JPS6055851B2 - アドレスパリティチェック方式 - Google Patents

アドレスパリティチェック方式

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JPS6055851B2
JPS6055851B2 JP55179821A JP17982180A JPS6055851B2 JP S6055851 B2 JPS6055851 B2 JP S6055851B2 JP 55179821 A JP55179821 A JP 55179821A JP 17982180 A JP17982180 A JP 17982180A JP S6055851 B2 JPS6055851 B2 JP S6055851B2
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JP
Japan
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address
parity check
signal
parity
row
Prior art date
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Expired
Application number
JP55179821A
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English (en)
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JPS57103555A (en
Inventor
孝宏 桜庭
捷三 谷口
清克 飯島
和雄 藤崎
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Publication of JPS6055851B2 publication Critical patent/JPS6055851B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/07Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
    • G06F11/08Error detection or correction by redundancy in data representation, e.g. by using checking codes
    • G06F11/10Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's
    • G06F11/1076Parity data used in redundant arrays of independent storages, e.g. in RAID systems
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
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    • G06F11/07Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
    • G06F11/08Error detection or correction by redundancy in data representation, e.g. by using checking codes
    • G06F11/10Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's
    • G06F11/1008Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's in individual solid state devices

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  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Detection And Correction Of Errors (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は記憶装置、特に電子計算機の主記憶装置にお
けるアドレスパリテイチェック方式に関する。
記憶装置ではアドレス情報の異常を検出する手段とし
てアドレス情報送信側でパリテイビットを付加しておき
記憶素子に供給する直前でパリテイチェックを行うこと
が一般的に行なわれている。
大容量化するダイナミック型ICメモリでは、パッケー
ジのピン数をおさえるために2重アドレス方式を用いた
ものが一般化している。ドレス情報を行アドレスと列ア
ドレスの2組に分けて、時分割で入力させることにより
、アドレス情報用のICパッケージのピン数を半分にお
さえようとするものである。
この方式を用いたダイナミック型ICメモリで構成され
た記憶装置では、行アドレスと列アドレスの両方につい
てアドレスパリテイチェックを行う必要がある。そのた
め、ICメモリを実装した数十枚のメモリカードから構
成される記憶装置では、障害個所の判別をメモリカード
単位まで行えるようにエラー情報レジスタをメモリカー
ド分用意する必要があるため、2系統のアドレスパリテ
イエラー情報があると、一系統のアドレスパリテイチェ
ックに比べてエラー情報レジスタを2倍も必要とする欠
点があつた。 本発明は2重アドレス方式を用いたダイ
ナミック型ICメモリがリフレッシュ時に行アドレスし
か使用しない点を利用して、一系統のパリテイチェック
回路で行アドレスと列アドレスのパリテイチェックを行
なえるアドレスパリテイチェック方式を提供することを
目的とするものである。 そしてこの目的は本発明によ
れば、パリテイビットを付加した行アドレス及び列アド
レスを時分割で行アドレスに引き続いて該列アドレスを
共通アドレス線によりダイナミック型記憶素子に供給し
て、データの読出し書込みを行う記憶装置において、該
記憶素子への書込動作及び読出動作時には、前記列アド
レス信号のパリテイチェックより前記共通アドレス線上
の信号の正常性をチェックし、リフレッシュ動作時には
、前記行アドレス信号のパリテイチェックにより前記共
通アドレス線上の信号の正常性をチェックすることによ
つて達成される。以下本発明の一実施例を図面により詳
述する。
第1図は本発明のアドレスパリテイチェック方式を適用
した記憶装置の一実施例構成図てあり、第2図はタイム
チャートを示す。第1図において、1は行アドレス信号
、2は列アドレス信号、3はアドレス2重化回路、4は
共通アドレス信号、5はメモリカード、6はICメモリ
、7はパリテイチェック回路、8はアドレスパリテイエ
ラー情報レジスタ、9はオア回路、10はエラー情報、
11はエラー情報レジスタ、12は起動信号、13は動
作指定信号、14はタイミング発生回路、15は2重化
回路タイミング信号、16はチェックタイミング信号を
それぞれ示す。
処理装置側よりのパリテイビットを付加された行アドレ
ス信号1と列アドレス信号2はアドレス2重化回路3に
入力し、メモリの読書動作時においては行と列の2重ア
ドレスにマルチプレクスされてメモリカード5へ供給さ
れる。
即ちメモリの読書動作時においては動作指定信号13は
読書動作を指定しており、タイミング発生回路14は行
及び列の2重化共通アトレス信号(第2図A)を作成す
るためのタイミング信号15を供給する。又、メモリの
リフレッシュ動作時においては、動作指定信号13はリ
フレッシュ動作を指定しており、タイミング発生回路1
4は行アドレスのアドレス信号(第2図C)を作成する
ためのタイミング信号15を供給する。メモリカード5
へ供給されたアドレス情報は、ICメモリ6とパリテイ
チェック回路7に入力され、パリテイチェック結果は各
メモリカード5から集められて、アドレスパリテイエラ
ー情報レジスタ8にチェックタイミング信号16により
格納される。
この格納されたパリテイチェック結果は読み書き動作時
なら列アドレス、リフレッシュ時なら行アドレスのもの
である。アドレスパリテイエラー情報レジスタ8に格納
された情報にエラーが存在すると、各アドレスパリテイ
エラー情報レジスタ8の出力をオアしたエラー情報10
により、、エラー発生動作をエラー情報レジスタ11に
保持して、エラーの起きたアノドレスが行アドレスか列
アドレスかの判別に用いる。
なお、本方式によるアドレスパリテイチェックでは、リ
フレッシュ時にならなければ行アドレスの異常を検出で
きないが、リフレッシュ周期は充分早いため問題とはな
らない。
本発明は、2重アドレス方式のダイナミック型ICメモ
リがリフレッシュ時に行アドレスしか使用しない点を利
用して、リフレッシュ時の行アドレスを読み書き動作時
の列アドレスの存在するタイミングまで保持させておき
、読み書き動作時に列アドレスのパリテイチェックを行
う回路をそのまま使用して行アドレスのパリテイチェッ
クを可能としたものである。
以上説明したように2重アドレス方式を使用したダイナ
ミック型1Cメモリでも、一系統のアドレスパリテイチ
ェック回路で行アドレスと列アドレスの異常検出が行え
、チェック回路が大きく削減できる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のアドレスパリテイチェック方式を適用
した記憶装置の一実施例構成図、第2図はタイムチャー
トを示す。 図において、1は行アドレス信号、2は列アトス信号、
3はアドレス2重化回路、4は共通アドレス信号、5は
メモリカード、6はICメモリ、7はパリテイチェック
回路、8はアドレスパリテイエラー情報レジスタ、9は
オア回路、10はエラー情報、11はエラー情報レジス
タ、16はチェックタイミング信号をそれぞれ示す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 パリテイビットを付加した行アドレス及び列アドレ
    スを時分割で、且つ、該行アドレスに引き続いて該列ア
    ドレスを共通アドレス線によりダイナミック型記憶素子
    に供給して、データの読出し書込みを行う記憶装置にお
    いて、該記憶素子への書込動作及び読出動作時には、前
    記列アドレス信号のパリテイチェックにより前記共通ア
    ドレス線上の信号の正常性をチェックし、リフレッシュ
    動作時には、前記行アドレス信号のパリテイチェックに
    より前記共通アドレス線上の信号の正常性をチェックす
    ることを特徴とするアドレスパリテイチェック方式。
JP55179821A 1980-12-19 1980-12-19 アドレスパリティチェック方式 Expired JPS6055851B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP55179821A JPS6055851B2 (ja) 1980-12-19 1980-12-19 アドレスパリティチェック方式

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP55179821A JPS6055851B2 (ja) 1980-12-19 1980-12-19 アドレスパリティチェック方式

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS57103555A JPS57103555A (en) 1982-06-28
JPS6055851B2 true JPS6055851B2 (ja) 1985-12-06

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JP55179821A Expired JPS6055851B2 (ja) 1980-12-19 1980-12-19 アドレスパリティチェック方式

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