JPS6052728A - はんだ付不良検出方法 - Google Patents
はんだ付不良検出方法Info
- Publication number
- JPS6052728A JPS6052728A JP16079083A JP16079083A JPS6052728A JP S6052728 A JPS6052728 A JP S6052728A JP 16079083 A JP16079083 A JP 16079083A JP 16079083 A JP16079083 A JP 16079083A JP S6052728 A JPS6052728 A JP S6052728A
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- Japan
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- color
- output signal
- comparator
- copper
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（技術分野）
本発明は工業用テレビカメラ（以下、ＩＴＶカメラとい
う）を使用し、はんだ付不良、特に銅面露出を検出する
はんだ付不良検出方法に関する。
う）を使用し、はんだ付不良、特に銅面露出を検出する
はんだ付不良検出方法に関する。
（背景技術）
従来のはんだ付不良、特に銅面部分露出を検出する方法
を第１図に示す。この方法は、１台のＩＴＶカメラ２１
ヲ使用し、前面の赤・青のフィルター２２ヲ切り換え、
夫々の画像をコントローラ２３お工びコンパレータ２４
ヲ介し、ある閾値レベルで２値化して青フイルタ画面用
または赤フイルタ画面用の２つのフレームメモリ６．２
６の２画面に記録し、これらを比較処理回路２７によっ
て処理する方法であった。なお、図中１はプリント基板
、２はプリント基板ｌ上のはんだ付部を示す。
を第１図に示す。この方法は、１台のＩＴＶカメラ２１
ヲ使用し、前面の赤・青のフィルター２２ヲ切り換え、
夫々の画像をコントローラ２３お工びコンパレータ２４
ヲ介し、ある閾値レベルで２値化して青フイルタ画面用
または赤フイルタ画面用の２つのフレームメモリ６．２
６の２画面に記録し、これらを比較処理回路２７によっ
て処理する方法であった。なお、図中１はプリント基板
、２はプリント基板ｌ上のはんだ付部を示す。
この場合、
イ、各フィルター２２ヲ通した画像を２画面取り込むた
め時間がかかる。
め時間がかかる。
ロ、リアルタイム処理かで＠ない。
ハ、検査物が画像取り込み時間中、静止している必要が
ある。
ある。
二３画像メモリすなわちフレームメモリ局、２６が必要
である。
である。
等の欠点がめった。
また、他の方法としてＩＴＶカメラ’ｔｉ−２台使用し
、良品パターンと比較する方法があるが、イ、チップず
れなどの影響を受ける。
、良品パターンと比較する方法があるが、イ、チップず
れなどの影響を受ける。
口、はんだの乗９ぐあいが各検査物により異なるため、
精度の良い検査ができない。
精度の良い検査ができない。
等の欠点があり、このため目視による検査例が多く、自
動化のネックになっていた。
動化のネックになっていた。
（発明の目的）
本発明は上記の点ＩＣ鑑み提案されたもので、その目的
とするところは、画像メモリが不要な簡単な構′成ｖｃ
↓９リアルタイム″での検出を可能とし、検査物のずれ
や移動等にかかわらず常に高精度の不良検出を行なえる
ようにしたはんだ行不良検出方法を提供することにある
。
とするところは、画像メモリが不要な簡単な構′成ｖｃ
↓９リアルタイム″での検出を可能とし、検査物のずれ
や移動等にかかわらず常に高精度の不良検出を行なえる
ようにしたはんだ行不良検出方法を提供することにある
。
（発明の開示）
以下、図に沿って本発明全説明する。
第２図および第３図は本発明に用いる検出装置の第１実
施例金示すもので、第２図は全体の構成を示している。
施例金示すもので、第２図は全体の構成を示している。
図に２いて、プリント基板１上のはんだ何部２の上方に
はノ１−フミラー３が配設されてお９、はんだ何部２の
像はこのノ・−フミラー３によってｌ＝１に部分され、
光路変換される。このうち、一方の光路上には銅色お↓
びレジスト色カット用（例えばレジスト色を縁とすると
５３０〜６５０ｎｍの波長をカット）の第１のフィルタ
ー４を介して第１のＩＴＶカメラ５．第１のカメラコン
トローラ６お↓び第１のコンパレータ７が順次接続され
、また、他力の光路上にはミラー８を介してレジスト色
カット用（例えばレジスト色を縁とすると５３０〜５８
０ｎｍの波長をカット）の第２のフィルター９、第２の
ＩＴＶカメラ１０．第２のカメラコントローラ１１お工
び第２のコンパレータ１２が順次接続されている。更に
、第１．第２のコン７くレータ７．１２の出力は差動ア
ンプ１３１Ｃ加えられており、その出力端子１３ｇと第
１のコン７くレータ７の出力端子７ａとから検出出力を
取出す工うに構成されている。
はノ１−フミラー３が配設されてお９、はんだ何部２の
像はこのノ・−フミラー３によってｌ＝１に部分され、
光路変換される。このうち、一方の光路上には銅色お↓
びレジスト色カット用（例えばレジスト色を縁とすると
５３０〜６５０ｎｍの波長をカット）の第１のフィルタ
ー４を介して第１のＩＴＶカメラ５．第１のカメラコン
トローラ６お↓び第１のコンパレータ７が順次接続され
、また、他力の光路上にはミラー８を介してレジスト色
カット用（例えばレジスト色を縁とすると５３０〜５８
０ｎｍの波長をカット）の第２のフィルター９、第２の
ＩＴＶカメラ１０．第２のカメラコントローラ１１お工
び第２のコンパレータ１２が順次接続されている。更に
、第１．第２のコン７くレータ７．１２の出力は差動ア
ンプ１３１Ｃ加えられており、その出力端子１３ｇと第
１のコン７くレータ７の出力端子７ａとから検出出力を
取出す工うに構成されている。
次に、この動作金弟３図を参照しつつ説明する。第３図
（イ）は原画であり、この図に２いて１４ははんだ付け
された素子のリード、１５はテップ部品、２ａははんだ
行不良による銅面露出部を夫々示す。この原画に対し、
第１．第２のフィルター４，９を経て第１．第２のＩＴ
Ｖカメラ５、ｌＯから出力された検出ビデオ信号は第１
゜第２のコンパレータ７．１２に工って夫々ある閾値レ
ベルで２値化され、銅色お工びレジスト色全カットされ
た第３自←）の如き画像か第１のコンパレータ７の出力
信号として得らｎ、またレジスト色をカットされた第３
図（→の如き画像が第２のコンパン−夕１２の出力信号
として得られる。その結果、差動アンプ１３の出力信号
は第３図に）の工うになり、銅面露出部２ａに対応する
部分２ｂのみが白く現われることとなる。従って、この
部分２ｂＯ肩無、換言すれば差動アンプ１３の出力信号
老検出することに工９、銅面露出部２ａの有無を判別す
ることができる。
（イ）は原画であり、この図に２いて１４ははんだ付け
された素子のリード、１５はテップ部品、２ａははんだ
行不良による銅面露出部を夫々示す。この原画に対し、
第１．第２のフィルター４，９を経て第１．第２のＩＴ
Ｖカメラ５、ｌＯから出力された検出ビデオ信号は第１
゜第２のコンパレータ７．１２に工って夫々ある閾値レ
ベルで２値化され、銅色お工びレジスト色全カットされ
た第３自←）の如き画像か第１のコンパレータ７の出力
信号として得らｎ、またレジスト色をカットされた第３
図（→の如き画像が第２のコンパン−夕１２の出力信号
として得られる。その結果、差動アンプ１３の出力信号
は第３図に）の工うになり、銅面露出部２ａに対応する
部分２ｂのみが白く現われることとなる。従って、この
部分２ｂＯ肩無、換言すれば差動アンプ１３の出力信号
老検出することに工９、銅面露出部２ａの有無を判別す
ることができる。
また、第１のコンパレータ７の出力信号により、他のは
んだ行不良（チップずれ、はんだ量の不足、ブローホー
ル等）を検出することも可能である。
んだ行不良（チップずれ、はんだ量の不足、ブローホー
ル等）を検出することも可能である。
次いで、第４図は検出装置の第２実施例を示している。
この実施例は、第１．第２のカメラコントロー５” ６
、１１の出力を差動アンプ１３に入力すると共に、そ
の出力に第２のコンパレータ１２に加えて出力端子１２
ａから銅面露出部２ａにかかる検出信号葡得、また第１
のカメラコントローラ６の出力全集１のコンパレータ７
に加えてその出力端子７ａから他のはんだ行不良にかか
る検出信号を得るように構成されている。更に、第５図
は検出装置の第３実施例を示しており、この例では第１
実施例における第１のコンパレータ７の出力端子をイン
バータ１６’ｔ−介してアンドゲート１７の一力の入力
端子に接続し、他方、第２のコンパレータ稔の出力端子
をアンドゲート１７の他方の入力端子に接続してその出
力端子１７ ａから銅面露出部２ａにかかる出力信号を
得、また第１のコンパレータ７の出力端子７ａから他の
はんだ行不良にかかる検出信号を得るように構成されて
いる。
、１１の出力を差動アンプ１３に入力すると共に、そ
の出力に第２のコンパレータ１２に加えて出力端子１２
ａから銅面露出部２ａにかかる検出信号葡得、また第１
のカメラコントローラ６の出力全集１のコンパレータ７
に加えてその出力端子７ａから他のはんだ行不良にかか
る検出信号を得るように構成されている。更に、第５図
は検出装置の第３実施例を示しており、この例では第１
実施例における第１のコンパレータ７の出力端子をイン
バータ１６’ｔ−介してアンドゲート１７の一力の入力
端子に接続し、他方、第２のコンパレータ稔の出力端子
をアンドゲート１７の他方の入力端子に接続してその出
力端子１７ ａから銅面露出部２ａにかかる出力信号を
得、また第１のコンパレータ７の出力端子７ａから他の
はんだ行不良にかかる検出信号を得るように構成されて
いる。
なお、これら第２φ第３実施例の他の構成おＬび基本的
動作は第１実施例とほぼ同様であるため、詳述を省略す
る。
動作は第１実施例とほぼ同様であるため、詳述を省略す
る。
次に、第６図は検出装置の第４実施例を示す。
この実施例では第１ないし第３実施例と異なり、ハーフ
ミラ−の代シに第１および第２０′ミラー１８ 、１９
を用い、これらのミラー１８ 、１９に工りはんだ何部
２の像を部分し、夫々を第１．第２のフィルター４，９
を介し第１．第２のＩＴＶカメラ５．ｌＯに工っで撮像
するべく構成されている。なお、ＩＴｖカメラ５，１０
の後段の検出回路の構成としては第１ないし第３実施例
の何れであっても工い。
ミラ−の代シに第１および第２０′ミラー１８ 、１９
を用い、これらのミラー１８ 、１９に工りはんだ何部
２の像を部分し、夫々を第１．第２のフィルター４，９
を介し第１．第２のＩＴＶカメラ５．ｌＯに工っで撮像
するべく構成されている。なお、ＩＴｖカメラ５，１０
の後段の検出回路の構成としては第１ないし第３実施例
の何れであっても工い。
（発明の効果）
以上の工うに本発明にぶれば、はんだ何部からの像を２
つの光路に分離し、これらの光路上に夫々配設された銅
色・レジ／（）色カット用のフィルターとレジスト色カ
ット用のフィルターとの透過光を夫々テレビカメラに工
っで撮像すると共に、これらのテレビカメラの出力信号
を夫々ある閾値レベルで２値化し、かつ両者の差をとる
ことに工９はんだ何部の銅面露出部の有無全検出するよ
うにしたから、画像メモリｉ必要としない簡単な構成に
工９リアルタイムでの不良検出が行なえる効果がある。
つの光路に分離し、これらの光路上に夫々配設された銅
色・レジ／（）色カット用のフィルターとレジスト色カ
ット用のフィルターとの透過光を夫々テレビカメラに工
っで撮像すると共に、これらのテレビカメラの出力信号
を夫々ある閾値レベルで２値化し、かつ両者の差をとる
ことに工９はんだ何部の銅面露出部の有無全検出するよ
うにしたから、画像メモリｉ必要としない簡単な構成に
工９リアルタイムでの不良検出が行なえる効果がある。
また、検査作業は検査物のずれや移動に何ら左右される
ことなく行なえ、しかも銅面露出部お工び他のはんだ付
不良の検出を同時に行なえる等の利点がある。
ことなく行なえ、しかも銅面露出部お工び他のはんだ付
不良の検出を同時に行なえる等の利点がある。
第１図は従来例の説明図、第２図お工び第３図は本発明
に用いられる検出装置の第１実施例を示すもので、第２
図は全体の構成図、第３図（イ）〜に）は動作説明図、
第４図ないし第６図は夫夫検出装置の第２ないし第４実
施例の壁部説明図である。 １・・・・・・プリント基板、２ａ・・・・・・銅面露
出部、２・・・・・・はんだ何部、３・・・・・・ハー
フミラ−１４・・・・・・第１のフィルター、５・・・
・・・第１のＩＴＶカメラ、６・・・・・・第１のカメ
ラコントローラ、７・・・・・・第１のコンパレータ、
８・・・・・・ミラー、９・・・・・・第２のフィルタ
ー、１０・・・・・・第２の工Ｔｖカメラ、１１・・・
・・・第２のカメラコントローラ、Ｌ・・・・・・第２
のコンパレータ、１３・・・・・・差動アンプ、１６・
・・・・・インバータ、１７・・・・・・アンドゲート
、１８・・・・・・第１のミラー、１９・・・・・・第
２のミラー特許出願人 松下電工株式会社 第１図 第２図 第４図 第５図 第３図 （巳） （ニ） 第６図
に用いられる検出装置の第１実施例を示すもので、第２
図は全体の構成図、第３図（イ）〜に）は動作説明図、
第４図ないし第６図は夫夫検出装置の第２ないし第４実
施例の壁部説明図である。 １・・・・・・プリント基板、２ａ・・・・・・銅面露
出部、２・・・・・・はんだ何部、３・・・・・・ハー
フミラ−１４・・・・・・第１のフィルター、５・・・
・・・第１のＩＴＶカメラ、６・・・・・・第１のカメ
ラコントローラ、７・・・・・・第１のコンパレータ、
８・・・・・・ミラー、９・・・・・・第２のフィルタ
ー、１０・・・・・・第２の工Ｔｖカメラ、１１・・・
・・・第２のカメラコントローラ、Ｌ・・・・・・第２
のコンパレータ、１３・・・・・・差動アンプ、１６・
・・・・・インバータ、１７・・・・・・アンドゲート
、１８・・・・・・第１のミラー、１９・・・・・・第
２のミラー特許出願人 松下電工株式会社 第１図 第２図 第４図 第５図 第３図 （巳） （ニ） 第６図
Claims (1)
- はんだ付部からの像を２つの光路に分離し、これらの光
路上に夫々配設された銅色・レジスト色カット用のフィ
ルターとレジスト色カット用のフィルターとの透過光を
夫々テレビカメラによって撮像すると共に、これらのテ
レビカメラの出力信号を夫々ある閾値レベルで２値化し
かつ両者の差をとることにＬジはんだ付部の銅面露出部
の有無を検出する工うにしたことを特徴とするはんだ付
不良検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16079083A JPS6052728A (ja) | 1983-08-31 | 1983-08-31 | はんだ付不良検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16079083A JPS6052728A (ja) | 1983-08-31 | 1983-08-31 | はんだ付不良検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6052728A true JPS6052728A (ja) | 1985-03-26 |
Family
ID=15722505
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16079083A Pending JPS6052728A (ja) | 1983-08-31 | 1983-08-31 | はんだ付不良検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6052728A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63113681A (ja) * | 1986-10-30 | 1988-05-18 | Omron Tateisi Electronics Co | 実装基板検査装置 |
| US4774461A (en) * | 1985-11-25 | 1988-09-27 | Fujitsu Limited | System for inspecting exposure pattern data of semiconductor integrated circuit device |
| JPH07128252A (ja) * | 1993-11-05 | 1995-05-19 | Fujitsu Ten Ltd | はんだ付け検査方法及び装置 |
| EP0721102A3 (en) * | 1995-01-05 | 1998-01-14 | Sumitomo Wiring Systems, Ltd. | Method for checking a connection of wires and control apparatus |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4934385A (ja) * | 1972-07-28 | 1974-03-29 | ||
| JPS50107987A (ja) * | 1974-01-30 | 1975-08-25 | ||
| JPS5517926A (en) * | 1978-07-26 | 1980-02-07 | Hitachi Ltd | Mass spectrometer |
| JPS5857734A (ja) * | 1981-10-01 | 1983-04-06 | Hitachi Ltd | パタ−ン検出装置 |
-
1983
- 1983-08-31 JP JP16079083A patent/JPS6052728A/ja active Pending
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4934385A (ja) * | 1972-07-28 | 1974-03-29 | ||
| JPS50107987A (ja) * | 1974-01-30 | 1975-08-25 | ||
| JPS5517926A (en) * | 1978-07-26 | 1980-02-07 | Hitachi Ltd | Mass spectrometer |
| JPS5857734A (ja) * | 1981-10-01 | 1983-04-06 | Hitachi Ltd | パタ−ン検出装置 |
Cited By (4)
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| JPS63113681A (ja) * | 1986-10-30 | 1988-05-18 | Omron Tateisi Electronics Co | 実装基板検査装置 |
| JPH07128252A (ja) * | 1993-11-05 | 1995-05-19 | Fujitsu Ten Ltd | はんだ付け検査方法及び装置 |
| EP0721102A3 (en) * | 1995-01-05 | 1998-01-14 | Sumitomo Wiring Systems, Ltd. | Method for checking a connection of wires and control apparatus |
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