JPS6058778A - 固体撮像装置 - Google Patents
固体撮像装置Info
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- JPS6058778A JPS6058778A JP58165234A JP16523483A JPS6058778A JP S6058778 A JPS6058778 A JP S6058778A JP 58165234 A JP58165234 A JP 58165234A JP 16523483 A JP16523483 A JP 16523483A JP S6058778 A JPS6058778 A JP S6058778A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
- H04N25/76—Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔技術分野〕
この発明は、静電誘導形l・ランジスタを用いた固体撮
像装置に関する。
像装置に関する。
静電誘導形トランジスタ(以下SITという)を光検出
及びスイッチング素子として一つの画素を構成した固体
撮像装置が、特開昭58−105672号に提案されて
いる。
及びスイッチング素子として一つの画素を構成した固体
撮像装置が、特開昭58−105672号に提案されて
いる。
第1図囚は、かかる固体撮像装置の1画素を構成するS
I’T’の断面図であり、第1図(ト))は固体撮像装
置全体の回路構成図である。SITは、第1図(5)に
示すように、ドレインを構成するnシリコン基板1上に
、不純物濃度の低いn−シリコンエピタキシャル層2を
成長させ、このエビタキシャル層2の表面に、熱拡散法
などによりnソース領域3、pケート領域4.4を形成
する。ゲート領域4上には5i02等の絶縁膜5が被着
され、更にその上に被着されたゲート電極6とによりコ
ンデンサ7が形成されている。8は両ゲート電極6.6
に接続されたゲート端子である。9は各セルを構成する
単位SITを分離するために形成された埋込絶縁物など
からなる分離領域である。n−エピタキシャル層2はS
ITのチャネル領域を構成するものであり、ゲート電位
0■であってもチャネル領域はすてに空乏化され、ソー
ス・ドレイン間に電圧が印加されても、ソース・ドレイ
ン間にはN流が流れないようになっている。
I’T’の断面図であり、第1図(ト))は固体撮像装
置全体の回路構成図である。SITは、第1図(5)に
示すように、ドレインを構成するnシリコン基板1上に
、不純物濃度の低いn−シリコンエピタキシャル層2を
成長させ、このエビタキシャル層2の表面に、熱拡散法
などによりnソース領域3、pケート領域4.4を形成
する。ゲート領域4上には5i02等の絶縁膜5が被着
され、更にその上に被着されたゲート電極6とによりコ
ンデンサ7が形成されている。8は両ゲート電極6.6
に接続されたゲート端子である。9は各セルを構成する
単位SITを分離するために形成された埋込絶縁物など
からなる分離領域である。n−エピタキシャル層2はS
ITのチャネル領域を構成するものであり、ゲート電位
0■であってもチャネル領域はすてに空乏化され、ソー
ス・ドレイン間に電圧が印加されても、ソース・ドレイ
ン間にはN流が流れないようになっている。
このような構成のSITにおいて光入力が与えられると
、チャネル領域2内あるいはゲート空乏層内で、正孔−
電子対が生成され、このうち電子は接地されたドレイン
1に流れ去るが、正孔は信号蓄積ゲート領域4に蓄積さ
れ、これに接続され゛たゲートコンデンサ7を充電し、
ゲート電位を△VGだけ変化させる。ここでゲートコン
デンサ7の容量をQoとし、光入力によって発生され、
信号蓄積ゲート領域4に蓄積された電荷をQT、とする
と、△Vc = QL/CGとなる。ある蓄積時間が経
過した後、ゲート端子8にゲート読出しパルスVφGが
与えられると、ゲーI・電位は■φGにΔVGが加わっ
たものと々す、信号蓄積ゲート領域4とソース領域3と
の間の電位は低下して空乏層が減少し、ソース・ドレイ
ン間に光入力に対応したドレイン電流が流れる。このド
レイン電流は、STTの増幅作用のだめ△vGが増幅度
倍されたものとなり、大きなものとなる。なお、SIT
のソースとドレインとを入れ替えても同様の動作をする
ものである。
、チャネル領域2内あるいはゲート空乏層内で、正孔−
電子対が生成され、このうち電子は接地されたドレイン
1に流れ去るが、正孔は信号蓄積ゲート領域4に蓄積さ
れ、これに接続され゛たゲートコンデンサ7を充電し、
ゲート電位を△VGだけ変化させる。ここでゲートコン
デンサ7の容量をQoとし、光入力によって発生され、
信号蓄積ゲート領域4に蓄積された電荷をQT、とする
と、△Vc = QL/CGとなる。ある蓄積時間が経
過した後、ゲート端子8にゲート読出しパルスVφGが
与えられると、ゲーI・電位は■φGにΔVGが加わっ
たものと々す、信号蓄積ゲート領域4とソース領域3と
の間の電位は低下して空乏層が減少し、ソース・ドレイ
ン間に光入力に対応したドレイン電流が流れる。このド
レイン電流は、STTの増幅作用のだめ△vGが増幅度
倍されたものとなり、大きなものとなる。なお、SIT
のソースとドレインとを入れ替えても同様の動作をする
ものである。
第1図(I3)は、上記構成のSITをマトリックス状
に配列して構成した固体撮像装置の回路構成を示すもの
であり、第1図(Qは同じくその動作を説明するだめの
信号波形図である。各5ITIO−11、IQ−12、
・・・・・ ・は上記のようなノーマリ−オフ形のnチ
ャネルSITで、光入力に対する出力ビデオ信号をXY
アドレス方式で読み出すようにしている。各画素を構成
するSITのドレインは接地され、X方向に配列された
各行のSIT群のノースは、それぞれ行ライン11−1
.11−2、・・・・・・に接続され、これらの各行ラ
インはそれぞれ行選択用トランジスタ1.2−1.12
−2 、・・・・・・を介してビデオライン13に共通
に接続されている。またY方向に配列された各列のSI
T群のゲート端子は列ライン14−1.14−2、・・
・・・・・・・に接続されている。ビデオライン13は
負荷抵抗15を経て直流電源16の正端子に接続し、こ
の電源の負端子は接地されている。
に配列して構成した固体撮像装置の回路構成を示すもの
であり、第1図(Qは同じくその動作を説明するだめの
信号波形図である。各5ITIO−11、IQ−12、
・・・・・ ・は上記のようなノーマリ−オフ形のnチ
ャネルSITで、光入力に対する出力ビデオ信号をXY
アドレス方式で読み出すようにしている。各画素を構成
するSITのドレインは接地され、X方向に配列された
各行のSIT群のノースは、それぞれ行ライン11−1
.11−2、・・・・・・に接続され、これらの各行ラ
インはそれぞれ行選択用トランジスタ1.2−1.12
−2 、・・・・・・を介してビデオライン13に共通
に接続されている。またY方向に配列された各列のSI
T群のゲート端子は列ライン14−1.14−2、・・
・・・・・・・に接続されている。ビデオライン13は
負荷抵抗15を経て直流電源16の正端子に接続し、こ
の電源の負端子は接地されている。
次に、かかる構成の固体撮像装置のSITからなる各画
素の出力が読み出される場合の動作について説明する。
素の出力が読み出される場合の動作について説明する。
例えば、行選択パルスφS1により、行ライン11−1
に接続されたトランジスタ12−1がオンとなっている
期間に、ゲート読出しパルスφG1が列ライン14−1
に加えられると、5ITIO−11が選択され、この5
ITIO−11のドレイン電流がビデオライン13を介
して負荷抵抗15を流れ、出力端子に出力電圧Vout
が発生する。上記のように、とのドレイン電流はゲート
電圧の関数であり、ゲート電圧は光入力の関数となるか
ら、暗時の出力電圧からの増加分ΔVou tは光入力
に対応した電圧となる。しかも、この電圧△Voutは
SITの増幅作用により△■Gが増幅度倍された大きな
ものとなる。
に接続されたトランジスタ12−1がオンとなっている
期間に、ゲート読出しパルスφG1が列ライン14−1
に加えられると、5ITIO−11が選択され、この5
ITIO−11のドレイン電流がビデオライン13を介
して負荷抵抗15を流れ、出力端子に出力電圧Vout
が発生する。上記のように、とのドレイン電流はゲート
電圧の関数であり、ゲート電圧は光入力の関数となるか
ら、暗時の出力電圧からの増加分ΔVou tは光入力
に対応した電圧となる。しかも、この電圧△Voutは
SITの増幅作用により△■Gが増幅度倍された大きな
ものとなる。
次に列ライン14−2にゲート読出しパルスφG2を与
えて、5ITIO−12の読出しを行ない、−百分の読
出しが終了したら、トランジスタ12〜2を行選択パル
スφS2でオンとして、次の行のS I T 1.0−
21.10−22を順次読出するように構成されている
。
えて、5ITIO−12の読出しを行ない、−百分の読
出しが終了したら、トランジスタ12〜2を行選択パル
スφS2でオンとして、次の行のS I T 1.0−
21.10−22を順次読出するように構成されている
。
ところで、上記の如き従来の構成の固体撮像装置には、
次のような欠点があることが判明した。
次のような欠点があることが判明した。
すなわち、ゲート領域4にゲート読出しパルス電圧Vφ
Gが加わると、ゲート領域4とドレイン1からなるpn
接合が順バイアスされ、この間に電流が流れる。この時
ゲート領域4に蓄積された正孔は次第に消滅し、それま
でに蓄積された光信号が失われて行く。光信号が見かけ
上完全に失われる時間は、ゲート領域4とドレイン1間
に流れる電流の大きさによって決まり、この電流の大き
さは、ゲート領域4とドレイン1間(以下4cnという
)ノエビタキシャル層2の抵抗に制限されて決捷る。
Gが加わると、ゲート領域4とドレイン1からなるpn
接合が順バイアスされ、この間に電流が流れる。この時
ゲート領域4に蓄積された正孔は次第に消滅し、それま
でに蓄積された光信号が失われて行く。光信号が見かけ
上完全に失われる時間は、ゲート領域4とドレイン1間
に流れる電流の大きさによって決まり、この電流の大き
さは、ゲート領域4とドレイン1間(以下4cnという
)ノエビタキシャル層2の抵抗に制限されて決捷る。
したがって、読出し信号は石GDのエピタキシャル層の
抵抗で決まる傾きをもつ減衰信号となり、特にこれが急
峻々傾きをもつ場合、読出し信号としては望捷しくない
。J3aoを大きくとるなどの方法で、読出し信号を定
常的なレベルに近づけるととはできるが、このことは反
面、ゲート領域4に蓄積された電荷を放電する能力を低
下させることになるだめ、新たな光電荷の蓄積量が制限
され、結果として感度を低下させてしまう。
抵抗で決まる傾きをもつ減衰信号となり、特にこれが急
峻々傾きをもつ場合、読出し信号としては望捷しくない
。J3aoを大きくとるなどの方法で、読出し信号を定
常的なレベルに近づけるととはできるが、このことは反
面、ゲート領域4に蓄積された電荷を放電する能力を低
下させることになるだめ、新たな光電荷の蓄積量が制限
され、結果として感度を低下させてしまう。
したがって、上記構成の固体撮像装置においては、■φ
Gなる電圧の1つの読出しパルスで、良好な読出し信号
を得ることと、高感度を実現することは相反した事象と
々るため、同時に双方を満足させることはできなかった
。
Gなる電圧の1つの読出しパルスで、良好な読出し信号
を得ることと、高感度を実現することは相反した事象と
々るため、同時に双方を満足させることはできなかった
。
また、上記固体撮像装置に用いられるノーマリ−オフ形
のSITを得るためには、ゲート領域の間隔Wgを極め
てせまくする必要がある。しかしこれは製造上困難であ
る。また、ノーマリ−オフ形のSITは特性上電流密度
が小さく、信号電流が微少である。したがって、高感度
の撮像装置を構成することは困難であった。
のSITを得るためには、ゲート領域の間隔Wgを極め
てせまくする必要がある。しかしこれは製造上困難であ
る。また、ノーマリ−オフ形のSITは特性上電流密度
が小さく、信号電流が微少である。したがって、高感度
の撮像装置を構成することは困難であった。
本発明は、SITを画素として用いた固体撮像装置にお
いて、光信号を、光電荷を非破壊のまま読出し、良好な
ビデオ信号を得るようにした高感度の固体撮像装置を提
供することを目的とするものである。
いて、光信号を、光電荷を非破壊のまま読出し、良好な
ビデオ信号を得るようにした高感度の固体撮像装置を提
供することを目的とするものである。
本発明は、チャネル領域の両端に設けられた主電極と、
該チャネル領域を制御するゲーi・コンデンサを備えた
第1ゲート及び第2ゲートとからなる静電誘導形l・ラ
ンジスタを一画素としてマトリックス状に配列し、該ト
ランジスタの一方の主電極は接地し、Y方向に配列され
た各列の前記トランジスタ群の他の主電極はそれぞれ各
列ラインに共通接続し、X方向に配列された各行の前記
トランジスタ群の第1ゲートはそれぞれ各第1行ライン
に、第2ゲートはそれぞれ各第2行ラインに共通接続し
、各第1行ラインには第1ゲートの光照射による蓄積電
荷をそれぞれ一定周期毎にリセットする制御信号を印加
し、各第2行ライン及び各列ラインには画素を選択し光
信号を読み出すだめの制御信号をそれぞれ印加し、短時
間で確実な光電荷のりセットを行ない、また、光電荷を
非破壊の″!f、−1光信号を読出し、高感度の良好な
ビデオ信号を得るようにするものである。
該チャネル領域を制御するゲーi・コンデンサを備えた
第1ゲート及び第2ゲートとからなる静電誘導形l・ラ
ンジスタを一画素としてマトリックス状に配列し、該ト
ランジスタの一方の主電極は接地し、Y方向に配列され
た各列の前記トランジスタ群の他の主電極はそれぞれ各
列ラインに共通接続し、X方向に配列された各行の前記
トランジスタ群の第1ゲートはそれぞれ各第1行ライン
に、第2ゲートはそれぞれ各第2行ラインに共通接続し
、各第1行ラインには第1ゲートの光照射による蓄積電
荷をそれぞれ一定周期毎にリセットする制御信号を印加
し、各第2行ライン及び各列ラインには画素を選択し光
信号を読み出すだめの制御信号をそれぞれ印加し、短時
間で確実な光電荷のりセットを行ない、また、光電荷を
非破壊の″!f、−1光信号を読出し、高感度の良好な
ビデオ信号を得るようにするものである。
以下本発明の一実施例について説明する。第2図(5)
は、本発明の固体撮像装置の一実施例の平面図の一部、
第2図(′B)は、該装置の一画素を構成するSITの
断面図、第2図(qは、全体の回路構成図である。第2
図(I3)において、4′は主電極間すなわちソース3
とドレイ/1の間を流れるドレイン電流を制御する第2
のゲート制御領域で、絶縁膜5を介さずに直接電極が取
付けられ、端子17が引出されており、この端子17は
、第1ゲート制御領域4の電極6から取出された端子1
8とは、共通接続されず、第2図(A)に示すように、
各行ライン毎′に共通に接続されている。これ以外の各
構成要素は、第1図囚に示した従来のものと同一である
が、本発明においては、各画素にはノーマリ−オン形の
SITを用いるため、ゲート領域4.4′間の間隔Wg
は比較的大きく形成することができる。
は、本発明の固体撮像装置の一実施例の平面図の一部、
第2図(′B)は、該装置の一画素を構成するSITの
断面図、第2図(qは、全体の回路構成図である。第2
図(I3)において、4′は主電極間すなわちソース3
とドレイ/1の間を流れるドレイン電流を制御する第2
のゲート制御領域で、絶縁膜5を介さずに直接電極が取
付けられ、端子17が引出されており、この端子17は
、第1ゲート制御領域4の電極6から取出された端子1
8とは、共通接続されず、第2図(A)に示すように、
各行ライン毎′に共通に接続されている。これ以外の各
構成要素は、第1図囚に示した従来のものと同一である
が、本発明においては、各画素にはノーマリ−オン形の
SITを用いるため、ゲート領域4.4′間の間隔Wg
は比較的大きく形成することができる。
第2図(qに示すように、本発明の固体撮像装置は、上
記構成のノーマリ−オン形のS I T 20−11.
20−12、−− ・−2O−In 、20−21.2
0−22、=・=20−mnがマトリックス状に配置さ
れ、XYアドレス方式により光信号が読出されるように
構成されている。
記構成のノーマリ−オン形のS I T 20−11.
20−12、−− ・−2O−In 、20−21.2
0−22、=・=20−mnがマトリックス状に配置さ
れ、XYアドレス方式により光信号が読出されるように
構成されている。
すなわち、各画素を構成するSITのドレインは接地さ
れ、X方向に配列された各行のSIT群の第1ゲートは
、第1行ライン21−1.21−2、・・・・・・・・
・21−mに接続されている。更に、各行のSIT群の
第2ゲートは第2行ライン28−1.28−2 、・・
・・・・・・・28−mに接続されている。また、Y方
向に配列された各列のSIT群のソースは、列ライン2
2−1.22−2、・・・・・・・・・22−n に接
続され、これらの列ラインは、それぞれ列選択用トラン
ジスタ23−1 、23−2、・・・・・・・・・23
−nを介してビデオライン24に共通に接続されている
。ビデオライン24には負荷抵抗25を経てビデオ電圧
Vsが加えられている。
れ、X方向に配列された各行のSIT群の第1ゲートは
、第1行ライン21−1.21−2、・・・・・・・・
・21−mに接続されている。更に、各行のSIT群の
第2ゲートは第2行ライン28−1.28−2 、・・
・・・・・・・28−mに接続されている。また、Y方
向に配列された各列のSIT群のソースは、列ライン2
2−1.22−2、・・・・・・・・・22−n に接
続され、これらの列ラインは、それぞれ列選択用トラン
ジスタ23−1 、23−2、・・・・・・・・・23
−nを介してビデオライン24に共通に接続されている
。ビデオライン24には負荷抵抗25を経てビデオ電圧
Vsが加えられている。
そして、第1行ライン21−1.21−2 、・・・・
・・・・・21−mは、リセットパルス走査回路26に
接続され、それぞれパルス信号φR1,φR2、・・・
・・・・・・φRmが加わるようになっている。第2行
ライン28−1.28−2、・・・・・・・・・・・・
28−mは垂直走査回路29に接続され、それぞれパル
ス信号φv1、φV2、・・・・・・・・・φVmが加
わるようになっている。また、列選択用トランジスタ2
3−1.23−2、・・・・・・・・・23−n の各
ゲユト端子は水平走査回路27に接続され、それぞれパ
ルス信号φH1、φH2、・・・・・・・・・・・φH
nが加わるように構成されている。
・・・・・21−mは、リセットパルス走査回路26に
接続され、それぞれパルス信号φR1,φR2、・・・
・・・・・・φRmが加わるようになっている。第2行
ライン28−1.28−2、・・・・・・・・・・・・
28−mは垂直走査回路29に接続され、それぞれパル
ス信号φv1、φV2、・・・・・・・・・φVmが加
わるようになっている。また、列選択用トランジスタ2
3−1.23−2、・・・・・・・・・23−n の各
ゲユト端子は水平走査回路27に接続され、それぞれパ
ルス信号φH1、φH2、・・・・・・・・・・・φH
nが加わるように構成されている。
次に、第3図に示した波形図に基づいて、リセットパル
ス信号φR1、・・・・・・・・・、垂直走査信号φV
1、・・・・・・・・・、水平走査信号φH1、・・・
・・・・・・を説明する。第1行ラインに加えられるリ
セットパルス信号φR1。
ス信号φR1、・・・・・・・・・、垂直走査信号φV
1、・・・・・・・・・、水平走査信号φH1、・・・
・・・・・・を説明する。第1行ラインに加えられるリ
セットパルス信号φR1。
φR2、・・・・・・・・・は、ゲート蓄積電荷を放電
せしめるための信号で、高レベルの電位■φRは、各画
素のSITの第1ゲート領域4とドレイン1との間に形
成されているpn接合ダイオードDGのビルトイン−ポ
テンシャルVφB以上の電位に設定されている。
せしめるための信号で、高レベルの電位■φRは、各画
素のSITの第1ゲート領域4とドレイン1との間に形
成されているpn接合ダイオードDGのビルトイン−ポ
テンシャルVφB以上の電位に設定されている。
゛、:第2行ラインに加えられる垂直走査パルス信号φ
v1、φV2、・・・・・・・は行ラインを選択し、光
信号を得るための信号で、この信号の低レベルは第1行
ライン21−1.21−2 、・・・・・・・・・にパ
ルスが印加されていない時、各画素のSITをオフさせ
る電位であり、高レベルは同じ状態で、SITをオンさ
せる電位である。列選択用トランジスタのゲート端子に
加えられる水平走査パルス信号φ旧、φH2、・・・・
・・・・・は、列ラインを選択するだめの信号で、低レ
ベルは列選択用トランジスタをオフ、高レベルはオンせ
しめる電位である。
v1、φV2、・・・・・・・は行ラインを選択し、光
信号を得るための信号で、この信号の低レベルは第1行
ライン21−1.21−2 、・・・・・・・・・にパ
ルスが印加されていない時、各画素のSITをオフさせ
る電位であり、高レベルは同じ状態で、SITをオンさ
せる電位である。列選択用トランジスタのゲート端子に
加えられる水平走査パルス信号φ旧、φH2、・・・・
・・・・・は、列ラインを選択するだめの信号で、低レ
ベルは列選択用トランジスタをオフ、高レベルはオンせ
しめる電位である。
第4図(A)は、各画素の動作を説明するための一画素
に対する回路図である。20はノーマリ−オン形のSI
Tで、第2図(r3)に示した構成のもので、ゲート領
域4とドレイン1とは、点線で示したように、pn接合
ダイオード■を形成している。このダイオードDGの電
圧電流特性、すなわち、ゲートドレイン間電圧VGDと
ゲート・ドレイン間電流IGDとの関係は、第4図(T
3)に示すような特性であ電流IGDが流れる。この電
流IGDは電圧VGDにより定まる。
に対する回路図である。20はノーマリ−オン形のSI
Tで、第2図(r3)に示した構成のもので、ゲート領
域4とドレイン1とは、点線で示したように、pn接合
ダイオード■を形成している。このダイオードDGの電
圧電流特性、すなわち、ゲートドレイン間電圧VGDと
ゲート・ドレイン間電流IGDとの関係は、第4図(T
3)に示すような特性であ電流IGDが流れる。この電
流IGDは電圧VGDにより定まる。
次に、第4図囚に示した一画素の動作原理を、第5図に
示した動作波形図に基づいて説明する。
示した動作波形図に基づいて説明する。
時間toにおいて、SITの第1ゲート4の端子18に
電圧VφRのリセットパルス信号φRが印加されたとす
ると、コンデンサ7を介して、第1ゲート4とドレイン
1間のpn接合ダイオード■に順方向電流が流れ、コン
デンサ7は急速に充電されて第1ゲート電位■Glは、
■G1−■φBとなる。次に、時刻t1において、パル
スφRが立下がると、コンデンサ7には電圧(■φR−
VφB)が保たれるため、■Gl−−VφR十VφBと
なる。このとき、ダイオードDGは逆バイアスされるた
め電流IGDは流れない。この後、光照射によって、第
1ゲートのゲートコンデンサ7の接合容量Daに電荷が
蓄積されるわけであるが、時刻h(tt<t2<t3)
における蓄積電荷がQtzであったとすると、第1ゲー
ト電位■G1は、vG1=−VφR+■φB+Qt2/
Cσトカル。jの、1第2ゲートに印加されている垂直
走査パルス信号φVが高電位になると、このSITがオ
ンし、更に列選択トランジスタ23が、水平走査パルス
信号φ■1の高電位によジオンして、その画素が選択さ
れると、ビデオライン24には信号電流Isが流れる。
電圧VφRのリセットパルス信号φRが印加されたとす
ると、コンデンサ7を介して、第1ゲート4とドレイン
1間のpn接合ダイオード■に順方向電流が流れ、コン
デンサ7は急速に充電されて第1ゲート電位■Glは、
■G1−■φBとなる。次に、時刻t1において、パル
スφRが立下がると、コンデンサ7には電圧(■φR−
VφB)が保たれるため、■Gl−−VφR十VφBと
なる。このとき、ダイオードDGは逆バイアスされるた
め電流IGDは流れない。この後、光照射によって、第
1ゲートのゲートコンデンサ7の接合容量Daに電荷が
蓄積されるわけであるが、時刻h(tt<t2<t3)
における蓄積電荷がQtzであったとすると、第1ゲー
ト電位■G1は、vG1=−VφR+■φB+Qt2/
Cσトカル。jの、1第2ゲートに印加されている垂直
走査パルス信号φVが高電位になると、このSITがオ
ンし、更に列選択トランジスタ23が、水平走査パルス
信号φ■1の高電位によジオンして、その画素が選択さ
れると、ビデオライン24には信号電流Isが流れる。
リセットパルス電圧VφRが、同じ状態で光を遮断した
とき、すなわち、第1ゲートのゲート電位がVal−−
VφR+VφBのとき、ピンチオフするように選定され
ていたとすると、時刻t2のときの信号電流は蓄積電荷
Qt2に対応した値ΔIsとなる。
とき、すなわち、第1ゲートのゲート電位がVal−−
VφR+VφBのとき、ピンチオフするように選定され
ていたとすると、時刻t2のときの信号電流は蓄積電荷
Qt2に対応した値ΔIsとなる。
この電流は負荷抵抗25(抵抗値をRr、とする)に電
圧降下△■5−RT、を生じ、ビデオ出力として、Vo
ut=Vs −△Is −Rr、カ得らレル。△■Sハ
Qt2ニヨリ変化するため、入力光量に対応した信号を
読出すことができる。
圧降下△■5−RT、を生じ、ビデオ出力として、Vo
ut=Vs −△Is −Rr、カ得らレル。△■Sハ
Qt2ニヨリ変化するため、入力光量に対応した信号を
読出すことができる。
ところで、第1ゲート4の電位は、時刻t2後も、次に
■φRのリセットパルス電圧が印加される時刻13″!
、で、光照射による電荷が蓄積されるので、上昇する。
■φRのリセットパルス電圧が印加される時刻13″!
、で、光照射による電荷が蓄積されるので、上昇する。
時刻t3の時、蓄積電荷量をQt3とすると、第1ゲー
ト4の電位■G1は、■G1−−■φR十vφB’4.
+ Qt310aとなり、この時刻に■φRのリセント
パルス電圧が印加されると、■G1−vφB 十Qt3
10cとなり、再びダイオードDGは順ノくイアスされ
、順方向電流が流れる。この間に蓄積電荷Qt3は放電
し、パルスの立下がり時にはQt3はクリアされて、再
びVG 1=−−VφR−1−VφBとなり、次のフィ
ールドの電荷蓄積が開始される。
ト4の電位■G1は、■G1−−■φR十vφB’4.
+ Qt310aとなり、この時刻に■φRのリセント
パルス電圧が印加されると、■G1−vφB 十Qt3
10cとなり、再びダイオードDGは順ノくイアスされ
、順方向電流が流れる。この間に蓄積電荷Qt3は放電
し、パルスの立下がり時にはQt3はクリアされて、再
びVG 1=−−VφR−1−VφBとなり、次のフィ
ールドの電荷蓄積が開始される。
以上の説明からもわかるように、第2行ラインに加えら
れる垂直走査パルス信号φVの低電位は、■フィールド
間において光照射による電荷が最大に蓄積される時刻t
3でも、SITをオフにするような低い電位に選定され
なければならない。また、同信号φ■の高電位はSIT
の動作点を決定するものであるから、高感度を得ること
のできる電位に選定されるのが望ましい。更に、画素を
構成するSITの第1ゲート4とドレイン1の間に存在
する接合ダイオードDGの順方向抵抗分は、第1ゲート
に印加されるリセットパルス信号φRのノ(ルス電圧V
φRのパルス幅に対応する時間以内に、第1ゲートに蓄
積された電荷を充分放電しうるように設定されていなけ
ればならない。
れる垂直走査パルス信号φVの低電位は、■フィールド
間において光照射による電荷が最大に蓄積される時刻t
3でも、SITをオフにするような低い電位に選定され
なければならない。また、同信号φ■の高電位はSIT
の動作点を決定するものであるから、高感度を得ること
のできる電位に選定されるのが望ましい。更に、画素を
構成するSITの第1ゲート4とドレイン1の間に存在
する接合ダイオードDGの順方向抵抗分は、第1ゲート
に印加されるリセットパルス信号φRのノ(ルス電圧V
φRのパルス幅に対応する時間以内に、第1ゲートに蓄
積された電荷を充分放電しうるように設定されていなけ
ればならない。
上記動作原理から、第2図(0)に示した固体撮像装置
の動作を説明する。垂直走査回路29の動作により、第
2行ラインに印加される垂直走査パルス信号φVlが高
レベルになると、第2行ライン路=1に接続されたSI
T群が選択され、水平走査回路27より出力される水平
走査パルス信号φ旧、φH2、・・・・・・・・ φH
nにより、水平選択トランジスタ23−1.23−2
、・・・・・・・・23−nが順次オンすると、S I
T 20−11.20−12 、・・・・・・・・・
2O−Inの光信号が、順次ビデオライン24より出力
される。この行ラインに接続された全てのSITの光信
号が読出された後、リセットパルス走査回路26から出
力されるリセットパルス信号φR1によって、この行ラ
イ/に接続されている各SITの蓄積電荷はリセ7 t
・される。
の動作を説明する。垂直走査回路29の動作により、第
2行ラインに印加される垂直走査パルス信号φVlが高
レベルになると、第2行ライン路=1に接続されたSI
T群が選択され、水平走査回路27より出力される水平
走査パルス信号φ旧、φH2、・・・・・・・・ φH
nにより、水平選択トランジスタ23−1.23−2
、・・・・・・・・23−nが順次オンすると、S I
T 20−11.20−12 、・・・・・・・・・
2O−Inの光信号が、順次ビデオライン24より出力
される。この行ラインに接続された全てのSITの光信
号が読出された後、リセットパルス走査回路26から出
力されるリセットパルス信号φR1によって、この行ラ
イ/に接続されている各SITの蓄積電荷はリセ7 t
・される。
次いで、第2行ラインに印加される垂直走査パルス信号
φv2が高レベルになると、第2行ライン28−2 に
接続されたSIT群が選択され、同様に水平走査回路2
7より出力される水平走査パルス信号φ旧、φH2、・
・・・・・・・・により水平選択トランジスタ23−1
.23−2 、・・・・・・・・・が順次オンすると、
5IT20−21.20−22、・・・・・・・・・2
O−2n の光信号が順次読出される。以下同様にして
、順次各画素の光信号が読出され、−フィールドのビデ
オ信号が得られる。
φv2が高レベルになると、第2行ライン28−2 に
接続されたSIT群が選択され、同様に水平走査回路2
7より出力される水平走査パルス信号φ旧、φH2、・
・・・・・・・・により水平選択トランジスタ23−1
.23−2 、・・・・・・・・・が順次オンすると、
5IT20−21.20−22、・・・・・・・・・2
O−2n の光信号が順次読出される。以下同様にして
、順次各画素の光信号が読出され、−フィールドのビデ
オ信号が得られる。
本発明は以上述べたように、固体撮像装置の各画素を構
成するSITの2つのゲートを分離して、それぞれ独立
した制御信号を与え、一方のゲートにおいては光電荷蓄
積及びそのリセット作用を行わせ、他方のゲートにおい
ては光信号読出し作用を行わせるように構成したので、
上記制御信号を適宜選定することにより、光電荷を非破
壊のまま光信号を読出し良好なビデオ信号を得ることが
でき、また、短時間で確実に光電荷をリセットすること
ができるので、高感度で良好な画質の固体撮像装置が得
られる。
成するSITの2つのゲートを分離して、それぞれ独立
した制御信号を与え、一方のゲートにおいては光電荷蓄
積及びそのリセット作用を行わせ、他方のゲートにおい
ては光信号読出し作用を行わせるように構成したので、
上記制御信号を適宜選定することにより、光電荷を非破
壊のまま光信号を読出し良好なビデオ信号を得ることが
でき、また、短時間で確実に光電荷をリセットすること
ができるので、高感度で良好な画質の固体撮像装置が得
られる。
また、固体撮像装置の各画素を構成するSITとしてノ
ーマリ−オン形のSITを用いることによって、製造が
容易で且つビデオ信号を大きくとれる固体撮像装置が得
られる。
ーマリ−オン形のSITを用いることによって、製造が
容易で且つビデオ信号を大きくとれる固体撮像装置が得
られる。
第1図(A)は、従来の固体撮像装置の1画素を構成す
るSITの断面図、第1図(13)は、該装置全体の回
路構成図、第1図(qは、第1図(B)に示した装置の
動作用信号波形図、第2図(A)は、本発明の固体撮像
装置の一実施例の平面図、第2図の)は、第2図(A)
に示した装置の1画素を構成するSITの断面図、第2
図+01は、装置全体の回路構成図、第3図は、第2図
(Qに示した装置の動作用信号波形図、第4図(5)は
、第2図(qに示した装置の動作原理を説明するだめの
回路図、第4図回は、ダイオードDGの特性図、第5図
は、第4図(A)に示した回路の動作説明用波形図であ
る。 図において、■はドレイン、3はソース、4は第1ゲー
ト、4′は第2ゲート、5は絶縁膜、6はゲート電極、
7はゲートコンデンザ、20−11.2〇−12、・・
・・・・・・・20−mn はノーマリ−オン形SIT
。 21−1.21−2・・・・・・・・・は第1行ライン
、22−1.22−2、・・・・・・・・・は列ライン
、23−1123−2・・・・・・・・・は列選択用ト
ランジスタ、24はビデオライン、26はりセントパル
ス走査回路、27は水平走査回路、2B−x、28−2
、・・・・・・・・・は第2行ライン、29は垂直走
査回路を示す。
るSITの断面図、第1図(13)は、該装置全体の回
路構成図、第1図(qは、第1図(B)に示した装置の
動作用信号波形図、第2図(A)は、本発明の固体撮像
装置の一実施例の平面図、第2図の)は、第2図(A)
に示した装置の1画素を構成するSITの断面図、第2
図+01は、装置全体の回路構成図、第3図は、第2図
(Qに示した装置の動作用信号波形図、第4図(5)は
、第2図(qに示した装置の動作原理を説明するだめの
回路図、第4図回は、ダイオードDGの特性図、第5図
は、第4図(A)に示した回路の動作説明用波形図であ
る。 図において、■はドレイン、3はソース、4は第1ゲー
ト、4′は第2ゲート、5は絶縁膜、6はゲート電極、
7はゲートコンデンザ、20−11.2〇−12、・・
・・・・・・・20−mn はノーマリ−オン形SIT
。 21−1.21−2・・・・・・・・・は第1行ライン
、22−1.22−2、・・・・・・・・・は列ライン
、23−1123−2・・・・・・・・・は列選択用ト
ランジスタ、24はビデオライン、26はりセントパル
ス走査回路、27は水平走査回路、2B−x、28−2
、・・・・・・・・・は第2行ライン、29は垂直走
査回路を示す。
Claims (2)
- (1) チャネル領域の両端に設けられた主電極と、該
チャネル領域を制御するゲートコンデンサを備えた第1
ゲート及び第2ゲートとからなる静電誘導形トランジス
タを一画素としてマトリックス状に配列し、該トランジ
スタの一方の主電極は接地し、Y方向に配列された各列
の前記トランジスタ群の他の主電極はそれぞれ各列ライ
ンに共通接続し、X方向に配列された各行の前記トラン
ジスタ群の第1ゲートはそれぞれ各第1行ラインに、第
2ゲートはそれぞれ各第2行ラインに共通接続し、各第
1行ラインには第1ゲートの光照射による蓄積電荷をそ
れぞれ一定周期毎にリセットする制御信号を印加し、各
第2行ライン及び各列ラインには画素を選択し光信号を
読み出すための制御信号をそれぞれ印加するように構成
したことを特徴とする固体撮像装置。 - (2)前記静電誘導形トランジスタは、ノーマリ−オン
形で構成されていることを特徴とする特許請求の範囲第
1項記載の固体撮像装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58165234A JPS6058778A (ja) | 1983-09-09 | 1983-09-09 | 固体撮像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58165234A JPS6058778A (ja) | 1983-09-09 | 1983-09-09 | 固体撮像装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6058778A true JPS6058778A (ja) | 1985-04-04 |
Family
ID=15808404
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58165234A Pending JPS6058778A (ja) | 1983-09-09 | 1983-09-09 | 固体撮像装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6058778A (ja) |
-
1983
- 1983-09-09 JP JP58165234A patent/JPS6058778A/ja active Pending
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