JPS60263330A - 磁気デイスクの潤滑性保護膜の作製方法 - Google Patents

磁気デイスクの潤滑性保護膜の作製方法

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JPS60263330A
JPS60263330A JP11798684A JP11798684A JPS60263330A JP S60263330 A JPS60263330 A JP S60263330A JP 11798684 A JP11798684 A JP 11798684A JP 11798684 A JP11798684 A JP 11798684A JP S60263330 A JPS60263330 A JP S60263330A
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JP
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film
magnetic
protective film
organic polymer
recording layer
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JP11798684A
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Takeshi Sukegawa
助川 健
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Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は磁気ディスクの$4滑層の作製方法、さらに詳
しくは、磁気ディスクの製造において、信頼性のよい表
面潤滑性保護膜を作製する方法に関するものである。
〔従来技術〕
磁気ディスクは、電子計算機などの記憶装置として記録
密反り高密度化が図られてきている。高密度化は磁気薄
膜の改良によるところも太きいが、同時に磁性薄膜の膜
厚の減少、磁気ヘッドのギャップ長の減少、磁気の浮上
量の減少という1唄向を伴い、現任では111m以下の
微少なサイズとなつ【いる。このため、欠陥のない均一
な磁性薄膜をいかに安定に製造するか、そして低浮上で
いかに長ルj的な耐久性を個体するかといった点が尚密
度ディスク開発の最も重要な昧題となっている。
9に近年の高密度磁気ディスクでは、ディスクの回転停
止時には磁気ヘッドは磁性膜状に沿陸しており、ディス
クの1!!1転にともなってヘッドが浮上する形式(以
下aSSと略す)が採用されており、磁気ディスクのヘ
ッドの受ける機械的損傷を避けて、充分な耐久性を得る
ためには、磁気ディスクの表向の潤滑性を上げろことが
重要となっている。
このよりな潤滑性を上げる方法としては、従来潤滑剤、
竹に液体潤滑s+jが用いられてきた。しかし、単に液
体潤滑Rすを磁性膜上に塗布しただけでは、充分な潤滑
機能を発揮できない。すなわら、液体潤滑MIJが過剰
に存在すると、回転停止時にヘッドが塗膜に吸着し、そ
のまま回転するとヘッドが変1 ′杉破損+磁臼寝膜0
儲等′°障晋′弓1き起3すゝ・また逆に潤滑AIJが
少ないと、aSSの縁り返し性(以下耐aSS性と略す
)が悪化するからである。
このような間鵬は、磁性薄膜上の潤滑Hす鼠を加減する
だけでは解決することが難しく、従来は潤滑剤な表面だ
けでなく磁性wtB!Aの内部に含浸さ1ておく方法が
採用されてきた。また、この目的のために、磁性薄膜用
のバインダ用樹脂としてミクロな孔を安定に作るような
樹ハh組成物が耐抗されてきた。
ところが近年、磁気ディスクの高密度化の趨勢により、
磁性粉を樹脂バインダとともに塗布して磁性薄膜を形成
する方向から、合金膜やスパッタを用いた薄膜の形成、
いわゆる連続膜媒体が用いられつつおる。このような、
連続磁性膜を用いる方法では、表面に潤滑性を付与する
手段として固体潤滑剤を用いた方法も採用されているが
、固体潤滑剤がヘッドに堆積する等のため耐08S性が
低下し、充分な性能を得るに至っていない。
以上の41情より、現在連続磁性膜を用いた磁気ディス
ク六回へ潤滑性を付与するための新しい方法の開発が望
まれている。
〔発明の目的〕
本発明は上記の事情に鑑みなされたもので、高密度かつ
耐久性の浸れた磁気ディスクを製造しえる磁気ディスク
の潤滑性保護膜の作製方法を提供−rることを目6勺と
する。
〔技術的手段〕
本発明は、従来の磁性粉と樹11hバインダから磁性薄
膜を形成する磁気ディスクが樹脂のミクロなボア構造(
孔構造)によって、表面の潤滑ハリ層を制御するのに対
し、このような構造を形成することができない連続磁性
膜を用いた磁気ディスクに対して好適に東施されるもの
であり、磁性薄膜上にミクロな構造を有する保護膜を設
けて磁性ディスク表面の@滑性を制御するものである。
本発明による磁気ディスクの潤滑性保護膜腺の作製方法
を第1図の植念図により説明する。
まず、赤面に磁気記録層2を設けた磁気ディスク基板l
を用慧し、その上に有機高分子膜3を形成する(第1図
−(a))。次に、有機高分子膜3の上にシリコーン樹
月旨またはポリシラン84 IIIの群より迅択された
一個以上(以下81初脂と略す)と有機高分子の一8m
以上とからなる相分離した高分子膜4を設ける(第1図
−(b))。なお第1図−価)の5は相分離した高分子
膜中の有機高分子部分を、6は81樹脂部分を示す。次
に、成木ガスプラズマ処理により相分離した高分子膜4
中の有機高分子部分5を除去するとともに81樹脂地分
6を酸化し″′C酸化酸化シリコヒフる。同時に、磁気
記録層表面の有機高分子膜3の酸化シリコン7に覆われ
ていない部分を選択的に除去する(第1図−(C))。
次に、磁気記録層の保護膜8を蒸着等の手段により磁気
記録層表面に堆積する(第1図−(d))。次に、溶剤
あるいは酸素ガスプラズマにより有機高分子膜3を除去
するとともに、その上の酸化シリコン7および保護膜8
を除去する(第1図−(e))。
次に、これを乾煉後、潤滑剤を塗布する(第1図−(f
l)。
以下、より詳細に説明する。
磁気記録層表面に設ける有機高分子膜3は、良好なフィ
ルム形成能を有すること(工m(a) )、酸素ガスプ
ラズマによりエツチング除去できること(工a(cl 
)、保謙膜を堆積するときの温度等算囲気条件に耐える
こと(工程(dl)が満足されれば特に限定されない。
フィルムの形成方法は、例えはキャスティング、回転塗
布、プラズマ重合等の方法が挙げられるが、良好なフィ
ルムが形成できるものでおれば、1氾の方法を用いても
良い。有機高分子膜の膜厚は保−膜8の膜厚以上であれ
ば任意で良いが、通常は保護膜8の2倍以上の膜厚で好
結果が得られる。
相分離した筒分子薄膜4は、Si側脂と有機高分子を共
通の清ハリに俗解し、キャスティングあるいは回転塗布
などの方法により記録層表面に形成することができる。
特に、膜厚の均一性、膜厚の制御性、相分離状態の再現
性においては、回転頭布法が良好な結果を与えた。
前述の81樹脂としては、たとえば、ポリジメチルシロ
キサン、ポリメチルフェニルシロキサン、ポリシルセス
キオキサンなどのシリコーンwI1m、ポリジメチルシ
ラン、ポリメチルフェニルシラン、ポリジメチルシラン
とポリメチルフェニルシランの共■合体などのポリシラ
ンの一補以上を用いることができる。また、有機高分子
としては、酸素プラズマにより分解気化し、81樹脂と
の相溶性が惑く、S1樹脂と共通の溶剤を有するもので
あれば、基本的にいかなるものでもよい。一般に、51
tA4脂は有m筒分子と相酊性が悪いため、たとえばア
クリレート系樹脂、メタクリレート系樹脂などの一種以
上を有効に用いることができる。
相分離した高分子薄膜4の膜厚は必仮に応じ任意の厚さ
としてよいが、通常相分離の状態で決められる。つまり
、相分離の状態が例えば1μmf4度である場合には膜
厚はそれと同等あるいはそれ以下であることが好ましい
。また、相分離の状態、すなわち、相分離した高分子膜
4において81樹脂が占める面積と有機高分子が占める
111Y槓の割合および膜中の相分離した514d脂部
分6の大きさは、S1樹脂と有機高分子の混合比や、混
合するS1樹脂および有機高分子の種類によって這択で
きる。
次の酸素ガスプラズマ処理は、通常半導体素子の加工に
用いられるプラズマエツチング装置か使用できる。処理
条件は、用いられる装置により異なるため特に限定しな
いが、処理後に磁気記録j−弐面に残る有機高分子膜3
は、酸化シリコン70大きさよりも細くすることが好ま
しい。
次に、磁気記録層表面に保護膜を堆積する。保i+!1
膜には通常の連続磁性膜に用いられているもの、例えば
は化シリコン等を用いることができる。保護膜として高
い映eを持ち、非磁性のものであれば特に限定されない
。膜厚は必要に応じて任意として良い。
次に、磁気記録j−赤面に残存している有機高分子膜3
をその上の欧化シリコン7、保護膜8とともに除去する
。これにより磁気記録層表面にはミクロなボア粥造を多
数有する保護膜が形成できる。
除去方法としては、有機高分子膜を俗解する′kj8′
lJあるいは酸素ガスプラズマで除去することができる
次に、潤滑剤を塗布する潤滑剤としては市販のgITi
t刑を有効に用いることができる。たとえば、フッ素系
潤滑Rすを用いることができる。このようなフッ素系−
滑剤の具体例としては、ホンプリンY(商品名、日本モ
ンテジソン社)、クライトツクス(商品名、丸オ11物
産社)を挙げることができる。
以上の工程により該保護膜の表面に潤滑剤が塗布される
とともに、微細な溝の中に潤滑剤が充填されて、いわば
潤滑剤の醐りが形成されるので、長期間極めて安定な潤
滑性を有する磁気ディスク光面が形成される。
以下、本発明の詳細な説明する。
〔実施例〕
スパッタ法で形成したr−Fθtosli(ilを磁性
薄膜として般けた磁気ディスクを2枚およびポリシルセ
スキオキサンとポリn−ブチルメタクリレートを表1に
示ず混合組成とした浴液2釉類を用意する。
まず、磁気ディスクを回転塗布装置に設置し、2枚の磁
気ディスクにAZ1350Jホトレジスト←商品名ニジ
ツブレイ社)を9.1厚に塗布した。
次に、各2枚の磁気ディスクそれぞれにZfIMaの滑
液な2.00Or1曙の回転速腋で塗布した。塗布膜厚
を測定した結果な懺1に示した。次に醒累プラズマ処理
を平行平板型プラズマエツチング装置(日型アネルバ社
製、DF!M−451)を用いて、酸素ガス圧30 m
TOrr RF /<ワー150Wで2分間行い、ポリ
n−ブチルメタクリレートを除去するとともにAZ13
50JホトレジストのS1桐脂に覆われていない部分を
選択的に除去した。
次に、磁気記録層表面にスパッタ法で【波化シリコン膜
を30OA付着さ?た。次に、酸酢イソアミルで磁気記
録層表面の残っているAZ1350Jを除去した。電子
顕微鏡で観察したところ、衆1に示す各直径を持つほぼ
円形の穴のめる酸化シリコン膜が形成できていた。
このようにして得られた2枚の磁気ディスク上にホンプ
リンYO4(i品名、日本モンテジソン社)を回転m作
し、磁気ディスクの耐CSS性を調べた。保護膜を設け
ていない直接磁性薄膜上に潤滑剤をm布した磁気ディス
クでは、1.2X10 回の耐CSS性であったのに対
し、本発明による磁気ディスクでは、下記の第1表に示
したように耐CSS性の向上が見られた。
第1衣 〔発明の効果〕 以上説明したように、本発明によれば、いわゆる連続磁
性体を用いた磁気ディスクにおいて、S1樹脂と有機高
分子からなる相分離した高分子薄膜を形成し、これを利
用して磁気記録層表面に潤滑剤の溜となるミクロなボア
構造を有する保護膜を作製することによって磁気ディス
クの表面潤滑性を向上させることができる。
すなわち、本発明による方法によれば、磁気ディスクの
表面の潤滑性を長期に安定なものとして得ることができ
、また、上記保護膜も薄膜に出来るため、低ヘッド浮上
の高密度記録用磁気ディスクの製造に10点がある。更
に、大面積に均質な保−膜を作成でき、極めて好適な表
面構造を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図(at〜(flは、本発明の潤滑性保護膜作製の
概念図である。 l・・・磁気ディスク基板、2・・・磁気記録J鱒、3
・・・有機高分子膜、4・・・S1樹脂と有機高分子の
相分離膜、5・・・相分離膜中の有機^分子部分、6・
・・相分m膜中の5tirlj脂部分、7・・・酸化さ
れた81樹脂(tR化シリコン)、8・・・保験膜、9
・・・潤11i#痢。 出組人 日本−佃′亀砧公住

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 磁気ディスクの磁気記録層の表面に潤滑性保護膜を作製
    する方法において、 (a) 磁気記録層表面に有機高分子膜を設ける工程、
    (bl 有機高分子膜表面に相分離したシリコーン樹脂
    またはポリシラン樹脂の群より選択された一種以上と有
    機高分子の一種以上とからなる高分子薄膜な役ける工程
    、 (cl 酸素ガスプラズマ中で相分離した高分子薄膜中
    の有機高分子を除去するとともにシリコーン樹脂または
    ポリシラン樹脂を酸化し、同時に磁気記録層表面の有機
    高分子膜の酸化されたシリコーン樹脂またはポリシラン
    樹脂に讃われていない部分を除去し、有機高分子膜の微
    細パターンを形成する工程、 td) 有機高分子膜の微細パターンを形成した磁気記
    録層表面に保護膜材料を堆積する工程、tel 有機高
    分子膜の微細パターンな浴剤で除去して、パターン状の
    保護膜を形成する工程、 (fl 形成された保護膜に潤滑剤を塗布する工程、を
    含むことを特徴とする磁気ディスクの潤滑性保護膜の形
    成方法。
JP11798684A 1984-06-08 1984-06-08 磁気デイスクの潤滑性保護膜の作製方法 Pending JPS60263330A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100382146C (zh) * 2005-01-25 2008-04-16 日立环球储存科技荷兰有限公司 制造磁阻磁头的方法
US7740961B2 (en) 2005-05-16 2010-06-22 Kabushiki Kaisha Toshiba Magnetic recording medium

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