JPS6057988A - 半導体レ−ザ - Google Patents
半導体レ−ザInfo
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- JPS6057988A JPS6057988A JP16593283A JP16593283A JPS6057988A JP S6057988 A JPS6057988 A JP S6057988A JP 16593283 A JP16593283 A JP 16593283A JP 16593283 A JP16593283 A JP 16593283A JP S6057988 A JPS6057988 A JP S6057988A
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- groove
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- H01S5/20—Structure or shape of the semiconductor body to guide the optical wave ; Confining structures perpendicular to the optical axis, e.g. index or gain guiding, stripe geometry, broad area lasers, gain tailoring, transverse or lateral reflectors, special cladding structures, MQW barrier reflection layers
- H01S5/22—Structure or shape of the semiconductor body to guide the optical wave ; Confining structures perpendicular to the optical axis, e.g. index or gain guiding, stripe geometry, broad area lasers, gain tailoring, transverse or lateral reflectors, special cladding structures, MQW barrier reflection layers having a ridge or stripe structure
- H01S5/227—Buried mesa structure ; Striped active layer
-
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- H01S5/2206—Structure or shape of the semiconductor body to guide the optical wave ; Confining structures perpendicular to the optical axis, e.g. index or gain guiding, stripe geometry, broad area lasers, gain tailoring, transverse or lateral reflectors, special cladding structures, MQW barrier reflection layers having a ridge or stripe structure comprising special burying or current confinement layers based on III-V materials
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- H01S5/2275—Buried mesa structure ; Striped active layer mesa created by etching
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- H01S5/32—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures
- H01S5/323—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures in AIIIBV compounds, e.g. AlGaAs-laser, InP-based laser
- H01S5/32308—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures in AIIIBV compounds, e.g. AlGaAs-laser, InP-based laser emitting light at a wavelength less than 900 nm
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- H01S5/32308—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures in AIIIBV compounds, e.g. AlGaAs-laser, InP-based laser emitting light at a wavelength less than 900 nm
- H01S5/32316—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures in AIIIBV compounds, e.g. AlGaAs-laser, InP-based laser emitting light at a wavelength less than 900 nm comprising only (Al)GaAs
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は半導体基板(以下、基板と記す)に溝を持つ半
導体レーザの改良に関するものである。
導体レーザの改良に関するものである。
上記半導体レーザの一般的な原理構造の断面図を第1図
に示す。
に示す。
第1図において、1はn型半導体基板、2はn型半導体
層(尚、1よシ禁止帯巾が太い。)、3は活性層、4は
P型半導体層(尚、1よシ禁止帯巾が大きい。)、5は
n型低抵抗層、6はP型拡散層、7及び8は電極である
。
層(尚、1よシ禁止帯巾が太い。)、3は活性層、4は
P型半導体層(尚、1よシ禁止帯巾が大きい。)、5は
n型低抵抗層、6はP型拡散層、7及び8は電極である
。
上記層構造の場合、基板上の溝以外への電流注入による
光は、基板に吸収され、外部量子効率が悪いという欠点
を有する。
光は、基板に吸収され、外部量子効率が悪いという欠点
を有する。
本発明の目的は上記従来構造素子の持つ難点を軽減し、
低注入電流で良好な外部微分量子効率を得られる半導体
レーザを提供する。
低注入電流で良好な外部微分量子効率を得られる半導体
レーザを提供する。
本発明によれば半導体基板上に溝を持つ半導体レーザに
おいて、溝上部に基板と同一導電型の第一半導体層、動
性層、基板と反対導電型の第二半導体層及び拡散層一部
をメサ型状にすること、上記メサ型状部を基板と同一導
電型の半導体材料で埋め込んだ低抵抗層で形成されてな
ることを特徴とする半導体レーザが得られる。
おいて、溝上部に基板と同一導電型の第一半導体層、動
性層、基板と反対導電型の第二半導体層及び拡散層一部
をメサ型状にすること、上記メサ型状部を基板と同一導
電型の半導体材料で埋め込んだ低抵抗層で形成されてな
ることを特徴とする半導体レーザが得られる。
以下、本発明につき、図面を参照して説明する。
第2図に本発明の一実施例について示す。例えば、溝を
持つn型GaAs基板11上に、液相エビタキシキル法
にて、n型Ga、−xAlxAs導波路層12、GaA
s活性層13、P mG a 1− A lx A s
層14を順次形成する。次に、選択エツチングで基板の
溝より少し広くメサ形状に残した後、液相エピタキシャ
ル法でn型GaAs層15を埋め込む。上記15層と1
4層の中程までZnを拡散してP型拡散層16を形成す
る。電極17.18を両面蒸着することにより半導体レ
ーザ素子ができる。
持つn型GaAs基板11上に、液相エビタキシキル法
にて、n型Ga、−xAlxAs導波路層12、GaA
s活性層13、P mG a 1− A lx A s
層14を順次形成する。次に、選択エツチングで基板の
溝より少し広くメサ形状に残した後、液相エピタキシャ
ル法でn型GaAs層15を埋め込む。上記15層と1
4層の中程までZnを拡散してP型拡散層16を形成す
る。電極17.18を両面蒸着することにより半導体レ
ーザ素子ができる。
第2図は、第1図に比べ活性層をメサ形状内に置き、活
性層下に溝状導波路層を有することにより、無駄な活性
層を取り除き、損失を減らすと同時に溝状導波路を有す
ることにより、低電流で光出力を増大できる構造になっ
ている。この層構造におGて、P型の基板を用いた場合
、上記各層の導電型を反対にすれば、本発明の半導体レ
ーザ素子に形成できる。さらに、本発明の半導体レーザ
はどのような半導体材料にも適用できる。本発明は活性
層幅を狭く埋め込みにしたことにより、溝の外部による
吸収損失が少なくなる。1fc、溝状の導波路層を有す
るゆえに、低注入電流で外部微分量子効率の優れた半導
体レーザを得ることができる。
性層下に溝状導波路層を有することにより、無駄な活性
層を取り除き、損失を減らすと同時に溝状導波路を有す
ることにより、低電流で光出力を増大できる構造になっ
ている。この層構造におGて、P型の基板を用いた場合
、上記各層の導電型を反対にすれば、本発明の半導体レ
ーザ素子に形成できる。さらに、本発明の半導体レーザ
はどのような半導体材料にも適用できる。本発明は活性
層幅を狭く埋め込みにしたことにより、溝の外部による
吸収損失が少なくなる。1fc、溝状の導波路層を有す
るゆえに、低注入電流で外部微分量子効率の優れた半導
体レーザを得ることができる。
第1図は、半導体基板に溝を持つ従来の半導体レーザを
示す断面図。、第2図は本発明による一実施例を示す断
面図。 1.11・・・・・・n型GaAs基板、2.12・・
・・・・n型Ga、−xAJxAs層、3.13・・・
・・・GaAs活性層、4 、14−−−−・・P型Q
a、−xklxks層、5.15・・・・・・n型Ga
As低抵抗層、6.16・旧・・P型拡散層、7.17
及び8.18・・・・・・金属電極。 々)8に冒\f \
示す断面図。、第2図は本発明による一実施例を示す断
面図。 1.11・・・・・・n型GaAs基板、2.12・・
・・・・n型Ga、−xAJxAs層、3.13・・・
・・・GaAs活性層、4 、14−−−−・・P型Q
a、−xklxks層、5.15・・・・・・n型Ga
As低抵抗層、6.16・旧・・P型拡散層、7.17
及び8.18・・・・・・金属電極。 々)8に冒\f \
Claims (1)
- 半導体基板上に溝を有する半導体レーザにおいて、前記
溝上部に基板と同一導電型の第一半導体層、活性層、基
板と反対導電型の第二半導体層及び拡散層一部をメサ型
状にすること、前記メサ型状部を基板と同一導電型の半
導体材料で埋め込んだ低抵抗層で形成されてなることを
特徴とする半導体レーザ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16593283A JPS6057988A (ja) | 1983-09-09 | 1983-09-09 | 半導体レ−ザ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16593283A JPS6057988A (ja) | 1983-09-09 | 1983-09-09 | 半導体レ−ザ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6057988A true JPS6057988A (ja) | 1985-04-03 |
Family
ID=15821748
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP16593283A Pending JPS6057988A (ja) | 1983-09-09 | 1983-09-09 | 半導体レ−ザ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6057988A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0198656A2 (en) * | 1985-04-11 | 1986-10-22 | Sharp Kabushiki Kaisha | A semiconductor laser device |
EP0209372A2 (en) * | 1985-07-17 | 1987-01-21 | Sharp Kabushiki Kaisha | A semiconductor laser device |
JPS6381884A (ja) * | 1986-09-26 | 1988-04-12 | Toshiba Corp | 半導体発光装置 |
EP0264225A2 (en) * | 1986-10-07 | 1988-04-20 | Sharp Kabushiki Kaisha | A semiconductor laser device and a method for the production of the same |
EP0321294A2 (en) * | 1987-12-18 | 1989-06-21 | Sharp Kabushiki Kaisha | A semiconductor laser device |
-
1983
- 1983-09-09 JP JP16593283A patent/JPS6057988A/ja active Pending
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0198656A2 (en) * | 1985-04-11 | 1986-10-22 | Sharp Kabushiki Kaisha | A semiconductor laser device |
EP0198656A3 (en) * | 1985-04-11 | 1988-01-07 | Sharp Kabushiki Kaisha | A semiconductor laser device |
US4754462A (en) * | 1985-04-11 | 1988-06-28 | Sharp Kabushiki Kaisha | Semiconductor laser device with a V-channel and a mesa |
EP0209372A2 (en) * | 1985-07-17 | 1987-01-21 | Sharp Kabushiki Kaisha | A semiconductor laser device |
EP0209372A3 (en) * | 1985-07-17 | 1988-05-04 | Sharp Kabushiki Kaisha | A semiconductor laser device |
JPS6381884A (ja) * | 1986-09-26 | 1988-04-12 | Toshiba Corp | 半導体発光装置 |
JP2659937B2 (ja) * | 1986-09-26 | 1997-09-30 | 株式会社東芝 | 半導体発光装置 |
EP0264225A2 (en) * | 1986-10-07 | 1988-04-20 | Sharp Kabushiki Kaisha | A semiconductor laser device and a method for the production of the same |
EP0321294A2 (en) * | 1987-12-18 | 1989-06-21 | Sharp Kabushiki Kaisha | A semiconductor laser device |
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