JPS6050573B2 - 金型監視方法 - Google Patents

金型監視方法

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JPS6050573B2
JPS6050573B2 JP8857678A JP8857678A JPS6050573B2 JP S6050573 B2 JPS6050573 B2 JP S6050573B2 JP 8857678 A JP8857678 A JP 8857678A JP 8857678 A JP8857678 A JP 8857678A JP S6050573 B2 JPS6050573 B2 JP S6050573B2
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movable mold
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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B29WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
    • B29CSHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
    • B29C45/00Injection moulding, i.e. forcing the required volume of moulding material through a nozzle into a closed mould; Apparatus therefor
    • B29C45/17Component parts, details or accessories; Auxiliary operations
    • B29C45/76Measuring, controlling or regulating
    • B29C45/7626Measuring, controlling or regulating the ejection or removal of moulded articles

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Moulds For Moulding Plastics Or The Like (AREA)
  • Injection Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はプラスチック等の成形機において、金型内に成
形品が残つた場合にこれを検出し、成形品が残つたまま
で次の型締めが行なわれるのを防止することがてきるよ
うにした金型監視方法に関するものてある。
プラスチックの射出成形機においては、金型の、・ −
J: ・゛一・、 ゛ LL−一π11ι台、、、にι
二J、ヱ L2ゝ型が破損したり、製品が不良になつた
りする。
そこで、これを防止するために従来秤量式の監視装置が
使用されている。しかし、秤量式のものは作動に時間を
要し、能率が悪いのみならず、成形品の半量が小さいと
きには確実な監視ができない等の欠点があり、単時間に
確実な監視のできる装置が望まれている。これに対して
、本出願人は光電的に金型を監視する新規な監視装置を
発明し、特願昭52−49734号を出願した。
また、その後、この監視装置を利用した一層能率のよい
方式を発明し、特願昭53−40855号を出願した。
これは、固定型と可動型とからなる金型の、可動型のみ
をテレビカメラ等で光学的に監視し、テレビのブラウン
管あるいは光学装置の焦点板等の表面に結像された可動
型の映像の所定の部分の輝度を型開き後と成形品突出し
後に測定し、この測定値を所定の基準レベルと比較して
金型内の成形品の有無を判定するようにしたものてある
。すなわち、成形品の色、明度等にノ感知できる外観が
金型自体のそれと異なることを利用し、この色や明度の
差を光電的に検出するようにしたものであり、これを可
動型の型開き後と突出し後に行なうことにより、成形品
が固定型、可動型のいずれに残つた場合にも検出できる
ようフにしたものである。これによれば、例えば成形品
の明度が高い(白つぽい)場合には、型開き後の可動型
の所定部分(成形のあるべき部分)の明度が基準レベル
より高ければ成形品が可動型にあることすなわち固定型
内に残つていないことが確認でき、成形品突出し後の前
記部分の明度が基準レベルより低ければ成形品が可動型
に残つていないことすなわち突出しが確実に行なわれた
ことが確認できる。これらの反対の場合には、成形品が
固定型あるいは可動型に残つていることが検出できるわ
けである。金型が数個取りの場合には、少なくとも成形
品の数たけの検出素子を使用し、同時に全ての監視をす
る。上記のような監視装置によれば、光電的に成形品が
金型内に残つたことを検出することができるが、実用上
は、この装置においても、次のような問題がある。
すなわち、成形品の突出し時に可動型の一部に成形品が
引掛つた場合には、可動型の所定部分からは成形品がな
くなつているため型締0K信号が出され、型締めが行な
われてしまうということになる。
これは、単純に成形品があつた場所の突出し後の検出出
力が基準レベルにより低いかどうかを見るからである。
また、上記特願昭53−40855号には、型開き後の
検出出力を記憶し、これを基準レベルとして突出し後の
検出出力をこの基準レベルと比較する方法も開示されて
いるが、この方法によつても、上述のように突出し時に
可動型の一部に成形品が引掛つた場合には所定部分から
成形品がなくなつているから、記憶された基準レベルと
型開き後の検.出出力とは正常状態を示すように異なつ
ており、型締0Kの信号が出されてしまう。
そこで、上記先願の監視装置において、成形品のある部
分のみならず、成形品が引掛る可動性のある部分をも検
出するようにすることが考えられ!る。
すなわち、成形品が引掛る可能性のある金型の部分の色
や明度をセンサーによつて検知し、成形品が引掛つた場
合には型開き後と突出し後とでセンサーの出力が異なる
ことを利用して、引掛りを検知するのである。このよう
にすれば、成形品るが金型の成形位置から外れて金型の
他の部分に引掛つた場合に、成形位置の明るさ等を検出
するセンサーの出力が0K信号を出しても、引掛つた場
所の明るさ等を検出するセンサーの出力が明るさ等の変
化を検知して型締めストップの信号を出すので、前述の
ような問題を解決することができる。しかし7ながら、
上記のように引掛る可能性のある場所の明るさを検出す
るようにセンサーを配しても、このような個所において
正常状態にも型開き後と突出し後とで明るさが異なる場
合には上述のような検出が極めて困難になる。
すなわち、例えば型開き後の成形品が可動型にまだ付い
ているフ段階で、この成形品の影が金型の他の部分(引
掛る可能性のある部分)に映つて、その部分を暗くして
いる場合がある。このような場合は、突出し後には成形
品がなくなるので、正常状態であつても前記部分の明る
さが変わる(明るくなる)こと・になる。これでは、正
常状態に本来明るさの変化がない筈の部分が明るさの変
化を呈することになつて、結果的には正常を異常と判断
してしまうことになつてしまう。そこで、これを防ぐた
めには、あらかじめこの影のなくなることによる明るl
さの変化を測定しておき、この変化を考慮して判断する
ことが考えられるが、これでは、金型が変わる度に信号
の処理の仕方を調整し直さなくてはならず、また照明の
明るさの変化をも考慮しなくてはならず、作業が非常に
面倒になり、かつ装置の汎用性がなくなり、実用性が著
しく低下する。本発明は上記のような問題点に鑑み、成
型品が金型の一部に引掛つて落ちない場合にも成型品の
影響による影響を受けることなく確実にこれを検知し、
型締めを防止するようにした金型監視方法を提供するこ
とを目的とするものてある。また、本発明は、上記監視
を極めて簡単な構成により実現する、実用に適した金型
監視方法を提供することを目的とするものである。
本発明の金型監視方法は、金型の可動型の映像を結像媒
体上に結像し、この映像上に複数個のセンサーを配して
、第1回目の成形品の突出し後(このときの突出しの確
認は目で行なう)の輝度を測定記憶し、この記憶した各
センターの輝度を第2回目の突出し前および突出し後の
輝度と比較して可動型に全成形品があることおよび可動
型から全成形品が確実に落とされたことの確認をし、次
いでこの第2回目の突出し後の輝度を記憶し、これを第
3回目の突出し前および突出し後の輝度と比較して同様
の確認を以下順次繰返すようにしたことを特徴とするも
のある。
すなわち、記憶した前回の突出し後の輝度を今回の突出
し前の輝度と比較し、各センサーの記憶値と測定値との
差が所定の値より大きい場合には可動型に全ての成形品
があること、すなわち固定型に成形品が残つていないこ
とが確認される。また、記憶した前回の突出し後の輝度
を今回の突出し後の輝度と比較し、各センサーの記憶値
と測定値との差が所定の値より小さい場合には可動型か
ら全ての成形品が落とされたこと、すなわち可動型に成
形品が残つJていないことが確認される。この確認後次
の成形行程のための型締めが許される。この方法におい
て、前回の突出し後の輝度と今回の突出し前の輝度とを
比較する場合には、成形品が引掛る可能性はないからセ
ンサーのうちで成形品のあるべき場所の輝度を検知する
センサーのみの出力を比較する。
このような方法によれば、 前回の突出し後(成形品が全て落とされ、正常であつた
ことが前提となつている)と今回の突出,し後とを比較
しているから、正常時には成形品の影があつてもなくて
もそれに何ら影響を受けることなく正常の信号を出すこ
ととなり、成形品が金型の一部に引掛つた場合にのみ確
実にこれを検出することができる。
以下、図面によつて本発明の実施例を詳細に説明する。
回路、部品等の詳細な説明は、先願の特願昭53−40
855号の明細書に詳しく述べられているので、本出願
の明細書ではこれらを省略し、本発明の趣旨のみを詳細
に述べることとする。第1図は射出成形機の一部とテレ
ビカメラとを示すものてある。射出成形機1は、その金
型が固定型2と可動型3とに2分されている。可動型3
は、型締時にタイバー4に案内されて前進(図中右方へ
移動)し、固定型2に重なる。この可動型3と固定型2
とによつて成されたキャビティ内に、固定型2に取り付
けたノズル5から、熱溶融したプラスチック材料が充填
される。成形された製品が固化・冷却してから可動型3
が後退(図中左方へ移動)して型開きが行なわれる。
可動型3が後退して突出し部7に当たると、可動型3に
設けた突出しピン8が突出し部7によつて前進して製品
を可動型3から突き出す。この製品突出し後に可動型3
が再び前進して型締めが行なわれる。前記可動型3が所
定位置にあるとき、この可動型3の内面を撮影するため
に、テレビカメラ9が設置されており、可動型の状態を
監視する。
可動型3が前記所定置(以下監視位置と呼ぶ)にあるこ
とを検出するために、位置検出用リミットスイッチ10
が設けられ、可動型3が監視位置にある時ONして監視
装置に監視指令の信号を送る。なお、プラスチック射出
成形機には、可動型3が型開き開始後一定位置即ち型開
き完了位置まて後退すると型開き完了信号を発して一端
停止し、突き出し部7が油圧駆動により前進して突き出
しピン8を押して製品を突き出し、7が元の位置まて後
退すると突き出し完了信号を発して型締めを開始させる
油圧エジェクター付き射出成形機と呼ばれる機構のもの
がある。
このような油圧エジェクター付き成形機においては、前
記監視位置を型開き完了位置に選べば、監視指令信号は
型開き完了信号及び突き出し完了信号として成形機内部
より取り出すことが可能となり、前記リミットスイッチ
10を特別に設ける必要はない。
しかしこの場合でもリミットスイッチ10を設けて全く
同様な監視を行なうことも可能てある。第2図は像の輝
度を測定する測定部の斜視図である。
テレビカメラ9で撮像した可動型3の映像信号は、ブラ
ウン管21を有する受像機12に送られる。本実施例に
おいては、可動型3が6個取)りの金型てあり、6個の
コア部13〜18を有している。この6個のコア部13
〜18の、ブラウン管21上の像22〜27の上に、こ
の像22〜27の輝度をそれぞれ測定する輝度センサー
31〜36が取り付けられ、さらに成形品が引掛る可5
能性のある突出しピン19,20の部分のブラウン管2
1上の像の位置にこの部分の輝度を測定する輝度センサ
ー37,38が取り付けられている。これらの輝度セン
サー31〜38は、それぞれOサンプリングホールド回
路、サンプリングゲート、コンパレータ等からなる信号
処理部に接続され、この信号処理部を通して成形機の制
御系をコントロールするようになつている。
以下、第3図によつてこの信号処理部の説明をする。輝
度センサー31からの輝度信号は第1サンプリングゲー
ト41とサンプリングホールド回路40に送られる。
サンプリングホールド回路40は、金型の成形品突出し
完了時に作動し、その時点での輝度信号を記憶する。こ
のサンプリングホールド回路40は第2サンプリングゲ
ート42に接続され、第1および第2のサンプリングゲ
ート41,42は比較器43に接続されて両ゲートの出
力が比較されるようになつている。比較器43は2つの
入力端子43a,43bを有し、両端子から入力される
輝度信号の差を、所定の基準レベルと比較する機能を有
する。
この比較器43の出力はロジックゲート44に入力され
、成形機の型締を防止する必要のあるときに、ロジック
ゲート44が成形機制御系45にストップ信号を伝達す
るようになつている。型締めを防止する必要のない正常
時には、ロジックゲート44は0K信号を成形機制御系
45に伝達する。前記第1および第2のサンプリングゲ
ート41,42は型開き完了時と突出し完了時に開かれ
、この2回の検出時に上記比較器43等によつて信号処
理が行なわれる。以下、上記のように構成された信号処
理部の作用を説明する。
まず、第1回目の成形時には型開き完了時に成形品が可
動型に全部あるか、すなわち固定型の中に残つていない
かを、作業者が目で確かめる。
そして、正常であることが確められた後に成形品の突出
しを行なう。この突出し完了時にも、作業者は可動型に
成型品が残つていないことを目で確か!める。突出し完
了時の正常が確かめられた後に、輝度センサー31〜3
8の輝度信号WOをサンプリングホールド回路40で記
憶する。次に、型締を行ない射出成形をし、型開きをす
る。このとき、型開き完了信号がリミットスイッチ10
によ3つて与えられ、第1および第2のサンプリングゲ
ート41,42が開かれる。この場合、輝度センサー3
1〜38の中、成形品が引掛る可能性のある部分を検出
するために設けられている輝度センサー37,38に接
続されて、サンプリングゲー4,卜は開かれない。した
がつて、成形品のあるべき位置に設けられた輝度センサ
ー31〜36のサンプリングゲートのみが開かれる。第
1サンプリングゲート41は、今回の型開き完了時の輝
度V1を、第2サンプリングゲート42はサンプリング
ホールド回路40に記憶された前回の正常時の突出し完
了時の輝度WOを比較器43に入力する。比較器43は
2つの入力端子43a,43bに入7力されたこれらの
輝度の差の絶対値1V1−WOlを所定の基準レベルD
1と比較する。ある輝度センサー31の輝度信号の差の
絶対値1V1−WOlがこの基準レベルD1より大きい
とき、その輝度センサー31の検出部分には成形品があ
るこθとが確認される。この値が0もしくは基準レベル
D1より小さいときは、成形品が可動型のあるべきとこ
ろにない、すなわち固定型に残つたことが検出される。
このときは、ロジックゲート44から成形機制御系45
にストップ信号が伝えられ、7型締が阻止され、固定型
内から残つた成形品を手て取り出す。次に、成形品を突
出した後、再び第1および第2のサンプリングゲート4
1,42が開かれる。
これによりサンプリングホールド回路に記憶され)てい
る前回の突出し後の輝度WOと、今回の突出し後の輝度
W1とが比較器43の入力端子43a,43bに入力さ
れる。比較器43は2つの入力信号の値の差の絶対値1
W1−WOl所定の基準レベルD2と比較する。このと
きは、正常時には両人力信号の値WO,Wlは等しいか
ほとんど等しい(実際にはそのときの照明の関係、光線
の関係で僅かに異なる場合がある)ので、この絶対値が
所定の基準レベルD2より小さいときを正常とし、大き
い場合を異常、すなわち突出しが確実に行なわれていな
いものと判定する。この場合は、輝度センサーは引掛る
可能性のある部分に設けられているもの37,38も含
めて全部が使用され、これら全部の輝度センサー31〜
38に接続されたサンプリングゲート41,42が開か
れる。正常時には0K信号がロジックゲート44から出
され、成形機制御系45は正常に作動を続ける。また、
この0K信号はサンプリングホールド回路40にも伝え
られ、これによつてサンプリングホールド回路40の記
憶情報が入れ変えられる。すなわち、前回の突出し完了
時の記憶WOが消され、新たに今回の突出し完了時の輝
度W1が記憶される。次には、今回の記憶W1と、次回
の型開き完了時の輝度V2および突出し完了時の輝度V
2とが比較され、それぞれの差の絶対値1■2−Wll
llW2−Wllが所定の値Dl,D2より大きいか小
さいかによつて成形品の残りがないことャを確認する。
上記信号の処理と、正常、異常の関係を表にすると次の
ようになる。
このようにして、光電的に金型の像上の各部の輝度を輝
度センサーによつて検知しながら、自動的に成形品の金
型内への残りを検知し、成形品の残りがあつた場合には
型締を自動的に防止するこ,とができる。
また、本発明によれは、突出し後の輝度は前回の突出し
後の輝度と比較しているため、成形品が金型の一部に引
掛つたような場合にも確実にこれを検知することができ
る。
特に金型上に成形品によつて影が出来るような場合にも
、突出し後と突出し後を比較しているため問題がなく、
この影の変化を考慮する必要がないため、汎用性があり
、実用性が高い。また、金型の形状に影響されることも
なく、極めて、汎用性の高いものである。さらに、本発
明は、このように確実な監視をサンプリングホールド回
路を1個使用するだけで実現するから、極めてコスト的
に有利てあり、工業的にも実現性の高いものである。な
お、上記実施例では輝度センサーが結像媒体上に結像し
た可視の映像上に配されているが、この映像をセンサー
を設ける位置と対応した位置を見ることができるように
したモニター、フアイングー、等の手段によつて見るこ
とがでるようにすれは、必すしも可視の映像上に直接セ
ンサーを設ける必要はなく、上記結像媒体上には可視像
を見る必要がない。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の金型監視方法を実施する装置の一例を
示す平面図、第2図は同じくその要部の斜視図、第3図
は本発明の方法に使用する回路のブロック図である。 2・・・固定型、3・・・可動型、9・・・テレビカメ
ラ、21・・・ブラウン管、31〜38・・・輝度セン
サー、40・・・サンプリングホールド回路、41,4
2・・サンプリングゲート、43・・・比較器。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 固定型と可動型とからなる射出成形用金型の可動型
    の映像を結像媒体上に結像し、この映像上に複数個の輝
    度センサーを配して成形品の突出し後の輝度を測定記憶
    し、この記憶した輝度を次回の突出し前および突出し後
    の輝度と比較して、可動型に成形品が全てあることおよ
    び全て突出されたことを確認するようにしたことを特徴
    とする金型監視方法。 2 前記記憶した輝度と前記次回の突出し前の輝度の差
    の絶対値が所定の値より大きいとき、正常と判断するこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の金型監視方
    法。 3 前記記憶した輝度と前記次回の突出し後の輝度の差
    の絶対値が所定の値より小さいとき、正常と判断するこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の金型監視方
    法。
JP8857678A 1978-07-20 1978-07-20 金型監視方法 Expired JPS6050573B2 (ja)

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JP8857678A JPS6050573B2 (ja) 1978-07-20 1978-07-20 金型監視方法

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JPS5515830A JPS5515830A (en) 1980-02-04
JPS6050573B2 true JPS6050573B2 (ja) 1985-11-09

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