JPS60105272A - 固体撮像装置 - Google Patents
固体撮像装置Info
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- JPS60105272A JPS60105272A JP58213488A JP21348883A JPS60105272A JP S60105272 A JPS60105272 A JP S60105272A JP 58213488 A JP58213488 A JP 58213488A JP 21348883 A JP21348883 A JP 21348883A JP S60105272 A JPS60105272 A JP S60105272A
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Links
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14679—Junction field effect transistor [JFET] imagers; static induction transistor [SIT] imagers
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明は静電誘導形トランジスタを備える固体撮像装置
に関するものである。
に関するものである。
発明の背景技術
近時、固体撮像装置とし℃はCCD、BBD等の電荷転
送素子を用いるものや、MOS )ラノジスタを用いろ
ものなどが広く用いられている。しかし、これらの固体
撮像装置は電荷転送時に電荷の洩れがあること、光検出
感度が低いこと、集積度が上がらないなどの問題がある
。斯様な問題を一洋に解決するものとして、靜電銹導形
ト4ノジスタ(5tatic Induction T
ransistor ;以下SITと云う)を用いたも
のが新たに提案され℃いろ。例えば、特開昭55−15
229号公報には、マトリックス状に配列したSITの
ソースを行ラインに接続し、ドレインを列ラインに接続
し、r−トをクリアライ/に接続した固体撮像装置が示
されている1、また、SITを光検出素子及びスイッチ
ング素子として一つの画素を構成した固体撮像装置が、
特開昭58−105672号公報に提案され(いる。本
発明者は、更に、上記固体撮像装置を改良し、/−マリ
−・オフ形BITを用いることにより高感度、且つ、製
造容易とした固体撮像装置を特願昭58−165237
号忙よつ℃提案している。
送素子を用いるものや、MOS )ラノジスタを用いろ
ものなどが広く用いられている。しかし、これらの固体
撮像装置は電荷転送時に電荷の洩れがあること、光検出
感度が低いこと、集積度が上がらないなどの問題がある
。斯様な問題を一洋に解決するものとして、靜電銹導形
ト4ノジスタ(5tatic Induction T
ransistor ;以下SITと云う)を用いたも
のが新たに提案され℃いろ。例えば、特開昭55−15
229号公報には、マトリックス状に配列したSITの
ソースを行ラインに接続し、ドレインを列ラインに接続
し、r−トをクリアライ/に接続した固体撮像装置が示
されている1、また、SITを光検出素子及びスイッチ
ング素子として一つの画素を構成した固体撮像装置が、
特開昭58−105672号公報に提案され(いる。本
発明者は、更に、上記固体撮像装置を改良し、/−マリ
−・オフ形BITを用いることにより高感度、且つ、製
造容易とした固体撮像装置を特願昭58−165237
号忙よつ℃提案している。
上記本発明者の提案した固体撮像装置は2行選択制御信
号を印加する複数の行ラインと1列選択制御信号を印加
する複数の列ラインと1列ラインに接続された一方の主
電極と共通に接続された他方の主電極と主電極間に配設
されたチャネル領域とゲート領域とからなる画素を構成
する静電誘導形トランジスタと、上記トランジスタのタ
ート領域と行ラインとの間に接続されたコンデンサと。
号を印加する複数の行ラインと1列選択制御信号を印加
する複数の列ラインと1列ラインに接続された一方の主
電極と共通に接続された他方の主電極と主電極間に配設
されたチャネル領域とゲート領域とからなる画素を構成
する静電誘導形トランジスタと、上記トランジスタのタ
ート領域と行ラインとの間に接続されたコンデンサと。
前記画素の信号読出し時にゲート領域を逆バイアスさせ
る手段とを備え、光入力による蓄積電荷を非破壊のまま
画素信号を読出し、各画素の光電荷の蓄積時間を大にし
℃高感度のビデオ信号を得るようにするものである。
る手段とを備え、光入力による蓄積電荷を非破壊のまま
画素信号を読出し、各画素の光電荷の蓄積時間を大にし
℃高感度のビデオ信号を得るようにするものである。
第1図(A)は、かかる固体撮像装置の1画素を構成す
るSITの断面図であり、第1図(B)は固体撮像装置
全体の回路構成図である。SITは、第1図TA)に示
すように、ドレインを構成するn+シリコン基板l上に
、不純物濃度の低いn−プリコノエピタキシャル層2を
成長させ、このエピタキシャル層20表面に、熱拡散法
などによりn+ソース領域3、pゲート領域4,4を形
成する。ゲート領域4上忙は8I(h等の絶縁層5が被
着され、更にその上に被層された’I−)電極6と釦工
りコンデンサ7が形成されている。8は両グート%L極
6,6に接続されたゲート端子である。9は各セルを構
成する単位SITを分離するために形成された埋込絶縁
物などからなる分離領域である。n−エピタキシャル層
2はSITのチャネル領域を構成するものである。
るSITの断面図であり、第1図(B)は固体撮像装置
全体の回路構成図である。SITは、第1図TA)に示
すように、ドレインを構成するn+シリコン基板l上に
、不純物濃度の低いn−プリコノエピタキシャル層2を
成長させ、このエピタキシャル層20表面に、熱拡散法
などによりn+ソース領域3、pゲート領域4,4を形
成する。ゲート領域4上忙は8I(h等の絶縁層5が被
着され、更にその上に被層された’I−)電極6と釦工
りコンデンサ7が形成されている。8は両グート%L極
6,6に接続されたゲート端子である。9は各セルを構
成する単位SITを分離するために形成された埋込絶縁
物などからなる分離領域である。n−エピタキシャル層
2はSITのチャネル領域を構成するものである。
このような構成のSITにおいて光入力が与えられると
、チャネル領域2内あるいはゲート空乏層内で、正孔−
電子対が生成され、このうち電子は接地されたドレイン
1に流れ去るが、正孔は信号蓄積ゲート領域4に蓄積さ
れ、これに接続されたゲートコンデンサ7を充電し、ゲ
ート電位をΔVGだけ変化させる。ここでy−トコノブ
/す7の容量をCaとし、光入力罠工つ”C発生され、
信号蓄!ptゲート領域4に蓄積された電荷をQLとす
・ると。
、チャネル領域2内あるいはゲート空乏層内で、正孔−
電子対が生成され、このうち電子は接地されたドレイン
1に流れ去るが、正孔は信号蓄積ゲート領域4に蓄積さ
れ、これに接続されたゲートコンデンサ7を充電し、ゲ
ート電位をΔVGだけ変化させる。ここでy−トコノブ
/す7の容量をCaとし、光入力罠工つ”C発生され、
信号蓄!ptゲート領域4に蓄積された電荷をQLとす
・ると。
Δva = QL / Caとなる。ある蓄積時間が経
過した後、ゲート端子8にゲート読出しパルスVφGが
与えられると、デート電位はVφGにΔVcが加わった
ものとなり、信号蓄積ゲート領域4とソース領域3との
間の電位は低下し′c窒乏層が減少し、ソース・ドレイ
ン間に元人カシこ対応したドレイ/α流が流れる。この
ドレイ71電流は、SI’rの増幅作用のためΔVcが
増幅変倍されたものとなり、大きなものとなる。なお、
SITのソースとドレインとを入れ替え℃も同様の動作
をするものである。
過した後、ゲート端子8にゲート読出しパルスVφGが
与えられると、デート電位はVφGにΔVcが加わった
ものとなり、信号蓄積ゲート領域4とソース領域3との
間の電位は低下し′c窒乏層が減少し、ソース・ドレイ
ン間に元人カシこ対応したドレイ/α流が流れる。この
ドレイ71電流は、SI’rの増幅作用のためΔVcが
増幅変倍されたものとなり、大きなものとなる。なお、
SITのソースとドレインとを入れ替え℃も同様の動作
をするものである。
第1図(B)に示すように、上記構成のノーマリ−オフ
形のS I T 20−t+ + 2O−1z 、 ・
−=−= 201nnが。
形のS I T 20−t+ + 2O−1z 、 ・
−=−= 201nnが。
マトリックス状に配列され、XYアドレス力弐により信
号を読出すように構成され℃いる。すなわち、各画素を
構成する8ITのドレインは接地され、X方向に配列さ
れた各行のSIT群のy−ト端子は1行ノイy21−1
.21−z、・・・・・・・・・21−mにそれぞれ接
続されている。またY方向に配列された各列の8IT群
のソースは1列ライン22−s 、 22−2 。
号を読出すように構成され℃いる。すなわち、各画素を
構成する8ITのドレインは接地され、X方向に配列さ
れた各行のSIT群のy−ト端子は1行ノイy21−1
.21−z、・・・・・・・・・21−mにそれぞれ接
続されている。またY方向に配列された各列の8IT群
のソースは1列ライン22−s 、 22−2 。
・・・・・・・・・22−nに接続され、これらの列ラ
インは、それぞれ列選択用トランジスタ23−s 、
23−2 、・・・・・・・23−nを介し1:、ビデ
オライン24に共通に接続されている。ビデオライン2
4には負荷抵抗25を介して、ビデオ電圧VBが加えら
れている。
インは、それぞれ列選択用トランジスタ23−s 、
23−2 、・・・・・・・23−nを介し1:、ビデ
オライン24に共通に接続されている。ビデオライン2
4には負荷抵抗25を介して、ビデオ電圧VBが加えら
れている。
そして2行ライン21−1.21−z 、・・・・・・
・・21−mは垂直走査回路26に接続され、それぞれ
信号φG1゜φG2.・・・・・・・・・φGmが加わ
るようになっている。また。
・・21−mは垂直走査回路26に接続され、それぞれ
信号φG1゜φG2.・・・・・・・・・φGmが加わ
るようになっている。また。
列選択用トランジスタ23−1.23−2 、・・・・
・・・・・23−nのゲート端子は、水平走査回路27
に接続され、信号φ81.φ82.・・・・・・・・φ
snが加わるように411IJX、されている。
・・・・・23−nのゲート端子は、水平走査回路27
に接続され、信号φ81.φ82.・・・・・・・・φ
snが加わるように411IJX、されている。
次に、第1図(C)に示した波形図に基づいて、垂直走
査信号φG及び水平走査信号φBについ℃説明する。行
ラインに加えられる信号φGl、φG2.・・・・・・
・・・は、小さい振幅電圧VφGと、それより大きい振
幅電圧VφRより成るもので、一つの行ラインの走介期
間tuO間はVφG1次の行ラインの水平走査に移るま
でのブランキング期間tBt、 KはVφRの値になる
ように設定され℃いる。列選択用トランジスタのゲート
端子に加えられる水平走査信号φ81.φB2゜・・・
・・・・・・φsnは列ラインを選択するための信号で
、低レベルは列選択用トランジスタをオフ (OFF
) 。
査信号φG及び水平走査信号φBについ℃説明する。行
ラインに加えられる信号φGl、φG2.・・・・・・
・・・は、小さい振幅電圧VφGと、それより大きい振
幅電圧VφRより成るもので、一つの行ラインの走介期
間tuO間はVφG1次の行ラインの水平走査に移るま
でのブランキング期間tBt、 KはVφRの値になる
ように設定され℃いる。列選択用トランジスタのゲート
端子に加えられる水平走査信号φ81.φB2゜・・・
・・・・・・φsnは列ラインを選択するための信号で
、低レベルは列選択用トランジスタをオフ (OFF
) 。
高レベルはオン(ON)する電圧恒圧なるように設定さ
れ工いる。
れ工いる。
第1図(BJに於いて、上記垂直走査回路26の作動に
より垂直走査信号φG1が電圧VφGになると行ライン
21−1に接続されたSIT群が選択され、上記水平走
査回路27より出力される水平走査信号φS1゜φ92
.・・・・・・・・・φBnにより水平選択トランジス
タ23−1 。
より垂直走査信号φG1が電圧VφGになると行ライン
21−1に接続されたSIT群が選択され、上記水平走
査回路27より出力される水平走査信号φS1゜φ92
.・・・・・・・・・φBnにより水平選択トランジス
タ23−1 。
23−2.・・・・・・・・・23−nが1@次にオン
(ON〕すると。
(ON〕すると。
順次S I T2O−+t、 2O−1ts−・−・2
O−snの元信号がビデオライノ24より出力される。
O−snの元信号がビデオライノ24より出力される。
続い℃、上記SIT群は垂直走査信号φG1が高レベル
の電圧VφRになったとき、リセットされる。
の電圧VφRになったとき、リセットされる。
次に、垂直走査信号φG2が電圧VφGになると行ライ
ン21−2に接続されたSIT群が選択され、水平走査
信号φ81. φ8!l・−・・・・・・・φ8nによ
り5IT20−21 、20−22 、2O−znの光
信号が順次読出され、続いてリセットされる。
ン21−2に接続されたSIT群が選択され、水平走査
信号φ81. φ8!l・−・・・・・・・φ8nによ
り5IT20−21 、20−22 、2O−znの光
信号が順次読出され、続いてリセットされる。
以下、同様にして順次各画素の光信号が読出され、1フ
イールドのビデオ信号が得られる。
イールドのビデオ信号が得られる。
ところで、上述の固体撮像装置には次に示す様な欠点を
有する。即ち、一般に撮像装置に入射する光量なp、こ
れに対する出力をvOとするとvOは。
有する。即ち、一般に撮像装置に入射する光量なp、こ
れに対する出力をvOとするとvOは。
vo= kpr で示される関係にある。ここで、には
比測定11Lrはガンマ値と称される値である。好適な
撮像特性を得ろ為には、ガノマ匝が1(即ち。
比測定11Lrはガンマ値と称される値である。好適な
撮像特性を得ろ為には、ガノマ匝が1(即ち。
上記pとVoが比例すること)乃至0.7程度であるこ
とが望ましい。通常の固体撮像装置では入射光量によっ
て発生ずる電荷Qを容量CBに蓄積しその時の電圧〜’
=Q/CRを出力するようになつ℃いる為。
とが望ましい。通常の固体撮像装置では入射光量によっ
て発生ずる電荷Qを容量CBに蓄積しその時の電圧〜’
=Q/CRを出力するようになつ℃いる為。
入射光量と出力は比例する。ところがSITを用いた固
体撮像装置では、上述したようにダート電位の変化分Δ
vGにより変化するドレイン電流IDを出力としている
。この1°レイン電流Inはゲート電圧VCに対(−で
次式で表わされ、指数関舷で変化することが知られ℃い
る。
体撮像装置では、上述したようにダート電位の変化分Δ
vGにより変化するドレイン電流IDを出力としている
。この1°レイン電流Inはゲート電圧VCに対(−で
次式で表わされ、指数関舷で変化することが知られ℃い
る。
■D−IOeavG・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・ (1)ここでr ”Oは構造及び不純
物密度分布で決まる量、aは定数である。この為、入射
光量pに対する出力voの特性はIff!2図で示すよ
うにガンマ値が1より大きいものとなる。これは被写体
の暗い部分はすべて暗くなってしまう一方、明るい部分
ではそれが強調され℃撮像されることKなり好ましくな
い特性である。通常、量体装置では、ガンマ値を1より
やや小さくシ、被写体の明暗の階調を圧縮することが好
ましい。この為、SITを用いた撮像装置におい℃もガ
ンマ値を小さく制御することか望まれる。
・・・・・・・ (1)ここでr ”Oは構造及び不純
物密度分布で決まる量、aは定数である。この為、入射
光量pに対する出力voの特性はIff!2図で示すよ
うにガンマ値が1より大きいものとなる。これは被写体
の暗い部分はすべて暗くなってしまう一方、明るい部分
ではそれが強調され℃撮像されることKなり好ましくな
い特性である。通常、量体装置では、ガンマ値を1より
やや小さくシ、被写体の明暗の階調を圧縮することが好
ましい。この為、SITを用いた撮像装置におい℃もガ
ンマ値を小さく制御することか望まれる。
更に、上述の提案された固体撮像装置には次に示す欠点
がある。即ち、SITのグー) 電圧VCに対してドレ
イン電流IDは第3図に示す特性となる。
がある。即ち、SITのグー) 電圧VCに対してドレ
イン電流IDは第3図に示す特性となる。
いま、ドレイン電流IOが実用上0となる/〜ト′11
を圧をvGoとする。5ITOり′−トに垂直走査回路
φGが加わる時の動作について説明する。上記垂直走査
信号φGが高レベルの電圧VφRとなることによりSI
Tがリセットされる時、コンデンサCGを介してr−ト
・ドレイノ間のPNダイオードに+1方向電流が流れ、
このコンデンサは電圧(VφR−φB)まで充電される
。その後、光照射により電荷QLが蓄積り、P−ト電圧
vGはΔVa=QL/CGだけ上J7し1次式のように
なる。
を圧をvGoとする。5ITOり′−トに垂直走査回路
φGが加わる時の動作について説明する。上記垂直走査
信号φGが高レベルの電圧VφRとなることによりSI
Tがリセットされる時、コンデンサCGを介してr−ト
・ドレイノ間のPNダイオードに+1方向電流が流れ、
このコンデンサは電圧(VφR−φB)まで充電される
。その後、光照射により電荷QLが蓄積り、P−ト電圧
vGはΔVa=QL/CGだけ上J7し1次式のように
なる。
Va = (−Vφn + 161 +ΔVa )尚、
φBは順方向障壁電圧である。
φBは順方向障壁電圧である。
その後、垂直走査信号φGが電圧VφGになると、ゲー
ト電圧Vcは次式のようになる。
ト電圧Vcは次式のようになる。
VG=(−VφR+dB+VdG)
ここで、電圧Vφn、TiL圧VφGは光照射が全くな
いときにFレイン電流IDが丁度、オフ(OFF)にな
るよう番’c、1.11Jち VGo−(”+6R+φB+V(iG)となるように運
ばれる。いま、5IT20−11の信号を読出す揚台に
ついて’4Mする。垂直走査信号φGsは電圧VφGと
なつ℃おり、ゲート電圧VGは。
いときにFレイン電流IDが丁度、オフ(OFF)にな
るよう番’c、1.11Jち VGo−(”+6R+φB+V(iG)となるように運
ばれる。いま、5IT20−11の信号を読出す揚台に
ついて’4Mする。垂直走査信号φGsは電圧VφGと
なつ℃おり、ゲート電圧VGは。
次式のようになる。
VG = (−vφa + φB + ΔVC+ Vφ
G )ここで、VφG−VGO=ΔVφG≧0 である
。
G )ここで、VφG−VGO=ΔVφG≧0 である
。
−万+ S I T2O−21,20−31、−−−−
−−−−・20−1111では垂直走査信号φG2.
φGa、・・・・・・・・・φGmは全てo、Vであり
。
−−−−・20−1111では垂直走査信号φG2.
φGa、・・・・・・・・・φGmは全てo、Vであり
。
VG= (VGO−Vφa + ΔVφa )である。
ここで、ゲート電圧Vcについて。
VjG vco= ”VdG −VφGであれば、この
SITのソース・ドレイン間のドレイノミ流IDは色れ
ず、垂直走査信号φGが電圧VφGとなっている5IT
20−ssの光信号だ番すが選択され読出される訳であ
る。
SITのソース・ドレイン間のドレイノミ流IDは色れ
ず、垂直走査信号φGが電圧VφGとなっている5IT
20−ssの光信号だ番すが選択され読出される訳であ
る。
ところで、S I T 20−21.20−31. ・
−旧2O−rru ヘの入射党員が極め℃大きいと、そ
れらのSITに於いて、ΔVφa ) VφG となり
、ドレイノミ流Ioが生ずる。この為、5IT20−1
1の信号を読出そうとじ℃も強い光入射のため同一の列
ライン22−1K接続されたS I T 2021 、
20−31、−・−・−・20−m−5の信号も同時に
混入することになる。この非選択画素からの信号混入の
ため、露光量が大きい時には王宮な撮像を行なうことが
できない。上述の不具付を対策する為に、挽出すための
電圧VφGを順次太き(することにより軽減することも
できろが、これは同時に電圧VφBも太き(する必要が
あり、y−ト逆バイアス電圧が増加するためゲート逆耐
圧から制約がある。
−旧2O−rru ヘの入射党員が極め℃大きいと、そ
れらのSITに於いて、ΔVφa ) VφG となり
、ドレイノミ流Ioが生ずる。この為、5IT20−1
1の信号を読出そうとじ℃も強い光入射のため同一の列
ライン22−1K接続されたS I T 2021 、
20−31、−・−・−・20−m−5の信号も同時に
混入することになる。この非選択画素からの信号混入の
ため、露光量が大きい時には王宮な撮像を行なうことが
できない。上述の不具付を対策する為に、挽出すための
電圧VφGを順次太き(することにより軽減することも
できろが、これは同時に電圧VφBも太き(する必要が
あり、y−ト逆バイアス電圧が増加するためゲート逆耐
圧から制約がある。
発明の目的
本発明は1画素信号の読出し時に簡単な構成によりガン
マ値を小さく制御し、良好な撮像特性を備える固体撮像
装置を提供することを目的とする。
マ値を小さく制御し、良好な撮像特性を備える固体撮像
装置を提供することを目的とする。
本発明の他の目的は、露光量の大きいときにも良好な画
像を撮影することができろ固体撮像装置を提供する。
像を撮影することができろ固体撮像装置を提供する。
発明の概要
本発明の固体撮像装置は、−画繋を構成ずろSITのソ
ースを列ライノ忙、またタート領域をコノデノサを介し
て列ラインに直交する行ラインに接続し1行ライン及び
列ラインにはそれぞれ行選択制御信号及び列選択制御信
号を印加するとともに、一画素のリセット期間と読出し
期間との間に画素における蓄積電荷の一部をクリアーす
る期間とを設けるように駆動するものである。
ースを列ライノ忙、またタート領域をコノデノサを介し
て列ラインに直交する行ラインに接続し1行ライン及び
列ラインにはそれぞれ行選択制御信号及び列選択制御信
号を印加するとともに、一画素のリセット期間と読出し
期間との間に画素における蓄積電荷の一部をクリアーす
る期間とを設けるように駆動するものである。
実施例
以下1本発明の実施例について説明する。
第4図(A)は1本発明の固体撮像装置の一実施例を示
す全体の回路構成図である。尚1本実施例におい℃は、
一画素を構成するSITの断面構造及びその全体の回路
構成図は、上述の第1図(A)及び同図(81と同様で
あるので、その説明は省略する。
す全体の回路構成図である。尚1本実施例におい℃は、
一画素を構成するSITの断面構造及びその全体の回路
構成図は、上述の第1図(A)及び同図(81と同様で
あるので、その説明は省略する。
本発明の実施例の特徴は、垂直定食回路26が、後述す
る第4図(Blに示すような垂直走査信号φGを与える
ように構成されていることにある。
る第4図(Blに示すような垂直走査信号φGを与える
ように構成されていることにある。
第4図(B)は1本発明の動作用信号波形図であり。
水平走査信号φB、垂直走査信号φG及び各SIT画素
でのゲート電位変化を示す。114図(B)から判明す
るように、垂直走査信号φG+、φG2. φQ3.・
・・は振幅が読出し電圧VφGと、リセット′電圧Vφ
R及びその中間の値をもつクリアー電圧VφCの3つの
成分から成り、成る1つの行ラインの走査期間Li2O
間は読出し電圧V2O3次の走査に移るまでのブラッキ
ング期間tBLにはリセット電圧VφRの値となり、他
のラインの水平走査後のブラッキング期間hu、にはク
リアー電圧VφCの値となる。
でのゲート電位変化を示す。114図(B)から判明す
るように、垂直走査信号φG+、φG2. φQ3.・
・・は振幅が読出し電圧VφGと、リセット′電圧Vφ
R及びその中間の値をもつクリアー電圧VφCの3つの
成分から成り、成る1つの行ラインの走査期間Li2O
間は読出し電圧V2O3次の走査に移るまでのブラッキ
ング期間tBLにはリセット電圧VφRの値となり、他
のラインの水平走査後のブラッキング期間hu、にはク
リアー電圧VφCの値となる。
水平走査信号φ81.φ82.φlI3.・・・・・・
・・は列ライン22−+ 、 22−z 、 22−8
、 ・−−21−nを選択するための信号であり、低
レベルでは列選択トランジスタ23−1.23−2 、
23−s 、 −−−−−−−−−23−nをオフ(O
FF)L。
・・は列ライン22−+ 、 22−z 、 22−8
、 ・−−21−nを選択するための信号であり、低
レベルでは列選択トランジスタ23−1.23−2 、
23−s 、 −−−−−−−−−23−nをオフ(O
FF)L。
高レベルではオン(ON)する電圧とする。
次に、第4図(A)及び同図(B)を参照し1本実施例
の動作について説明する。いま、5IT20−11 に
は通常の強さの光が入射し、そし′cSIT20−21
には極めて強い光が照射しているものとする。第4図(
B)に示す動作用信号波形図に於ける電圧VG1及び電
圧VG2 ハ夫k K S I T2O−11及びS
I T2O−z+の夫々のy−トa位変化を表わす。時
刻t1に垂直走査信号φG1がリセット電圧VφRFC
なるとコンデンサ7を介し1: S I T 20−s
+のゲートにリセット電圧VφRが印加される。上述の
第1図(Alに示した1画素を構成するSITの断面図
から分かるようにSITのゲート4とドレイン1とはP
Nダイオードを構成している。従って、ゲート・ドレイ
ン間の電圧が順方向障壁電圧φB(ンリコノの場合、お
よそφB=0.6V〕を越えると上記ゲート・ドレイン
間に順方向電流が流れる。この為、上記コンデンサ7に
は急速に電圧(VφR−φB)まで充電され。
の動作について説明する。いま、5IT20−11 に
は通常の強さの光が入射し、そし′cSIT20−21
には極めて強い光が照射しているものとする。第4図(
B)に示す動作用信号波形図に於ける電圧VG1及び電
圧VG2 ハ夫k K S I T2O−11及びS
I T2O−z+の夫々のy−トa位変化を表わす。時
刻t1に垂直走査信号φG1がリセット電圧VφRFC
なるとコンデンサ7を介し1: S I T 20−s
+のゲートにリセット電圧VφRが印加される。上述の
第1図(Alに示した1画素を構成するSITの断面図
から分かるようにSITのゲート4とドレイン1とはP
Nダイオードを構成している。従って、ゲート・ドレイ
ン間の電圧が順方向障壁電圧φB(ンリコノの場合、お
よそφB=0.6V〕を越えると上記ゲート・ドレイン
間に順方向電流が流れる。この為、上記コンデンサ7に
は急速に電圧(VφR−φB)まで充電され。
VGI”φBとなる。欠に2時刻hlc垂直走査信号φ
G1がQVになるとゲート・ドレイノ間ダイオードは逆
バイアスされる為、電流は流れない。この為、上記コン
デンサ7の間忙は電圧(VφR−φB)が保たれp V
Gt =(VφR+φB)となる。
G1がQVになるとゲート・ドレイノ間ダイオードは逆
バイアスされる為、電流は流れない。この為、上記コン
デンサ7の間忙は電圧(VφR−φB)が保たれp V
Gt =(VφR+φB)となる。
次に1時刻t3には垂直走査信号φG1がクリアー電圧
VφCとなり、ゲート電圧VG+もクリアー電圧VφC
だけ上昇するが、y−トは逆バイアスされたままであり
電流は流れない。
VφCとなり、ゲート電圧VG+もクリアー電圧VφC
だけ上昇するが、y−トは逆バイアスされたままであり
電流は流れない。
一方、8IT20−21に於いては、垂直走査信号φG
2がリセット電圧VφRとなる為1時刻1+に於ける5
IT2(inと同様にタート・ドレイン間電流が流れる
。この為2時刻t4に於い℃、垂直走青信号φG2がO
vとなった時には、y−ト電圧VG2は電位<−VφR
+φB)にリセットされる。
2がリセット電圧VφRとなる為1時刻1+に於ける5
IT2(inと同様にタート・ドレイン間電流が流れる
。この為2時刻t4に於い℃、垂直走青信号φG2がO
vとなった時には、y−ト電圧VG2は電位<−VφR
+φB)にリセットされる。
次に、垂直走査信号φG2がクリアー電圧VφCとなる
時刻t5までに、8IT20−21には極め℃強い光が
入射している為Kr−)電圧VGxは、Δv6だけ上昇
している。ここで、クリアー電圧VφCが加わると、f
−)電位は順方向障壁電圧φBを越えろ為。
時刻t5までに、8IT20−21には極め℃強い光が
入射している為Kr−)電圧VGxは、Δv6だけ上昇
している。ここで、クリアー電圧VφCが加わると、f
−)電位は順方向障壁電圧φBを越えろ為。
ゲート・ドレイン間には順方向電流が流れる。この為1
時刻t6にはy−ト電圧VG2は電位(−VφC+φB
)まで低下する。この後、垂直走査信号φG2がクリア
ー電圧VφCとなる毎に上記のクリアー動作が繰り返さ
れ、y−ト電位VGzは強い光照射忙もかかわらずそれ
程に上昇しない。
時刻t6にはy−ト電圧VG2は電位(−VφC+φB
)まで低下する。この後、垂直走査信号φG2がクリア
ー電圧VφCとなる毎に上記のクリアー動作が繰り返さ
れ、y−ト電位VGzは強い光照射忙もかかわらずそれ
程に上昇しない。
−力、5IT20−11に於いては1次の読出し時刻t
7までに光照射のためゲート電位VGIはΔvGだけ上
列している。また+ Vf#t7に於いては、垂直走査
信号φG1が胱出し電圧VφGとなる為、ダート電位は
vGoJ、す、ΔVGだけ上昇している。ここで。
7までに光照射のためゲート電位VGIはΔvGだけ上
列している。また+ Vf#t7に於いては、垂直走査
信号φG1が胱出し電圧VφGとなる為、ダート電位は
vGoJ、す、ΔVGだけ上昇している。ここで。
VGOは上述したようにSITのドレイ/電流IDが0
となるタート電圧である。この為、水平走査信号φ81
により列選択トランジスタ23−1がオン(ON)する
と、S I T 20−11のドレイ/電流が列ライン
22−1を介して負荷抵抗250間に読出される。ここ
で、5IT20−21に於い℃は1時刻tyにゲート電
位がクリアーされた直後である為、 S I T2O−
12。
となるタート電圧である。この為、水平走査信号φ81
により列選択トランジスタ23−1がオン(ON)する
と、S I T 20−11のドレイ/電流が列ライン
22−1を介して負荷抵抗250間に読出される。ここ
で、5IT20−21に於い℃は1時刻tyにゲート電
位がクリアーされた直後である為、 S I T2O−
12。
2O−t3.・・・・・・・・20−mnについても上
述の動作が繰り返えされ、信号混入のないビデオ信号を
得ろことができる。
述の動作が繰り返えされ、信号混入のないビデオ信号を
得ろことができる。
第5図(Alは本発明の固体撮像装置に於ける第4図(
B)に示したような垂直走査信号を与える垂直走査回路
の一実施例な示し、nチャンネルMOSトランジスタ(
以下、 N −Mow Tr と称す) Kより構成し
た垂直走査回路の回路構成図である。第5図(B)は、
上記垂直走査回路の動作用信号波形図を示す。更に、第
5図(C)は、この垂直走査回路の信号立上が9・信号
立下がりを改善する為の一実施例を示す回路構成図であ
る。
B)に示したような垂直走査信号を与える垂直走査回路
の一実施例な示し、nチャンネルMOSトランジスタ(
以下、 N −Mow Tr と称す) Kより構成し
た垂直走査回路の回路構成図である。第5図(B)は、
上記垂直走査回路の動作用信号波形図を示す。更に、第
5図(C)は、この垂直走査回路の信号立上が9・信号
立下がりを改善する為の一実施例を示す回路構成図であ
る。
第5図(A)に於いて、ソフトレジスタ回路30は。
−膜外のシフトレジスタ30−s、 30−2 、・・
・・・・・・・30−mから成る。上記シフトレジスタ
回路30のクロックパルス入力端子31には垂直走査周
波数を有するクロックパルスCKが印加される。また、
上記シフトレジスタ回路30の入力端子32には、この
ソフトレジスタ回路30を動作開始させるスタート信号
φHinが印加されるよう罠なっており、出力端子33
−1.33−z、・・・・・・・・・からは上記スター
ト信号φMinが垂直走査同期ずつ遅延された遅延信号
φH1。
・・・・・・・30−mから成る。上記シフトレジスタ
回路30のクロックパルス入力端子31には垂直走査周
波数を有するクロックパルスCKが印加される。また、
上記シフトレジスタ回路30の入力端子32には、この
ソフトレジスタ回路30を動作開始させるスタート信号
φHinが印加されるよう罠なっており、出力端子33
−1.33−z、・・・・・・・・・からは上記スター
ト信号φMinが垂直走査同期ずつ遅延された遅延信号
φH1。
φH2、・・・・・・・・・が送出されるよう釦なって
いる。
いる。
入力端子34には、垂直走査のブランキノグ期間のみH
ighレベルとなる信号φBLが印加されろようKなっ
ている。NOR回路35Aの一方の入力側は上記入力端
子34が接続され、NOR回路35B。
ighレベルとなる信号φBLが印加されろようKなっ
ている。NOR回路35Aの一方の入力側は上記入力端
子34が接続され、NOR回路35B。
35Cの一方の入力側は、上記入力端子34.J:リイ
/バータ36を介し″c接続されている。更忙、上記N
OR回路35A、35Cの他力の入力側は、上記出力端
子33−1よりイノノ・−夕37を介して接続されてい
る。また、NOR回路35Bの他方の入力IIIには。
/バータ36を介し″c接続されている。更忙、上記N
OR回路35A、35Cの他力の入力側は、上記出力端
子33−1よりイノノ・−夕37を介して接続されてい
る。また、NOR回路35Bの他方の入力IIIには。
上記出力端子33−1が接続されている。更に、上記N
OR回路35A、35B、 35Cの出力側には、N−
MOS Tr 38A、38B、 3scの夫々のゲー
トに接続され、上記N−MO8Tr 38A、388.
38Cの夫々のソースには、入力端子39.40.41
が接続され読出し電圧VφG、クリアー電圧VφC,リ
セット電圧V11Rが印加されるよう釦なっている。更
に。
OR回路35A、35B、 35Cの出力側には、N−
MOS Tr 38A、38B、 3scの夫々のゲー
トに接続され、上記N−MO8Tr 38A、388.
38Cの夫々のソースには、入力端子39.40.41
が接続され読出し電圧VφG、クリアー電圧VφC,リ
セット電圧V11Rが印加されるよう釦なっている。更
に。
上記N −MOS Tr 38A 、388 、 38
Cのドレインと、2個連結したN−MOS Tr 38
D、 38gの該Tr38Dのソースとを接続し、上記
N−MO8Tr38Eのドレインを接地するとともに、
夫々のゲートに上記イノバ〜り36及び37の出力側を
接続し℃夫々、信号φBL及び遅延信号φH1を印加す
るようになっている。また、上記N−MO8Tr38A
乃至38Cと38Dとの接続点には垂直走査信号φG1
を授受する出力端子39−1を設ける。更に、シフトレ
ジスタ30−2の系統にも上述のシフトレジスタ30−
1と同様にイ/バータ37. N−MOS Tr 38
A乃至38E及び出力端子39−2を設は垂直走査信号
φG2を(47るように構成する。
Cのドレインと、2個連結したN−MOS Tr 38
D、 38gの該Tr38Dのソースとを接続し、上記
N−MO8Tr38Eのドレインを接地するとともに、
夫々のゲートに上記イノバ〜り36及び37の出力側を
接続し℃夫々、信号φBL及び遅延信号φH1を印加す
るようになっている。また、上記N−MO8Tr38A
乃至38Cと38Dとの接続点には垂直走査信号φG1
を授受する出力端子39−1を設ける。更に、シフトレ
ジスタ30−2の系統にも上述のシフトレジスタ30−
1と同様にイ/バータ37. N−MOS Tr 38
A乃至38E及び出力端子39−2を設は垂直走査信号
φG2を(47るように構成する。
第5図[B)を参照しC!I!11作を説明する。
上記NOR回路35Aに於いて、論理式φH+φBL=
φ■・φBL (但し、+は論理和OR,・は論理積A
ND、−は否定な表わすンで表わされる信号が、同様に
上記N0R1路35BにはφH・φBl。
φ■・φBL (但し、+は論理和OR,・は論理積A
ND、−は否定な表わすンで表わされる信号が、同様に
上記N0R1路35BにはφH・φBl。
が、更に、同様に上記NOR回路35CにはφH・φB
Lが夫々に出力され1:N−MOS Tr 38A、3
8B。
Lが夫々に出力され1:N−MOS Tr 38A、3
8B。
38Cのゲートに印加される。
いま、第1段目のシフトレジスタ回路30−+。
30−2.・・・・・・について第4図(Alを参照し
つつ説明する。行ライン21−1の水平走査期間には、
N−MO8Tr 38A がオフ(ON ) 、 N−
MOS 38B、38C。
つつ説明する。行ライン21−1の水平走査期間には、
N−MO8Tr 38A がオフ(ON ) 、 N−
MOS 38B、38C。
38gが全てオフ(OFF)となる為、出力端子39−
1には読出し電圧VφGが出力される。これに続(ブラ
ンキング期間罠は、信号φIII・φBLがHighレ
ベルとなる為に出力端子39−1にはリセット電圧Vφ
Rが出力される。他の行ライン21−z、 21−s
、・・・・・・の水平走査期間には、上記NOR回路3
5A、35B。
1には読出し電圧VφGが出力される。これに続(ブラ
ンキング期間罠は、信号φIII・φBLがHighレ
ベルとなる為に出力端子39−1にはリセット電圧Vφ
Rが出力される。他の行ライン21−z、 21−s
、・・・・・・の水平走査期間には、上記NOR回路3
5A、35B。
35Cの何れの出力もHighレベルとならない為、上
記N−MO8Tr 38A、 38B、 38Gは何れ
もオフ(OFF)、また、 N−MO8Tr 38D、
3sgはオフ(ON)となるため出力端子39−1は
Ovとなる。
記N−MO8Tr 38A、 38B、 38Gは何れ
もオフ(OFF)、また、 N−MO8Tr 38D、
3sgはオフ(ON)となるため出力端子39−1は
Ovとなる。
続いi:、ブランキング期間には、信号φH1・φBL
がf(igh Vベルとなり、上記N −M OS T
r 38B がオy(ON ) 、 N−1vi08
Tr 38A、 38C,38Dがオフ(OFF)とな
り出力端子39−1にはクリアー電圧VφCが出力され
る。
がf(igh Vベルとなり、上記N −M OS T
r 38B がオy(ON ) 、 N−1vi08
Tr 38A、 38C,38Dがオフ(OFF)とな
り出力端子39−1にはクリアー電圧VφCが出力され
る。
上述のようにして、第4図+B+で示されるような垂直
走査信号φGI、φG2.・・・・・・・・・が夫々の
出力端子39−+ 、 39−2 、・・・・・・・よ
り出力される。尚、上fleNOR回路35A、35B
、35Cは、第5図(C)に示すようK。
走査信号φGI、φG2.・・・・・・・・・が夫々の
出力端子39−+ 、 39−2 、・・・・・・・よ
り出力される。尚、上fleNOR回路35A、35B
、35Cは、第5図(C)に示すようK。
グーストラップ型回路で構成することによって。
信号立上がり及び信号立下がりの速い良好な信号を得る
ことができる。。
ことができる。。
上述したよう圧水発明に於い工は、各画素のS I T
20−11.20−12.−−−−−・−20−mn
をリセツ)電圧Vtaによりリセットした後、読出し電
圧VφGKより読出しを行なうまでの期間にその中間の
クリアー電圧VφCを繰り返し印加することにより、露
光量が小さいときには影響を及ぼさず、露光量が太きい
ときKは、それにより蓄積した電荷の一部をドレイ/に
流し去ることによって、ガンマ値を小さくし、また、非
選択画素への信号混入を防ぐものである。
20−11.20−12.−−−−−・−20−mn
をリセツ)電圧Vtaによりリセットした後、読出し電
圧VφGKより読出しを行なうまでの期間にその中間の
クリアー電圧VφCを繰り返し印加することにより、露
光量が小さいときには影響を及ぼさず、露光量が太きい
ときKは、それにより蓄積した電荷の一部をドレイ/に
流し去ることによって、ガンマ値を小さくし、また、非
選択画素への信号混入を防ぐものである。
第6図は本発明の固体撮像装置による入射光量対出力特
性図を表わす。上記特性図に於いて、読出し電圧VφC
=SV、リセット電圧VφR= 14Vとし。
性図を表わす。上記特性図に於いて、読出し電圧VφC
=SV、リセット電圧VφR= 14Vとし。
(1)特性Aは、り!J7−電圧v*c = o v(
2) 特性Bは、9す7−電EEVIC=8V(3)
特性Cは、り!17−tJt圧vφc = 9 V(4
) 特性りは、997−電圧VllC==10Vである
場合の夫々の入射光量対出力特性を表わす。
2) 特性Bは、9す7−電EEVIC=8V(3)
特性Cは、り!17−tJt圧vφc = 9 V(4
) 特性りは、997−電圧VllC==10Vである
場合の夫々の入射光量対出力特性を表わす。
上述したように、クリアー電圧VφCを印加することに
よりガンマ値を小さくすることができ、非選択画素への
信号混入な防止することができ非選択信号の減少を達成
できる。
よりガンマ値を小さくすることができ、非選択画素への
信号混入な防止することができ非選択信号の減少を達成
できる。
第7図(A)は1本発明の固体撮像装置の更に他の実施
例を示す全体の回路構成図である。本実施例に於い℃、
上述の実施例左回−の機能を備える部材は同一の符号を
付記しその説明は省略する。本実施例は、各画素を構成
するS I T 20−11.20−12゜・・・・・
・20−mnの夫々のドレインを接地せず、クリアー信
号発生回路40に一括して共通に接続する。
例を示す全体の回路構成図である。本実施例に於い℃、
上述の実施例左回−の機能を備える部材は同一の符号を
付記しその説明は省略する。本実施例は、各画素を構成
するS I T 20−11.20−12゜・・・・・
・20−mnの夫々のドレインを接地せず、クリアー信
号発生回路40に一括して共通に接続する。
第7図(B)は1本実施例の動作用信号波形図を示し、
垂直走査信号φGl、φG2.・・・・・・ は行ライ
ン21−1.21−2 、−・・・・・ に印加され、
上述の本発明者が既に提案した固体撮像装置の動作用信
号波形図。
垂直走査信号φGl、φG2.・・・・・・ は行ライ
ン21−1.21−2 、−・・・・・ に印加され、
上述の本発明者が既に提案した固体撮像装置の動作用信
号波形図。
即ち、第1図(C)に示される信号と同様である。クリ
アー信号φCは、クリアー信号発生回路40より各画素
を構成するS I T 2O−st 、 2O−1x
、 −−−−−−20−mnのドレインに印加される。
アー信号φCは、クリアー信号発生回路40より各画素
を構成するS I T 2O−st 、 2O−1x
、 −−−−−−20−mnのドレインに印加される。
各行ライン21−1.21−z 。
・・・・・・21−nの水平走査期間tHにはOv、こ
れに続(ブランキング期間tnt、 Kはクリアー電圧
(−VφC)の電圧をとる。
れに続(ブランキング期間tnt、 Kはクリアー電圧
(−VφC)の電圧をとる。
次に1本実施例の動作の説明をする。
垂直走査信号φGlが読出し電圧VφGKなると。
行ライン21−1に上記読出し電圧VφGが印加され。
また垂直走査信号φG!がHi ghレベルになること
によって列選択トランジスタ23−1がオノ(ON)と
なり+ S I T 20−11 の信号が読出される
。
によって列選択トランジスタ23−1がオノ(ON)と
なり+ S I T 20−11 の信号が読出される
。
続い℃、上記垂直走査信号φGlがリセット電圧VφR
となると、5IT20−11のゲート°領域にはコノデ
ノサ7を介して電圧ψφBが印加されr’f h・ドレ
イン間ダイオードには(v′φR+vφC)の順方向電
圧が加わる。この為、 8 I T 20−n のゲー
トは電位(−VφR−VφC+φB〕までリセットされ
る。
となると、5IT20−11のゲート°領域にはコノデ
ノサ7を介して電圧ψφBが印加されr’f h・ドレ
イン間ダイオードには(v′φR+vφC)の順方向電
圧が加わる。この為、 8 I T 20−n のゲー
トは電位(−VφR−VφC+φB〕までリセットされ
る。
その後、他の行ライン21−2.21−s 、・・・・
・・・・・21−n の水平走査後のブランキング期間
tBLには、垂直走査信号φG1はOvであり、クリア
ー信号φCはクリアー電圧(−VφC)となる為、ゲー
ト・ドレイン間は電圧(−V160 + IIIB )
又は該電圧(−Vφc + dB)以下までクリアーさ
れる。更に、再び垂直走査信号φGtが読出シ電圧VI
IG Kナルト、S I T 20−11の信号が読出
される。このようにして上述の一実施例と同様の動作が
行なわれる。
・・・・・21−n の水平走査後のブランキング期間
tBLには、垂直走査信号φG1はOvであり、クリア
ー信号φCはクリアー電圧(−VφC)となる為、ゲー
ト・ドレイン間は電圧(−V160 + IIIB )
又は該電圧(−Vφc + dB)以下までクリアーさ
れる。更に、再び垂直走査信号φGtが読出シ電圧VI
IG Kナルト、S I T 20−11の信号が読出
される。このようにして上述の一実施例と同様の動作が
行なわれる。
本実施例に於いては、上記クリアー信号発生回路40が
新規に必要となるが、垂直走査信号φGは上述の一実施
例より簡単になり、垂直走査回路は一層、簡潔な構成と
なる。
新規に必要となるが、垂直走査信号φGは上述の一実施
例より簡単になり、垂直走査回路は一層、簡潔な構成と
なる。
尚、クリアー信号発生回路40は固体撮像装置内に設け
ずに外部の駆動回路より与えることもできる。
ずに外部の駆動回路より与えることもできる。
発明の効果
本発明の固体撮像装置によれば、静電誘導形トランジス
タを光検出及びスイッチング素子として一画素な溝底し
た固体撮像装置に、一画素のリセット期間と読出し期間
とを設ける駆動手段を備えさせることによりガンマ値の
小さい、良好な入射光量対出力特性を有する固体撮像装
置を得ることができる。更に、一部の画素に極めて強い
光照射があった場合でも、非選択画素からの信号混入の
ない固体撮像装置を簡単な構成により得ることができる
。
タを光検出及びスイッチング素子として一画素な溝底し
た固体撮像装置に、一画素のリセット期間と読出し期間
とを設ける駆動手段を備えさせることによりガンマ値の
小さい、良好な入射光量対出力特性を有する固体撮像装
置を得ることができる。更に、一部の画素に極めて強い
光照射があった場合でも、非選択画素からの信号混入の
ない固体撮像装置を簡単な構成により得ることができる
。
上述したように1本発明の固体撮像装置は極め1:攪れ
た撮像特性を実現することができろ。
た撮像特性を実現することができろ。
第1図(〜は、従来の固体撮像装置のll1IIi素を
構成するBIT断面図、第1図(B)は、該装置の全体
の回路構成図、第1図(C)は、該装置の動作用信号波
形図、第2図は、一般的な入射元段対出力特性図、第3
図は、一般的なゲート電圧対Fレイン電流特性図、第4
図(Alは1本発明の固体撮像装置の一実施例を示す全
体の回路構成図、第4図fB)は。 該装置の動作用信号波形図、第5図IAIは1本発明の
固体撮像装置の他の実施例を示す回路構成図。 第5図(川は、該装置の動作用信号波形図、第5図(C
)は、該装置のNOR回路の一実施例を示す回路構成図
、第6図は1本発明の固体撮像装置の入射光量対出力特
性図、第7図(A)は1本発明の固体撮像装置の更に他
の実施例な示す全体回路構成図。 第7図(B)は、該装置の動作用信号波形図である。 4・・・ゲート領域、7・・・コツプ/す。 20−11 、20−12 、−=−20−mn−8I
T 。 21−1.21− z 、・・・・・・・・・21−m
・−・行ライン。 22−+ 、 22−2 、 ・==−22−n ・・
・列ライン。 23−+、 23−2+・・・・・・23−n・・・列
選択用トラ7ジスタ。 24・・ビテオライノ。 26・・・垂直走査回路、27・・・水平走を回路。 40・・・クリアー信号発生回路な表わす。 第1図 (A) (B) 第1図 (C) ■G 融 2図 第3図 第5図 (Al 第5図 相対入射光量 P→ 第7図 第7図 (B)
構成するBIT断面図、第1図(B)は、該装置の全体
の回路構成図、第1図(C)は、該装置の動作用信号波
形図、第2図は、一般的な入射元段対出力特性図、第3
図は、一般的なゲート電圧対Fレイン電流特性図、第4
図(Alは1本発明の固体撮像装置の一実施例を示す全
体の回路構成図、第4図fB)は。 該装置の動作用信号波形図、第5図IAIは1本発明の
固体撮像装置の他の実施例を示す回路構成図。 第5図(川は、該装置の動作用信号波形図、第5図(C
)は、該装置のNOR回路の一実施例を示す回路構成図
、第6図は1本発明の固体撮像装置の入射光量対出力特
性図、第7図(A)は1本発明の固体撮像装置の更に他
の実施例な示す全体回路構成図。 第7図(B)は、該装置の動作用信号波形図である。 4・・・ゲート領域、7・・・コツプ/す。 20−11 、20−12 、−=−20−mn−8I
T 。 21−1.21− z 、・・・・・・・・・21−m
・−・行ライン。 22−+ 、 22−2 、 ・==−22−n ・・
・列ライン。 23−+、 23−2+・・・・・・23−n・・・列
選択用トラ7ジスタ。 24・・ビテオライノ。 26・・・垂直走査回路、27・・・水平走を回路。 40・・・クリアー信号発生回路な表わす。 第1図 (A) (B) 第1図 (C) ■G 融 2図 第3図 第5図 (Al 第5図 相対入射光量 P→ 第7図 第7図 (B)
Claims (4)
- (1) 行選択制御信号を印加する複数の行ラインと列
選択制御信号を印加する複数の列ラインと2列ラインに
接続された一方の主電極と共通に接続された他力の主電
極と主電極間圧配設されたチャネル領域とゲート領域と
からなる画素を構成する静電誘導形トランジスタと、上
記トランジスタのゲート領域と行ラインとの間に接続さ
れたコノデノサと、一画素のリセット期間と読出し期間
との間に画素の蓄積電荷の一部をクリアーする期間とを
設ける駆動手段とを備えたことを特徴とする固体撮像装
置。 - (2)上記駆動手段は、上記ゲート領域を逆バイアスす
るリセット期間とダート領域を逆バイアス状態で画素信
号とを読出す期間との間に、該ゲート領域を上記リセッ
ト期間より低い逆バイアス状態にする期間で駆動するこ
とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の固体撮像装
置。 - (3)上記駆動手段は、読出し信号とこれに続(リセッ
ト信号と1次の読出し信号との間に少なくとも1つのク
リアー信号とを備えた行選択制御信号とにより構成され
たことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の固体撮
像装置、 - (4)上記駆動手段は、読出し信号とこれに続くリセッ
ト信号とを備える行選択制御信号と、リセット信号に同
期して上記静電誘導形トランジスタの共通に接続された
主電極にゲート領域と該主電極間とを順バイアスする回
路とで構成され℃いることを特徴とする特許請求の範囲
第1項記載の固体撮像装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58213488A JPS60105272A (ja) | 1983-11-14 | 1983-11-14 | 固体撮像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58213488A JPS60105272A (ja) | 1983-11-14 | 1983-11-14 | 固体撮像装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60105272A true JPS60105272A (ja) | 1985-06-10 |
Family
ID=16640023
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58213488A Pending JPS60105272A (ja) | 1983-11-14 | 1983-11-14 | 固体撮像装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60105272A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3734957A1 (de) * | 1986-10-15 | 1988-05-11 | Olympus Optical Co | Logarithmische farbabbildungsvorrichtung |
US4962961A (en) * | 1988-03-23 | 1990-10-16 | Mazda Motor Corporation | Automobile front body structure |
DE3744911C2 (de) * | 1986-10-15 | 1995-09-28 | Olympus Optical Co | Abbildungsvorrichtung mit logarithmischer bzw. exponentieller Charakteristik |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5515229A (en) * | 1978-07-18 | 1980-02-02 | Semiconductor Res Found | Semiconductor photograph device |
JPS5799876A (en) * | 1980-12-15 | 1982-06-21 | Sharp Corp | Solid-state image pickup device |
JPS58105672A (ja) * | 1981-12-17 | 1983-06-23 | Fuji Photo Film Co Ltd | 半導体撮像装置 |
-
1983
- 1983-11-14 JP JP58213488A patent/JPS60105272A/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5515229A (en) * | 1978-07-18 | 1980-02-02 | Semiconductor Res Found | Semiconductor photograph device |
JPS5799876A (en) * | 1980-12-15 | 1982-06-21 | Sharp Corp | Solid-state image pickup device |
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---|---|---|---|---|
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DE3744911C2 (de) * | 1986-10-15 | 1995-09-28 | Olympus Optical Co | Abbildungsvorrichtung mit logarithmischer bzw. exponentieller Charakteristik |
US4962961A (en) * | 1988-03-23 | 1990-10-16 | Mazda Motor Corporation | Automobile front body structure |
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