JPS6046000A - ビット訂正付きプログラマブルリ−ドオンリィメモリ - Google Patents
ビット訂正付きプログラマブルリ−ドオンリィメモリInfo
- Publication number
- JPS6046000A JPS6046000A JP58153864A JP15386483A JPS6046000A JP S6046000 A JPS6046000 A JP S6046000A JP 58153864 A JP58153864 A JP 58153864A JP 15386483 A JP15386483 A JP 15386483A JP S6046000 A JPS6046000 A JP S6046000A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- memory
- bit
- parity
- prom
- program data
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
- G06F11/08—Error detection or correction by redundancy in data representation, e.g. by using checking codes
- G06F11/10—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's
- G06F11/1008—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's in individual solid state devices
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
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- G06F11/10—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's
- G06F11/1076—Parity data used in redundant arrays of independent storages, e.g. in RAID systems
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- Read Only Memory (AREA)
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発QjjFiピット訂正機能を有するブログジマグル
リードオンリイメモリ(FROM)に関する。
リードオンリイメモリ(FROM)に関する。
−FROM、特に紫外線消去型HFROMの大容量化に
伴ない、冗長回路を備えた製品が発表されCいる。この
方式は不良ビットのあるデジットラ・イン又はメーデュ
ーダを設U[時に余分に作っていたメモリのデジットラ
イン又はメーテユータに置き換えることによシ歩留シを
向上させていlこ。またこの方法はりエハースグロセス
完了後電気的機能ナエック時にメモリの部分的な不良は
余分のメ七りにポリシリコンヒユーズを大電流を流しで
溶断するかまたはレーザー光線による溶断などが行なわ
れている。この様な方式はウェノ・−ス状での電気的機
能チェック時に行なうがこのチェック時に一部不良メモ
リ部を冗長メモリに置き換えるため、検査時間が長くな
シ、検査機器(デスタ−)の機能も高いものが要求され
、高いテスターが必要になる。
伴ない、冗長回路を備えた製品が発表されCいる。この
方式は不良ビットのあるデジットラ・イン又はメーデュ
ーダを設U[時に余分に作っていたメモリのデジットラ
イン又はメーテユータに置き換えることによシ歩留シを
向上させていlこ。またこの方法はりエハースグロセス
完了後電気的機能ナエック時にメモリの部分的な不良は
余分のメ七りにポリシリコンヒユーズを大電流を流しで
溶断するかまたはレーザー光線による溶断などが行なわ
れている。この様な方式はウェノ・−ス状での電気的機
能チェック時に行なうがこのチェック時に一部不良メモ
リ部を冗長メモリに置き換えるため、検査時間が長くな
シ、検査機器(デスタ−)の機能も高いものが要求され
、高いテスターが必要になる。
本発明は以上の問題を解決するFROMを提供するもの
である。
である。
本発明の特徴は、単結晶半導体基板上に形成されたF
ROMにおいて、プレグラムデータ用メモリ以外にパリ
ティチェック用のメモリを備え、プログラム時において
対応したパリティ・ビットに変換する回路を備え、読み
世し時にパリティチェックからプログラムデータを訂正
する回路を備えたPROMKhる。そして、このような
FROMにおいて、パリティビット部をさらにパリティ
チェックするメモリを付け、パリティピット部にビット
エラーが生じた場には本体のメモリのビット訂正を行な
わないようにする仁とが好ましい。
ROMにおいて、プレグラムデータ用メモリ以外にパリ
ティチェック用のメモリを備え、プログラム時において
対応したパリティ・ビットに変換する回路を備え、読み
世し時にパリティチェックからプログラムデータを訂正
する回路を備えたPROMKhる。そして、このような
FROMにおいて、パリティビット部をさらにパリティ
チェックするメモリを付け、パリティピット部にビット
エラーが生じた場には本体のメモリのビット訂正を行な
わないようにする仁とが好ましい。
以1、本発明の実施例に従って説明する1、第1図は本
発明実施例の図であって、アドレスバッファ1、デコー
タ゛U路2、メモリ部3、パリティ用メモリ4、読み出
し/lき込み回路5、読み出しビット訂正回路6、出力
バッフ77、データ入力バッファ8、訂正符号発生回路
9、及び書込み/読み出し制御回路10よりなっている
。
発明実施例の図であって、アドレスバッファ1、デコー
タ゛U路2、メモリ部3、パリティ用メモリ4、読み出
し/lき込み回路5、読み出しビット訂正回路6、出力
バッフ77、データ入力バッファ8、訂正符号発生回路
9、及び書込み/読み出し制御回路10よりなっている
。
書込みデータはデータ人力バッファ8を通して入力され
、訂正符号発生回路部において符号訂正用ビットを発生
し、パリティ用メモリ4に1.き込まれ、メモリ部3に
はそのまま書き込まれる。読み出し時社メモリ本体から
のデータとパリティ用メモリからの情報によシ、メ七り
本体のブ・−夕に一部誤シがあれば、読み出しビット釘
止回路6にて訂正を5斤い正しいデータを出力バッファ
7を通して出力する。
、訂正符号発生回路部において符号訂正用ビットを発生
し、パリティ用メモリ4に1.き込まれ、メモリ部3に
はそのまま書き込まれる。読み出し時社メモリ本体から
のデータとパリティ用メモリからの情報によシ、メ七り
本体のブ・−夕に一部誤シがあれば、読み出しビット釘
止回路6にて訂正を5斤い正しいデータを出力バッファ
7を通して出力する。
例兼ネご出力ビット8,16,32.64ビツトに対し
。
。
てそれぞれ4.5.6.7ビツトのバリブイビーットが
必要になる。このパリティビットに11ビツトの誤シ訂
正が可能になる。また大官カ1になると書き込み時間も
長くなるため、1ワード(覗、状8ビツト又は16ビク
I)ごとに書き込む方式よりも、複数ワード(例えに2
ワード、4ワード゛)ごと並列に裡・キ込む方式におい
ては16.32.64ビットに対する符号引止用ビット
で済み、ハリティビット用メモリの割合が少なく出来る
。
必要になる。このパリティビットに11ビツトの誤シ訂
正が可能になる。また大官カ1になると書き込み時間も
長くなるため、1ワード(覗、状8ビツト又は16ビク
I)ごとに書き込む方式よりも、複数ワード(例えに2
ワード、4ワード゛)ごと並列に裡・キ込む方式におい
ては16.32.64ビットに対する符号引止用ビット
で済み、ハリティビット用メモリの割合が少なく出来る
。
この様な方式を採用することで訂正用メモリ部の割合を
最適なものに出来る。また以上方式では訂正用メモリ部
における誤シビットが生じた場合結果とt、て出力は誤
訂正を起こす。パリティ−ビット用1ビット追加するこ
とによシ、パリティ−ビット部で誤りが生じた場合、本
体のメモリ出力の訂正を行なわがいようにすることでさ
らに歩留シ、信頼性を上けZ)ことが出来る。
最適なものに出来る。また以上方式では訂正用メモリ部
における誤シビットが生じた場合結果とt、て出力は誤
訂正を起こす。パリティ−ビット用1ビット追加するこ
とによシ、パリティ−ビット部で誤りが生じた場合、本
体のメモリ出力の訂正を行なわがいようにすることでさ
らに歩留シ、信頼性を上けZ)ことが出来る。
第1図1.1本発明の一実施例のブロック図を示す。
々お図において、ん、A I・・・Afl・・・・・・
アドレス入力端子、Do、l>+、・・・l)、、・・
・・・・デ・−タ出力/′入力端子、CB・・・・・・
チップイネーブル、Pl。、・・・・・・プロゲラムコ
−) Iff −A/ 、1・・・・・・アドレスバッ
ファ、2・・・・・・fコーダ部、3・・・・・・メモ
リセル、4・・・・・・パリティ−チェック用メモリ、
5・・・・・・読出し/書き込み回路、6・・・・・・
読み出し、ピント訂正回路、7・・・用出力バッファ、
8・・・・・・入カパッファ、9・・四訂正符号発生回
路、10・・・・・・書込み/読み…し制御回路、でお
る。 代理人 弁理士 内 原 晋
アドレス入力端子、Do、l>+、・・・l)、、・・
・・・・デ・−タ出力/′入力端子、CB・・・・・・
チップイネーブル、Pl。、・・・・・・プロゲラムコ
−) Iff −A/ 、1・・・・・・アドレスバッ
ファ、2・・・・・・fコーダ部、3・・・・・・メモ
リセル、4・・・・・・パリティ−チェック用メモリ、
5・・・・・・読出し/書き込み回路、6・・・・・・
読み出し、ピント訂正回路、7・・・用出力バッファ、
8・・・・・・入カパッファ、9・・四訂正符号発生回
路、10・・・・・・書込み/読み…し制御回路、でお
る。 代理人 弁理士 内 原 晋
Claims (2)
- (1)単結晶半導体基板上に形成されたプログラマブル
リードオンリイメモリにおいて、プログラムデータ用メ
モリ以外にノくリテイチェック用のメモリを備え、プロ
グラム時において対応したパリティビットに変換する回
路を備え、読み出し時にパリティチェックの結果に依存
してプログラムデータを訂正する回路を備えたことを特
徴とするビット訂正付きプログラマブルリードオンリイ
メモリ。 - (2) バリディビット部をさらにノくリテイチェック
するメモリを付け、パリティビット部にビットエラーが
生じた場には本体のメモリのビット訂正を行なわない機
能を有することを特徴とする特許請求の範囲第(1)項
記載のビット訂正伺きプログラマプルリードオンリイメ
モリ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58153864A JPS6046000A (ja) | 1983-08-23 | 1983-08-23 | ビット訂正付きプログラマブルリ−ドオンリィメモリ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58153864A JPS6046000A (ja) | 1983-08-23 | 1983-08-23 | ビット訂正付きプログラマブルリ−ドオンリィメモリ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6046000A true JPS6046000A (ja) | 1985-03-12 |
Family
ID=15571767
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58153864A Pending JPS6046000A (ja) | 1983-08-23 | 1983-08-23 | ビット訂正付きプログラマブルリ−ドオンリィメモリ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6046000A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62217499A (ja) * | 1986-03-05 | 1987-09-24 | Canon Inc | カメラの制御装置 |
JPH02152100A (ja) * | 1988-12-02 | 1990-06-12 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置 |
US5140597A (en) * | 1989-02-01 | 1992-08-18 | Fujitsu Limited | Semiconductor memory device having mask rom structure |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS55125597A (en) * | 1979-03-19 | 1980-09-27 | Nec Corp | Semiconductor memory circuit |
JPS5622294A (en) * | 1979-07-31 | 1981-03-02 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Memory circuit |
JPS5771596A (en) * | 1980-10-20 | 1982-05-04 | Fujitsu Ltd | Nonolithic memory chip provided with correcting function |
JPS58139399A (ja) * | 1982-02-15 | 1983-08-18 | Hitachi Ltd | 半導体記憶装置 |
-
1983
- 1983-08-23 JP JP58153864A patent/JPS6046000A/ja active Pending
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS55125597A (en) * | 1979-03-19 | 1980-09-27 | Nec Corp | Semiconductor memory circuit |
JPS5622294A (en) * | 1979-07-31 | 1981-03-02 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Memory circuit |
JPS5771596A (en) * | 1980-10-20 | 1982-05-04 | Fujitsu Ltd | Nonolithic memory chip provided with correcting function |
JPS58139399A (ja) * | 1982-02-15 | 1983-08-18 | Hitachi Ltd | 半導体記憶装置 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62217499A (ja) * | 1986-03-05 | 1987-09-24 | Canon Inc | カメラの制御装置 |
JPH02152100A (ja) * | 1988-12-02 | 1990-06-12 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置 |
US5140597A (en) * | 1989-02-01 | 1992-08-18 | Fujitsu Limited | Semiconductor memory device having mask rom structure |
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