JPS604327A - デジタル・パタ−ン発生器 - Google Patents

デジタル・パタ−ン発生器

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JPS604327A
JPS604327A JP58112489A JP11248983A JPS604327A JP S604327 A JPS604327 A JP S604327A JP 58112489 A JP58112489 A JP 58112489A JP 11248983 A JP11248983 A JP 11248983A JP S604327 A JPS604327 A JP S604327A
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digital
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Yasuhiko Miki
安彦 三木
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Tektronix Japan Ltd
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Sony Tektronix Corp
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    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明はビット数(ビット幅)が可変な高速デジタル・
パターンを発生するパターン発生器に関する。
〔発明の背景〕
ランダム・ロジック集積回路(IC)、ロジック・メモ
リIC等のロジック回路を試験するのにデジタル(ロジ
ック)・パターン発生器を用いている。
従来のパターン発生器の1つは、試験に必要な所定のデ
ジタル・パターンをメモリに記憶し、この記憶したデジ
タル・パターンを順次読出した。
よってパターンの周波数はメモリICの読出し速度に制
限された。ところがロジック回路が複雑になるにしたが
って、非常に多くのパターンを必要とし、またロジック
回路の動作連関が速くなるにしたがって、高速のパター
ンが必要となった。しかし、大容量で高速動作のメモリ
が存在しないため、この従来のパターン発生器C−より
高速パターンを発生する場合に、小容量かつ高価な高速
メモリを数多く用いる必要があり、パターン発生器全体
が高価かつ大型となった。
これらの欠点を解決した従来のパターン発生器にインタ
リーブ方式を採用したものがある。
これは所定のデジタル・パターンを記憶した複数のメモ
リを、異なる位相で順次読出し1位相に応じて複数のメ
モリからの出力信号を選択している。
よって、最終的なデジタル・パターンの周波数は各メモ
リの読出し周波数よりも高くなり、低速メモリを用いて
高速パターンを発生できる。しかし。
このインタリーブ方式では、低速メモリを用いて更に高
速のデジタル・パターンを発生するには。
メモリの数を増さなければならずパターン発生器が大型
かつ高価となってしまう。また用途に応じて、デジタル
・パターンのヒ゛ノド申品、即らビット数を変更できな
かった。
1発明の目的〕 したがって1本発明の目的は、インタリーブ方式の欠点
を改善し、更に高速でビット数が可変のデジタル・パタ
ーンを発生するデジタル・パターン発生器の提供にある
〔発明の概要〕
本発明のデジタル・パターン発生器は、インタリーブ方
式を採用して、所定のデジタル・ノ(ターンを記憶した
第1及び第2メモリの選択した一方から複数ビットの並
列デジタル・パターンを得ている。また、この並列デジ
タル・パターンなシフト・レジスタにロードし、このシ
フト・レジスタを並列人力/直列出力型として動作させ
ることにより、デジタル・パターンを一層高速にしてい
る。更(ニメモリからの並列デジタル・パターンをシフ
ト・レジスタC二より並列/直列変換する際に、1回の
ロード動作当り、何回シフト動作をするかく二上ってデ
ジタル・パターンのビット数を制御している。よって、
低速メモリを用いて、インタリーブ方式よりも高速で、
かっビット数が可変のデジタル・パターンが得られる。
〔発明の実施例〕
以下、添付図を参照して本発明の好適な実施例を説明す
る。第1図は本発明の第1実施例のブロック図であり、
第2図は第1図のブロック図の動作を説明するためのタ
イミング図である。第1アドレス・カウンタ10及び第
2アドレス・カウンタ12は側口1)手段であるタイミ
ング及び制御回路(以下単に制御回路という)14から
のクロック信号81及び7ケ2を夫々計数する。これら
クロック信号ffl及び02の位相は180度異ムクて
いるため、アドレス・カウンタ10及び12からの第1
及び第2アドレス信号A、T)1及びA、D2(4ビツ
ト)の位相も180度異ムクている。第1メモリ16及
び第2メモリ18は夫々所定の4ビ、ト並列デジタル・
パターンを記憶しており、アドレス信号ADI及びA 
I) 2 C1応じて、180度位相の異なった4ビツ
トのデジタル・パターン1)T1及びDT2をマルチプ
レクサ20(−供給する。このマルチプレクサ20は制
御回路14からの制御信号に応じて、デジタル・パター
ンDTI及びDT2の各々の後半部分を選択し、出力信
号M U Xを発生する。よってマルチプレクサ20が
デジタル・パターンDTI及びDT2の各々の後半部分
を選択するまでの前半部分を、メモリ16及び18の応
答時間(ア“ドレス4i号を受けてからデジタル・パタ
ーンを発生するまでの時間)に利用でき5ため、低速メ
モリを利用できる。この実施例ではメモリが2個のため
、マルチプレクサ20の切換周波数はクロック信号z1
及びz2の周波数の2部である。ここまでの構成及び動
作は従来のインクリーブ方式と同様である。なお、第1
図において、数字を付した接続線は複数の接続線から成
り、数字が構成する接続線の数を示す。また第2図にお
いて、D1〜D12の各々はデジタル・パターンの各ビ
ットを示し、各ブロックの応答時間も考慮している。
本発明では、マルチプレクサ20により選択されたメモ
リ16又は】8からの並列デジタル・パターンMUXを
シフト・レジスタ22に供給している。この実施例では
デジタル・パターンMUXが4ビツトなので、シフト・
レジスタ22を4個のフリップ・フロップF1〜F 4
等から構成し、その並列出力を出力端子24〜30に接
続する。
出力デジタル・パターンが1ビツトの場合は、出力端子
24を用い、マルチプレクサ20がメモリ16及び18
を切換える間にシフト・レジスタ22は3回のシフトを
行なってデジタル・パターンS/R1を発生する。即ち
、制御回路】4の制御により、マルチプレクサ20がメ
モリ16を選択すると、シフト・レジスタ22は・1ビ
ツト・パターンMLIX (D 1〜1〕4)をロード
する子24に1〕1が発生する。次にシフト・レジスタ
22が順次シフト動作をすることにより出力端子24に
D2、D3及びD4が順次発生する。よって、シフト・
レジスタ22の動作周波数はマルチプレクサ20の切換
周波数の4倍(MUXが4ビットだから)、即ちクロッ
ク周波数げ1及び62の8倍であり、4クロツクで1動
作ザイクル(第1クロック時にロード動作、第2〜第4
クロツク時にシフト動作)となる。マルチプレクサ20
がメモリ18を選択すると、MUXはI) 5〜1)8
となり、シフト・レジスタ22はMjJXをロード後、
シフト動作を行ない、出力端子24に1)5〜D8を順
次出力する。以後、」一連の動作を繰返す。よって端子
24のデジタル・パターンのビット数はMUXの4分の
1となるが、その周波数はMUXの4倍となる。また、
このデジタル・パターンのビット長はメモリ16及び1
8の全記憶容量まで拡張できる。
出力デジタル・パターンが2ビツトの場合は、出力端子
24及び28を用い、マルチプレクサ20がメモリ16
及び18を切換える間にシフト・レジスタは1回のシフ
トを行なって、端子24及び28にデジタル・パターン
S/R2及びS/R3を夫々発生する。即ち、シフト・
レジスタ22の動作周波数はクロック周波数y1及び0
2の4倍であり、第1クロック時にロード動作を行ない
第2クロック時(ニンフト動作を行なう2クロック1動
作サイクルとなる。よって出力デジタル・パターンの周
波数はMUXの2倍になる。
出力デジタル・ビットが4ビツトの場合。
シフト・レジスタ22は、マルチプレクサ2oの切換(
二同期したロード動作のみを行ない、単なるバッファと
して作用する。よって、出力端子24〜30に発生する
デジタル・パターンはMUXと同じである。なお、マル
チプレクサ20及びシフト・レジスタ22の制御信号は
各前段における応答時間を考慮しである点に留意された
い。したがって1本発明によればインクリーブ方式より
もデジタル・パターンは高速となり、かりピント数(幅
)を容易に制御できる。
第3図は本発明の第2実施例のブロック図である。タイ
ミング及び制御回路(制御手段)14は、バス(データ
線、アドレス線、制御線を含む)32により発振周波数
の制611jされるクロック発生器34、このクロック
発生器34がらのクロック信号を分周する2分の1分周
器36.38及び40.シフト・レジスタ22のロード
動作及びシフト動作を制御するカウンタ42.バス32
の制御信号をランチしてカウンタ/I2のプリセット端
子Pに供給するラッテ回路44を含んでいる。
なお、バス32にはマイクロプロセツサの如き中央処理
装置(CPU)52、制御プログラム等を記憶したリー
ド・オンリ・メモリ(ROM)54゜一時記憶回路とし
て働くランダム・アクセス・メモJ’(RAM)56.
種々の制御入力するキーボード58を接続しており、上
述のクロック周波数もキーボード58(二より制御され
る。またカウンタ42のキャリ・アウトCがそのロード
端子りに接続しているので、キャリ・アウトの発生周期
もキーボード58により制御できる。
アドレス・カウンタ10は分周器40の出力信号を計数
して、計数出力をアドレス信号(4ビツト)としてラッ
チ回路46及び48(二供給する。一方、カウンタ10
のキャリ・アウトCをそのロード端子りに供給1.てい
るので、キャリ・アウトが発生する毎にラッテ回路5o
の出力信号(4ビツト)をラッチする。よって、カウン
タ1゜の発生するアドレス信号の範囲をキーボード58
により制御できる。分周器38の出力信号は遅延回路6
0を介して差動出力ゲート62に供給し。
その非反転出力信号をノア・ゲート64及び66(二、
また反転出力信号をノア・ゲート68(二供給する。ノ
ア・ゲート64はノア・ゲート66及び68の遅延時間
を補償する単なるインバータとして作用し、ラッチ回路
46のラッチ動作を制御する。ノア・ゲート66及び6
8はバス32からの制御信号CI及びC2を夫々受け、
それらの出力信号はワイヤード・オアされ、ラッチ回路
48のラッチ動作を制御する。増幅器62の出力クロッ
ク周波数はカウンタ10の入カクロノク周波数の2倍な
ので、制御信号C1及びC2が夫々「高−1及び「低」
とすると、ラッチ回路46及び48は−hカウンタ0の
出力信号をIso+xの位相差でラッチする。よって、
180度の位相差を有するアドレス信壮を発生できる。
また制御4rj号C1及びC2が夫々[低」及び「高」
の場合、ラッチ回路46及び48はカウンタ10からの
アドレス信号を同時にラッチする。なお、遅延装置60
はラッチ回路46及び48(二おけるカウンタ10の出
力信号及びラッチ信号のタイミングを調整する。
メモリ16及び18はアドレス端子Aにラッチ回路46
及び48からの4ビツト・アドレス信号を夫々受け、人
力データ端子【(ニバス32からの4ビツト・データを
受け、4ii込み/続出し制御端子W/Rにバス32か
らの書込み/続出し制御信号を受け、イネーブル端子E
に分周器38の出力信5Jをイイ・−プル信号として受
ける。遅延装置70はメモリ16及び18(二供給され
るアドレス信号どイイ・−プル信号とのタイミングを調
整し、インバータ72はメモリ16及び18がアドレス
漬け(二同期して交U1゛にイネーブルされるようにす
る。メモリ16及び18の4ビツト・デジタル・パター
ンはワイヤード・オアされて、シフト・レジスタ22(
二供給される。このシフト・レジスタ22はロード・ン
フト制御端子L / S +ニタイミング調整用遅延装
置74を介してカウンタ42のキャリ・アウトCを受け
、クロック端子にタイミング調整用遅延装置76を介し
てクロック発生器34の出力クロックを受ける。第3図
の実施例では第1図の実施例と異なり、アドレス・カウ
ンタが1個であり、またメモリ16及び18の出力側に
マルチプレクサが配置されていない点(マルチプレクサ
を用いる代り(ニメモリ16及び18を交互にイネーブ
ルしている。)に留意されたい。
メモリ16及び18にキーボード58の制御に応じた所
定パターンを記憶させる(二は、これらメモリな也込み
モードとし、パス32からのクロック信号な分周器38
の出力側にワイヤード・オア結合を介して供給する。パ
ス32からの2クロツク毎にカウンタ10がアドレス信
号を変化し、メモリ16及び18は1クロツク角にイネ
ーブルされる。よって、1クロツク毎にパス32からデ
ジタル・データをメモリ16及び18に供給すれはよい
メモリ16及び18(−記憶したデジタル・パターンを
出力するには、これらメモリを読出しモードとし、制御
信号C1及びC2を「高」及び「低」とする。またキー
ボード58によりlビット出力か、2ビツト出力か又は
4ビツト出力かを選択する。1ビツト出力の場合、CI
) U 52はラッチ44(二1をロードするので、カ
ウンタ42はクロック発生器34からのクロック信号が
4ザイクル毎(ニパルスを発生し、ロートイ。1号とし
てシフト・レジスタ22(二供給する。2ビツト出力及
び4ビツト出力の場合は、夫々2及び4をラッチ44に
ロードし、クロック信号の2ザイクル及び1サイクル毎
(二ロード信号をシフI・・レジスタ22(二供給する
。その他の動作は第1図の実施例と同様である。なお、
ラッチ回路46及び48に供給するラッチ信号及びメモ
リ16及び18へのイイ・−プル信号は、クロック発生
器34のクロック信号を分周したものなので、仮えクロ
ック周波数を変化させてクロック信−号の衝撃係数(デ
ーティ・ファクタ)が50チ以外に変化しても、制御a
1]信号C1及びC2が「高」及び「低」の場合、ラッ
チ回路及びメモリの動作は常に180度の位相差となる
この実施例では、自己診断を行なうために。
オーブン・コレクタ型式の比較器78及び80、パス3
2からの制御信号に応じて比較器78及び80の反転入
力端(ニしきい値レベルを供給する回路82を含んでい
る。比較器78の非反転入力端を出力端子24に接続し
、比較器78及び80の出力端を抵抗器及びパス32に
共通接続する。メモリ16及び18の内容を検査するに
は、パターン発生器を1ビツト出力モードにし、比較器
78に最適なしきい値を加える。また比較器80のしき
い値ICt、C性。80の出力段トランジスタが常にオ
フ状態(−なるようにする。よって出力端子24のロシ
ア・り状態のみがパヌ32を介してCPU52により診
断される。メモリ16及び18の出力信号の合計は8ビ
ツト(二もかかわらず、1ケ所のみから構台信号を取出
すのみで、こ」tらメモリの全内容を診断できる点に留
意されたい。この診断の際には、所定規則の繰返しパタ
ーン、例えば「1」、「0」の繰返しパターンをメモリ
に記・1.へさせ、それらの出力が所定規則に従ってい
るか否かにより診断を行なう。また所定パターンをメモ
リ16及び18.並びにRAM56に記憶させ、それら
の記憶内容を比較してもよい。比較器80の非反転入力
端はカウンタ10等、他の適当な回路に接続し、その部
分の診断を行なうのに刊1[1する。
〔発明の効果〕
−上述の如く本発明によれば、インタリーブ方式よりも
出力デジタル・パターンを高速にできると共(−1出力
デジタル・パターンのビット数(幅)を容易に可変でき
る。
〔実施例の変更〕
本発明の好心な実施例(二ついて上述1.だが。
当業者には本発明の要旨を逸脱することなく種々の変更
が可能なことが理解できよう。例えば、第3図において
、メモリ16.18及びシフト・レジスタ22を含むパ
ターン発生部84を複数個設け、これらをrli−のタ
イミング及び制御回路14により制御してデジタル・パ
ターンのビット数を増やしてもよい。またこの際、各パ
ターン発生部84のシフト・レジスタ22の上位用カビ
ノド(へ4SB)を次のパターン発生部のシフト・レジ
スタの下位入力ピノ) (L S B )−二接続して
もよい。更(二、メモリやシフト・レジスタのビット数
は任意でよいし、メモリにはRAM等が利用できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1実施例のブロック図、第2図は第
1図のブロック図の動作を説明するためのタイミング図
、第3図は本発明の第2実施例のブロック図である。 )4:制御手段 16.】8:メモリ 22:シフト・レジスタ 特許用1tf1人:ソ二一・テクトロニクス株式会社A
DI △D2 TI 0丁2 IJX 馳I S水2 録3

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 所定のデジタル・パターンを記憶した第1及び第2メモ
    リと、該第1及び第2メモリの選択した一方から複数ビ
    ットの並列デジタル・パターンが供給されるシフト・レ
    ジスタと、該シフト・レジスタのロード動作及びシフト
    動作を制御する制御手段とを具え、上記シフト・レジス
    タからのデジタル・パターンのビット数を制1fNlす
    ることを特徴どするデジタル・パターン発生器。
JP58112489A 1983-06-22 1983-06-22 デジタル・パタ−ン発生器 Granted JPS604327A (ja)

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JPS604327A true JPS604327A (ja) 1985-01-10
JPH0225567B2 JPH0225567B2 (ja) 1990-06-04

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0238885A (ja) * 1988-07-28 1990-02-08 Furuno Electric Co Ltd 振動子アレイの駆動回路
JPH05183400A (ja) * 1992-01-06 1993-07-23 Oki Electric Ind Co Ltd 識別回路

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH0238885A (ja) * 1988-07-28 1990-02-08 Furuno Electric Co Ltd 振動子アレイの駆動回路
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