JPS6042624A - 温度検出回路 - Google Patents
温度検出回路Info
- Publication number
- JPS6042624A JPS6042624A JP58151324A JP15132483A JPS6042624A JP S6042624 A JPS6042624 A JP S6042624A JP 58151324 A JP58151324 A JP 58151324A JP 15132483 A JP15132483 A JP 15132483A JP S6042624 A JPS6042624 A JP S6042624A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- temperature
- voltage comparator
- voltage
- output signal
- base potential
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K3/00—Thermometers giving results other than momentary value of temperature
- G01K3/005—Circuits arrangements for indicating a predetermined temperature
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野］
この発明は温度が所定値に達したことを検出する温度検
出回路に関し、特に集積Ｍ路内部に組込むととを容易に
したものでめる。 ・ 、〔従来技術〕 １ 一般に集積回路、特に論理集積回路は、コンビエータを
にじめとする多くの情報＃！＆理装置に広範に使用され
ており、これら論理集積回路の熱による誤動作や破壊の
防止線重要な課題の−っでＴｏＤ、特に最近のように高
速化やＬ［化が進み、集積回路１個当りの消費電力が増
大し、更に１装置の冷却方式が空冷から液冷へと切り替
えられようとしている現状ではその重要性は大きくなっ
ている。
出回路に関し、特に集積Ｍ路内部に組込むととを容易に
したものでめる。 ・ 、〔従来技術〕 １ 一般に集積回路、特に論理集積回路は、コンビエータを
にじめとする多くの情報＃！＆理装置に広範に使用され
ており、これら論理集積回路の熱による誤動作や破壊の
防止線重要な課題の−っでＴｏＤ、特に最近のように高
速化やＬ［化が進み、集積回路１個当りの消費電力が増
大し、更に１装置の冷却方式が空冷から液冷へと切り替
えられようとしている現状ではその重要性は大きくなっ
ている。
従って集積回路チップの異常な温度上昇を早期に感知し
、警告を発し走り、るるいは電源をしゃ断する等により
対応できるような温度検出機構の必！！性が増大してき
ている。
、警告を発し走り、るるいは電源をしゃ断する等により
対応できるような温度検出機構の必！！性が増大してき
ている。
従来、多数の、集積回路を有するコンピュータ等におｈ
て、これらの集積回路の異常温度上昇を感知する手段と
しては、装置内の任意の場所にサーモスタット等の部品
を搭載してその部分の温度を監視するとか、るるいはフ
ァンの回転数を監視して温度上昇を知る等の間接的な手
段がとられ、ている欠が、これで・は集積回路チップ個
々の温度上昇を検知す、ること拡でき壜かった。しかし
今後の装置では、複数の集積回路が平均的に温度上昇し
た場合の検出よりむしろ、個々の集積回路チップがそれ
ぞれの原因によって温度上昇する集積囲路側々の温度を
検知する方が重要と々るが、集積回路チップに温度検出
回路を内蔵するととれスペースの関係から技術的に困難
であり、その開発が待たれていた。
て、これらの集積回路の異常温度上昇を感知する手段と
しては、装置内の任意の場所にサーモスタット等の部品
を搭載してその部分の温度を監視するとか、るるいはフ
ァンの回転数を監視して温度上昇を知る等の間接的な手
段がとられ、ている欠が、これで・は集積回路チップ個
々の温度上昇を検知す、ること拡でき壜かった。しかし
今後の装置では、複数の集積回路が平均的に温度上昇し
た場合の検出よりむしろ、個々の集積回路チップがそれ
ぞれの原因によって温度上昇する集積囲路側々の温度を
検知する方が重要と々るが、集積回路チップに温度検出
回路を内蔵するととれスペースの関係から技術的に困難
であり、その開発が待たれていた。
［発明の目的］
したがってこの発明の目的線、集積回路チップに内蔵す
ることができる温度検出回路を提供することにある。
ることができる温度検出回路を提供することにある。
このような発明を達成するためにこの発明は、電圧比較
器の肉入力にそれぞれ温度特性が異なる電源によって発
生する電圧を供給しておくとともに、電源投入時は電圧
比較器が自動的に所定の初期状態とがり、温度変化ｌが
所定量に達した時は電圧比較器の動作状態が反転するよ
うに電源の温度特性および回路定数を定めたものでｂる
。以下案施例會示す図面を用いてこの発明の詳細な説明
する。
器の肉入力にそれぞれ温度特性が異なる電源によって発
生する電圧を供給しておくとともに、電源投入時は電圧
比較器が自動的に所定の初期状態とがり、温度変化ｌが
所定量に達した時は電圧比較器の動作状態が反転するよ
うに電源の温度特性および回路定数を定めたものでｂる
。以下案施例會示す図面を用いてこの発明の詳細な説明
する。
第１図紘この発明の一実施例を示すブロック図でるる。
同図において、１は温度変化に応じた電圧を出力する第
１の電源、２紘うッチ機能を有する電圧比較器、３扛基
準電源でるる第２の電源、４は出力端子でるる。
１の電源、２紘うッチ機能を有する電圧比較器、３扛基
準電源でるる第２の電源、４は出力端子でるる。
第２図線第１図の詳細回路図でめり、抵抗Ｒ１とダイオ
ードＤ１１Ｄ２１Ｄ３で電ｇ１１を構成してお９、トラ
ンジスタＱｌ＋Ｑ２ ＋ Ｑ３ ｍ ダイオ−）’Ｄ４
．抵抗Ｒ１および定電流源工によって電圧比較器２を構
成し、基準電圧ｖＲの発生回路は記号３のブロンつて示
している。今、異常な条件のもとて集積回路チップの接
合温度が上昇した時の検知温度をＴｃとする。正常な条
件のもと、即ちチップの接合温度Ｔｊが検知温度Ｔｃ
よ１低い時、トランジスタＱ１のペース電位ｖＴはトラ
ンジスタＱ３のベース電位ｖｌ よ〕高くなるように抵
抗、ダイオードの定数を決めておく。ダイオードの順方
向電圧Ｖ、は負の温度係数をもつため、トランジスタＱ
ｌのベース電位ｖＴは温度の上昇と共に下がる。一方、
トランジスタＱ３のベース電位■。
ードＤ１１Ｄ２１Ｄ３で電ｇ１１を構成してお９、トラ
ンジスタＱｌ＋Ｑ２ ＋ Ｑ３ ｍ ダイオ−）’Ｄ４
．抵抗Ｒ１および定電流源工によって電圧比較器２を構
成し、基準電圧ｖＲの発生回路は記号３のブロンつて示
している。今、異常な条件のもとて集積回路チップの接
合温度が上昇した時の検知温度をＴｃとする。正常な条
件のもと、即ちチップの接合温度Ｔｊが検知温度Ｔｃ
よ１低い時、トランジスタＱ１のペース電位ｖＴはトラ
ンジスタＱ３のベース電位ｖｌ よ〕高くなるように抵
抗、ダイオードの定数を決めておく。ダイオードの順方
向電圧Ｖ、は負の温度係数をもつため、トランジスタＱ
ｌのベース電位ｖＴは温度の上昇と共に下がる。一方、
トランジスタＱ３のベース電位■。
は温度変化に対して一定又は正の温度係数、あるいは同
じ負でもベース電位ｖＴよりも小さな温度係数をもつよ
うに設定する。即ちベース電位の相対値Ｉ Ｖｔ −Ｖ
ｔ ｌ が温度の上昇と共に小さくなるように各定数ｔ
−訣めておく。
じ負でもベース電位ｖＴよりも小さな温度係数をもつよ
うに設定する。即ちベース電位の相対値Ｉ Ｖｔ −Ｖ
ｔ ｌ が温度の上昇と共に小さくなるように各定数ｔ
−訣めておく。
次に、電圧比較器２紘正営々温度の時、ペース１１１位
ｖｌ よりベース電位Ｖｉの方が電位が高いので、トラ
ンジスタ９重が導通状態でトランジスタＱｇ＊Ｑａ が
しゃ断状態にＴｏり出力端子４に低レベルの出力信号Ｖ
。Ｌが送出され、かつ出力信号ｖｏＬ はベース電位Ｖ
ＴＳＶＲよりも低くなるように設定される。この状態で
チップの接合温度ＴＪが上昇して検知温度Ｔｃに達する
とベース電位の相対値が ＩＶＴ−Ｖｌｌｌｌ中表りト
ランジスタＱ３に電流が流れ、その分だけトランジスタ
Ｑ１の電流が減少して出力端子４の電位が上昇し、次い
でトランジスタＱ自が急激に導通状態、トランジスタＱ
１がしゃ断状態になり、出力信号が高レベルになってチ
ップの接合温度Ｔｊが検知温度Ｔ。
ｖｌ よりベース電位Ｖｉの方が電位が高いので、トラ
ンジスタ９重が導通状態でトランジスタＱｇ＊Ｑａ が
しゃ断状態にＴｏり出力端子４に低レベルの出力信号Ｖ
。Ｌが送出され、かつ出力信号ｖｏＬ はベース電位Ｖ
ＴＳＶＲよりも低くなるように設定される。この状態で
チップの接合温度ＴＪが上昇して検知温度Ｔｃに達する
とベース電位の相対値が ＩＶＴ−Ｖｌｌｌｌ中表りト
ランジスタＱ３に電流が流れ、その分だけトランジスタ
Ｑ１の電流が減少して出力端子４の電位が上昇し、次い
でトランジスタＱ自が急激に導通状態、トランジスタＱ
１がしゃ断状態になり、出力信号が高レベルになってチ
ップの接合温度Ｔｊが検知温度Ｔ。
よす高くなったことが検出できろう
第３図はこれらの動作を図示したものであ）、横軸に温
度をとり縦軸に各点の電位をとって、電圧比較器２の出
力電圧が検知温度Ｔｃを境に急変する状態を示している
。
度をとり縦軸に各点の電位をとって、電圧比較器２の出
力電圧が検知温度Ｔｃを境に急変する状態を示している
。
以上の説明かられかるように、正常な条件下ではトラン
ジスタＱｓ ｉｔ導適状態になければならず即ち、集積
回路の電源を入れ九初期状態では常にトランジスタＱ１
が導通状態でる多、出力信号は低レベルでなければなら
表い。ダイオードＤ４ Ｆｉとの事な保証するために初
期状態設定手段として挿入したものてＴｏ）、とのダイ
オードＤ４により電圧比較器２は電源投入直後の状態を
出力が低レベルの初期状態に保つことができる。
ジスタＱｓ ｉｔ導適状態になければならず即ち、集積
回路の電源を入れ九初期状態では常にトランジスタＱ１
が導通状態でる多、出力信号は低レベルでなければなら
表い。ダイオードＤ４ Ｆｉとの事な保証するために初
期状態設定手段として挿入したものてＴｏ）、とのダイ
オードＤ４により電圧比較器２は電源投入直後の状態を
出力が低レベルの初期状態に保つことができる。
第４図は、第２図の電源３を抵抗Ｒｓ、Ｒ４、ダイオー
ドＤｓからなる具体的な回路例として示したことと、出
力端子４をトランジスタＱｓのコレクタから取り出した
とと以外は第１図と同じであるので動作の説明は省略す
るが、第４図の出力端子４のレベルに第１図と逆に温度
Ｔｊ＜Ｔｅのときに高レベルて温度Ｔｊ≧Ｔｃのときに
低レベルとなる。
ドＤｓからなる具体的な回路例として示したことと、出
力端子４をトランジスタＱｓのコレクタから取り出した
とと以外は第１図と同じであるので動作の説明は省略す
るが、第４図の出力端子４のレベルに第１図と逆に温度
Ｔｊ＜Ｔｅのときに高レベルて温度Ｔｊ≧Ｔｃのときに
低レベルとなる。
以上説明したようにこの発明に係る温度検出囲路は電圧
比較器の内入力端子に供給される電圧の相対値を温度変
化に対応させ、温度変化が所定量に達した時に電圧比較
器の動作状態を反転させるようにしたものであるから、
温度検出が行なえるとともに、各素子を抵抗と牛導体に
よって構成しているので、牛導体チップへの内蔵が容易
であるという効果を有する。
比較器の内入力端子に供給される電圧の相対値を温度変
化に対応させ、温度変化が所定量に達した時に電圧比較
器の動作状態を反転させるようにしたものであるから、
温度検出が行なえるとともに、各素子を抵抗と牛導体に
よって構成しているので、牛導体チップへの内蔵が容易
であるという効果を有する。
第１図はこの発明の一実施例を示すブロック図、第２図
はその詳細回路図、第３図は電圧比較器の出力電圧の変
化を示すグラフ、第４図は他の実施例を示す回路図であ
る。 １．３・・・・電源、２・・・・電圧比較器、４・・・
・出力端子、Ｒ１〜Ｒｓ ・争・・抵抗、Ｄ１〜Ｄｉ
・・・・ダイオード、ＱＩ−Ｑｌ・・・第１図 第２図
はその詳細回路図、第３図は電圧比較器の出力電圧の変
化を示すグラフ、第４図は他の実施例を示す回路図であ
る。 １．３・・・・電源、２・・・・電圧比較器、４・・・
・出力端子、Ｒ１〜Ｒｓ ・争・・抵抗、Ｄ１〜Ｄｉ
・・・・ダイオード、ＱＩ−Ｑｌ・・・第１図 第２図
Claims (1)
- 電圧比較器と、この電圧比較器の電力の入力端子に電圧
を供給する石ｌの電源と、電圧比較器の他の入力端子に
電圧を供給する縞２の１を源と、電源投入時に電圧比較
器の動作状態を自動的に所定の初期状態に設定する初期
状態設定手段とから偶成され、第１および第２の電源か
ら出力される電圧の相対値は温度変化が所定蓋に違した
＃に電圧比Ｕ器の動作状態を反転させるように変化する
仁とを特徴とする温度検出１！４鮎。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58151324A JPS6042624A (ja) | 1983-08-19 | 1983-08-19 | 温度検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58151324A JPS6042624A (ja) | 1983-08-19 | 1983-08-19 | 温度検出回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6042624A true JPS6042624A (ja) | 1985-03-06 |
Family
ID=15516124
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58151324A Pending JPS6042624A (ja) | 1983-08-19 | 1983-08-19 | 温度検出回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6042624A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01147849A (ja) * | 1987-12-04 | 1989-06-09 | Toshiba Corp | 半導体装置用過熱保護回路 |
| JPH0232223A (ja) * | 1988-07-22 | 1990-02-02 | Nec Corp | 温度監視回路 |
| EP0360333A2 (en) * | 1988-09-19 | 1990-03-28 | Philips Electronics Uk Limited | Temperature threshold sensing circuit |
| US8004125B2 (en) | 2007-04-19 | 2011-08-23 | Mitsubishi Electric Corporation | Motor, pump, and method of manufacturing the motor |
-
1983
- 1983-08-19 JP JP58151324A patent/JPS6042624A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01147849A (ja) * | 1987-12-04 | 1989-06-09 | Toshiba Corp | 半導体装置用過熱保護回路 |
| JPH0580152B2 (ja) * | 1987-12-04 | 1993-11-08 | Tokyo Shibaura Electric Co | |
| JPH0232223A (ja) * | 1988-07-22 | 1990-02-02 | Nec Corp | 温度監視回路 |
| EP0360333A2 (en) * | 1988-09-19 | 1990-03-28 | Philips Electronics Uk Limited | Temperature threshold sensing circuit |
| US8004125B2 (en) | 2007-04-19 | 2011-08-23 | Mitsubishi Electric Corporation | Motor, pump, and method of manufacturing the motor |
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