入力すレル。コンパレータＣ２はコン
パレータＣ１とは逆にメモリＭ １の出力がメモリＭ４
の出力の内容より小である場合に出力する。この出力は
選択指令ＳＹとしてセレクタＳＥ２に供給される。セレ
クタＳＥ２は選択指令ｓｙを受けるとメモリＭ１の出力
をメモリＭ４に書き込む。上記選択指令が無い場合はメ
モｌＪＭ４の出力が選択され、メモリＭ４の内容は変化
しない。父、コンパレータＣ２からの選択指令ＳＹはゲ
ート回路Ｇ２に入力される。ゲート回路Ｇ２は上記出力
ＳＹとタイミングパルスＣＫを共に受けるとラッチ指令
ＴＹをランチ回路Ｒ２に送出する。ラッチ回路Ｒ２には
ゲート回路Ｇ２が出力した時のカウンタ３４のｔｌ”数
値ｘ＝ｍか奮き込まれる。
ラッチ回路Ｒ１，Ｒ２の内容は一走食ザイクルの終了時
に演鞠処理装置としてのマイフィロコンピュータＣＰＵ
からのアドレス信号Ｃ８により１１次、該マイフィロコ
ンピュータｃＰＵに読出される。
に演鞠処理装置としてのマイフィロコンピュータＣＰＵ
からのアドレス信号Ｃ８により１１次、該マイフィロコ
ンピュータｃＰＵに読出される。
次に、この装置の動作を第３図、第４図を参照して説８
Ａする。
Ａする。
映像信号Ｆ （ｘ）は、第３図に示す如く、ル食点が厚
板２０の一方のエツジ近傍（ｘ＝２）にさしかかるまで
は、被測定部分の輝度が低い為に零レベル近傍の低レベ
ルであるが、エツジ近くにさしかかると輝度が賜くなる
のでそのレベルが上昇し始め、真のエツジ位置を含む領
域を撮像している画素に４すると（図では、ｘ＝３）急
激なレベル上昇を呈し、史に走査点が厚板２０の内側に
、移動するに伴つてゆるやかなレベル上昇を呈しっつほ
ぼ一定レベルに落ち着く。また、走査点が他方のエツジ
部を移動する間には上記とは逆のレベル変動を示し、走
査点が他方の真のエツジ位置を含む領域を撮像している
画素（ｘ＝ｍ）に達した時に最大のレベル降下を呈する
。
板２０の一方のエツジ近傍（ｘ＝２）にさしかかるまで
は、被測定部分の輝度が低い為に零レベル近傍の低レベ
ルであるが、エツジ近くにさしかかると輝度が賜くなる
のでそのレベルが上昇し始め、真のエツジ位置を含む領
域を撮像している画素に４すると（図では、ｘ＝３）急
激なレベル上昇を呈し、史に走査点が厚板２０の内側に
、移動するに伴つてゆるやかなレベル上昇を呈しっつほ
ぼ一定レベルに落ち着く。また、走査点が他方のエツジ
部を移動する間には上記とは逆のレベル変動を示し、走
査点が他方の真のエツジ位置を含む領域を撮像している
画素（ｘ＝ｍ）に達した時に最大のレベル降下を呈する
。
本実施例では、走査開始後、まず、差分信号Ｌ ｍ ＝
Ｖ ｍ Ｖ ｍ １が正の値になった時点で、コンパ
レータＣ１から選択指令ＳＸが出され、メモリＭ３に値
Ｌｍが記憶される。その後は、この記憶された差分信号
値Ｌ ｍよりも大きい差分信号が発生する毎に選択指令
ＳＸが出され、メモリＭ３の内容が更新されると同時に
ラッチ回路Ｒ１に記憶される走査アドレスｍの値も更新
される。
Ｖ ｍ Ｖ ｍ １が正の値になった時点で、コンパ
レータＣ１から選択指令ＳＸが出され、メモリＭ３に値
Ｌｍが記憶される。その後は、この記憶された差分信号
値Ｌ ｍよりも大きい差分信号が発生する毎に選択指令
ＳＸが出され、メモリＭ３の内容が更新されると同時に
ラッチ回路Ｒ１に記憶される走査アドレスｍの値も更新
される。
即ち、走査点が時刻ｔ＝Ｔｏで厚板２０の一方のエツジ
位置の極く近傍を撮像している画素に達したものと仮定
すると、差分信号Ｌ２＝Ｖ２−Ｖｌ）０となるので、選
択指令ＳＸが発生し、該差分信号Ｌ２の値はメモＩＪ
Ｍ ３に記憶される。走査点が１画素分だけ移動したＸ
＝３では真のエツジ位置を掃１象している画素が走査さ
れる為、差分信＋３−Ｌ３＝：Ｖ３−Ｖ２〉Ｖ２−Ｖ１
＝Ｌ２となり、メモリＭ３にはＲ３が男き込まれると同
時にランチ回路Ｒ１はラッチ指令Ｔｘを受けてｘ ＝
３を記憶′″３−る。更に１画素分だけ移動したｘ ＝
４では差分信号Ｌ４＝Ｖ４−Ｖ３（Ｖ３−Ｖ２＝Ｌ３
となるので、コンパレータＣ１からの選択指令ＳＸは無
く、メモＩＪ Ｍ ３の内容はそのままとなる。即ち、
真のエツジ位置を撮像している画素の出力■３が走査さ
れた時点の差分１ｇ号が正の最大値になり、以後は、そ
の時点の走査アドレスの値ｍがラッチ回路Ｒ１に記憶さ
れたままとなる。
位置の極く近傍を撮像している画素に達したものと仮定
すると、差分信号Ｌ２＝Ｖ２−Ｖｌ）０となるので、選
択指令ＳＸが発生し、該差分信号Ｌ２の値はメモＩＪ
Ｍ ３に記憶される。走査点が１画素分だけ移動したＸ
＝３では真のエツジ位置を掃１象している画素が走査さ
れる為、差分信＋３−Ｌ３＝：Ｖ３−Ｖ２〉Ｖ２−Ｖ１
＝Ｌ２となり、メモリＭ３にはＲ３が男き込まれると同
時にランチ回路Ｒ１はラッチ指令Ｔｘを受けてｘ ＝
３を記憶′″３−る。更に１画素分だけ移動したｘ ＝
４では差分信号Ｌ４＝Ｖ４−Ｖ３（Ｖ３−Ｖ２＝Ｌ３
となるので、コンパレータＣ１からの選択指令ＳＸは無
く、メモＩＪ Ｍ ３の内容はそのままとなる。即ち、
真のエツジ位置を撮像している画素の出力■３が走査さ
れた時点の差分１ｇ号が正の最大値になり、以後は、そ
の時点の走査アドレスの値ｍがラッチ回路Ｒ１に記憶さ
れたままとなる。
また、走査開始後、まず、差分イｇ号Ｌｍ＝＝Ｖｍ Ｖ
ｍ １が負の値になった時点でコンパレータＣ２から選
択指令ＳＹが出力され、メモｌ） Ｍ ４に差分信号Ｌ
ｍが記憶される。その後、記憶された差分信号の値より
小さい（極性は負で、その絶対値が犬）差分信号が発生
する毎に選択指令ｓｙが出され、メモｌｊＭ４の内容が
更新される。また、同時に、ラッチ回路Ｒ２に記憶され
る走査アドレスｍの値も更新される。
ｍ １が負の値になった時点でコンパレータＣ２から選
択指令ＳＹが出力され、メモｌ） Ｍ ４に差分信号Ｌ
ｍが記憶される。その後、記憶された差分信号の値より
小さい（極性は負で、その絶対値が犬）差分信号が発生
する毎に選択指令ｓｙが出され、メモｌｊＭ４の内容が
更新される。また、同時に、ラッチ回路Ｒ２に記憶され
る走査アドレスｍの値も更新される。
即ち、時刻ｔ ＝ Ｔ２で走査点が他方の真のエツジ位
置を撮像している画素（走査アドレスｘ ＝ ｍ ）に
達し、映像信号Ｆ （ｘ）の立ち下がり点にくると、差
分信号Ｌ ｍ ＝ Ｖｍ−Ｖｍ−１（０が最小になり、
以後はこの時の値より小となる差分信号が発生しないの
で、走査アドレスの値ｍがランチ回路Ｒ２に記憶された
ままとなる。
置を撮像している画素（走査アドレスｘ ＝ ｍ ）に
達し、映像信号Ｆ （ｘ）の立ち下がり点にくると、差
分信号Ｌ ｍ ＝ Ｖｍ−Ｖｍ−１（０が最小になり、
以後はこの時の値より小となる差分信号が発生しないの
で、走査アドレスの値ｍがランチ回路Ｒ２に記憶された
ままとなる。
従って、ラッチ回路Ｒ１、Ｒ２にそれぞれ記憶されてい
る走査アドレスｘ ＝ ３、ｍにマイフィロコンピュー
タＣＰＵで画素ピッチｄを乗することにより、一方のエ
ツジ位置及び他方のエツジ位置を±ｄの検出精度を以て
しることができる。この検出精度は固体イメージセンサ
３０の画素数を多くすることによって容易に、実用上、
許容し得る程度まで高めることができる。
る走査アドレスｘ ＝ ３、ｍにマイフィロコンピュー
タＣＰＵで画素ピッチｄを乗することにより、一方のエ
ツジ位置及び他方のエツジ位置を±ｄの検出精度を以て
しることができる。この検出精度は固体イメージセンサ
３０の画素数を多くすることによって容易に、実用上、
許容し得る程度まで高めることができる。
なお、上記実施例では、一台の固体イメージセンサ３０
を用いて厚板の両方のエツジ位置を検出する場合につい
て述べたが、２台の固体イメージセンサを用いて、それ
ぞれが片方のエツジを分担する構成にしてもよい。
を用いて厚板の両方のエツジ位置を検出する場合につい
て述べたが、２台の固体イメージセンサを用いて、それ
ぞれが片方のエツジを分担する構成にしてもよい。
また、本実施例では、映像信号がディスクリートな場合
について述べたが、アナログ的な映像信号の場合にも適
用して同様の効果をイ登ることができることは明白であ
る。
について述べたが、アナログ的な映像信号の場合にも適
用して同様の効果をイ登ることができることは明白であ
る。
以上の如く、本発明によれば、撮像信号を一鼎時間毎に
差分して差分信号列を作り、その内の最大値及び／また
は最小値を与える差分信号の発生位置をエツジ位置とし
て検出する構成としたことによって、複雑な信号処理を
要せず、被測定物と部との岬度がはつきりしない場合に
もしきい値比較を行う従来の場合に比してより正確にエ
ツジ位置を検出１−ることができ、被測定物の温度不均
一により走査サイクル毎に映像信号全体の波形が異なる
場合にもそれぞれの最大値及び／または最小値を与える
差分信号の発生位置を正確に検出することが可能で、被
測定物の角隅部だけ映像信号が異なる場合にも上記各点
を確実に検出することができるので、放射光方式による
巾測定の精度をしきい値比較法を用いる場合に比して顕
著に高めることができる土、映像信号がディスクリート
な値を取るような場合にも、エツジ位置を確実・正確に
検出することが可能であるので、固体イメージセンサを
用いて、保全性にすぐれ、設置Ｎ、場所に対する制約が
少なく、取り扱いが容易で、ランニングコストが安くて
痛み、悪環境にも強い光学的中形な実用化することが容
易に可能になるという大きな利点が得られる。
差分して差分信号列を作り、その内の最大値及び／また
は最小値を与える差分信号の発生位置をエツジ位置とし
て検出する構成としたことによって、複雑な信号処理を
要せず、被測定物と部との岬度がはつきりしない場合に
もしきい値比較を行う従来の場合に比してより正確にエ
ツジ位置を検出１−ることができ、被測定物の温度不均
一により走査サイクル毎に映像信号全体の波形が異なる
場合にもそれぞれの最大値及び／または最小値を与える
差分信号の発生位置を正確に検出することが可能で、被
測定物の角隅部だけ映像信号が異なる場合にも上記各点
を確実に検出することができるので、放射光方式による
巾測定の精度をしきい値比較法を用いる場合に比して顕
著に高めることができる土、映像信号がディスクリート
な値を取るような場合にも、エツジ位置を確実・正確に
検出することが可能であるので、固体イメージセンサを
用いて、保全性にすぐれ、設置Ｎ、場所に対する制約が
少なく、取り扱いが容易で、ランニングコストが安くて
痛み、悪環境にも強い光学的中形な実用化することが容
易に可能になるという大きな利点が得られる。
第１図（−）〜（ｅ）は従来の光学的エツジ位置検出方
法の問題点を説明する為の映像信号波形図、第２図は本
発明による光学的エツジ位置検出方法の実施例の回路ブ
ロック図、第３ν１は上記実施例の動作を説明する為の
映像信号波形図、第１図は第３図の映像信号の差分信号
波形図である。 ３０・・・固体イメージセンサ、 ３１・・・ザンプリングホールド回路、３２・・・ＡＤ
変換回路、３３・・・引ｎ回路、３４・・・カウンタ、 八１０〜Ｍ４・・・メモリ、 Ｃ１、Ｃ２・・・コンパレータ、 Ｇ１、Ｇ２・・・ゲート回路、 Ｒ１、Ｒ２・・・ラツテロコｉ路、 ＣＰＵ・・・マイフィロコンピュータ 特許出願人 株式会社神戸！Ｉｉ！１山所代理人 弁理
士 小 林 傅 時 間 ｔ （Ｃ） 時 １ｖ１ｔ （ｅ） （ｂ） 時 Ｉｖｌｔ （ｄ） 時 間 １
法の問題点を説明する為の映像信号波形図、第２図は本
発明による光学的エツジ位置検出方法の実施例の回路ブ
ロック図、第３ν１は上記実施例の動作を説明する為の
映像信号波形図、第１図は第３図の映像信号の差分信号
波形図である。 ３０・・・固体イメージセンサ、 ３１・・・ザンプリングホールド回路、３２・・・ＡＤ
変換回路、３３・・・引ｎ回路、３４・・・カウンタ、 八１０〜Ｍ４・・・メモリ、 Ｃ１、Ｃ２・・・コンパレータ、 Ｇ１、Ｇ２・・・ゲート回路、 Ｒ１、Ｒ２・・・ラツテロコｉ路、 ＣＰＵ・・・マイフィロコンピュータ 特許出願人 株式会社神戸！Ｉｉ！１山所代理人 弁理
士 小 林 傅 時 間 ｔ （Ｃ） 時 １ｖ１ｔ （ｅ） （ｂ） 時 Ｉｖｌｔ （ｄ） 時 間 １
Claims (1)
- （１） 被測定物の撮像を該被測定物の巾方向に走査し
て得られる映像１１号から上記被測定物のエツジ位置を
検出する場合において、上記映像信号の相隣る走査点の
値を順次差分して差分信号を作り、−走査サイクルにお
ける該差分信号列の最大値及び／または最小値を与える
差分（Ｎ号を検出し、その走査アドレスと走査間隔から
演算処理によりエツジ位置を検出することを特徴とする
エツジ位置検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58106673A JPS606805A (ja) | 1983-06-16 | 1983-06-16 | 光学的エツジ位置検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58106673A JPS606805A (ja) | 1983-06-16 | 1983-06-16 | 光学的エツジ位置検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS606805A true JPS606805A (ja) | 1985-01-14 |
| JPH0551843B2 JPH0551843B2 (ja) | 1993-08-03 |
Family
ID=14439587
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58106673A Granted JPS606805A (ja) | 1983-06-16 | 1983-06-16 | 光学的エツジ位置検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS606805A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2018149582A (ja) * | 2017-03-14 | 2018-09-27 | Ｊｆｅスチール株式会社 | 高強度冷延鋼板のエッジ検出方法及びエッジ検出装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50149365A (ja) * | 1974-04-24 | 1975-11-29 |
-
1983
- 1983-06-16 JP JP58106673A patent/JPS606805A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50149365A (ja) * | 1974-04-24 | 1975-11-29 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2018149582A (ja) * | 2017-03-14 | 2018-09-27 | Ｊｆｅスチール株式会社 | 高強度冷延鋼板のエッジ検出方法及びエッジ検出装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0551843B2 (ja) | 1993-08-03 |
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