JPS6057052B2 - 光偏向素子 - Google Patents

光偏向素子

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JPS6057052B2
JPS6057052B2 JP4438380A JP4438380A JPS6057052B2 JP S6057052 B2 JPS6057052 B2 JP S6057052B2 JP 4438380 A JP4438380 A JP 4438380A JP 4438380 A JP4438380 A JP 4438380A JP S6057052 B2 JPS6057052 B2 JP S6057052B2
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JP
Japan
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movable part
coil pattern
deflection element
reflecting mirror
material layer
Prior art date
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JP4438380A
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JPS56140316A (en
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敏嗣 植田
扶佐夫 幸坂
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Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Hokushin Electric Corp
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B7/00Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
    • G02B7/18Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for prisms; for mirrors
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B26/00Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
    • G02B26/08Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light
    • G02B26/0816Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light by means of one or more reflecting elements
    • G02B26/0833Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light by means of one or more reflecting elements the reflecting element being a micromechanical device, e.g. a MEMS mirror, DMD
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    • GPHYSICS
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    • G06K7/00Methods or arrangements for sensing record carriers, e.g. for reading patterns
    • G06K7/10Methods or arrangements for sensing record carriers, e.g. for reading patterns by electromagnetic radiation, e.g. optical sensing; by corpuscular radiation
    • G06K7/10544Methods or arrangements for sensing record carriers, e.g. for reading patterns by electromagnetic radiation, e.g. optical sensing; by corpuscular radiation by scanning of the records by radiation in the optical part of the electromagnetic spectrum
    • G06K7/10554Moving beam scanning
    • G06K7/10594Beam path
    • G06K7/10603Basic scanning using moving elements
    • G06K7/10633Basic scanning using moving elements by oscillation
    • G06K7/10643Activating means
    • G06K7/10653Activating means using flexible or piezoelectric means

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、電磁オシログラフ等に用いて有効な光偏向素
子に関するものである。
第1図は、従来公知の電磁オシログラフに用いられてい
る光偏向素子の一例を示す構成斜視図である。
この光偏向素子は、ねじりスプリングとしての役目をな
すリガメント3上に、反射鏡4とねじりトルクを発生す
るコイル5を接着して構成したものである。コイル5は
磁界中に配置されており、これに電流1を流すことによ
つてねじりトルクが発生し、反射鏡4が偏位するもので
、反射鏡4に入射する光をコイル5に流す電流によつて
偏向することができる。このような構成の光偏向素子は
、コイル5の形成、コイルや反射鏡のリガメントヘの取
付等、手作業によつて製作されており、品質、性能が均
一でなく、価格も高価になるなどの欠点があつた。本発
明は、このような従来の光偏向素子の欠点に鑑みてなさ
れたものであつて、高性能で品質の揃つた安価な光偏向
素子を実現しようとするものである。
第2図は本発明の一実施例を示す構成斜視図てある。
図において、1はフレーム、2は可動部で、フレーム1
に細くなつたバネ部31、32を介して支持されている
。これらのフレーム1、可動部2およびバネ部31、3
2は、ひとつの絶縁基板によつて構成されており、また
、これらの形状は、後述するようにホトリソグラフィ(
写真食刻)の技術とエッチングの技術とを利用して形成
される。ここで絶縁基板としては、例えば厚さが5x1
0−゜m程度の水晶基板が使用可能である。なお、フレ
ーム1は必ずしも必要としない。4は反射鏡、5はコイ
ルパターンで、これらはいずれもJ可動部2に後述する
ようにホトリソグラフィの技術とエッチングの技術を用
いて形成されている。
61、62はバネ部31、32を通つて導び出されたコ
イル5のリード線、60はコイルパターン5上を飛び越
えるように一方のリード線61に接丁続されたジャンパ
線である。
このように構成された本発明に係る光偏向素子は、コイ
ルパターン5を磁界中に配置させ、リード線61,62
およびジャンパ線60を介してコイルパターン5に電流
を流すと、可動部2がバネ部31,32を軸として偏位
し、反射鏡4に入射する光を偏向させることができる。
第3図は第2図に示す光偏向素子を製作する製造方法の
一例を示す簡略工程図である。先ず、aに示すように水
晶のような絶縁基板7上に水晶と密着強度の強い物質、
例えばCrよりなる第1マスク物質層8を被着し、その
上に導電性を有し水晶加工剤に耐える物質、例えばAu
よりなる第2マスク物質層9を被着する。
更に、その上にレジスト層10を被着する。ここで、第
1のマスク物質層8、第2のマスク物質層9は、それぞ
れスパッタあるいは蒸着等により被着することができる
。またレジスト層10は例えば塗布すればよい。次に、
bに示すように、レジスト層10をマスクとして、最上
層の第2マスク物質層9を選択的に除去して反射鏡4と
コイルパターン5の部分を形成する。例えは、第2マス
ク物質層9としてAuを用いる場合には、ヨウ化カリウ
ムとヨウ素との水溶液等を用いればよい。次にフレーム
1、バネ部31,32および可動部2の形状を形成する
ために、cに示すように、第2マスク物質層9より形成
された反射鏡、コイルパターンを覆うように再びレジス
ト層10を積層被着する。そして、dに示すように、レ
ジスト層10をマスクとして第1マスク物質層8を選択
的に除去して、これをフレーム、バネ部および可動部の
形状に対応した所定の形状に成形する。例えば、第1マ
スク物質層8としてCrを用いる場合には、第2硫酸セ
リウムと酸との水溶液等を用いればよい。続いて、eに
示すように、第1マスク物質層8をマスクとして水晶基
板7を選択的に除去して水晶基板7をフレーム1、可動
部2およびバネ部.31,32のそれぞれの部分の形状
になるように成形する。この水晶加工剤としては、例え
ばフッ素酸水溶液を用いる。このようにして水晶基板1
を所定の形状に成形した後、第2のマスク物質層9をマ
スクとして水晶基板7の表面が露出するよ−うに第1の
マスク物質層8を選択的に除去することにより、fに示
すように可動部に反射鏡とコイルパターンとを有する光
偏向素子が実現できる。なお、前記の説明では、第1マ
スク物質層8としてCrを用い、第2マスク物質層9と
してAuを用いる例について説明したが、これに限るも
のではなく、それぞれが水晶加工剤に耐える物質であつ
て少なくとも一方の物質が導電性を有するものであれば
よい。また、上記の実施例では、水晶基板7の一方の面
にのみマスク物質層を被着して反射鏡とコイルパターン
を形成し、かつ所定の形状を加工する例について説明し
たが、他方の面にも同様なマスク)物質層を被着し両面
にコイルパターンを形成し、かつ両面から水晶を加工す
ることもできる。
また、上記では、はじめに反射鏡、コイルパターンを形
成し、次にフレーム、可動部等を形成したものであるが
、この形成順序を逆にし、はじめにフ・レームや可動部
の形状を形成するようにしてもよい。第4図および第5
図は、第2図に示す光偏向素子の更に別の製造方法を示
す簡略工程図である。
第4図の例では、先ずaに示すように絶縁基板7上に第
1マスク物質層8、第2マスク物質層9をそれぞれ被着
し、この上にレジスト層.10を被着する。次にbに示
すようにホトリソグラフィの技術によりコイルパターン
と反射鏡パターンとを形成し、エッチングの技術により
他の物質部分を取り除く。このようにして出来上つた基
板上に、cに示すようにマスクとして使用する第1マス
ク物質層81を被着するとともに、この上にレジスト層
10を塗布する。次にdに示すようにフレームや可動部
の形状を前記と同様にして形成し、続いてeに示すよう
に露出した基板部分と、第1マスク物質層部分81をエ
ッチングの技術によつて取り除くことによつて完成され
る。なお、ここで、最上層をSj3N4、Ae2O3の
ような物質であればこれを取り除く必要はない。第5図
の例では、絶縁基板7として水晶のような異方性エッチ
ングのできる基板を用いた場合に限られる。
ここでは水晶のz板を使用する場合の例を示しており、
aは水晶基板の光学軸Z1機械軸Y、電気軸Xの方向を
示す。先ず、bに示すように、水晶基板7上に第1マス
ク物質(例えばCr)8、第2マスク物質(例えばAu
)を被着し、この土にレジスト層10を塗布し、続いて
cに示すようにコイルパターン、反射鏡、フレーム全体
等をホトリソグラフィの技術により形成する。続いて、
このような基板を例えばフッ素酸に入れ、水晶エッチン
グするとdのような水晶が選択的に除去され完成される
。これは、水晶基板7において、そのZ軸方向からのエ
ッチング速度がdに示す結晶面A,Bのエッチング速度
より数十倍以上速いためで、この場合、0A=300、
0B=80上で横方向のエッチングがそれ以上進まなく
なる。このことから、パターンとパターンとの間隔A,
bを、水晶基板を切り離すか、つながつた状態とするか
によつて適宜選択すればよい。すなわち、間隔aをt(
Tan(90−θA)+Tan(90−0B))(ただ
しtは基板厚さ)より大きくすれば、基板は切り離すこ
とができ、これより狭くすればつながつた状態で残すこ
とができる。このような製造方法は、比較的簡単な工程
で精度の良い加工およびコイルパターンや反射鏡の形成
を行なうことができる。
また、一回の製造工程によつて、一度に多数の光偏向素
子を生産することができる利点がある。第6図および第
7図は本発明の他の実施例を示す構成図である。
第6図において、aは正面図、bは裏面図である。
この実施例においては、コイルパターン51,52を可
動部2の両面に形成したものである。両面に形成したコ
イルパターン51,52は可動部2のほぼ中央に形成し
た穴50を介して電気的に接続される。第7図の実施例
は、フレームにバネ部33,34を介して第1の可動部
20を形成するとともに、この第1の可動部20内にバ
ネ部31,32を介して第2の可動部21を形成したも
のである。
第2の可動部21には反射鏡4とコイルパターン51が
形成され、第1の可動部20にはコイルパターン53が
それぞれ形成されており、これらのコイルパターン51
,53に働くトルクは、磁界中に置かれたとき互に直交
するように働く。従つて、この実施例による光偏向素子
は、反射鏡4に入射する光をx軸、y軸方向に同時に偏
向することができる。なお、上記の実施例では電磁オシ
ログラフに用いられる素子を例にとつて示したが、光ビ
ーム走査用の光偏向器など各種の分野に応用が可能であ
る。
以上説明したように、本発明によれば、ひとつの基板に
よつてフレームと、このフレームに結合するバネと、こ
のバネによつて支持された可動部とを構成するとともに
、これらフレーム、バネ部、可動部の形状の形成および
可動部に設ける反射鏡、コイルパターンの形成をいずれ
もホトリソグラフィとエッチングの技術を用いて行なう
ようにしたものであるから、高性能で品質の揃つた光”
偏向素子を一度に多数生産することが可能でひとつの素
子の価格を安価にできる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来公知の光偏向素子の一例を示す構成斜視図
、第2図は本発明の一実施例を示す構成・斜視図、第3
図〜第5図は第2図に示す素子の製造方法を示す簡略工
程図、第6図および第7図は本発明の他の実施例を示す
構成図で、第6図aは正面図、第6図bは裏面図である
。 1・・・・・フレーム、2・・・・・・可動部、31,
32・・・)・・・バネ部、4・・・・・反射鏡、5・
・・・・コイルパターン、61,62・・・・・リード
線。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 ひとつの絶縁基板によつて少なくともバネ部と、こ
    のバネ部によつて支持される可動部とを構成するととも
    に、前記可動部に反射鏡とコイルパターンとを設け、前
    記バネ部、可動部の形状と、前記反射鏡およびコイルパ
    ターンの形成とをホトリソグラフィの技術とエッチング
    の技術を利用して行うことを特徴とする光偏向素子。 2 可動部に更に別のバネ部によつて支持されるもうひ
    とつの可動部を設け、この可動部に更に別のコイルパタ
    ーンを形成するとともに反射鏡を形成した特許請求の範
    囲第1項記載の光偏向素子。
JP4438380A 1980-04-04 1980-04-04 光偏向素子 Expired JPS6057052B2 (ja)

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JPS56148741A (en) * 1980-04-17 1981-11-18 Nippon Columbia Co Ltd Galvanomirror device
JPS58105213A (ja) * 1981-12-18 1983-06-23 Matsushima Kogyo Co Ltd 光スキヤナ−
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JP6044943B2 (ja) 2011-10-25 2016-12-14 インテル・コーポレーション アクチュエータ

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