JPS605925B2 - 自動焦点検出装置 - Google Patents
自動焦点検出装置Info
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- JPS605925B2 JPS605925B2 JP15273179A JP15273179A JPS605925B2 JP S605925 B2 JPS605925 B2 JP S605925B2 JP 15273179 A JP15273179 A JP 15273179A JP 15273179 A JP15273179 A JP 15273179A JP S605925 B2 JPS605925 B2 JP S605925B2
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- JP
- Japan
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- output signals
- photoelectric element
- element groups
- photoelectric
- shift amount
- Prior art date
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- Focusing (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はカメラ等の光学装置における自動焦V点検出装
置に関する。
置に関する。
従来、自動焦点検出装置は基線長距離計式焦点検出光学
系を有していてミラーを動かして2重像合致方式で合篤
位置を検出するものや、撮影レンズ射出瞳分割によるT
TL(Thro増h TheTakingLens)方
式の焦点検出光学系を有していて撮影レンズ又は光電素
子群を前後に動かして2重像合致方式で合焦位置を検出
するものがある。
系を有していてミラーを動かして2重像合致方式で合篤
位置を検出するものや、撮影レンズ射出瞳分割によるT
TL(Thro増h TheTakingLens)方
式の焦点検出光学系を有していて撮影レンズ又は光電素
子群を前後に動かして2重像合致方式で合焦位置を検出
するものがある。
しかし、これらの自動焦点検出装置では合篤位置を検出
するだけで合篤位置からのズレ量、つまりデフオーカス
量を測定することができず、ラー「撮影レンズ、光電素
子群を動かす必要があった。本発明の主な目的はデフオ
ーカス量を測定することができて撮影レンズ等を動かし
ても動かさなくても合篤位置を検出することができる自
動焦点検出装置を提供することにある。本発明の他の目
的は3次元被写体に対して近い方にピントを合わせるか
遠い方にピントを合わせるかあるいは中間にピントを合
わせるかが自由に選択できる自動焦点検出装置を提供す
ることにある。
するだけで合篤位置からのズレ量、つまりデフオーカス
量を測定することができず、ラー「撮影レンズ、光電素
子群を動かす必要があった。本発明の主な目的はデフオ
ーカス量を測定することができて撮影レンズ等を動かし
ても動かさなくても合篤位置を検出することができる自
動焦点検出装置を提供することにある。本発明の他の目
的は3次元被写体に対して近い方にピントを合わせるか
遠い方にピントを合わせるかあるいは中間にピントを合
わせるかが自由に選択できる自動焦点検出装置を提供す
ることにある。
以下本発明について実施例をあげて図面を参照しながら
説明する。
説明する。
第1図はカメラにおける撮影レンズ射出瞳分割によるT
TL方式焦点検出光学系の一例を示す。
TL方式焦点検出光学系の一例を示す。
コンデンサーレンズ11、微小なしンズ群112よりな
る瞳分割光学系により撮影レンズ13の射出瞳14が分
割されて射出瞳14の一部14A,14Bを通過する撮
影レンズ13の結像作用光線がA群の微小な光電素子A
,〜AnとB群の微小な光電素子B〜Bnに対応して入
射する。これらの光電素子はA,とB,、A2とB2、
……・・・AnとBnがそれぞれ対になっており、この
対になって2つの光電素子にはピント検出面の同一場所
に入射する光線のうち射出瞳14の一部14A,148
を通過する結像作用光線が対応して入射する。第2図は
撮影レンズ射出瞳分割によるTTL方式焦点検出光学系
の他の例を示す。この例では射出瞳14の一部14Aを
通過した結像作用光線がハーフミラー15、プリズム1
6、結像レンズ17を通って光電素子A,〜Anに入射
し、射出瞳14の一部14Bを通過した結像作用光線が
ハーフミラー15で反射されてプリズム18、結像レン
ズ19を通って光電素子B〜Bnに入射する。
る瞳分割光学系により撮影レンズ13の射出瞳14が分
割されて射出瞳14の一部14A,14Bを通過する撮
影レンズ13の結像作用光線がA群の微小な光電素子A
,〜AnとB群の微小な光電素子B〜Bnに対応して入
射する。これらの光電素子はA,とB,、A2とB2、
……・・・AnとBnがそれぞれ対になっており、この
対になって2つの光電素子にはピント検出面の同一場所
に入射する光線のうち射出瞳14の一部14A,148
を通過する結像作用光線が対応して入射する。第2図は
撮影レンズ射出瞳分割によるTTL方式焦点検出光学系
の他の例を示す。この例では射出瞳14の一部14Aを
通過した結像作用光線がハーフミラー15、プリズム1
6、結像レンズ17を通って光電素子A,〜Anに入射
し、射出瞳14の一部14Bを通過した結像作用光線が
ハーフミラー15で反射されてプリズム18、結像レン
ズ19を通って光電素子B〜Bnに入射する。
第3図は基線長距離計式焦点検出光学系の一例を示す。
光電素子A,〜Anは被写体からの光線がミラー20、
レンズ21、プリズム22を介して入射し、光電素子B
〜Bnは被写体からの光線がミラー23、レンズ24、
プリズム22を介して入射する。光電素子A,〜An,
B,〜Bnはホトダィオードアレイ「CCD,BBD等
が用いられる。
レンズ21、プリズム22を介して入射し、光電素子B
〜Bnは被写体からの光線がミラー23、レンズ24、
プリズム22を介して入射する。光電素子A,〜An,
B,〜Bnはホトダィオードアレイ「CCD,BBD等
が用いられる。
各光電素子A,〜An,B,〜Bnの出力により形成さ
れるパターン■,■の位相ズレi′が0になった2重像
合致時が合焦である。
れるパターン■,■の位相ズレi′が0になった2重像
合致時が合焦である。
今、焦点がある位置にあってパターン■,■が第4図の
ようになったとすると、パターン■,■の位相ズレi′
を検出すればそれよりデフオーカス量eを知ることがで
きる。i′‘ま2次元(平面)被写体の場合には第4図
aのように1つの値しかとらないが、3次元(立体)被
写体の場合には第4図bのように複数の値し,j2′を
とる。丁とeの関係はTTL方式焦点検出光学系ではe
は上コjXF(D=手28FXハとなる。
ようになったとすると、パターン■,■の位相ズレi′
を検出すればそれよりデフオーカス量eを知ることがで
きる。i′‘ま2次元(平面)被写体の場合には第4図
aのように1つの値しかとらないが、3次元(立体)被
写体の場合には第4図bのように複数の値し,j2′を
とる。丁とeの関係はTTL方式焦点検出光学系ではe
は上コjXF(D=手28FXハとなる。
28F
但し「 Fは側距F値であり、第5図のようにDは洩り
距射出瞳有効径、ナは撮影レンズ13の焦点距離「 2
8Fは合篤位置から射出瞳14A,14Bを見た角度で
ある。
距射出瞳有効径、ナは撮影レンズ13の焦点距離「 2
8Fは合篤位置から射出瞳14A,14Bを見た角度で
ある。
デフオーカス量eは合焦面Pからピント検出面PDまで
の距離であり第5図のように側距F値モードの切襖によ
りFがF,からF2舵っ場歌綱犯化静側術正してi‘と
eとの関係を一定にする必要がある。
の距離であり第5図のように側距F値モードの切襖によ
りFがF,からF2舵っ場歌綱犯化静側術正してi‘と
eとの関係を一定にする必要がある。
又基線長距離計式焦点光学系では基線長をLとすればe
戊j′ノLとなる。焦点が任意の位置にある時に光電素
子群A,〜An,B,〜Bnの出力より丁を求めるには
A群の光電素子A,〜AnとB群の光電素子B,〜Bn
の出力a,〜an,q〜bnを一組のメモリに数列とし
て各々記憶し、その一方の数列に対して他方の数列をシ
フトしてそれらの相関度を検定すればよい。
戊j′ノLとなる。焦点が任意の位置にある時に光電素
子群A,〜An,B,〜Bnの出力より丁を求めるには
A群の光電素子A,〜AnとB群の光電素子B,〜Bn
の出力a,〜an,q〜bnを一組のメモリに数列とし
て各々記憶し、その一方の数列に対して他方の数列をシ
フトしてそれらの相関度を検定すればよい。
そしてこれらの相関度を検定するには演算式Yィ=2(
ai−bi)q又はY。=2{(ai−bi+,)p−
(a:十,一bi)q}を使用することができる。但し
P=1、2、3・・・・・・…であり、Pが奇数の時に
はYィ=2iai−bilq又はY。=2{!ai−b
i十,lp−!ai+,一bilp}とする。第4図に
示す光電素子群A,〜An,B,〜Bnの出力の相関度
を上記演算式で演算した結果Yィ,Yロを第6図に示す
。第6図a,bは2次元被写体の場合〔第4図a〕につ
いての演算結果を示し、第6図c,dは3次元被写体の
場合〔第4図b〕についての演算結果を示す。3次元被
写体の場合被写体の遠近の構成に伴なし、i′が複数個
発生するが、演算結果Yイによるとそれらの全てを検出
でき、演算結果Yロによると被写体遠近分布の比率に応
じてその中間位置を検出できる。
ai−bi)q又はY。=2{(ai−bi+,)p−
(a:十,一bi)q}を使用することができる。但し
P=1、2、3・・・・・・…であり、Pが奇数の時に
はYィ=2iai−bilq又はY。=2{!ai−b
i十,lp−!ai+,一bilp}とする。第4図に
示す光電素子群A,〜An,B,〜Bnの出力の相関度
を上記演算式で演算した結果Yィ,Yロを第6図に示す
。第6図a,bは2次元被写体の場合〔第4図a〕につ
いての演算結果を示し、第6図c,dは3次元被写体の
場合〔第4図b〕についての演算結果を示す。3次元被
写体の場合被写体の遠近の構成に伴なし、i′が複数個
発生するが、演算結果Yイによるとそれらの全てを検出
でき、演算結果Yロによると被写体遠近分布の比率に応
じてその中間位置を検出できる。
第7図は本発明の一実施例における電気回路を示す。
この実施例では第1図の焦点検出光学系が用いられ、光
電素子群A,〜An,B,〜BnはCCD25により構
成されている。
電素子群A,〜An,B,〜BnはCCD25により構
成されている。
CCD25はコントロール回路26により駆動され光電
素子群A,〜An,B〜Bnに相当するホトセンサー群
27で各入射光を光電変換して積分し並列にシフトレジ
スタ28に転送して直列に出力する。CCD25の出力
信号a,〜an,q〜bnはA/D変換器29によりデ
ィジタル信号に変換されてメモリ30,31に記憶され
る。この場合メモリ30にはA群の信号a,〜anが記
憶され、同時にメモリ31にB群の信号b,〜bnが記
憶される。メモリ30の出力信号はメモリ32に転送さ
れ、さらにメモリ33に転送される。メモリ31の出力
信号はシフト回路34でメモリ30の出力信号よりシフ
トされてメモリ35に転送され、さらにメモリ36に転
送される。メモリ30〜33,35,36は信号を同期
して転送し、メモリ32,33,35,36は1ワード
構成となっている。従ってメモリ33内の信号がaiで
あればメモリ32の内容はai、.となり、メモリ35
,36の内容はbM‐j,bi−jとなる。ここにiは
シフト回路34のシフト量である。メモリ33,36の
出力信号は差動回路37で差がとられ、その出力信号が
累乗回路38でq奏されて積算回路39で積算されるこ
とによってYィ=Z(ai−bi−j)qなる演算が行
われる。この演算は各シフト量jについてくり返して行
なわれ、コントロール回路26はシフト量jを順次に変
化させて行く。ピーク検出回路40は積算回路39の出
力信号のピーク値近傍の第6図aのような値Yj(mi
n)‐,,Yj(min),Yi(min)+・とこれ
らに対応するシフト量j(min)‐・’1(miの’
1(min)十1を検出する。一方、メモリ33,35
の出力信号は差動回路41で差がとられ、その出力が累
乗回路42でP秦される。又メモリ32,36の出力信
号は差動回路43で差がとられ、その出力が叢勤回路4
4でP案されて差動回路45で累乗回路42の出力との
差がとられる。そしてこの差動回路45の出力が積算回
路46で積算されY。=2{ai−bM−j)p−(a
i十,−bi−j)p}なる演算がなされる。この演算
は各シフト量jについてくり返して行なわれる。ゼロク
ロス検出回路47は積算回路46の出力信号のゼロ近傍
の第6図cのような値Yj,’,Yj2′とこれらに対
応するシフト量jロ,,iロ2を検出する。i′演算回
路48はピーク値検出回路40の出力i(mi■−・,
Yi(mln)−・’1(min)’Yi(皿in),
1(min)川 Yi(min)+・に対してはこれら
より近似2次曲線Y=Cj2十Dj+Eを求めてそのピ
ーク値Yィi′とそれに対応するj′の値i′イ(=−
裏)を算出しセ。クロ検眼路47の出力jロ,,Yj,
′,jロ2,Yj2′に対してはこれらを直線近似して
i。′=i。・−者羊毒害×Yj,「を算出する。i′
ィは3次元被写体に対して複数の値をとるが、遠方の被
写体になるに従ってL’>j2′>・…・〇…>iN「
という具合にj′イが小さい値をとるようにすると、j
′ィの小さい方又は大きい方を選択して被写体の遠、近
を優先させて合焦位置を検出することが可能となる。
素子群A,〜An,B〜Bnに相当するホトセンサー群
27で各入射光を光電変換して積分し並列にシフトレジ
スタ28に転送して直列に出力する。CCD25の出力
信号a,〜an,q〜bnはA/D変換器29によりデ
ィジタル信号に変換されてメモリ30,31に記憶され
る。この場合メモリ30にはA群の信号a,〜anが記
憶され、同時にメモリ31にB群の信号b,〜bnが記
憶される。メモリ30の出力信号はメモリ32に転送さ
れ、さらにメモリ33に転送される。メモリ31の出力
信号はシフト回路34でメモリ30の出力信号よりシフ
トされてメモリ35に転送され、さらにメモリ36に転
送される。メモリ30〜33,35,36は信号を同期
して転送し、メモリ32,33,35,36は1ワード
構成となっている。従ってメモリ33内の信号がaiで
あればメモリ32の内容はai、.となり、メモリ35
,36の内容はbM‐j,bi−jとなる。ここにiは
シフト回路34のシフト量である。メモリ33,36の
出力信号は差動回路37で差がとられ、その出力信号が
累乗回路38でq奏されて積算回路39で積算されるこ
とによってYィ=Z(ai−bi−j)qなる演算が行
われる。この演算は各シフト量jについてくり返して行
なわれ、コントロール回路26はシフト量jを順次に変
化させて行く。ピーク検出回路40は積算回路39の出
力信号のピーク値近傍の第6図aのような値Yj(mi
n)‐,,Yj(min),Yi(min)+・とこれ
らに対応するシフト量j(min)‐・’1(miの’
1(min)十1を検出する。一方、メモリ33,35
の出力信号は差動回路41で差がとられ、その出力が累
乗回路42でP秦される。又メモリ32,36の出力信
号は差動回路43で差がとられ、その出力が叢勤回路4
4でP案されて差動回路45で累乗回路42の出力との
差がとられる。そしてこの差動回路45の出力が積算回
路46で積算されY。=2{ai−bM−j)p−(a
i十,−bi−j)p}なる演算がなされる。この演算
は各シフト量jについてくり返して行なわれる。ゼロク
ロス検出回路47は積算回路46の出力信号のゼロ近傍
の第6図cのような値Yj,’,Yj2′とこれらに対
応するシフト量jロ,,iロ2を検出する。i′演算回
路48はピーク値検出回路40の出力i(mi■−・,
Yi(mln)−・’1(min)’Yi(皿in),
1(min)川 Yi(min)+・に対してはこれら
より近似2次曲線Y=Cj2十Dj+Eを求めてそのピ
ーク値Yィi′とそれに対応するj′の値i′イ(=−
裏)を算出しセ。クロ検眼路47の出力jロ,,Yj,
′,jロ2,Yj2′に対してはこれらを直線近似して
i。′=i。・−者羊毒害×Yj,「を算出する。i′
ィは3次元被写体に対して複数の値をとるが、遠方の被
写体になるに従ってL’>j2′>・…・〇…>iN「
という具合にj′イが小さい値をとるようにすると、j
′ィの小さい方又は大きい方を選択して被写体の遠、近
を優先させて合焦位置を検出することが可能となる。
またYィj′の値の最小値をコントロール回路26で選
択することにより上記相関度が最も大きいj′ィを選択
することができる。丁oは3次元被写体に対して遠近被
写体分布の平均位置を示すので、側距モードとして例え
ば遠、近、平均の各重点モードを用意すれば側距モード
設定部49からの各モード設定信号に応じてコントロー
ル回路26でi′を選択することによりいかなる被写体
にも対応することができる。この場合コントロール回路
26は遠重点モード又は近重点モードが設定された時に
はi′ィの4・さし、方の値又は大きい方の値を選択し
、平均重点モードが設定された時にはi′ロを選択し、
通常はY′ィの最小値に対応するi′ィを選択すること
になる。ピーク検出回路40でピーク検出を行う時にシ
フト回路34で信号b,〜bnをシフトする方向は信号
b,〜bnを1回シフトさせることにより積算回路39
の出力Yイの傾きが判るので、コントロール回路26で
そにもとづいてシフト方向をシフト量が少なくなるよう
に決定することができる。但し3次元被写体の時は第6
図cのようにYイのピーク値が1つにならないので、シ
フトを全量行う必要があるゼロクロス検出回路47でゼ
ロクロス検出を行う時は信号b,〜bnをシフトしなく
ても(j=0でも)Yロの正負によりコントロール回路
26でシフト方向をシフト量が少なくなるように決定す
ることができる。2回目以後の1回目と違ったレンズ位
置での側距時は撮影レンズを1回目の頚山距で合焦位置
へ移動させる限り必要なシフト量i′は前回のシフト量
より大きくはならないので、最大シフト量をコントロー
ル回路26で決めることができる。
択することにより上記相関度が最も大きいj′ィを選択
することができる。丁oは3次元被写体に対して遠近被
写体分布の平均位置を示すので、側距モードとして例え
ば遠、近、平均の各重点モードを用意すれば側距モード
設定部49からの各モード設定信号に応じてコントロー
ル回路26でi′を選択することによりいかなる被写体
にも対応することができる。この場合コントロール回路
26は遠重点モード又は近重点モードが設定された時に
はi′ィの4・さし、方の値又は大きい方の値を選択し
、平均重点モードが設定された時にはi′ロを選択し、
通常はY′ィの最小値に対応するi′ィを選択すること
になる。ピーク検出回路40でピーク検出を行う時にシ
フト回路34で信号b,〜bnをシフトする方向は信号
b,〜bnを1回シフトさせることにより積算回路39
の出力Yイの傾きが判るので、コントロール回路26で
そにもとづいてシフト方向をシフト量が少なくなるよう
に決定することができる。但し3次元被写体の時は第6
図cのようにYイのピーク値が1つにならないので、シ
フトを全量行う必要があるゼロクロス検出回路47でゼ
ロクロス検出を行う時は信号b,〜bnをシフトしなく
ても(j=0でも)Yロの正負によりコントロール回路
26でシフト方向をシフト量が少なくなるように決定す
ることができる。2回目以後の1回目と違ったレンズ位
置での側距時は撮影レンズを1回目の頚山距で合焦位置
へ移動させる限り必要なシフト量i′は前回のシフト量
より大きくはならないので、最大シフト量をコントロー
ル回路26で決めることができる。
このようにシフト方向、シフト量を決定することにより
演算速度を上げることができる。上記演算の範囲ORは
第8図のように信号b.〜bnが1−n≦i≦k−1の
範囲でシフトされて信号ak〜a,に相対したものと信
号ak〜alとになっている。
演算速度を上げることができる。上記演算の範囲ORは
第8図のように信号b.〜bnが1−n≦i≦k−1の
範囲でシフトされて信号ak〜a,に相対したものと信
号ak〜alとになっている。
シフト量jの最大値は、使用レンズの最大繰り出し量に
対応して決められ、通常l 1−nl=lk−1lであ
る。第9図はコントロール回路26から得られるデフオ
ーカス信号Vと撮影レンズのデフオーカス量eと関係を
示す。
対応して決められ、通常l 1−nl=lk−1lであ
る。第9図はコントロール回路26から得られるデフオ
ーカス信号Vと撮影レンズのデフオーカス量eと関係を
示す。
又第10図はゼロクロス検出動作を示すフローチャート
である。
である。
信号b,〜bnのシフトは2進分類法(逐次比較法)で
行ない、最大シフト量肌axは仇axは撮影レンズ最大
線出し量であって、演算範囲が第8図のようになってい
ると共にiとYロとの関係が第6図bのようになってい
るので、一(1一n)=k−1=J=jmax/2≦2
Nより必要最少限に決定する。まず積算回路46の出力
Yjが0であれば合篤位置にあるからj′=0とする。
Yjが0でなければパラメータ1をリセットしYjの正
、負によりシフトの方向及び量を決定してシフトを行な
う。そしてYj=0になればj=i′であるからシフト
を終了する。Yi=0にならなければシフト量をインク
リメントして再び上記動作を行なう。シフト量が最大値
に達すると、Yjの正、負に応じて積算回路46の出力
信号のゼロ近傍の値Yj2′又はYjl′とシフト量i
ロ,,1ロ2よりj′=j。
行ない、最大シフト量肌axは仇axは撮影レンズ最大
線出し量であって、演算範囲が第8図のようになってい
ると共にiとYロとの関係が第6図bのようになってい
るので、一(1一n)=k−1=J=jmax/2≦2
Nより必要最少限に決定する。まず積算回路46の出力
Yjが0であれば合篤位置にあるからj′=0とする。
Yjが0でなければパラメータ1をリセットしYjの正
、負によりシフトの方向及び量を決定してシフトを行な
う。そしてYj=0になればj=i′であるからシフト
を終了する。Yi=0にならなければシフト量をインク
リメントして再び上記動作を行なう。シフト量が最大値
に達すると、Yjの正、負に応じて積算回路46の出力
信号のゼロ近傍の値Yj2′又はYjl′とシフト量i
ロ,,1ロ2よりj′=j。
・−も芋三…寺書XYj2′なる演算でi′を求める。
ここにYj,′,Yj2′は、ゼロ近傍で最も近い値で
ありiロ,,1ロ2は、その時のシフト量である。コン
トロール回路26は上記の如く選択したi′とF値モー
ド設定部50からのF値モード信号よりデフオーカス量
eを求めて表示装置51に表示させると共に減算カウン
ター52にセットし、モーター駆動回路53に回転方向
信号及び速度信号を与えてモーター54を回転させ撮影
レンズ13を移動させる。
ありiロ,,1ロ2は、その時のシフト量である。コン
トロール回路26は上記の如く選択したi′とF値モー
ド設定部50からのF値モード信号よりデフオーカス量
eを求めて表示装置51に表示させると共に減算カウン
ター52にセットし、モーター駆動回路53に回転方向
信号及び速度信号を与えてモーター54を回転させ撮影
レンズ13を移動させる。
パルス発生器55は撮影レンズ13の移動量に比例した
数のパルスを発生し、このパルスにより減算カウンター
52が減算される。減算カウンター52は0になると、
モーター駆動回路53に停止信号を送ってモーター54
を停止させ、これにより撮影レンズが合篤位置で停止す
る。F値モード設定部50からのF値モード信号により
コントロール回路26がデフオーカス信号を補正し、(
又はF値モード信号によりパルス発生器55の周期が制
御されて)i′とeの関係がF値モードの切換にかかわ
らず一定に制御される。コントロール回路26はピント
合わせ中には警告装置56に警告表示を行なわせる。又
メモリ36の出力信号が積算回路57で積算されて除算
回路58で信号数で除算されることにより2bi/iな
る演算が行なわれて被写体の明るさが測定される。コン
トロール回路26は除算回路58の出力信号によりCC
D25の積分時間を制御すると共に自動露出回路5に側
光信号を与えて露出を演算させ、その出力により露出制
御を行う。以上のように本発明によれば2組の光電素子
群の出力信号を相対的にシフトしてその相関度とシフト
量よりデフオーカス量を得るようにしたので、撮影レン
ズ等を動かしても動かさなくても合様位置を検出するこ
とができる。
数のパルスを発生し、このパルスにより減算カウンター
52が減算される。減算カウンター52は0になると、
モーター駆動回路53に停止信号を送ってモーター54
を停止させ、これにより撮影レンズが合篤位置で停止す
る。F値モード設定部50からのF値モード信号により
コントロール回路26がデフオーカス信号を補正し、(
又はF値モード信号によりパルス発生器55の周期が制
御されて)i′とeの関係がF値モードの切換にかかわ
らず一定に制御される。コントロール回路26はピント
合わせ中には警告装置56に警告表示を行なわせる。又
メモリ36の出力信号が積算回路57で積算されて除算
回路58で信号数で除算されることにより2bi/iな
る演算が行なわれて被写体の明るさが測定される。コン
トロール回路26は除算回路58の出力信号によりCC
D25の積分時間を制御すると共に自動露出回路5に側
光信号を与えて露出を演算させ、その出力により露出制
御を行う。以上のように本発明によれば2組の光電素子
群の出力信号を相対的にシフトしてその相関度とシフト
量よりデフオーカス量を得るようにしたので、撮影レン
ズ等を動かしても動かさなくても合様位置を検出するこ
とができる。
さらに相関度の演算は第1組の隣合う1対の光電素子の
出力信号とこれに対応する第2組の隣合う1対の光電素
子の出力信号との組合わせ毎に対応しない1対ずつの光
電素子の出力信号の各差分を累乗して差をとりこの差を
積算して各シフト量毎の積算値のうちゼロの前後各1つ
の値を検出しこれらの間で積分値対シフト量の特性曲線
を直線近似して積分値がゼロになる点に対応するシフト
量を算出する方式で行なえば被写体遠近分布の比率に応
じてその中間位置を検出でき、又上記相関度の演算は各
対応する信号の差分を累乗して積算し各シフト量毎の積
算値のうちのピークに対応するシフト量を検出する方式
で行なえば3次元被写体の遠近の構成に伴なし、複数の
合篤位置を検出することができてその中の1つをモード
設定信号に応じて選択することにより3次元被写体に対
して近い方又は遠い方にピントを合わせることが可能に
なるから、上記両方式を併用して各合篤位置をモード設
定信号に応じて選択して使用すれば各種の被写体に対応
してピント合わせを行うことが可能となる。
出力信号とこれに対応する第2組の隣合う1対の光電素
子の出力信号との組合わせ毎に対応しない1対ずつの光
電素子の出力信号の各差分を累乗して差をとりこの差を
積算して各シフト量毎の積算値のうちゼロの前後各1つ
の値を検出しこれらの間で積分値対シフト量の特性曲線
を直線近似して積分値がゼロになる点に対応するシフト
量を算出する方式で行なえば被写体遠近分布の比率に応
じてその中間位置を検出でき、又上記相関度の演算は各
対応する信号の差分を累乗して積算し各シフト量毎の積
算値のうちのピークに対応するシフト量を検出する方式
で行なえば3次元被写体の遠近の構成に伴なし、複数の
合篤位置を検出することができてその中の1つをモード
設定信号に応じて選択することにより3次元被写体に対
して近い方又は遠い方にピントを合わせることが可能に
なるから、上記両方式を併用して各合篤位置をモード設
定信号に応じて選択して使用すれば各種の被写体に対応
してピント合わせを行うことが可能となる。
第1図〜第3図は焦点検出光学系の各例を示す正面図、
第4図〜第6図は本発明を説明するための図、第7図は
本発明の一実施例における電気回路を示すブロック図、
第8図は同電気回路の演算範囲を示す図、第9図、第1
0図は本発明を説明するための図である。 25・・…・CCD、26・・・・・,コントロール回
路、23……AノD変換器、30〜33,35,36…
…メモリ、34……シフト回路、37,41,43,4
5・・…・差動回路、38,42,44・・…・累乗回
路、39,46・・・・・・積算回路、40・・・・・
・ピーク検出回路、47・・…・ゼロクロス検出回路、
48…・・・i′演算回路。 希イ図 俗2図 稀6図 稀4図 稀5図 俗?図 行きの 図 袴8図 行う7 図 有毒〆0図
第4図〜第6図は本発明を説明するための図、第7図は
本発明の一実施例における電気回路を示すブロック図、
第8図は同電気回路の演算範囲を示す図、第9図、第1
0図は本発明を説明するための図である。 25・・…・CCD、26・・・・・,コントロール回
路、23……AノD変換器、30〜33,35,36…
…メモリ、34……シフト回路、37,41,43,4
5・・…・差動回路、38,42,44・・…・累乗回
路、39,46・・・・・・積算回路、40・・・・・
・ピーク検出回路、47・・…・ゼロクロス検出回路、
48…・・・i′演算回路。 希イ図 俗2図 稀6図 稀4図 稀5図 俗?図 行きの 図 袴8図 行う7 図 有毒〆0図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 被写体像を分割して検出する複数組の光電素子群を
有しこの複数組の光電素子群の出力信号より合焦位置を
検出する自動焦点検出装置において、前記光電素子群の
うちの第1組の光電素子群の出力信号を第2組の光電素
子群の出力信号に対して相対的にシフトする手段と、こ
の手段により相対的にシフトされた第1組及び第2組の
光電素子群の出力信号について第1組の隣合う1対の光
電素子の出力信号とこれに対応する第2組の隣合う1対
の光電素子の出力信号と組合わせ毎に対応しない1対ず
つの光電素子の出力信号の各差分を累乗して差をとりこ
の差を積算する手段と、この手段からの各シフト量毎の
積算値のうちゼロの前後各1つの値を検出しこれらの間
で積分値対シフト量の特性曲線を直線近似して積分値が
ゼロになる点に対応するシフト量を算出することによっ
てデフオーカス量を検出する手段とを備えた自動焦点検
出装置。 2 被写体像を分割して検出する複数組の光電素子群を
有しこの複数組の光電素子群の出力信号より合焦位置を
検出する自動焦点検出装置において、前記光電素子群の
うちの第1組の光電素子群の出力信号を第2組の光電素
子群の出力信号に対して相対的にシフトする第1の手段
と、この第1の手段により相対的にシフトされた第1組
及び第2組の光電素子群の出力信号について対応する1
対ずつの光電素子の出力信号の差分を累乗して積算する
第2の手段と、この第2の手段からの各シフト量毎の積
算値のうちのピークに対応するシフト量を検出すること
によってデフオーカス量を検出する第3の手段と、前記
第1の手段により相対的にシフトされた第1組及び第2
組の光電素子群の出力信号について第1組の隣合う1対
の光電素子の出力信号とこれに対応する第2組の隣合う
1対の光電素子の出力信号との組合わせ毎に対応しない
1対ずつの光電素子の出力信号の各差分を累乗して差を
とりこの差を積算する第4の手段と、この第4の手段か
らの各シフト量毎の積算値のうちのゼロの前後各1つの
値を検出しこれらの間で積分値対シフト量の特性曲線を
直線近似して積分値がゼロになる点に対応するシフト量
を算出することによってデフオーカス量を検出する第5
の手段と、この第5の手段と前記第3の手段からのデフ
オーカス量検出信号をモード設定信号に応じて選択する
第6の手段とを備えた自動焦点検出装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15273179A JPS605925B2 (ja) | 1979-11-26 | 1979-11-26 | 自動焦点検出装置 |
US06/201,528 US4387975A (en) | 1979-10-31 | 1980-10-28 | Automatic focusing position detection apparatus |
DE3050920A DE3050920C2 (de) | 1979-10-31 | 1980-10-31 | Einrichtung zur automatischen Scharfeinstellung eines optischen Systems auf einen Gegenstand |
DE3041098A DE3041098C2 (de) | 1979-10-31 | 1980-10-31 | Einrichtung zur Bestimmung der Scharfeinstellung eines optischen Systems auf einen Gegenstand |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15273179A JPS605925B2 (ja) | 1979-11-26 | 1979-11-26 | 自動焦点検出装置 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15259484A Division JPH0238933B2 (ja) | 1984-07-23 | 1984-07-23 | Jidoshotenkenshutsusochi |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5675607A JPS5675607A (en) | 1981-06-22 |
JPS605925B2 true JPS605925B2 (ja) | 1985-02-14 |
Family
ID=15546920
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15273179A Expired JPS605925B2 (ja) | 1979-10-31 | 1979-11-26 | 自動焦点検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS605925B2 (ja) |
Families Citing this family (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5855909A (ja) * | 1981-09-29 | 1983-04-02 | Takeomi Suzuki | 光学像検出装置 |
JPS5888710A (ja) * | 1981-12-21 | 1983-05-26 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | 自動合焦用撮影レンズ構体 |
JPS58135411A (ja) * | 1982-02-05 | 1983-08-12 | Canon Inc | 測距装置 |
JPS59170807A (ja) * | 1982-12-28 | 1984-09-27 | Kyocera Corp | レンズ駆動モ−タ制御装置 |
JPS59140426A (ja) * | 1983-02-01 | 1984-08-11 | Kyocera Corp | レンズ交換自動焦点調節カメラのモ−タ制御装置 |
JPS59155807A (ja) * | 1983-02-24 | 1984-09-05 | Olympus Optical Co Ltd | 自動焦点検出装置 |
JPS59177509A (ja) * | 1983-03-29 | 1984-10-08 | Kyocera Corp | レンズの無限遠側移動限界における自動焦点制御装置 |
JPS59177510A (ja) * | 1983-03-29 | 1984-10-08 | Kyocera Corp | レンズの移動限界における表示をする自動焦点制御装置 |
JPH0642015B2 (ja) * | 1983-05-04 | 1994-06-01 | 京セラ株式会社 | レンズ交換式カメラの自動焦点制御装置 |
JPS6036906A (ja) * | 1983-08-09 | 1985-02-26 | Konishiroku Photo Ind Co Ltd | 光電式距離測定装置 |
US4888609A (en) * | 1985-01-17 | 1989-12-19 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | Automatic focus adjusting apparatus |
JPH0772762B2 (ja) * | 1985-10-30 | 1995-08-02 | ミノルタ株式会社 | 焦点検出装置 |
JPS62150310A (ja) * | 1985-12-25 | 1987-07-04 | Minolta Camera Co Ltd | 焦点検出装置 |
US5168299A (en) * | 1986-05-16 | 1992-12-01 | Minolta Camera Co., Ltd. | Camera with a multi-zone focus detecting device |
US4910548A (en) * | 1986-05-16 | 1990-03-20 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | Camera with a multi-zone focus detecting device |
JPS63246730A (ja) * | 1986-05-16 | 1988-10-13 | Minolta Camera Co Ltd | 焦点検出装置 |
US5218395A (en) * | 1986-05-16 | 1993-06-08 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | Camera with a multi-zone focus detecting device |
JPH07104482B2 (ja) * | 1988-03-08 | 1995-11-13 | 富士写真フイルム株式会社 | 自動焦点調整装置 |
US5381206A (en) * | 1991-07-22 | 1995-01-10 | Canon Kabushiki Kaisha | Focus detecting device |
JP6221362B2 (ja) * | 2013-06-06 | 2017-11-01 | リコーイメージング株式会社 | 自動焦点検出方法及び自動焦点検出装置 |
-
1979
- 1979-11-26 JP JP15273179A patent/JPS605925B2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5675607A (en) | 1981-06-22 |
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