JPS6046000A - ビット訂正付きプログラマブルリ−ドオンリィメモリ - Google Patents

ビット訂正付きプログラマブルリ−ドオンリィメモリ

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Publication number
JPS6046000A
JPS6046000A JP58153864A JP15386483A JPS6046000A JP S6046000 A JPS6046000 A JP S6046000A JP 58153864 A JP58153864 A JP 58153864A JP 15386483 A JP15386483 A JP 15386483A JP S6046000 A JPS6046000 A JP S6046000A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
memory
bit
parity
prom
program data
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP58153864A
Other languages
English (en)
Inventor
Michitoku Kamatani
鎌谷 道徳
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Nippon Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp, Nippon Electric Co Ltd filed Critical NEC Corp
Priority to JP58153864A priority Critical patent/JPS6046000A/ja
Publication of JPS6046000A publication Critical patent/JPS6046000A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/07Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
    • G06F11/08Error detection or correction by redundancy in data representation, e.g. by using checking codes
    • G06F11/10Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's
    • G06F11/1008Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's in individual solid state devices
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/07Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
    • G06F11/08Error detection or correction by redundancy in data representation, e.g. by using checking codes
    • G06F11/10Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's
    • G06F11/1076Parity data used in redundant arrays of independent storages, e.g. in RAID systems

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
  • Read Only Memory (AREA)
  • For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発QjjFiピット訂正機能を有するブログジマグル
リードオンリイメモリ(FROM)に関する。
−FROM、特に紫外線消去型HFROMの大容量化に
伴ない、冗長回路を備えた製品が発表されCいる。この
方式は不良ビットのあるデジットラ・イン又はメーデュ
ーダを設U[時に余分に作っていたメモリのデジットラ
イン又はメーテユータに置き換えることによシ歩留シを
向上させていlこ。またこの方法はりエハースグロセス
完了後電気的機能ナエック時にメモリの部分的な不良は
余分のメ七りにポリシリコンヒユーズを大電流を流しで
溶断するかまたはレーザー光線による溶断などが行なわ
れている。この様な方式はウェノ・−ス状での電気的機
能チェック時に行なうがこのチェック時に一部不良メモ
リ部を冗長メモリに置き換えるため、検査時間が長くな
シ、検査機器(デスタ−)の機能も高いものが要求され
、高いテスターが必要になる。
本発明は以上の問題を解決するFROMを提供するもの
である。
本発明の特徴は、単結晶半導体基板上に形成されたF 
ROMにおいて、プレグラムデータ用メモリ以外にパリ
ティチェック用のメモリを備え、プログラム時において
対応したパリティ・ビットに変換する回路を備え、読み
世し時にパリティチェックからプログラムデータを訂正
する回路を備えたPROMKhる。そして、このような
FROMにおいて、パリティビット部をさらにパリティ
チェックするメモリを付け、パリティピット部にビット
エラーが生じた場には本体のメモリのビット訂正を行な
わないようにする仁とが好ましい。
以1、本発明の実施例に従って説明する1、第1図は本
発明実施例の図であって、アドレスバッファ1、デコー
タ゛U路2、メモリ部3、パリティ用メモリ4、読み出
し/lき込み回路5、読み出しビット訂正回路6、出力
バッフ77、データ入力バッファ8、訂正符号発生回路
9、及び書込み/読み出し制御回路10よりなっている
書込みデータはデータ人力バッファ8を通して入力され
、訂正符号発生回路部において符号訂正用ビットを発生
し、パリティ用メモリ4に1.き込まれ、メモリ部3に
はそのまま書き込まれる。読み出し時社メモリ本体から
のデータとパリティ用メモリからの情報によシ、メ七り
本体のブ・−夕に一部誤シがあれば、読み出しビット釘
止回路6にて訂正を5斤い正しいデータを出力バッファ
7を通して出力する。
例兼ネご出力ビット8,16,32.64ビツトに対し
てそれぞれ4.5.6.7ビツトのバリブイビーットが
必要になる。このパリティビットに11ビツトの誤シ訂
正が可能になる。また大官カ1になると書き込み時間も
長くなるため、1ワード(覗、状8ビツト又は16ビク
I)ごとに書き込む方式よりも、複数ワード(例えに2
ワード、4ワード゛)ごと並列に裡・キ込む方式におい
ては16.32.64ビットに対する符号引止用ビット
で済み、ハリティビット用メモリの割合が少なく出来る
この様な方式を採用することで訂正用メモリ部の割合を
最適なものに出来る。また以上方式では訂正用メモリ部
における誤シビットが生じた場合結果とt、て出力は誤
訂正を起こす。パリティ−ビット用1ビット追加するこ
とによシ、パリティ−ビット部で誤りが生じた場合、本
体のメモリ出力の訂正を行なわがいようにすることでさ
らに歩留シ、信頼性を上けZ)ことが出来る。
【図面の簡単な説明】
第1図1.1本発明の一実施例のブロック図を示す。 々お図において、ん、A I・・・Afl・・・・・・
アドレス入力端子、Do、l>+、・・・l)、、・・
・・・・デ・−タ出力/′入力端子、CB・・・・・・
チップイネーブル、Pl。、・・・・・・プロゲラムコ
−) Iff −A/ 、1・・・・・・アドレスバッ
ファ、2・・・・・・fコーダ部、3・・・・・・メモ
リセル、4・・・・・・パリティ−チェック用メモリ、
5・・・・・・読出し/書き込み回路、6・・・・・・
読み出し、ピント訂正回路、7・・・用出力バッファ、
8・・・・・・入カパッファ、9・・四訂正符号発生回
路、10・・・・・・書込み/読み…し制御回路、でお
る。 代理人 弁理士 内 原 晋

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)単結晶半導体基板上に形成されたプログラマブル
    リードオンリイメモリにおいて、プログラムデータ用メ
    モリ以外にノくリテイチェック用のメモリを備え、プロ
    グラム時において対応したパリティビットに変換する回
    路を備え、読み出し時にパリティチェックの結果に依存
    してプログラムデータを訂正する回路を備えたことを特
    徴とするビット訂正付きプログラマブルリードオンリイ
    メモリ。
  2. (2) バリディビット部をさらにノくリテイチェック
    するメモリを付け、パリティビット部にビットエラーが
    生じた場には本体のメモリのビット訂正を行なわない機
    能を有することを特徴とする特許請求の範囲第(1)項
    記載のビット訂正伺きプログラマプルリードオンリイメ
    モリ。
JP58153864A 1983-08-23 1983-08-23 ビット訂正付きプログラマブルリ−ドオンリィメモリ Pending JPS6046000A (ja)

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JP58153864A JPS6046000A (ja) 1983-08-23 1983-08-23 ビット訂正付きプログラマブルリ−ドオンリィメモリ

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JP58153864A JPS6046000A (ja) 1983-08-23 1983-08-23 ビット訂正付きプログラマブルリ−ドオンリィメモリ

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JPS6046000A true JPS6046000A (ja) 1985-03-12

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ID=15571767

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58153864A Pending JPS6046000A (ja) 1983-08-23 1983-08-23 ビット訂正付きプログラマブルリ−ドオンリィメモリ

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62217499A (ja) * 1986-03-05 1987-09-24 Canon Inc カメラの制御装置
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