JPS6057597A - プログラマブルrom - Google Patents
プログラマブルromInfo
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- JPS6057597A JPS6057597A JP58164099A JP16409983A JPS6057597A JP S6057597 A JPS6057597 A JP S6057597A JP 58164099 A JP58164099 A JP 58164099A JP 16409983 A JP16409983 A JP 16409983A JP S6057597 A JPS6057597 A JP S6057597A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- transistor
- circuit
- level
- gate
- memory cell
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C17/00—Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards
Landscapes
- Read Only Memory (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(技術分野)
本発明ば+2PIば)M、TすEF ROM等において
データの再書込みを防止する物理的な構造又は電子回路
に関するものである。
データの再書込みを防止する物理的な構造又は電子回路
に関するものである。
(背景技術)
従来のEP 110h丁及びEEP ROMは、データ
の書込み及び消去が、]FROへ(は書込みかできるよ
うに構成されていたが、データの再書込み防止に関する
回路は伺加されていなかった。このためデータか周辺回
路の誤動作により、又は誤操作に変更する事ができると
いうような欠点があった。
の書込み及び消去が、]FROへ(は書込みかできるよ
うに構成されていたが、データの再書込み防止に関する
回路は伺加されていなかった。このためデータか周辺回
路の誤動作により、又は誤操作に変更する事ができると
いうような欠点があった。
パーソナル無線、ファクシミリ、電話端末3tニおいて
機器の固有番号を■(・0M化しようとする動きが活発
化し始めてきている。簡単にrtoM化づ−る事ができ
ても、追加1−込みが可能な為誤動作又は故意によりデ
ータが変更される可能性があった。
機器の固有番号を■(・0M化しようとする動きが活発
化し始めてきている。簡単にrtoM化づ−る事ができ
ても、追加1−込みが可能な為誤動作又は故意によりデ
ータが変更される可能性があった。
従ってこれを防止するための手段が必要である。
(発明の課題)
本発明の目的は、フィールドプログラマブル1伸・\4
の再書込みを防+h−fるものでその特徴は、メモリセ
ルトランジスタのゲート−ソース間又はドレインノーソ
ース間又は両方の電圧を注入電圧(例えば2(′J″V
I程度)より充分低い電圧(例え(・f5V程度)に制
御する回路を有することにある。
の再書込みを防+h−fるものでその特徴は、メモリセ
ルトランジスタのゲート−ソース間又はドレインノーソ
ース間又は両方の電圧を注入電圧(例えば2(′J″V
I程度)より充分低い電圧(例え(・f5V程度)に制
御する回路を有することにある。
(発明の+171成および作用)
第1121は第1の実施例を示す回路図であり、この第
1図はP型基板上に設けられたnチャネル型2重ゲート
禍造プロセスで製造された書込み可能な半フ、Q体不揮
発性メモリ(以下P ll0Mという)で左)ろ0 この第1図において、メモリセルトランジスタ;31は
メモリセルアレイ中の書込み選択されるメモリセルトラ
ンジスタ(FAMO8型トランジスタ)であり、そのゲ
ートはワードライン100に、ドレインはピッ)・ライ
ン110に接続されソースは接地電位である。トランジ
スタ32は書込み時にメモリ;セルトランジスタ3」の
ドレインにアバランシェ電圧(例えば12〜13V)を
印加するためのトランジスタでありそのゲートは書込み
イネーブル回路114の出力端子に接続されドレインは
書込み電源端子Vpp(例えvf2+v)に接続され、
ソースは出力バノフ了−回路116の入力端子とワード
ライン110て接続さしtでいる。
1図はP型基板上に設けられたnチャネル型2重ゲート
禍造プロセスで製造された書込み可能な半フ、Q体不揮
発性メモリ(以下P ll0Mという)で左)ろ0 この第1図において、メモリセルトランジスタ;31は
メモリセルアレイ中の書込み選択されるメモリセルトラ
ンジスタ(FAMO8型トランジスタ)であり、そのゲ
ートはワードライン100に、ドレインはピッ)・ライ
ン110に接続されソースは接地電位である。トランジ
スタ32は書込み時にメモリ;セルトランジスタ3」の
ドレインにアバランシェ電圧(例えば12〜13V)を
印加するためのトランジスタでありそのゲートは書込み
イネーブル回路114の出力端子に接続されドレインは
書込み電源端子Vpp(例えvf2+v)に接続され、
ソースは出力バノフ了−回路116の入力端子とワード
ライン110て接続さしtでいる。
次にPli′”N!−込入防止回路]]1、再潜込み防
止用トランジスタゲーI−電圧印加回路]12、再シー
込、’< ’fhb止庄l・ランジスク、ドレイン電圧
印加回路113、書込みイネーブル回路]111、ワー
ドライン書込み読出し撰択回路115、出力バッファ回
路116について順次説明する。
止用トランジスタゲーI−電圧印加回路]12、再シー
込、’< ’fhb止庄l・ランジスク、ドレイン電圧
印加回路113、書込みイネーブル回路]111、ワー
ドライン書込み読出し撰択回路115、出力バッファ回
路116について順次説明する。
まず再裾、込み防止回路111について説明する3、書
込みイネーブル信号端子W(・〕はトランジスタ′、9
:うの’y’−1−に接続され、そのドレインはl・ラ
ンジスタ37のゲートに→妾続されソースは接地電位に
なっている。再潜込み防止信号端子K E Yはトラン
ジスタ34のゲーI・に接続され、そのドレインG:1
、トランジスタ37のゲート眞接続されソースは接地電
位になっている。トランジスタ33.34のドレインは
トランジスタ35のゲートとソースに接続されドレイン
は電源端子Vccに接続されている。
込みイネーブル信号端子W(・〕はトランジスタ′、9
:うの’y’−1−に接続され、そのドレインはl・ラ
ンジスタ37のゲートに→妾続されソースは接地電位に
なっている。再潜込み防止信号端子K E Yはトラン
ジスタ34のゲーI・に接続され、そのドレインG:1
、トランジスタ37のゲート眞接続されソースは接地電
位になっている。トランジスタ33.34のドレインは
トランジスタ35のゲートとソースに接続されドレイン
は電源端子Vccに接続されている。
トランジスタ37のドレインは、再書込み防止回路11
1の出力端子に接続されゲーI・ばトランジスタ33.
34のドレインに接続され、ソースは再書込、フッ、1
ニカ1)二用)・う/ジスク(FA入XI)S ) 3
6のドレイン眞接続されている。百」込み防止用トラン
ジスタゲート?El:圧印加回路月2の出力端子に接続
され、トレインは再シ込み防止用トランジスタドレイン
電圧印加回路用3の出力端子に接続され、ソースは接地
電位になっている。この出力端子にはトランジスタ38
のゲートとソースが接続されこのドレインは電源端子V
LIに接続されている。次に再書込み防止用トランジス
クゲート電圧印加回路112について説明する。この回
路は、再書込み防止時に再書込み防止用トランジスタ3
Gのゲート−ドレイン間に注入電圧を印加するためのも
のである。再書込み防止信号端子1(T’:Yの反転信
号1(BYはトラン)スタ41のゲートIC接続されこ
のドレインハ再書込み防止用トランジスタゲート電圧印
加回路112の出力端子に接続され、ソースは電源端子
Vccに接続されている。この出力端子には、トランジ
スタlI2のゲートとソースが接続されていてドレイン
は混込・り電、源端子VppK接続されている。次に再
書込み防止用トランジスタドレイン電圧印加回路113
icついて説明する。
1の出力端子に接続されゲーI・ばトランジスタ33.
34のドレインに接続され、ソースは再書込、フッ、1
ニカ1)二用)・う/ジスク(FA入XI)S ) 3
6のドレイン眞接続されている。百」込み防止用トラン
ジスタゲート?El:圧印加回路月2の出力端子に接続
され、トレインは再シ込み防止用トランジスタドレイン
電圧印加回路用3の出力端子に接続され、ソースは接地
電位になっている。この出力端子にはトランジスタ38
のゲートとソースが接続されこのドレインは電源端子V
LIに接続されている。次に再書込み防止用トランジス
クゲート電圧印加回路112について説明する。この回
路は、再書込み防止時に再書込み防止用トランジスタ3
Gのゲート−ドレイン間に注入電圧を印加するためのも
のである。再書込み防止信号端子1(T’:Yの反転信
号1(BYはトラン)スタ41のゲートIC接続されこ
のドレインハ再書込み防止用トランジスタゲート電圧印
加回路112の出力端子に接続され、ソースは電源端子
Vccに接続されている。この出力端子には、トランジ
スタlI2のゲートとソースが接続されていてドレイン
は混込・り電、源端子VppK接続されている。次に再
書込み防止用トランジスタドレイン電圧印加回路113
icついて説明する。
この回路は、再潜込み防11一時に再71)込ん1(1
)市1−f]トランジスタ36のドレイン−ソース間に
、T人′117、ハコを印加するためのものでハコ)る
。書込み防止信号端子J(INの反転信号J<J′2Y
はトランジスタ、13のゲーI・に接続されそのドレイ
ン(’:L l−ランジスタ45のゲートに接続され、
ソースは接地電位になっている。
)市1−f]トランジスタ36のドレイン−ソース間に
、T人′117、ハコを印加するためのものでハコ)る
。書込み防止信号端子J(INの反転信号J<J′2Y
はトランジスタ、13のゲーI・に接続されそのドレイ
ン(’:L l−ランジスタ45のゲートに接続され、
ソースは接地電位になっている。
トランジスタlI4のゲートとソースはトランジスタ4
30ドレインに接続され、ドレインは別込み電源端子V
ppに接続されている。トランジスタ/15のゲートは
トランジスタ/I3のドレインに接続されドレインは碧
込み電源端子Vt)I)に接続され、ソースは再書込み
防止用トランジスタドレイン電圧印加回路113の出力
端子に接続されている。次に1r:込みイネーブル回路
1]4について説明する。トランジスタ3つのゲートは
書込み防止回路111の出カψ:ta子に接続されトレ
インはシー込みイネーブル回路114の出力端子に接続
され、ソースは接地電位になっている。
30ドレインに接続され、ドレインは別込み電源端子V
ppに接続されている。トランジスタ/15のゲートは
トランジスタ/I3のドレインに接続されドレインは碧
込み電源端子Vt)I)に接続され、ソースは再書込み
防止用トランジスタドレイン電圧印加回路113の出力
端子に接続されている。次に1r:込みイネーブル回路
1]4について説明する。トランジスタ3つのゲートは
書込み防止回路111の出カψ:ta子に接続されトレ
インはシー込みイネーブル回路114の出力端子に接続
され、ソースは接地電位になっている。
この出力端子には、トランジスタ/IOのゲートとソー
スが接続されこのトレインは店込;メ電源端子Vppに
接続されている。次にワードライン書込み読出し選択回
路115について説明する。この回路は居込み時にワー
ドライン100を選択してメモリセル1、ランジスタ3
1のゲート−ドレイン間に注入′電圧を印加するブこめ
のものである。トランジスタ46のゲーl−はワードラ
イン選択信号端子WSが接続され、ドレインはl・ラン
ジスタ48のドレインに接続され、ノースは接地電位に
なっている。トランジスタ47のゲートとソースはトラ
ンジスタ46のトレインに接続され、このトランジスタ
47のドレインは電源端子VCCに接続されている。ト
ランジスタ・18カゲートは、書込みタイミング信号端
子Wl’に接続され、ドレインはトランジスタ46のド
レインに接続され、このトランジスタ480ンースはワ
ードライン層−込み読出し選択回路115の出力端子に
接続されている。この出力端子にはトランジスタ・19
のゲートとノースが接続され、このドレインは害込み電
、源端子■pに接続されている。この出力端子はワード
ライン100に接続されている。
スが接続されこのトレインは店込;メ電源端子Vppに
接続されている。次にワードライン書込み読出し選択回
路115について説明する。この回路は居込み時にワー
ドライン100を選択してメモリセル1、ランジスタ3
1のゲート−ドレイン間に注入′電圧を印加するブこめ
のものである。トランジスタ46のゲーl−はワードラ
イン選択信号端子WSが接続され、ドレインはl・ラン
ジスタ48のドレインに接続され、ノースは接地電位に
なっている。トランジスタ47のゲートとソースはトラ
ンジスタ46のトレインに接続され、このトランジスタ
47のドレインは電源端子VCCに接続されている。ト
ランジスタ・18カゲートは、書込みタイミング信号端
子Wl’に接続され、ドレインはトランジスタ46のド
レインに接続され、このトランジスタ480ンースはワ
ードライン層−込み読出し選択回路115の出力端子に
接続されている。この出力端子にはトランジスタ・19
のゲートとノースが接続され、このドレインは害込み電
、源端子■pに接続されている。この出力端子はワード
ライン100に接続されている。
次に出力ハノファー回路11(lについて説明する。
この回路:ま読出(2時にオ6いてワードラインの電r
Iγ変化を増幅してデータ読出し端子12F+1.C出
力するための読出し系出力バッファーて・あり入力端子
はワードライン110に接続され、出力端子はデータ読
出し端子120に接続されている。
Iγ変化を増幅してデータ読出し端子12F+1.C出
力するための読出し系出力バッファーて・あり入力端子
はワードライン110に接続され、出力端子はデータ読
出し端子120に接続されている。
以下上述のよう(/C構成されたフィールドプログラマ
ブルROへ・1再別込み防止回路の動作について説明す
る。
ブルROへ・1再別込み防止回路の動作について説明す
る。
pH,OMにおいてメモリセルトランジスタ:31のn
遊ゲート(フローティングゲート)に電子を注入して書
込むにはメモリセルトランジスタ31のゲートとドレイ
ンに注入電圧を印加する必要がk)ろ。
遊ゲート(フローティングゲート)に電子を注入して書
込むにはメモリセルトランジスタ31のゲートとドレイ
ンに注入電圧を印加する必要がk)ろ。
このためpH,0Mでは″ITTノ論理で使用する電源
☆;h1子Vccの他に書込み系アバランシェ注入用の
専用117源、すなわち、書込み電源端子vppの電源
が必要となり、例えばiU:込み時には電源端子Vcc
に5vが印加されギF込み電源端子Vr11)には21
Vが印加される。選択されたメモリセルトランジスタ3
1のフローティングゲートに電子を注入(以下書込みモ
ードという。)¥ろためKは、ワードライン選択信号端
子W Sには゛■プ゛レベルが印加されかつ書込みタイ
ミング信号6.iia子\−V Tには゛L゛レベルが
印加され、デプレッションタイプトランジスタ71.8
がオフしワードライン書込み読出し選択回路115の出
力広11;子はVl)I)レベルが出力され、メモリセ
ルI・ランジスタ31のゲートの電位は注入電圧になる
。
☆;h1子Vccの他に書込み系アバランシェ注入用の
専用117源、すなわち、書込み電源端子vppの電源
が必要となり、例えばiU:込み時には電源端子Vcc
に5vが印加されギF込み電源端子Vr11)には21
Vが印加される。選択されたメモリセルトランジスタ3
1のフローティングゲートに電子を注入(以下書込みモ
ードという。)¥ろためKは、ワードライン選択信号端
子W Sには゛■プ゛レベルが印加されかつ書込みタイ
ミング信号6.iia子\−V Tには゛L゛レベルが
印加され、デプレッションタイプトランジスタ71.8
がオフしワードライン書込み読出し選択回路115の出
力広11;子はVl)I)レベルが出力され、メモリセ
ルI・ランジスタ31のゲートの電位は注入電圧になる
。
それに、(シー込みイネーブル信号端子WEにはL′”
レベルが印加され、かつ、再書込み防止信号端子■Ω′
には’L”レベルが、この反転信号iにはπルベルが印
加すれデプレッションタイプトランジスタ41がオンし
1、再書込み防止用トランジスタゲー1”fti圧印加
回路112の出力端子には゛′汀゛レベルが出力されろ
。
レベルが印加され、かつ、再書込み防止信号端子■Ω′
には’L”レベルが、この反転信号iにはπルベルが印
加すれデプレッションタイプトランジスタ41がオンし
1、再書込み防止用トランジスタゲー1”fti圧印加
回路112の出力端子には゛′汀゛レベルが出力されろ
。
またエンハンスメントタイプトランジスタ43はON
L、エンハンスメントタイプトランジスタ45のゲート
にはL”レベルが印加されこのトランジスタ・15はオ
フし、Ml)込み防止用トランジスタドレイン?i°圧
印加回路113の出力端子は再書込み防止用トランジス
タ3Gのドレイン電圧には何ら影響しない。エンハンス
メントタイプトランジスタ:3:3.34はオフし、エ
ンハンスメントタイプトランジスタ37のゲートに+i
”IT”レベルが印加されこのトランジスタ37はオ
ンする。かつ再書込み防止用トランジスタ3Gのゲート
には”Ir″レベルが印加さhこのトランジスタ36は
オンし、再書ぎ込み防止回路の出力端子には0L″レベ
ルが出力される。
L、エンハンスメントタイプトランジスタ45のゲート
にはL”レベルが印加されこのトランジスタ・15はオ
フし、Ml)込み防止用トランジスタドレイン?i°圧
印加回路113の出力端子は再書込み防止用トランジス
タ3Gのドレイン電圧には何ら影響しない。エンハンス
メントタイプトランジスタ:3:3.34はオフし、エ
ンハンスメントタイプトランジスタ37のゲートに+i
”IT”レベルが印加されこのトランジスタ37はオ
ンする。かつ再書込み防止用トランジスタ3Gのゲート
には”Ir″レベルが印加さhこのトランジスタ36は
オンし、再書ぎ込み防止回路の出力端子には0L″レベ
ルが出力される。
マタエンハンスメントタイプトランジスク3つのゲート
には“L”レベルが印加されこのトランジスタ39がオ
フし書込みイネーブル回路114の出力節1;子はVp
I)レベルが出力される。
には“L”レベルが印加されこのトランジスタ39がオ
フし書込みイネーブル回路114の出力節1;子はVp
I)レベルが出力される。
ゆえにエンハンスメントタイプトランジスタ32のゲー
トにはvppレベルが印加されこのトランジスタ32は
オンし、メモリセルトランジスタ31のドレインは注入
電圧になり、このトランジスタ31のフローティングゲ
ートに電子が注入(以下:Σ込みという)される。次に
書込み再防止用トランジスタ36の70−ティングゲ−
1・に電、子を注入(以下キーロックモードという)す
るためには、再(11−込み防止信号端子KFXには’
TI”レベルが印加されその反転信寓)<石には゛L′
ルベルが印加されデプレションタイプトランジスタ41
はオフし、再書込み防止用l・ランジスクゲート電圧印
加回路112の出力(、:i、i子は注入市゛圧が出力
される。
トにはvppレベルが印加されこのトランジスタ32は
オンし、メモリセルトランジスタ31のドレインは注入
電圧になり、このトランジスタ31のフローティングゲ
ートに電子が注入(以下:Σ込みという)される。次に
書込み再防止用トランジスタ36の70−ティングゲ−
1・に電、子を注入(以下キーロックモードという)す
るためには、再(11−込み防止信号端子KFXには’
TI”レベルが印加されその反転信寓)<石には゛L′
ルベルが印加されデプレションタイプトランジスタ41
はオフし、再書込み防止用l・ランジスクゲート電圧印
加回路112の出力(、:i、i子は注入市゛圧が出力
される。
またエンハンスメントタイプトランジスタ/I3はオフ
し、エンハンスメントタイプトランジスタ45のゲート
にはへlppレベルが印加され、再仏、込み防止用トラ
ンジスタドレイン電圧印加回路113の出力端子には注
入電圧が出力される。またエンハンスメントタイプトラ
ンジスタ34はオンし、エンハンスメントタイプトラン
ジスタ37のゲートにはIILI+レベルが印加されこ
のトランジスタ37はオンする。
し、エンハンスメントタイプトランジスタ45のゲート
にはへlppレベルが印加され、再仏、込み防止用トラ
ンジスタドレイン電圧印加回路113の出力端子には注
入電圧が出力される。またエンハンスメントタイプトラ
ンジスタ34はオンし、エンハンスメントタイプトラン
ジスタ37のゲートにはIILI+レベルが印加されこ
のトランジスタ37はオンする。
ゆえに再書込み防止用トランジスタ36のドレインとゲ
ートは注入電圧になりこのトランジスタ36は?)込ま
れる。
ートは注入電圧になりこのトランジスタ36は?)込ま
れる。
またこのキーロックモードでは、再書込み防止回路の出
力端子には″汗゛レベルが出力され、L″込みイオーブ
ル回路11・1の出力端子にしま゛L″レベルが出力さ
れ、エンノ・ンスメントタイプトランジスタ;32はオ
フし、メモリセルトランジスタ31のドレイン(では?
主入1[を圧は印加されずこのトランジスタ31の書込
みはてきない。次1(再」込み防止用トランジスタ36
が書込まれた後に書込みモードになる場合を説明する。
力端子には″汗゛レベルが出力され、L″込みイオーブ
ル回路11・1の出力端子にしま゛L″レベルが出力さ
れ、エンノ・ンスメントタイプトランジスタ;32はオ
フし、メモリセルトランジスタ31のドレイン(では?
主入1[を圧は印加されずこのトランジスタ31の書込
みはてきない。次1(再」込み防止用トランジスタ36
が書込まれた後に書込みモードになる場合を説明する。
前記書込みモードと同様に再1゛込み防止Jηトランジ
スタゲート電圧印加回路、112の出力端には”TI”
レベルが、ワードライン書込み読出し選択回路115の
出力ψ;1j子には書込みレベルが出力され、再書込み
防止用トランジスタドレイン電圧印加回路113の出力
端子は再書込み防止用トランジスタ36のドレイン電圧
には何ら影響しない。トランジスタ37はオンするが再
書込み防止用トランジスタ36のしきい値が’I 7”
レベルより十分高(なっているため常にオフとなり、再
店=込み防止回路IIIの出力端子には゛′汀゛レベル
が出力され、メモリセルトランジスタ31の書込みは出
来ない。」二記第1の実施例では、再書込み防止用トラ
ンジスタ36をσニー込むことで、メモリセルトランジ
スタ3]のドレイン電圧を注入電圧より十分低く制御し
て、再書込みを防止したが、第2図に示す様にメモリセ
ルトランジスタ31のゲー1”Llf圧を注入電圧より
十分低くして丙−1[4込1)を防止することもできろ
。すなわち、l・ランジスタ33のゲートを書込みタイ
ミング信−づ端子WTに接続し、かつ、トランジスタ3
9のケートを店込みイ坏−ブル信号端子WEに接続しか
つ、1、ランジスク48のゲートを再書込み防止回路1
11の出力端子に接続してもよい。
スタゲート電圧印加回路、112の出力端には”TI”
レベルが、ワードライン書込み読出し選択回路115の
出力ψ;1j子には書込みレベルが出力され、再書込み
防止用トランジスタドレイン電圧印加回路113の出力
端子は再書込み防止用トランジスタ36のドレイン電圧
には何ら影響しない。トランジスタ37はオンするが再
書込み防止用トランジスタ36のしきい値が’I 7”
レベルより十分高(なっているため常にオフとなり、再
店=込み防止回路IIIの出力端子には゛′汀゛レベル
が出力され、メモリセルトランジスタ31の書込みは出
来ない。」二記第1の実施例では、再書込み防止用トラ
ンジスタ36をσニー込むことで、メモリセルトランジ
スタ3]のドレイン電圧を注入電圧より十分低く制御し
て、再書込みを防止したが、第2図に示す様にメモリセ
ルトランジスタ31のゲー1”Llf圧を注入電圧より
十分低くして丙−1[4込1)を防止することもできろ
。すなわち、l・ランジスタ33のゲートを書込みタイ
ミング信−づ端子WTに接続し、かつ、トランジスタ3
9のケートを店込みイ坏−ブル信号端子WEに接続しか
つ、1、ランジスク48のゲートを再書込み防止回路1
11の出力端子に接続してもよい。
この場合、ワード線書込み読出し選択回路115に:t
6いてトランジスタ46がオフし、かつトランジスタ1
18がオンしている場合、この回路の出力端子には、ト
ランジスタ/+7と/19のディメンジョン比により“
’Vcc”レベルが出力されるものとする。なお、その
他の1小分&i第1図と同様であり、第1図と同Y/3
分には同一符号を伺してその説明を省略する。
6いてトランジスタ46がオフし、かつトランジスタ1
18がオンしている場合、この回路の出力端子には、ト
ランジスタ/+7と/19のディメンジョン比により“
’Vcc”レベルが出力されるものとする。なお、その
他の1小分&i第1図と同様であり、第1図と同Y/3
分には同一符号を伺してその説明を省略する。
キーロックモードにおいて、メモリセルトランジスタ3
1のドレインが注入常圧となっても、ワードj?:’l
(’+E、F込、)・、読出し選択回路115のトラン
ジスタ48のゲートには’T I”レベルが印加され、
この回路の出力ψ11.1子には゛ゴ7″レベルか゛ト
rルベルが出力される。
1のドレインが注入常圧となっても、ワードj?:’l
(’+E、F込、)・、読出し選択回路115のトラン
ジスタ48のゲートには’T I”レベルが印加され、
この回路の出力ψ11.1子には゛ゴ7″レベルか゛ト
rルベルが出力される。
し))気1cメモリセルトランジスタ31のゲートには
注入電圧より十分低い霜4圧しか印加されず書込入は出
来ない。またキーロック後の書込みモードにおいても同
様で゛ある。
注入電圧より十分低い霜4圧しか印加されず書込入は出
来ない。またキーロック後の書込みモードにおいても同
様で゛ある。
(発明の効果)
以上説明したように、第1の実施例では、再書込み防止
用トランジスタ(FAへ408 )の悲込み後14すべ
ての入力信号端子にどのようなレベルを印加してもメモ
リセルトランジスタ(FAMO8)にはりニー込むこと
ができないのであるからメモリセルトランジスタの再書
込み防止が出来る利点がキ)ろ。
用トランジスタ(FAへ408 )の悲込み後14すべ
ての入力信号端子にどのようなレベルを印加してもメモ
リセルトランジスタ(FAMO8)にはりニー込むこと
ができないのであるからメモリセルトランジスタの再書
込み防止が出来る利点がキ)ろ。
第1図はこの発明のフィールドプログラマブル]”CM
′P′S書込み防止回路の−の実施例を示す回路ジ1
、第2図はこの発明のフィールドプログラマブルROM
再書込み防1に回路の他の実施例を示す回路図である。 31〜4つ・ トランジスタ、100・・・ワードライ
ン、110・・・ビットライン、111・・・再書込ろ
vノ止回路、112・・−再書込み防止用トランジスタ
ゲート電圧印加回路、113・・・再書込み防止用トラ
ンジスタドレイン′市圧印J、l:II・]1路、l]
4・・・書込みイネーブル回路、1】)・・・ワーI・
ライン刀、込み読出し選択回路、1]6・・・出力バッ
ファー回路、120・・・データ読出し端子。 !l”1’ +</1出願人 沖′j−Ll、気工業株式会社 宮崎沖電気株式会社 特許出願代理人 弁理士 山 本 恵 −
′P′S書込み防止回路の−の実施例を示す回路ジ1
、第2図はこの発明のフィールドプログラマブルROM
再書込み防1に回路の他の実施例を示す回路図である。 31〜4つ・ トランジスタ、100・・・ワードライ
ン、110・・・ビットライン、111・・・再書込ろ
vノ止回路、112・・−再書込み防止用トランジスタ
ゲート電圧印加回路、113・・・再書込み防止用トラ
ンジスタドレイン′市圧印J、l:II・]1路、l]
4・・・書込みイネーブル回路、1】)・・・ワーI・
ライン刀、込み読出し選択回路、1]6・・・出力バッ
ファー回路、120・・・データ読出し端子。 !l”1’ +</1出願人 沖′j−Ll、気工業株式会社 宮崎沖電気株式会社 特許出願代理人 弁理士 山 本 恵 −
Claims (1)
- (1)データの書込みが可能なメモリセルトランジスタ
からなるメモリセルアレイと、該メモリセルトランジス
タへのデータの書込みを可能とするための書込みイネー
ブル回路とを有するプロゲラマブルl’(、OMにおい
て、前記書込みイネーブル回路はデータの書込みが可能
なトランジスタをふくミ、該トランジスタへのデータの
書込みによりNI記Xq込みイネーブル回路を動作不能
として前記メモリセルトランジスタへのデータの再書込
みを防+lr−することを特徴とするプログラマブルR
,OMo(2) 前記プログラマブルI(、OMがフイ
ールドフ。 ログラマブルIi、 OMであることを特徴とする特許
請求の範囲7Pi、1項記載のプロゲラマフ“ルROM
0
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58164099A JPS6057597A (ja) | 1983-09-08 | 1983-09-08 | プログラマブルrom |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58164099A JPS6057597A (ja) | 1983-09-08 | 1983-09-08 | プログラマブルrom |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6057597A true JPS6057597A (ja) | 1985-04-03 |
Family
ID=15786741
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58164099A Pending JPS6057597A (ja) | 1983-09-08 | 1983-09-08 | プログラマブルrom |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6057597A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01150297A (ja) * | 1987-12-07 | 1989-06-13 | Nec Corp | データ保護回路付eeprom |
US5506806A (en) * | 1993-09-20 | 1996-04-09 | Nec Corporation | Memory protection circuit for EPROM |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5538624A (en) * | 1978-09-05 | 1980-03-18 | Sanyo Electric Co Ltd | Nonvolatile semiconductor memory device |
-
1983
- 1983-09-08 JP JP58164099A patent/JPS6057597A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5538624A (en) * | 1978-09-05 | 1980-03-18 | Sanyo Electric Co Ltd | Nonvolatile semiconductor memory device |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01150297A (ja) * | 1987-12-07 | 1989-06-13 | Nec Corp | データ保護回路付eeprom |
US5506806A (en) * | 1993-09-20 | 1996-04-09 | Nec Corporation | Memory protection circuit for EPROM |
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