JPS604366Y2 - Ｘ線分析装置等用試料回転装置 - Google Patents
Ｘ線分析装置等用試料回転装置Info
- Publication number
- JPS604366Y2 JPS604366Y2 JP13958277U JP13958277U JPS604366Y2 JP S604366 Y2 JPS604366 Y2 JP S604366Y2 JP 13958277 U JP13958277 U JP 13958277U JP 13958277 U JP13958277 U JP 13958277U JP S604366 Y2 JPS604366 Y2 JP S604366Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- rotating
- holder
- rotating body
- rotation device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は螢光Ｘ線分析装置や螢光Ｘ線分析装置に使用さ
れる試料回転装置に関するものである。
れる試料回転装置に関するものである。
螢光Ｘ線分析装置においては、試料室内においては、試
料室内に置かれた被検試料にＸ線からのＸ線を照射し、
そのとき発生する螢光Ｘ線を分析室内の分光結晶により
分光するようになしである。
料室内に置かれた被検試料にＸ線からのＸ線を照射し、
そのとき発生する螢光Ｘ線を分析室内の分光結晶により
分光するようになしである。
しかし乍ら、一般に試料は元素の分布が均一ではなく、
従ってＸ線の照射方向により螢光Ｘ線強度は変化すると
いう問題がある。
従ってＸ線の照射方向により螢光Ｘ線強度は変化すると
いう問題がある。
そこで、従来は試料を分析中自転させ、発生する螢光Ｘ
線強度の平均化を行なっている。
線強度の平均化を行なっている。
該試料の回転機構としては、大別して二つに分類できる
。
。
その一つは試料室内に置かれた複数個の試料を同時に回
転するもの、他の一つは分析位置にある試料のみを回転
するものである。
転するもの、他の一つは分析位置にある試料のみを回転
するものである。
前者は構造が複雑、大型化し、高価であるという欠点を
有しているのに対し、後者は構造が比較的簡単で安価に
なる。
有しているのに対し、後者は構造が比較的簡単で安価に
なる。
しかし乍ら、従来の装置は分析位置に試料が位置すると
きのみ回転機構を結合させねばならないので、取扱いが
複雑になり、又回転機構が試料保持体の側面に係合する
ため回転軸心がふらつくという問題がある。
きのみ回転機構を結合させねばならないので、取扱いが
複雑になり、又回転機構が試料保持体の側面に係合する
ため回転軸心がふらつくという問題がある。
本考案は上記問題を解決し得る分析位置でのみ試料を回
転する型の装置を提供するものである。
転する型の装置を提供するものである。
第１図は本考案の一実施例を示す断面図であり、１は試
料室、２は該試料室に連結され内部に分光器（図示せず
）を備えた分光室である。
料室、２は該試料室に連結され内部に分光器（図示せず
）を備えた分光室である。
該試料室内には回転軸３に支えられた回転テーブル４が
配置されておりこのテーブルに複数個の支持筒５ａ、５
ｂが固定されている。
配置されておりこのテーブルに複数個の支持筒５ａ、５
ｂが固定されている。
この支持筒の内部にはベアリング６ａ、６ｂを介して筒
状の保持体７ａ、７ｂが設けてあり、試料８はホルダー
９に保持されて該保持体の中に嵌挿される。
状の保持体７ａ、７ｂが設けてあり、試料８はホルダー
９に保持されて該保持体の中に嵌挿される。
１０はＸ線管であり、これにより発生したＸ線Ｘ１は前
記試料８に照射される。
記試料８に照射される。
このＸ線Ｘ□の照射により発生した螢光Ｘ線Ｘ２は分光
室２内に導かれて分光される。
室２内に導かれて分光される。
図の状態で保持体７ａは分析位置に、又７ｂは交換位置
にあり、該７ｂ内の試料は交換室１１を介して外部の新
しい試料と交換される。
にあり、該７ｂ内の試料は交換室１１を介して外部の新
しい試料と交換される。
一方、１２は分析回置の後方に置かれた回転機構であり
、テーパー面を有し、少なくとも該テーパー面が高い耐
摩耗性をもつように形成された回転体１３と、この回転
体の端面に周辺部が固定され、変形自在な弾性板体１４
と、この弾性板体の中央部に固定されたシャフト１５と
該シャフトを回転するための駆動源１６とから構成され
ている。
、テーパー面を有し、少なくとも該テーパー面が高い耐
摩耗性をもつように形成された回転体１３と、この回転
体の端面に周辺部が固定され、変形自在な弾性板体１４
と、この弾性板体の中央部に固定されたシャフト１５と
該シャフトを回転するための駆動源１６とから構成され
ている。
そして、前記回転体１３のテーパー面が保持体７ａの内
側上端面に接し、その摩擦力により保持体を回転するよ
うになしである。
側上端面に接し、その摩擦力により保持体を回転するよ
うになしである。
第２図は保持体と回転機構（主に回転体と弾性板体）と
の関係を示す図である。
の関係を示す図である。
同図ａは試料、従って保持体７ａを分析位置に送る過程
を示し、分析位置の後方に置かれた回転体１３に対し、
保持体７ａは矢印の方向に接近する。
を示し、分析位置の後方に置かれた回転体１３に対し、
保持体７ａは矢印の方向に接近する。
この状態では回転体１３の下端面より保持体７ａの上端
面の方が高くされている。
面の方が高くされている。
更に保持体が移動するとその上端部が回転体１３のテー
パ一部に当接するが、該回転体は弾性板体１４により支
えられているため、第２図すに示す如く、弾性板体の変
形により回転体１３は保持体７ａの上面に乗り上げる。
パ一部に当接するが、該回転体は弾性板体１４により支
えられているため、第２図すに示す如く、弾性板体の変
形により回転体１３は保持体７ａの上面に乗り上げる。
更に保持体７ａが移動し、分析位置に達すると、第２図
Ｃに示す如く保持体の筒部に回転体が嵌り込み、そのテ
ーパー面が保持体の内側上端面に押しつけられる。
Ｃに示す如く保持体の筒部に回転体が嵌り込み、そのテ
ーパー面が保持体の内側上端面に押しつけられる。
このとき弾性板体は丁度板バネの働きをするので、回転
体を保持体に強く押し付けるため、接触部は強い摩擦抵
抗を有することになる。
体を保持体に強く押し付けるため、接触部は強い摩擦抵
抗を有することになる。
従ってこの状態で、シャフト１５を回転すればその摩擦
力により保持体が回転し、内部に保持された試料を回転
させることができる。
力により保持体が回転し、内部に保持された試料を回転
させることができる。
以上説明したように、本考案においてはシャフト１５が
固定しであるに拘らず、回転機構と保持体との連結及び
その解除が自動的に行われ、且つ試料の回転時は常に保
持体を軸方向に押圧しているため、回転の心ぶれ等の問
題も生じない。
固定しであるに拘らず、回転機構と保持体との連結及び
その解除が自動的に行われ、且つ試料の回転時は常に保
持体を軸方向に押圧しているため、回転の心ぶれ等の問
題も生じない。
第１図は本考案の一例を示す図、第２図はその主要部の
動作説明図である。 １・・・・・・試料室、４・・・・・・回転テーブル、
５ａ及び５ｂ・・・・・・支持筒、６ａ及び６ｂ・・・
・・・ベアリング、７ａ及び７ｂ・・・・・・保持体、
８・・・・・・試料、９・・・・・・ホルダー、１０・
・・・・・Ｘ線管、１１・・・・・・交換室、１３・・
・・・・回転体、１４・・・・・・弾性板体、１５・・
・・・・シャフト、１６・・・・・・回転駆動源。
動作説明図である。 １・・・・・・試料室、４・・・・・・回転テーブル、
５ａ及び５ｂ・・・・・・支持筒、６ａ及び６ｂ・・・
・・・ベアリング、７ａ及び７ｂ・・・・・・保持体、
８・・・・・・試料、９・・・・・・ホルダー、１０・
・・・・・Ｘ線管、１１・・・・・・交換室、１３・・
・・・・回転体、１４・・・・・・弾性板体、１５・・
・・・・シャフト、１６・・・・・・回転駆動源。
Claims (1)
- 試料室内に移動体を置き、この移動体に複数個の保持体
を取り付け、該保持体に試料を保持せしめ、前記移動体
を駆動して試料を分析位置から交換位置へ、交換位置か
ら分析位置へ移動させ且つ、分析位置において前記保持
体を回転させる機構を備えた装置において、該回転機構
は耐摩耗性の高いテーパー面を有する回転体と、この回
転体に固定された変形可能な弾性板体とこの弾性板体の
中央部に固定されたシャフトと、該シャフトを回転する
駆動源とからなり、前記回転体の下端面より、前記保持
体の上端面の方が高く構成されていることを特徴とする
Ｘ線分析装置等用試料回転装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13958277U JPS604366Y2 (ja) | 1977-10-18 | 1977-10-18 | Ｘ線分析装置等用試料回転装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13958277U JPS604366Y2 (ja) | 1977-10-18 | 1977-10-18 | Ｘ線分析装置等用試料回転装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5468676U JPS5468676U (ja) | 1979-05-16 |
| JPS604366Y2 true JPS604366Y2 (ja) | 1985-02-07 |
Family
ID=29113771
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13958277U Expired JPS604366Y2 (ja) | 1977-10-18 | 1977-10-18 | Ｘ線分析装置等用試料回転装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS604366Y2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2020044399A1 (ja) * | 2018-08-27 | 2020-03-05 | 株式会社島津製作所 | Ｘ線分析装置 |
-
1977
- 1977-10-18 JP JP13958277U patent/JPS604366Y2/ja not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2020044399A1 (ja) * | 2018-08-27 | 2020-03-05 | 株式会社島津製作所 | Ｘ線分析装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5468676U (ja) | 1979-05-16 |
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