JPS60264034A - 理化学装置 - Google Patents
理化学装置Info
- Publication number
- JPS60264034A JPS60264034A JP59119944A JP11994484A JPS60264034A JP S60264034 A JPS60264034 A JP S60264034A JP 59119944 A JP59119944 A JP 59119944A JP 11994484 A JP11994484 A JP 11994484A JP S60264034 A JPS60264034 A JP S60264034A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- voice
- input
- physical
- control means
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- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、透過形電子顕微鏡、走査形電子顕微鏡、イオ
ンマイクロアナライザ等の理化学装置に関し、詳しくは
測定条件制御手段の改良に関する。
ンマイクロアナライザ等の理化学装置に関し、詳しくは
測定条件制御手段の改良に関する。
透過形電子顕微鏡(TEM)や走査形電子顕微鏡(SE
M)は、その性質上、手暗室での作業が多い。
M)は、その性質上、手暗室での作業が多い。
最近はこれら電子顕微鏡(以下電顕と略す)もコンピユ
ータ化され、各種操作条件が陰極線管(以下CRTと略
す)等の表示装置に表示され、写真撮影できるようにな
ってきているが、操作条件を記録として残す場合は筆記
によることも多い。
ータ化され、各種操作条件が陰極線管(以下CRTと略
す)等の表示装置に表示され、写真撮影できるようにな
ってきているが、操作条件を記録として残す場合は筆記
によることも多い。
しかるに、電顕像の観察は通常手暗室の状態で行われる
ので、各種データの筆記による記録には各種の不便を伴
っている。また、像を観察しながら試料ステージの移動
や操作パネルの各種コントロールつまみを操作するため
に両手と目はふさがっていることが多く、最適観察条件
を見出すのにかなシの熟練と時間を要している。さらノ
に視野選びの際、これぞと思う試料位置を何点か捜し出
して最適位置を決めるが、以前に見つけておいた視野位
置(試料ステージのXY座標)がわからなくなってしま
い、最適視野位置を見つけ出すまでに試行錯誤すること
がよくある。
ので、各種データの筆記による記録には各種の不便を伴
っている。また、像を観察しながら試料ステージの移動
や操作パネルの各種コントロールつまみを操作するため
に両手と目はふさがっていることが多く、最適観察条件
を見出すのにかなシの熟練と時間を要している。さらノ
に視野選びの際、これぞと思う試料位置を何点か捜し出
して最適位置を決めるが、以前に見つけておいた視野位
置(試料ステージのXY座標)がわからなくなってしま
い、最適視野位置を見つけ出すまでに試行錯誤すること
がよくある。
このような不便さは、イオンマイクロアナライザのよう
な試料表面の元素分析を行う荷電粒子線装置でもたびた
び経験することである。
な試料表面の元素分析を行う荷電粒子線装置でもたびた
び経験することである。
一方、半暗室作業でなくても例えば核磁気共鳴装置(通
称NM几装置)などのような理化学機器においては、装
置をよく知っていないと実質的に装置の運転が不可能と
な)、正確な観測データが得られない場合がある。この
ような理化学装置については従来技術として、′誤った
操作条件設定がなされたことを検知し、あらかじめ記憶
されている適正な条件を設定させるための指令文を選択
し、この指令文を音声化する”方法が提案されている(
41i+開昭58−35449号)。この方法は、音声
指令によ°9装置運転車に操作の手順、操作手順や設定
値に誤りがある場合、その旨を伝え、装置の正しい操作
手順を通話可能くすることを目的とするもので、操作性
の容易化、測定条件の設定ミスの防止あるいは警告が可
能になるなどの効果がある。しかし、上記方法では装置
からの音声出力指令を操作者が耳で聴いてかつ正しい操
作をするものであり、(1)運転中の装置に随時操作者
が音声入力して、操作条件を制御することまでは考慮さ
れていないこと。(2)目や手がふさがっている場合に
、音声で指示された内容が記憶され、また実行されて、
随時出力装置に何らかの形で出力(プリントアウトある
いは表示)されるまでには考慮されていないなどの不十
分な点がある。
称NM几装置)などのような理化学機器においては、装
置をよく知っていないと実質的に装置の運転が不可能と
な)、正確な観測データが得られない場合がある。この
ような理化学装置については従来技術として、′誤った
操作条件設定がなされたことを検知し、あらかじめ記憶
されている適正な条件を設定させるための指令文を選択
し、この指令文を音声化する”方法が提案されている(
41i+開昭58−35449号)。この方法は、音声
指令によ°9装置運転車に操作の手順、操作手順や設定
値に誤りがある場合、その旨を伝え、装置の正しい操作
手順を通話可能くすることを目的とするもので、操作性
の容易化、測定条件の設定ミスの防止あるいは警告が可
能になるなどの効果がある。しかし、上記方法では装置
からの音声出力指令を操作者が耳で聴いてかつ正しい操
作をするものであり、(1)運転中の装置に随時操作者
が音声入力して、操作条件を制御することまでは考慮さ
れていないこと。(2)目や手がふさがっている場合に
、音声で指示された内容が記憶され、また実行されて、
随時出力装置に何らかの形で出力(プリントアウトある
いは表示)されるまでには考慮されていないなどの不十
分な点がある。
上記のような不十分さは、(1)に関しては音声認識装
置が特定話者、不特定話者いずれの場合にも音声認識率
を100チ保証できる技術がまだ確立されていないこと
も一つの原因になっていると考えられ、その欠点を何ら
かの形でカバーする手段が必要である。また上記(乃に
ついても、音声入力時の条件を随時記憶し、出力させる
プログラムと手段が必要である。
置が特定話者、不特定話者いずれの場合にも音声認識率
を100チ保証できる技術がまだ確立されていないこと
も一つの原因になっていると考えられ、その欠点を何ら
かの形でカバーする手段が必要である。また上記(乃に
ついても、音声入力時の条件を随時記憶し、出力させる
プログラムと手段が必要である。
本発明の目的は、このような従来技術の欠点をなくシ、
声と耳をも利用した測定条件の自動制御と自動記録を行
える手段を備えた理化学装置を提供することにある。
声と耳をも利用した測定条件の自動制御と自動記録を行
える手段を備えた理化学装置を提供することにある。
上記の目的を達成するために本発明は、音声認識装置を
設け、例えば試料ステージの位置、試料からの検出信号
、鏡体の真空度など操作時の各種測定条件を操作者の音
声指示によシ、随時制御。
設け、例えば試料ステージの位置、試料からの検出信号
、鏡体の真空度など操作時の各種測定条件を操作者の音
声指示によシ、随時制御。
記憶し、CRTやプリンタなどの出力装置に表示又は記
録できるよう構成したものである。
録できるよう構成したものである。
以下、本発明を実施例を用いて詳述する。
第1図は本発明の一実施例を二次電子像観察装置(SE
M機能)付きの透過形電子顕微鏡A以下、電顕と略す)
に適用した場合の構成概略図である。
M機能)付きの透過形電子顕微鏡A以下、電顕と略す)
に適用した場合の構成概略図である。
電顕は一般に電子銃、電磁レンズ等から成る電子光学系
および試料ステージ、試料観察室、カメラ室、真空排気
系等から成る電顕鏡体lと、その左右に加速電圧やレン
ズ条件、排気系シーケンス等を制御する操作パネル2お
よびそれらの操作条件をCRT上に表示するディスプレ
イ装置3等から構成され、さらに二次電子像も観察する
装置が付属している場合には、二次電子検出器4や二次
電子像観察装置5が付加されている。また、電顕鏡体1
には電子銃室や試料室の真空度を測定するための測定子
6および真空測定装置7が設けられている。
および試料ステージ、試料観察室、カメラ室、真空排気
系等から成る電顕鏡体lと、その左右に加速電圧やレン
ズ条件、排気系シーケンス等を制御する操作パネル2お
よびそれらの操作条件をCRT上に表示するディスプレ
イ装置3等から構成され、さらに二次電子像も観察する
装置が付属している場合には、二次電子検出器4や二次
電子像観察装置5が付加されている。また、電顕鏡体1
には電子銃室や試料室の真空度を測定するための測定子
6および真空測定装置7が設けられている。
さて、一般にこのような電顕においては、試料ステージ
と操作パネル2およびディスプレイ装置3のつまみ類を
両手で操作し、目視で観察室の蛍光板上で透過電顕像と
しであるいはCRT上で二次電子像C8EM像)として
半暗室状態にて観察するので、両手と目はふさがった状
態になる。最近の電顕はコンピユータ化されているため
、ディスプレイ上で加速条件やレンズ条件倍率などが自
動的に表示されるようになってきているが、良い条件を
いくつかさがし出してそのうちから最適の条件を設定し
ようとしても、以前の状態はクリアされてしまい記録に
は残らない。ノートに記録しようとしても手暗室である
ことと、操作のため両手、目はふさがった状態にあるの
で自由がきかないという不便さがある。そこで本実施例
では電気系に音声認識装置9を取付け、操作者の耳と声
を利用して、例えば試料観察位置の座標音声認識装置9
を通じて、CPTJllに記憶させるようにしている。
と操作パネル2およびディスプレイ装置3のつまみ類を
両手で操作し、目視で観察室の蛍光板上で透過電顕像と
しであるいはCRT上で二次電子像C8EM像)として
半暗室状態にて観察するので、両手と目はふさがった状
態になる。最近の電顕はコンピユータ化されているため
、ディスプレイ上で加速条件やレンズ条件倍率などが自
動的に表示されるようになってきているが、良い条件を
いくつかさがし出してそのうちから最適の条件を設定し
ようとしても、以前の状態はクリアされてしまい記録に
は残らない。ノートに記録しようとしても手暗室である
ことと、操作のため両手、目はふさがった状態にあるの
で自由がきかないという不便さがある。そこで本実施例
では電気系に音声認識装置9を取付け、操作者の耳と声
を利用して、例えば試料観察位置の座標音声認識装置9
を通じて、CPTJllに記憶させるようにしている。
すなわち、ある観察条件において撮影したい視野の1つ
がみつかったとき、そのときの試料ステージのX、Y、
Zの目盛を目視観察または自動的に読み取る手段(例え
ば光学的に位置を読み取る機構)を設けてその数字を操
作者の発声指示により、マイクロホン8から音声認識装
置9に音声入力し、インタフェイス10を介してマイク
ロコンピュータ11に記憶させる。この場合、確実に音
声が認識されたかどうかは音声出力装置12によシアン
サーバツク方式で確認される。マイクロコンピュータ1
1に記憶された入力データは、インタフェイス13を介
して電顕本体のディスプレイ装置3に表示するか、また
はCRT14上に表示出力される。あるいはまた別のイ
ンタ7エイス15を介してプリンタ16等の出力装置に
出力させたシ、磁気テープ17やフロッピーディスク1
8等の記憶装置にデータがストアされるようになってい
る。
がみつかったとき、そのときの試料ステージのX、Y、
Zの目盛を目視観察または自動的に読み取る手段(例え
ば光学的に位置を読み取る機構)を設けてその数字を操
作者の発声指示により、マイクロホン8から音声認識装
置9に音声入力し、インタフェイス10を介してマイク
ロコンピュータ11に記憶させる。この場合、確実に音
声が認識されたかどうかは音声出力装置12によシアン
サーバツク方式で確認される。マイクロコンピュータ1
1に記憶された入力データは、インタフェイス13を介
して電顕本体のディスプレイ装置3に表示するか、また
はCRT14上に表示出力される。あるいはまた別のイ
ンタ7エイス15を介してプリンタ16等の出力装置に
出力させたシ、磁気テープ17やフロッピーディスク1
8等の記憶装置にデータがストアされるようになってい
る。
測定時の真空度データの記憶2表示についても同様に操
作者が目視観測したデータを音声入力し、ディスプレイ
装置3あるいは別の表示装置に出力するようにすること
ができる。
作者が目視観測したデータを音声入力し、ディスプレイ
装置3あるいは別の表示装置に出力するようにすること
ができる。
第2図は第1図の実施例において、音声認識装置の詳細
を示すブロック図である。本実施例における音声認識装
置9はマイクロホン8から入力した音波を電気的に増幅
する増幅器19と周波数分析器(音声フィルタ)20と
、その音波信号をA/D変換するA/D変換器21.A
/D変換値を記憶する回路(RAM回路)22と、操作
者が音声信号回路23にあらかじめ登録しておいた音声
信号(標準パターン)と比較するための比較回路24お
よびその比較信号が合致したときに、電顕本体のディス
プレイ装置3または他の出力装置に必要なデータを表示
する信号を出すように制御する制御回路25とから構成
されている。
を示すブロック図である。本実施例における音声認識装
置9はマイクロホン8から入力した音波を電気的に増幅
する増幅器19と周波数分析器(音声フィルタ)20と
、その音波信号をA/D変換するA/D変換器21.A
/D変換値を記憶する回路(RAM回路)22と、操作
者が音声信号回路23にあらかじめ登録しておいた音声
信号(標準パターン)と比較するための比較回路24お
よびその比較信号が合致したときに、電顕本体のディス
プレイ装置3または他の出力装置に必要なデータを表示
する信号を出すように制御する制御回路25とから構成
されている。
第3図は本発明の他の実施例を示す構成概略図である。
この例では荷電粒子線(例えば電子線)26を試料27
に照射したとき、試料27から発生する粒子線(例えば
二次電子281反射電子29)あるいはカソードルミネ
ッセンス30や特性X線31あるいは試料27を透過し
た粒子線(例えば透過電子32)を検出器33.34で
検出し、試料27からの検出信号情報を走査像としてC
RT35に描かせる装置に適用した実施例である。そし
てここでは、音声認識装置9と該音声認識装置9からの
指令にもとづき、試料27からの信号情報を輝度および
コントラストが適正となるように調整する輝度・コント
ラスト調整回路36を制御する制御回路37が付加され
、音声指示によシ走査像の画質を調整できるようにした
もので、これによシ走査像の倍率やフォーカスを手で調
整しながら、同時に画像の輝度やコントラストを音声入
力にて制御できるという利点がある。
に照射したとき、試料27から発生する粒子線(例えば
二次電子281反射電子29)あるいはカソードルミネ
ッセンス30や特性X線31あるいは試料27を透過し
た粒子線(例えば透過電子32)を検出器33.34で
検出し、試料27からの検出信号情報を走査像としてC
RT35に描かせる装置に適用した実施例である。そし
てここでは、音声認識装置9と該音声認識装置9からの
指令にもとづき、試料27からの信号情報を輝度および
コントラストが適正となるように調整する輝度・コント
ラスト調整回路36を制御する制御回路37が付加され
、音声指示によシ走査像の画質を調整できるようにした
もので、これによシ走査像の倍率やフォーカスを手で調
整しながら、同時に画像の輝度やコントラストを音声入
力にて制御できるという利点がある。
なお、輝度とコントラストのみでなく、フォーカスや倍
率、加速電圧等も音声入力で制御するようにしてもよい
。またそのような構成にすることにより従来の操作パネ
ルについている各制御つまみの数を大幅に減らすことも
可能になシ製作コストの低減や操作性を向上させる効果
が得られる。
率、加速電圧等も音声入力で制御するようにしてもよい
。またそのような構成にすることにより従来の操作パネ
ルについている各制御つまみの数を大幅に減らすことも
可能になシ製作コストの低減や操作性を向上させる効果
が得られる。
第4図は本発明のさらに他の実施例について示したもの
で、荷電粒子線装置、例えばTEMの操作状態における
各種計測データをとる場合の制御手段として、入出力制
御システム38と、音声認識装置システム39および該
音声認識装置システム39とインタフェイスを介して音
声登録データおよびそのプログラムを格納し、制御すべ
き内容あるいは制御した結果を出力する手段を有する主
制御CPUシステム40とから構成することKよって、
音声入力によシ随時記憶装置へのデータの記録やCRT
への表示、あるいはプリンタへ出力制御ができるよう構
成したものである。同図においてTEMの操作条件にお
ける各種測定データ(例えば真空度、電磁レンズの励磁
電流値およびその安定度、加速電圧値およびその安定度
など)のアナログ信号(41a、41zなど)は入出力
制御システム38で制御される。すなわちアナログマル
チプレクサ42にこれらアナログ信号が入力され、I1
0バス43を通じて、マイクロコンピュータを有する入
出力制御CPU装置44で入力信号の選別が行われ、デ
ンタルマルチメータ45によシデジタル信号化される。
で、荷電粒子線装置、例えばTEMの操作状態における
各種計測データをとる場合の制御手段として、入出力制
御システム38と、音声認識装置システム39および該
音声認識装置システム39とインタフェイスを介して音
声登録データおよびそのプログラムを格納し、制御すべ
き内容あるいは制御した結果を出力する手段を有する主
制御CPUシステム40とから構成することKよって、
音声入力によシ随時記憶装置へのデータの記録やCRT
への表示、あるいはプリンタへ出力制御ができるよう構
成したものである。同図においてTEMの操作条件にお
ける各種測定データ(例えば真空度、電磁レンズの励磁
電流値およびその安定度、加速電圧値およびその安定度
など)のアナログ信号(41a、41zなど)は入出力
制御システム38で制御される。すなわちアナログマル
チプレクサ42にこれらアナログ信号が入力され、I1
0バス43を通じて、マイクロコンピュータを有する入
出力制御CPU装置44で入力信号の選別が行われ、デ
ンタルマルチメータ45によシデジタル信号化される。
さらに、GP−IBeどのインタフェイス46を介して
前記入出力制御CPU装置44に信号が送られ、1″測
データとして記憶される。該計測データの入出力制御命
令はインタフェイス47を介してさらに上位のコンピュ
ータシステム、すなわち主制御CPUシステム40でコ
ントロールされている。該主制御CPUシステム40は
、例えばパーソナルコンピュータ(図示せず)を主体と
するCPU装置48と、フロッピーディスク49.プリ
ンタ50゜CRT51およびそれらをつなぐインタフェ
イス52a、52b、52Cなどから構成され、インタ
フェイス53を介して音声認識装置システム39とも結
合されている。マイクロホン8と音声認識装置9等から
成る音声認識装置システム39によシ目的とする641
」定項目(あるいは1141J足チャンネル食号)が音
声入力されると、前記主制御CPUシステム40に格納
されている音声登録データおよびプログラムが動作し、
人力音声が正しく認識され、制御すべき内容が解読され
た後、例えばマクロ命令によって前記入出力制御システ
ム38に伝えられ測定が開始される。測定されたデータ
は、主制御CPUシステム40に送られ、フロッピーデ
ィスク装置49に記録されるかあるいはプリンタ50や
CRT51などの端末装置に出力9表示される。本実施
例におけるシステムではパーソナルコンピュータによ#
)BAS工Cを基本とするマクロ命令や制御プログラム
を極めて容易に組むことができるので、必要とする測定
データの編集が容易でかつ測定項目も増やせるという拡
張性を有し、試料測定のデータだけでなく、電顕等の装
置本体のain・検査用データ収集および記録にも利用
できる利点がある。また、現在市販されている音声g識
装置で操作者(話者)の音質とか、装置の周囲条件(騒
音、天候などの環境条件)によシ音声認識率が非常に悪
い場合(70〜95チ)でも、前記音声登録データおよ
びプログラムを随時再編集して、認識率を關めることも
可能であるので、よシ確実な音声指令を与えることがで
きるようになる利点を有している。
前記入出力制御CPU装置44に信号が送られ、1″測
データとして記憶される。該計測データの入出力制御命
令はインタフェイス47を介してさらに上位のコンピュ
ータシステム、すなわち主制御CPUシステム40でコ
ントロールされている。該主制御CPUシステム40は
、例えばパーソナルコンピュータ(図示せず)を主体と
するCPU装置48と、フロッピーディスク49.プリ
ンタ50゜CRT51およびそれらをつなぐインタフェ
イス52a、52b、52Cなどから構成され、インタ
フェイス53を介して音声認識装置システム39とも結
合されている。マイクロホン8と音声認識装置9等から
成る音声認識装置システム39によシ目的とする641
」定項目(あるいは1141J足チャンネル食号)が音
声入力されると、前記主制御CPUシステム40に格納
されている音声登録データおよびプログラムが動作し、
人力音声が正しく認識され、制御すべき内容が解読され
た後、例えばマクロ命令によって前記入出力制御システ
ム38に伝えられ測定が開始される。測定されたデータ
は、主制御CPUシステム40に送られ、フロッピーデ
ィスク装置49に記録されるかあるいはプリンタ50や
CRT51などの端末装置に出力9表示される。本実施
例におけるシステムではパーソナルコンピュータによ#
)BAS工Cを基本とするマクロ命令や制御プログラム
を極めて容易に組むことができるので、必要とする測定
データの編集が容易でかつ測定項目も増やせるという拡
張性を有し、試料測定のデータだけでなく、電顕等の装
置本体のain・検査用データ収集および記録にも利用
できる利点がある。また、現在市販されている音声g識
装置で操作者(話者)の音質とか、装置の周囲条件(騒
音、天候などの環境条件)によシ音声認識率が非常に悪
い場合(70〜95チ)でも、前記音声登録データおよ
びプログラムを随時再編集して、認識率を關めることも
可能であるので、よシ確実な音声指令を与えることがで
きるようになる利点を有している。
以上述べたことから明らかなように、本発明によれば、
従来の半暗室的な作業によるデータ採取の不便さを解消
することができるとともに、よシ効率的な装置操作を可
能にし、実用に供してその効果が顕著である。
従来の半暗室的な作業によるデータ採取の不便さを解消
することができるとともに、よシ効率的な装置操作を可
能にし、実用に供してその効果が顕著である。
なお実施例では、半暗室的作業を伴う電子顕微鏡の例に
あげて説明したが、本発明はこれらの実施例に限定され
ないことは勿論であシ、例えばX線マイクロアナライザ
、イオンマイクロアナライザ、電子線描画装置、質量分
析装置などの各種荷電粒子線装置や、核磁気共鳴装置、
各種光学ろ用装置などの理化学装置およびその類似装置
(縮小露光装置など)に適用して同様の効果を奏するも
のでおる。
あげて説明したが、本発明はこれらの実施例に限定され
ないことは勿論であシ、例えばX線マイクロアナライザ
、イオンマイクロアナライザ、電子線描画装置、質量分
析装置などの各種荷電粒子線装置や、核磁気共鳴装置、
各種光学ろ用装置などの理化学装置およびその類似装置
(縮小露光装置など)に適用して同様の効果を奏するも
のでおる。
第1図は本発明の一実施例を示す構成概略図、第2図は
第1図で示した音声認識装置の詳細を示すブロック図、
第3図および第4図は本発明の他の実施例を示す構成概
略図である。 1・・・電子顕微鏡体、4・・・二次電子検出器、5・
・・二次電子観察装置、7・・・真空測定装置、8・・
・マイクロホン、9・・・音声入力装置、10・・・イ
ンタフェイス、11・・・マイクロコンピュータ、12
・・・f声出力装置、13.15・・・インタフェイス
、14・・・CRT、16・・・プリンタ、17・・・
磁気テープ、18・・・フロッピーディスク、19・・
・増幅器、2゜・・・周波数分析器、21・・・A/D
変換器、22・・・RAM回路、23・・・音声信号回
路、24・・・比較回路、25・・・制御回路、26・
・・荷電粒子線、27・・・試料、36・・・輝度・コ
ントラスト調整回路、37・・・制御回路、38・・・
入出力制御システム、39・・・音声認識装置システム
、40・・・主制御CPUシステム、42・・・アナロ
グマルチプレクサ、43・・・I10バス、44・・・
入出力制御CPU装置、45・・・デジタルマルチメー
タ、46.47・・・インタフェイス、48・・・CP
U装置、49・・・フロッピーディスク、50・・・プ
リンタ、51・・・CRT0代理人 弁理士 高橋明夫 率2図
第1図で示した音声認識装置の詳細を示すブロック図、
第3図および第4図は本発明の他の実施例を示す構成概
略図である。 1・・・電子顕微鏡体、4・・・二次電子検出器、5・
・・二次電子観察装置、7・・・真空測定装置、8・・
・マイクロホン、9・・・音声入力装置、10・・・イ
ンタフェイス、11・・・マイクロコンピュータ、12
・・・f声出力装置、13.15・・・インタフェイス
、14・・・CRT、16・・・プリンタ、17・・・
磁気テープ、18・・・フロッピーディスク、19・・
・増幅器、2゜・・・周波数分析器、21・・・A/D
変換器、22・・・RAM回路、23・・・音声信号回
路、24・・・比較回路、25・・・制御回路、26・
・・荷電粒子線、27・・・試料、36・・・輝度・コ
ントラスト調整回路、37・・・制御回路、38・・・
入出力制御システム、39・・・音声認識装置システム
、40・・・主制御CPUシステム、42・・・アナロ
グマルチプレクサ、43・・・I10バス、44・・・
入出力制御CPU装置、45・・・デジタルマルチメー
タ、46.47・・・インタフェイス、48・・・CP
U装置、49・・・フロッピーディスク、50・・・プ
リンタ、51・・・CRT0代理人 弁理士 高橋明夫 率2図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、試料の観察1分析、測定等を行う理化学装置におい
て、試料の観察9分析あるいは測定等を行う際の入出力
条件を制御する制御手段と、この制御手段による入出力
制御条件を制御する音声認識装置を備えたことを特徴と
する理化学装置。 2、制御手段は、音7M認識装置に入力された音声によ
る指令により、試料からの情報信号を制御する回路を備
えていることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の
理化学装置。 3、制御手段は、音声登録データおよびそのプログラム
を格納し、制御条件あるいは制御前後の装置状態を出力
する手段を有する主制御CPUシステムと、該主制御C
PUシステムからの指令に基づき計測データを送信する
入出力制御CPUシステムとを備えていることを特徴と
する特許請求の範囲第1項記載の理化学装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59119944A JPS60264034A (ja) | 1984-06-13 | 1984-06-13 | 理化学装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59119944A JPS60264034A (ja) | 1984-06-13 | 1984-06-13 | 理化学装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60264034A true JPS60264034A (ja) | 1985-12-27 |
Family
ID=14774037
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59119944A Pending JPS60264034A (ja) | 1984-06-13 | 1984-06-13 | 理化学装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60264034A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62126842A (ja) * | 1985-11-25 | 1987-06-09 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 扁平モ−タの電機子の製造方法とその装置 |
JPH06337482A (ja) * | 1993-05-31 | 1994-12-06 | Nec Corp | 暗視眼鏡装置 |
WO2022102140A1 (ja) * | 2020-11-16 | 2022-05-19 | 株式会社日立ハイテク | 荷電粒子ビーム装置およびレポート作成方法 |
-
1984
- 1984-06-13 JP JP59119944A patent/JPS60264034A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62126842A (ja) * | 1985-11-25 | 1987-06-09 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 扁平モ−タの電機子の製造方法とその装置 |
JPH06337482A (ja) * | 1993-05-31 | 1994-12-06 | Nec Corp | 暗視眼鏡装置 |
WO2022102140A1 (ja) * | 2020-11-16 | 2022-05-19 | 株式会社日立ハイテク | 荷電粒子ビーム装置およびレポート作成方法 |
JPWO2022102140A1 (ja) * | 2020-11-16 | 2022-05-19 |
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