JPS6037786A - 負性抵抗素子とその製造方法 - Google Patents

負性抵抗素子とその製造方法

Info

Publication number
JPS6037786A
JPS6037786A JP14720083A JP14720083A JPS6037786A JP S6037786 A JPS6037786 A JP S6037786A JP 14720083 A JP14720083 A JP 14720083A JP 14720083 A JP14720083 A JP 14720083A JP S6037786 A JPS6037786 A JP S6037786A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
type gaas
negative resistance
mixture
side electrode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP14720083A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazunari Oota
一成 太田
Masayuki Hirota
弘田 正幸
Masaru Kazumura
数村 勝
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP14720083A priority Critical patent/JPS6037786A/ja
Publication of JPS6037786A publication Critical patent/JPS6037786A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/86Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable only by variation of the electric current supplied, or only the electric potential applied, to one or more of the electrodes carrying the current to be rectified, amplified, oscillated or switched
    • H01L29/861Diodes
    • H01L29/88Tunnel-effect diodes

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Electrodes Of Semiconductors (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用公賓・ 本発明は負性抵抗素子とその製造方法に関するものであ
る。
従来例の(7ヤ成とその問題点 従来の負性抵抗素子は、p+ n+接合あるいはn−n
−n サントイ・ソチ措造を使ったものであり、素子作
製においては高精度の要求される多fi−’Iのエピタ
士シセル成長などが必要であった。まjこ、このような
従来の負性抵5抗素子で(:l、その(1“53’tl
j上、他の素子との七ノシリックな集(d化が困すサで
あるのが現伏である。
発明の目的 本発明は製造工程が容易で、しかも他の能Til Bよ
び受動素子との5(1猜化ができる新規な負((J抵抗
素子とその製造方法を提供することを目的とする。
発明の描成 本発明の負性抵抗素子は、n型GaAs基板にn(jl
電極を設けると共に、前記n型GaAs基板に金C(と
シリコンとの合金または混合物を接触あるいは融合して
成るp側電極を設け1こことを特徴とす2)。
まtこ、本発明の負性抵抗素子のllj、ll造方法は
、n型GaAs基板に金属とシリコンの混合物を付着し
、その徒に加熱処理して前記n型GaAs基板に金1閂
吉シリ]ンとの合金まtこは混合物を接触もたば融合し
てp側電砿を形成することを待(1“々とする。
実施例の説明 以下本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。第1
図は本発明による負性抵抗素子の断面植式図を示す。計
J造は、n型GaAs(n −= 1刈017cm−3
)基板(1)−+ユにター)タルおよびシリ]、、Iを
同時にI(Fスバ・フタ法により%i:j ’j”:i
する。本実施例ては300ワ・リド出力のスバ・ツタを
5xlO−LorrO)Ar雰囲気下で20分間行なう
ことにより、2400A O) 前着膜厚を得fこ。
ソシてこの蒸若厄をづラズマエ・リチにJ:す250μ
m〆の”rFj j:’)Iiパターンにエツチングし
、ぞして750°C〜850℃の711i1度で、N2
8’j囲気でj゛ニールてTa O,4’6S菫0.5
4 ()−川)iijiJ ?j、t: ’、Hjii
 l(1イト i辱fこ。 ンし た 、n jl;!
j GaA s 、2i!; 板(1)のH,ij 1
risにはn (i!IJ ILX 4.iji (4
) lしてAuGe/Auを、;芙着しテ5001cて
合金化づることによって形成した。
本来、′1’aSixをn 型GaAs ;!j、i仮
(1)上に蒸着しtこ局舎、fll: f!Jでの処理
ではシヨ・ソ1−十一旬性、高温ではGaAsと合金化
してλ−三・ツク′侍性を示すのが一般的である。しか
し、木(R造の、LうにTaSixの合金化をn型Ga
As基板(1)上へqt体の混訃物をイ」着しtコ後に
高温処理した場合、n型GaAs基板(1)とp QI
FIY 17i (31との界面で不安定な遷移領域(
2)が現オ)れ、電流−電圧特性に影響を及ぼず。
第2図は本実施例における半導体素子の脣11Jニー軍
流特性を示し、VF”120mV伺近で負性抵抗素子鳴
かあられれ、lf−り電流の1/8にまて’+’i41
jE力青、・°2少し1こ後に電流が回復するというト
↓字型負性抵抗特性を程している。なオj前記Z′移テ
゛]鱈1(2)はTa吉Siとの合金ま1:、は混合物
が、n ’9)、 GaA3ツアー仮(1)に)’i2
 f”J’l!あるいはr’iJ!合の何れかの状[す
にゾ、Cつで発生し7て0るものと思われる。この、1
.うな「(作置性は前記ア二〜ル温度が750℃〜85
0°Cの何れのものにおLNても得られ1こ。
なお、上記実施例においてはシリサイド金入1を−fa
として説明しfこが、これはW、R,Toなどこの他の
金属でもアニール条件によって(4負斗抵抗を得ること
が可能である。nにすGaASもIXH117cm−3
にLR:定されるものでもなかつLこ。
まjこ」−記実雄側ではアニール、LりもH’HiJに
所定の電極ノヘターンにエツチングし1こか、これはL
行定のNt・徂tSター−JIこエラチン’)1.、f
こC,r、 lこアニールしても同様の動量が得られt
:。
発明の効采 以に説明の」:うに本発明の負性抵抗は金11と半ノ、
「表体の接合に、■:る1こめp−トーn1−;り(合
をイ■してJ3らず、FF、 fこ低′1−1?界で負
tI ’tJ l:l:、が得られるにめ、従来の工1
J、l=タイ」−F’?〕)jごノダイオードとは全く
異一つtこイ1.j造のものであり、そのti2 ji
ニア上、11;Lの素子とのLノシリ・リフな!1.x
 lE’i’を化が可能である。
ま?コ、本発明の([す遣方法によると一1ニ記素子を
容易に実現することができるものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に−l二る負性抵抗素子の断面模式[4
、第2[?lは本発明による負性抵抗素子の電圧−電流
’:!ffJ三である。 (1)−n !1i’−!GaAsノ+”、 WM 、
 (2) −遷移jjld 城、 、 too −p 
11 ’i’6極、(4)・・n側m(、電 代理人 青 木 八 弘 第1図 第2図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、n型GaAs基板にn側11テ極を設けると共に、
    1)り記n型GaAs基板に金5とシリ]ントの合金ま
    たは混合物を接触あるいは融合して成るp側電極を設け
    た負性抵抗素子。 2、n型GaAs7fli仮に金屑とシリコンの混合物
    を付着し、その後に加熱処理して前記n型GaAs基板
    に金1.・4シリコシとの合金または混合物を接触まt
    コは融合してp側電極を形成する負性抵抗不予の製造方
    法。
JP14720083A 1983-08-10 1983-08-10 負性抵抗素子とその製造方法 Pending JPS6037786A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14720083A JPS6037786A (ja) 1983-08-10 1983-08-10 負性抵抗素子とその製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14720083A JPS6037786A (ja) 1983-08-10 1983-08-10 負性抵抗素子とその製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6037786A true JPS6037786A (ja) 1985-02-27

Family

ID=15424817

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP14720083A Pending JPS6037786A (ja) 1983-08-10 1983-08-10 負性抵抗素子とその製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6037786A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6054086A (en) * 1995-03-24 2000-04-25 Nippon Petrochemicals Co., Ltd. Process of making high-strength yarns
US6127293A (en) * 1994-12-16 2000-10-03 Nippon Petrochemicals Co., Ltd. Laminated bodies and woven and nonwoven fabrics comprising α-olefin polymeric adhesion materials catalyzed with cyclopentadienyl catalyst

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6127293A (en) * 1994-12-16 2000-10-03 Nippon Petrochemicals Co., Ltd. Laminated bodies and woven and nonwoven fabrics comprising α-olefin polymeric adhesion materials catalyzed with cyclopentadienyl catalyst
US6054086A (en) * 1995-03-24 2000-04-25 Nippon Petrochemicals Co., Ltd. Process of making high-strength yarns

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US2736847A (en) Fused-junction silicon diodes
US3028655A (en) Semiconductive device
JPH02275624A (ja) オーミック電極の製造方法
JPS6016096B2 (ja) 半導体装置の製造法
NL7903197A (nl) Werkwijze voor het vervaardigen van een elektrolumines- cerende halfgeleiderinrichting en elektroluminescerende halfgeleiderinrichting vervaardigd volgens de werkwijze
Woodall et al. Contacts to GaAs devices
US3987216A (en) Method of forming schottky barrier junctions having improved barrier height
JPS6037786A (ja) 負性抵抗素子とその製造方法
JPS61248470A (ja) ▲iii▼―▲v▼族半導体デバイス
JPS6024074A (ja) ヒ化ガリウム半導体デバイスおよびその製造方法
JPH10233539A (ja) 化合物半導体を含む積層体およびその製造方法
JPH0294663A (ja) 半導体装置およびその製造方法
JPS5877227A (ja) オ−ミツク接点の形成方法
JP2757915B2 (ja) Ii−vi族半導体デバイス及びその製造方法
JPS62209855A (ja) 炭化けい素を用いた半導体素子
JPS55120132A (en) Manufacture of semiconductor element
JPH06326051A (ja) オーミック電極及びその形成方法
JPS6016463A (ja) オ−ム性電極
Brooks et al. Low-resistance ohmic contacts to p-type GaAs using Zn/Pd/Au metallization
JPS60113954A (ja) 半導体基板とヒ−トシンクとの固着方法
JPS6116577A (ja) 半導体装置
JPS58223375A (ja) 半導体装置の製造方法
JPH0322526A (ja) 炭化珪素半導体装置の製造方法
JPH0451985B2 (ja)
JPS60148170A (ja) 半導体装置の製造方法