JPS6057597A - プログラマブルrom - Google Patents

プログラマブルrom

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Publication number
JPS6057597A
JPS6057597A JP58164099A JP16409983A JPS6057597A JP S6057597 A JPS6057597 A JP S6057597A JP 58164099 A JP58164099 A JP 58164099A JP 16409983 A JP16409983 A JP 16409983A JP S6057597 A JPS6057597 A JP S6057597A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
transistor
circuit
level
gate
memory cell
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP58164099A
Other languages
English (en)
Inventor
Iwao Sagara
相良 岩男
Tatsuo Mimura
三村 達雄
Hiroshi Kuwabara
拓 桑原
Masahiko Nagatomo
雅彦 長友
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Oki Electric Industry Co Ltd
Miyazaki Oki Electric Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
Miyazaki Oki Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Oki Electric Industry Co Ltd, Miyazaki Oki Electric Co Ltd filed Critical Oki Electric Industry Co Ltd
Priority to JP58164099A priority Critical patent/JPS6057597A/ja
Publication of JPS6057597A publication Critical patent/JPS6057597A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C17/00Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards

Landscapes

  • Read Only Memory (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (技術分野) 本発明ば+2PIば)M、TすEF ROM等において
データの再書込みを防止する物理的な構造又は電子回路
に関するものである。
(背景技術) 従来のEP 110h丁及びEEP ROMは、データ
の書込み及び消去が、]FROへ(は書込みかできるよ
うに構成されていたが、データの再書込み防止に関する
回路は伺加されていなかった。このためデータか周辺回
路の誤動作により、又は誤操作に変更する事ができると
いうような欠点があった。
パーソナル無線、ファクシミリ、電話端末3tニおいて
機器の固有番号を■(・0M化しようとする動きが活発
化し始めてきている。簡単にrtoM化づ−る事ができ
ても、追加1−込みが可能な為誤動作又は故意によりデ
ータが変更される可能性があった。
従ってこれを防止するための手段が必要である。
(発明の課題) 本発明の目的は、フィールドプログラマブル1伸・\4
の再書込みを防+h−fるものでその特徴は、メモリセ
ルトランジスタのゲート−ソース間又はドレインノーソ
ース間又は両方の電圧を注入電圧(例えば2(′J″V
I程度)より充分低い電圧(例え(・f5V程度)に制
御する回路を有することにある。
(発明の+171成および作用) 第1121は第1の実施例を示す回路図であり、この第
1図はP型基板上に設けられたnチャネル型2重ゲート
禍造プロセスで製造された書込み可能な半フ、Q体不揮
発性メモリ(以下P ll0Mという)で左)ろ0 この第1図において、メモリセルトランジスタ;31は
メモリセルアレイ中の書込み選択されるメモリセルトラ
ンジスタ(FAMO8型トランジスタ)であり、そのゲ
ートはワードライン100に、ドレインはピッ)・ライ
ン110に接続されソースは接地電位である。トランジ
スタ32は書込み時にメモリ;セルトランジスタ3」の
ドレインにアバランシェ電圧(例えば12〜13V)を
印加するためのトランジスタでありそのゲートは書込み
イネーブル回路114の出力端子に接続されドレインは
書込み電源端子Vpp(例えvf2+v)に接続され、
ソースは出力バノフ了−回路116の入力端子とワード
ライン110て接続さしtでいる。
次にPli′”N!−込入防止回路]]1、再潜込み防
止用トランジスタゲーI−電圧印加回路]12、再シー
込、’< ’fhb止庄l・ランジスク、ドレイン電圧
印加回路113、書込みイネーブル回路]111、ワー
ドライン書込み読出し撰択回路115、出力バッファ回
路116について順次説明する。
まず再裾、込み防止回路111について説明する3、書
込みイネーブル信号端子W(・〕はトランジスタ′、9
:うの’y’−1−に接続され、そのドレインはl・ラ
ンジスタ37のゲートに→妾続されソースは接地電位に
なっている。再潜込み防止信号端子K E Yはトラン
ジスタ34のゲーI・に接続され、そのドレインG:1
、トランジスタ37のゲート眞接続されソースは接地電
位になっている。トランジスタ33.34のドレインは
トランジスタ35のゲートとソースに接続されドレイン
は電源端子Vccに接続されている。
トランジスタ37のドレインは、再書込み防止回路11
1の出力端子に接続されゲーI・ばトランジスタ33.
34のドレインに接続され、ソースは再書込、フッ、1
ニカ1)二用)・う/ジスク(FA入XI)S ) 3
6のドレイン眞接続されている。百」込み防止用トラン
ジスタゲート?El:圧印加回路月2の出力端子に接続
され、トレインは再シ込み防止用トランジスタドレイン
電圧印加回路用3の出力端子に接続され、ソースは接地
電位になっている。この出力端子にはトランジスタ38
のゲートとソースが接続されこのドレインは電源端子V
LIに接続されている。次に再書込み防止用トランジス
クゲート電圧印加回路112について説明する。この回
路は、再書込み防止時に再書込み防止用トランジスタ3
Gのゲート−ドレイン間に注入電圧を印加するためのも
のである。再書込み防止信号端子1(T’:Yの反転信
号1(BYはトラン)スタ41のゲートIC接続されこ
のドレインハ再書込み防止用トランジスタゲート電圧印
加回路112の出力端子に接続され、ソースは電源端子
Vccに接続されている。この出力端子には、トランジ
スタlI2のゲートとソースが接続されていてドレイン
は混込・り電、源端子VppK接続されている。次に再
書込み防止用トランジスタドレイン電圧印加回路113
 icついて説明する。
この回路は、再潜込み防11一時に再71)込ん1(1
)市1−f]トランジスタ36のドレイン−ソース間に
、T人′117、ハコを印加するためのものでハコ)る
。書込み防止信号端子J(INの反転信号J<J′2Y
はトランジスタ、13のゲーI・に接続されそのドレイ
ン(’:L l−ランジスタ45のゲートに接続され、
ソースは接地電位になっている。
トランジスタlI4のゲートとソースはトランジスタ4
30ドレインに接続され、ドレインは別込み電源端子V
ppに接続されている。トランジスタ/15のゲートは
トランジスタ/I3のドレインに接続されドレインは碧
込み電源端子Vt)I)に接続され、ソースは再書込み
防止用トランジスタドレイン電圧印加回路113の出力
端子に接続されている。次に1r:込みイネーブル回路
1]4について説明する。トランジスタ3つのゲートは
書込み防止回路111の出カψ:ta子に接続されトレ
インはシー込みイネーブル回路114の出力端子に接続
され、ソースは接地電位になっている。
この出力端子には、トランジスタ/IOのゲートとソー
スが接続されこのトレインは店込;メ電源端子Vppに
接続されている。次にワードライン書込み読出し選択回
路115について説明する。この回路は居込み時にワー
ドライン100を選択してメモリセル1、ランジスタ3
1のゲート−ドレイン間に注入′電圧を印加するブこめ
のものである。トランジスタ46のゲーl−はワードラ
イン選択信号端子WSが接続され、ドレインはl・ラン
ジスタ48のドレインに接続され、ノースは接地電位に
なっている。トランジスタ47のゲートとソースはトラ
ンジスタ46のトレインに接続され、このトランジスタ
47のドレインは電源端子VCCに接続されている。ト
ランジスタ・18カゲートは、書込みタイミング信号端
子Wl’に接続され、ドレインはトランジスタ46のド
レインに接続され、このトランジスタ480ンースはワ
ードライン層−込み読出し選択回路115の出力端子に
接続されている。この出力端子にはトランジスタ・19
のゲートとノースが接続され、このドレインは害込み電
、源端子■pに接続されている。この出力端子はワード
ライン100に接続されている。
次に出力ハノファー回路11(lについて説明する。
この回路:ま読出(2時にオ6いてワードラインの電r
Iγ変化を増幅してデータ読出し端子12F+1.C出
力するための読出し系出力バッファーて・あり入力端子
はワードライン110に接続され、出力端子はデータ読
出し端子120に接続されている。
以下上述のよう(/C構成されたフィールドプログラマ
ブルROへ・1再別込み防止回路の動作について説明す
る。
pH,OMにおいてメモリセルトランジスタ:31のn
遊ゲート(フローティングゲート)に電子を注入して書
込むにはメモリセルトランジスタ31のゲートとドレイ
ンに注入電圧を印加する必要がk)ろ。
このためpH,0Mでは″ITTノ論理で使用する電源
☆;h1子Vccの他に書込み系アバランシェ注入用の
専用117源、すなわち、書込み電源端子vppの電源
が必要となり、例えばiU:込み時には電源端子Vcc
に5vが印加されギF込み電源端子Vr11)には21
Vが印加される。選択されたメモリセルトランジスタ3
1のフローティングゲートに電子を注入(以下書込みモ
ードという。)¥ろためKは、ワードライン選択信号端
子W Sには゛■プ゛レベルが印加されかつ書込みタイ
ミング信号6.iia子\−V Tには゛L゛レベルが
印加され、デプレッションタイプトランジスタ71.8
がオフしワードライン書込み読出し選択回路115の出
力広11;子はVl)I)レベルが出力され、メモリセ
ルI・ランジスタ31のゲートの電位は注入電圧になる
それに、(シー込みイネーブル信号端子WEにはL′”
レベルが印加され、かつ、再書込み防止信号端子■Ω′
には’L”レベルが、この反転信号iにはπルベルが印
加すれデプレッションタイプトランジスタ41がオンし
1、再書込み防止用トランジスタゲー1”fti圧印加
回路112の出力端子には゛′汀゛レベルが出力されろ
またエンハンスメントタイプトランジスタ43はON 
L、エンハンスメントタイプトランジスタ45のゲート
にはL”レベルが印加されこのトランジスタ・15はオ
フし、Ml)込み防止用トランジスタドレイン?i°圧
印加回路113の出力端子は再書込み防止用トランジス
タ3Gのドレイン電圧には何ら影響しない。エンハンス
メントタイプトランジスタ:3:3.34はオフし、エ
ンハンスメントタイプトランジスタ37のゲートに+i
 ”IT”レベルが印加されこのトランジスタ37はオ
ンする。かつ再書込み防止用トランジスタ3Gのゲート
には”Ir″レベルが印加さhこのトランジスタ36は
オンし、再書ぎ込み防止回路の出力端子には0L″レベ
ルが出力される。
マタエンハンスメントタイプトランジスク3つのゲート
には“L”レベルが印加されこのトランジスタ39がオ
フし書込みイネーブル回路114の出力節1;子はVp
I)レベルが出力される。
ゆえにエンハンスメントタイプトランジスタ32のゲー
トにはvppレベルが印加されこのトランジスタ32は
オンし、メモリセルトランジスタ31のドレインは注入
電圧になり、このトランジスタ31のフローティングゲ
ートに電子が注入(以下:Σ込みという)される。次に
書込み再防止用トランジスタ36の70−ティングゲ−
1・に電、子を注入(以下キーロックモードという)す
るためには、再(11−込み防止信号端子KFXには’
TI”レベルが印加されその反転信寓)<石には゛L′
ルベルが印加されデプレションタイプトランジスタ41
はオフし、再書込み防止用l・ランジスクゲート電圧印
加回路112の出力(、:i、i子は注入市゛圧が出力
される。
またエンハンスメントタイプトランジスタ/I3はオフ
し、エンハンスメントタイプトランジスタ45のゲート
にはへlppレベルが印加され、再仏、込み防止用トラ
ンジスタドレイン電圧印加回路113の出力端子には注
入電圧が出力される。またエンハンスメントタイプトラ
ンジスタ34はオンし、エンハンスメントタイプトラン
ジスタ37のゲートにはIILI+レベルが印加されこ
のトランジスタ37はオンする。
ゆえに再書込み防止用トランジスタ36のドレインとゲ
ートは注入電圧になりこのトランジスタ36は?)込ま
れる。
またこのキーロックモードでは、再書込み防止回路の出
力端子には″汗゛レベルが出力され、L″込みイオーブ
ル回路11・1の出力端子にしま゛L″レベルが出力さ
れ、エンノ・ンスメントタイプトランジスタ;32はオ
フし、メモリセルトランジスタ31のドレイン(では?
主入1[を圧は印加されずこのトランジスタ31の書込
みはてきない。次1(再」込み防止用トランジスタ36
が書込まれた後に書込みモードになる場合を説明する。
前記書込みモードと同様に再1゛込み防止Jηトランジ
スタゲート電圧印加回路、112の出力端には”TI”
レベルが、ワードライン書込み読出し選択回路115の
出力ψ;1j子には書込みレベルが出力され、再書込み
防止用トランジスタドレイン電圧印加回路113の出力
端子は再書込み防止用トランジスタ36のドレイン電圧
には何ら影響しない。トランジスタ37はオンするが再
書込み防止用トランジスタ36のしきい値が’I 7”
レベルより十分高(なっているため常にオフとなり、再
店=込み防止回路IIIの出力端子には゛′汀゛レベル
が出力され、メモリセルトランジスタ31の書込みは出
来ない。」二記第1の実施例では、再書込み防止用トラ
ンジスタ36をσニー込むことで、メモリセルトランジ
スタ3]のドレイン電圧を注入電圧より十分低く制御し
て、再書込みを防止したが、第2図に示す様にメモリセ
ルトランジスタ31のゲー1”Llf圧を注入電圧より
十分低くして丙−1[4込1)を防止することもできろ
。すなわち、l・ランジスタ33のゲートを書込みタイ
ミング信−づ端子WTに接続し、かつ、トランジスタ3
9のケートを店込みイ坏−ブル信号端子WEに接続しか
つ、1、ランジスク48のゲートを再書込み防止回路1
11の出力端子に接続してもよい。
この場合、ワード線書込み読出し選択回路115に:t
6いてトランジスタ46がオフし、かつトランジスタ1
18がオンしている場合、この回路の出力端子には、ト
ランジスタ/+7と/19のディメンジョン比により“
’Vcc”レベルが出力されるものとする。なお、その
他の1小分&i第1図と同様であり、第1図と同Y/3
分には同一符号を伺してその説明を省略する。
キーロックモードにおいて、メモリセルトランジスタ3
1のドレインが注入常圧となっても、ワードj?:’l
(’+E、F込、)・、読出し選択回路115のトラン
ジスタ48のゲートには’T I”レベルが印加され、
この回路の出力ψ11.1子には゛ゴ7″レベルか゛ト
rルベルが出力される。
し))気1cメモリセルトランジスタ31のゲートには
注入電圧より十分低い霜4圧しか印加されず書込入は出
来ない。またキーロック後の書込みモードにおいても同
様で゛ある。
(発明の効果) 以上説明したように、第1の実施例では、再書込み防止
用トランジスタ(FAへ408 )の悲込み後14すべ
ての入力信号端子にどのようなレベルを印加してもメモ
リセルトランジスタ(FAMO8)にはりニー込むこと
ができないのであるからメモリセルトランジスタの再書
込み防止が出来る利点がキ)ろ。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明のフィールドプログラマブル]”CM
 ′P′S書込み防止回路の−の実施例を示す回路ジ1
、第2図はこの発明のフィールドプログラマブルROM
再書込み防1に回路の他の実施例を示す回路図である。 31〜4つ・ トランジスタ、100・・・ワードライ
ン、110・・・ビットライン、111・・・再書込ろ
vノ止回路、112・・−再書込み防止用トランジスタ
ゲート電圧印加回路、113・・・再書込み防止用トラ
ンジスタドレイン′市圧印J、l:II・]1路、l]
4・・・書込みイネーブル回路、1】)・・・ワーI・
ライン刀、込み読出し選択回路、1]6・・・出力バッ
ファー回路、120・・・データ読出し端子。 !l”1’ +</1出願人 沖′j−Ll、気工業株式会社 宮崎沖電気株式会社 特許出願代理人 弁理士 山 本 恵 −

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)データの書込みが可能なメモリセルトランジスタ
    からなるメモリセルアレイと、該メモリセルトランジス
    タへのデータの書込みを可能とするための書込みイネー
    ブル回路とを有するプロゲラマブルl’(、OMにおい
    て、前記書込みイネーブル回路はデータの書込みが可能
    なトランジスタをふくミ、該トランジスタへのデータの
    書込みによりNI記Xq込みイネーブル回路を動作不能
    として前記メモリセルトランジスタへのデータの再書込
    みを防+lr−することを特徴とするプログラマブルR
    ,OMo(2) 前記プログラマブルI(、OMがフイ
    ールドフ。 ログラマブルIi、 OMであることを特徴とする特許
    請求の範囲7Pi、1項記載のプロゲラマフ“ルROM
JP58164099A 1983-09-08 1983-09-08 プログラマブルrom Pending JPS6057597A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58164099A JPS6057597A (ja) 1983-09-08 1983-09-08 プログラマブルrom

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58164099A JPS6057597A (ja) 1983-09-08 1983-09-08 プログラマブルrom

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6057597A true JPS6057597A (ja) 1985-04-03

Family

ID=15786741

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58164099A Pending JPS6057597A (ja) 1983-09-08 1983-09-08 プログラマブルrom

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JP (1) JPS6057597A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01150297A (ja) * 1987-12-07 1989-06-13 Nec Corp データ保護回路付eeprom
US5506806A (en) * 1993-09-20 1996-04-09 Nec Corporation Memory protection circuit for EPROM

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5538624A (en) * 1978-09-05 1980-03-18 Sanyo Electric Co Ltd Nonvolatile semiconductor memory device

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