JPS6025736B2 - 光学濁度測定装置の自動洗浄制御方法およびその装置 - Google Patents
光学濁度測定装置の自動洗浄制御方法およびその装置Info
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- JPS6025736B2 JPS6025736B2 JP5812280A JP5812280A JPS6025736B2 JP S6025736 B2 JPS6025736 B2 JP S6025736B2 JP 5812280 A JP5812280 A JP 5812280A JP 5812280 A JP5812280 A JP 5812280A JP S6025736 B2 JPS6025736 B2 JP S6025736B2
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- Japan
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- turbidity
- optical
- attenuation
- signal
- measuring device
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
- G01N21/15—Preventing contamination of the components of the optical system or obstruction of the light path
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- Optical Measuring Cells (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、油分、塵芥などの汚染度成分を含有するサ
ンプル水の濁度（もしくは濃度）を光学的な手段で測定
する光学濁度測定装置において、サンプル水が流通する
光学セルの透明壁面が汚染度成分で汚れたときに洗浄装
置を駆動して洗浄する動作を自動的に行わせるために適
用される自動洗浄制御方法およびその装置に関するもの
である。
ンプル水の濁度（もしくは濃度）を光学的な手段で測定
する光学濁度測定装置において、サンプル水が流通する
光学セルの透明壁面が汚染度成分で汚れたときに洗浄装
置を駆動して洗浄する動作を自動的に行わせるために適
用される自動洗浄制御方法およびその装置に関するもの
である。
光学濁度測定装置の光学セルは、使用中に、サンプル水
に含まれている油滴や浮遊固形物粒子の付着によって汚
れてくるので、この汚染が測定値に大きな影響を及ぼす
ほどに著るしくならないうちに洗浄することが必要であ
る。
に含まれている油滴や浮遊固形物粒子の付着によって汚
れてくるので、この汚染が測定値に大きな影響を及ぼす
ほどに著るしくならないうちに洗浄することが必要であ
る。
この洗浄を行うために、光学セルは、ワィパを含む洗浄
装置が設けられるが、洗浄のためにワィバを動かすタイ
ミングの選定が測定動作に重大な影響を与える。たとえ
ばタイマによって設定された一定時間間隔でワィパを駆
動させることが考えられるが、この動作間隔は一定であ
るので、低濁度のサンプル水の場合には汚れないうちに
ワィパが動くことになり、また高濁度のサンプル水の場
合に光学セルが短時間で汚れても、設定時間が経過する
まではヮィパが動かず、この間の測定誤差が増大する。
また光学セルの透過光強度を常に監視し、その値が設定
値以下になったときにワィパを動かす方式は、サンプル
水の濁度に応じてワィパの動作間隔が変化するので理想
的であるように考えられるが、設定値をどの程度に選ぶ
か刀選定が難しい。もし設定値が高過ぎると、高濁度の
サンプル水が流れた場合、汚れがなくてもワイバが動き
続けるおそれがある。逆に設定値が低過ぎると、汚れが
相当にひどくならないとワィパが動かないことになり、
汚れた状態のままで測定を続けるという不都合が生じる
。この発明は、光学セルの汚れが所定の限界に達したと
みなせるときだけワィパを動かして光学セルの洗浄を自
動的に行わせることが可能な光学濁度測定装置の自動洗
浄方法およびその装置を提供することを目的としている
。
装置が設けられるが、洗浄のためにワィバを動かすタイ
ミングの選定が測定動作に重大な影響を与える。たとえ
ばタイマによって設定された一定時間間隔でワィパを駆
動させることが考えられるが、この動作間隔は一定であ
るので、低濁度のサンプル水の場合には汚れないうちに
ワィパが動くことになり、また高濁度のサンプル水の場
合に光学セルが短時間で汚れても、設定時間が経過する
まではヮィパが動かず、この間の測定誤差が増大する。
また光学セルの透過光強度を常に監視し、その値が設定
値以下になったときにワィパを動かす方式は、サンプル
水の濁度に応じてワィパの動作間隔が変化するので理想
的であるように考えられるが、設定値をどの程度に選ぶ
か刀選定が難しい。もし設定値が高過ぎると、高濁度の
サンプル水が流れた場合、汚れがなくてもワイバが動き
続けるおそれがある。逆に設定値が低過ぎると、汚れが
相当にひどくならないとワィパが動かないことになり、
汚れた状態のままで測定を続けるという不都合が生じる
。この発明は、光学セルの汚れが所定の限界に達したと
みなせるときだけワィパを動かして光学セルの洗浄を自
動的に行わせることが可能な光学濁度測定装置の自動洗
浄方法およびその装置を提供することを目的としている
。
つぎにこの発明の一実施例について図面を参照して説明
する。第１図において符号１で示す光学セルは、サンプ
ル水入口２およびサンプル水出口３を有する透明な筒体
からなり、この光学セル１をはさんで相互に対向するよ
うに、光源４および受光器５が設けられている。また光
学セル１内には、その透明壁面に付着した油分などの汚
染物質を除くために、後述するワィパ駆動回路１３によ
って駆動されるワィパ６が収容されている。サンプル水
入口２から導入されたサンプル水は、ワィパ６の閉口を
通って上昇したのちサンプル水出口３に向かう過程で、
光源４から受光器５に至る光路を横切り、受光器５に入
るべき光に対して濁度に対応した減衰を与える。受光器
５は、光学セル１の透過強度に対応した信号ｌｔを発生
し、これを前層増幅回路７の一方の入力端に供Ｖ給する
。
する。第１図において符号１で示す光学セルは、サンプ
ル水入口２およびサンプル水出口３を有する透明な筒体
からなり、この光学セル１をはさんで相互に対向するよ
うに、光源４および受光器５が設けられている。また光
学セル１内には、その透明壁面に付着した油分などの汚
染物質を除くために、後述するワィパ駆動回路１３によ
って駆動されるワィパ６が収容されている。サンプル水
入口２から導入されたサンプル水は、ワィパ６の閉口を
通って上昇したのちサンプル水出口３に向かう過程で、
光源４から受光器５に至る光路を横切り、受光器５に入
るべき光に対して濁度に対応した減衰を与える。受光器
５は、光学セル１の透過強度に対応した信号ｌｔを発生
し、これを前層増幅回路７の一方の入力端に供Ｖ給する
。
また前直増幅回路７の他方の入力端には、直流電源８か
ら一定の基準信号１把が供給されている。一般に受光器
５の出力信号ｌｔ（すなわち光学セル１の透過光量）は
次式で与えられる。
ら一定の基準信号１把が供給されている。一般に受光器
５の出力信号ｌｔ（すなわち光学セル１の透過光量）は
次式で与えられる。
ｌｔ＝ｙＬｅ−（ＱＸ＋３ｙ） 【
１｝ただしＬ：光源４の光量 ｘ：サンプル水の濁度 ｙ：光学セル１の汚れ Ｑ’８，ｙ：係数 また光学セル１における透過光の減衰量ｚは次式で表わ
される。
１｝ただしＬ：光源４の光量 ｘ：サンプル水の濁度 ｙ：光学セル１の汚れ Ｑ’８，ｙ：係数 また光学セル１における透過光の減衰量ｚは次式で表わ
される。
ｚ＝ｌｎｌｔＦ−ｌｎｌｔ
【２１＝ｌｎｙ・１。
【２１＝ｌｎｙ・１。
−ｌｎ（ｙ・１。・ｅ−（Ｑ叫３ｙ））ｙ−１。：ｌｎ
ｙ．，。
ｙ．，。
．ｅ（‐Ｑ灯８ｙ）＝Ｑｘ＋８ｙ
｛３｝前層増幅回路７は、■式で表わされた対
数変換および減算を行い、サンプル水の濁度と光学セル
１の汚れとを加算した値ｚを与えるように動作し、この
値ｚが濁度測定装置の濁度演算回路（図示せず）に濁度
値として供給される。
｛３｝前層増幅回路７は、■式で表わされた対
数変換および減算を行い、サンプル水の濁度と光学セル
１の汚れとを加算した値ｚを与えるように動作し、この
値ｚが濁度測定装置の濁度演算回路（図示せず）に濁度
値として供給される。
一方、前鷹増幅回路７の出力信号ｚは、電圧／周波数変
換器８で、その電圧レベルに比例した周波数のパルス信
号に変換され、カゥンタ９に供給される。
換器８で、その電圧レベルに比例した周波数のパルス信
号に変換され、カゥンタ９に供給される。
このカウンタ９は、供給されたパルス信号の周波数をカ
ウントし、カウント数が一定値に達するごとに所定の出
力信号を発生する。すなわち電圧／周波数変換器８およ
びカウンタ９は、信号ｚの出力値を積分することによっ
て、サンプル水の濁度（すなわち透過光の減衰）の積算
値を演算する積分回路として働く。この積算値Ｓ（Ｔ）
はＳ（Ｔ）＝′３ｚ（ｔ）ｄｔ ■で表わ
される。
ウントし、カウント数が一定値に達するごとに所定の出
力信号を発生する。すなわち電圧／周波数変換器８およ
びカウンタ９は、信号ｚの出力値を積分することによっ
て、サンプル水の濁度（すなわち透過光の減衰）の積算
値を演算する積分回路として働く。この積算値Ｓ（Ｔ）
はＳ（Ｔ）＝′３ｚ（ｔ）ｄｔ ■で表わ
される。
この例では、カウンタ１０は相互に異なったカウント数
で出力を発生する複数の出力端を有し、スイッチ１１に
よって任意の出力端を選択できるようになっている。所
定の積算を行うごとに発生するカウンタ１０の出力は、
スイッチ１１を経てシーケンス回路１２に供給される。
で出力を発生する複数の出力端を有し、スイッチ１１に
よって任意の出力端を選択できるようになっている。所
定の積算を行うごとに発生するカウンタ１０の出力は、
スイッチ１１を経てシーケンス回路１２に供給される。
このシーケンス回路１２は、カウンタ１０の出力を受け
たときに、濁度演算回路にその演算動作を停止させるた
めのホールド信号を発生するとともに、ワィパ駆動回路
１３に駆動信号を供給し、ワィパ６を光学セル１内で往
復運動させる。これによって光学セルーの透明壁面の洗
浄が行われ、洗浄が完了したのちに測定動作が再開され
る。好ましくは、シーケンス回路１２は、ワィパ駆動回
路１３に駆動信号を供給すると同時に、図示しないバル
ブを一定時間だけ開くための信号を発生し、このバルブ
を介して、サンプル水のサンプリング系路内および光学
セルー内に洗浄水を一定時間だけ供給するように構成さ
れる。
たときに、濁度演算回路にその演算動作を停止させるた
めのホールド信号を発生するとともに、ワィパ駆動回路
１３に駆動信号を供給し、ワィパ６を光学セル１内で往
復運動させる。これによって光学セルーの透明壁面の洗
浄が行われ、洗浄が完了したのちに測定動作が再開され
る。好ましくは、シーケンス回路１２は、ワィパ駆動回
路１３に駆動信号を供給すると同時に、図示しないバル
ブを一定時間だけ開くための信号を発生し、このバルブ
を介して、サンプル水のサンプリング系路内および光学
セルー内に洗浄水を一定時間だけ供給するように構成さ
れる。
以上のようにこの発明によれば、光学セルの透明壁面を
洗浄するためのワィパの動作タイミングの選定は、光学
セルにおける透過光の減衰量の積算値が設定値に達する
ことによってなされる。
洗浄するためのワィパの動作タイミングの選定は、光学
セルにおける透過光の減衰量の積算値が設定値に達する
ことによってなされる。
この積算値は、光学セル内を流れるサンプル水の濁度の
変化には影響されない光学セルの汚れによく対応してい
るので、ワィパの動作タイミングは適正なものとなる。
変化には影響されない光学セルの汚れによく対応してい
るので、ワィパの動作タイミングは適正なものとなる。
図はこの発明の一実施例による自動洗浄装置の構成を示
すブロック図である。 １・・…・光学セル、４・…・・光源、５・・・・・・
受光器、６…・・・ワィバ、７……前直増幅回路、９…
…電圧／周波数変換器、１０・…・・カゥンタ、１ １
・・．・・・スイッチ、１２・・・・・・シーケンス回
路、１３・・・・・・ワィパ駆動回路。
すブロック図である。 １・・…・光学セル、４・…・・光源、５・・・・・・
受光器、６…・・・ワィバ、７……前直増幅回路、９…
…電圧／周波数変換器、１０・…・・カゥンタ、１ １
・・．・・・スイッチ、１２・・・・・・シーケンス回
路、１３・・・・・・ワィパ駆動回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ サンプル水が流通する光学セルをはさんで対向配置
された光源および受光器間における光の減衰量から上記
サンプル水の濁度を測定する光学濁度測定装置に、上記
光学セルの透明壁面を自動洗浄するために適用される方
法において、上記サンプル水の濁度成分および上記透明
壁面の汚染度成分から形成される透過光の減衰量を上記
受光器で検出するとともに、この減衰量を測定動作時間
内で積算し、この積算減衰量が設定値に達したときに上
記透明壁面を洗浄する洗浄装置を駆動することを特徴と
する光学濁度測定装置の自動洗浄制御方法。 ２ 上記減衰量をこれに対応する周波数のパルス信号に
変換し、このパルス信号の周波数をカウンタで積算して
上記積算減衰量を得る特許請求の範囲第１項記載の光学
濁度測定装置の自動洗浄制御方法。 ３ 上記積算減衰量が上記設定値に達したときに、上記
光学濁度測定装置の測定動作を停止させ、上記洗浄装置
による洗浄動作が完了したのちに測定動作を再開させる
特許請求の範囲第１項記載の光学濁度測定装置の自動洗
浄制御方法。 ４ サンプル水が流通する光学セルをはさんで対向配置
された光源および受光器間における光の減衰量から上記
サンプル水の濁度を測定する光学濁度測定装置に、上記
光学セルの透明壁面を自動洗浄するために適用される装
置において、上記サンプル水の濁度成分および上記透明
壁面の汚染度成分から形成される透過光の減衰量を示す
濁度信号を増幅する前置増幅回路の出力信号が供給され
る積分回路を備え、この積分回路は、上記濁度信号の積
算値が設定値に達したときに、上記透明壁面を洗浄する
ための洗浄装置の駆動を指令するタイミング信号を発生
するように構成されていることを特徴とする光学濁度測
定装置の自動洗浄制御装置。 ５ 上記前置増幅回路は対数変換増幅回路を有している
特許請求の範囲第４項記載の光学濁度測定装置の自動洗
浄制御装置。 ６ 上記前置増幅回路は、上記サンプル水の代りに清水
を流したときの濁度成分および上記透明壁面の汚れがな
いときの汚染度成分から形成される透過光の基準減衰量
信号と、上記受光器からの濁度信号との差信号を上記対
数変換増幅回路から上記出力信号として出力するように
構成されている特許請求の範囲第５項記載の光学濁度測
定装置の自動洗浄制御装置。 ７ 上記積分回路は、電圧／周波数変換器およびカウン
タで構成されている特許請求の範囲第４項記載の光学濁
度測定装置の自動洗浄制御装置。 ８ 上記洗浄装置は、上記透明壁面を洗浄するワイパと
、このワイパを駆動するワイパ駆動回路とで構成されて
いる特許請求の範囲第４項記載の光学濁度測定装置の自
動洗浄制御装置。 ９ 上記光学セル内にサンプル水および洗浄水を所定の
時間を選定して流すとともに、上記積分回路の出力信号
によつて上記洗浄装置を駆動するためのシーケンス回路
をさらに有している特許請求の範囲第４項記載の光学濁
度測定装置の自動洗浄制御装置。 １０ 上記シーケンス回路は、上記洗浄装置が動作して
いる間、上記前置増幅回路の出力信号から濁度を測定す
る濁度演算回路の動作を停止させる信号を発生するよう
に構成されている特許請求の範囲第９項記載の光学濁度
測定装置の自動洗浄制御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5812280A JPS6025736B2 (ja) | 1980-04-30 | 1980-04-30 | 光学濁度測定装置の自動洗浄制御方法およびその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5812280A JPS6025736B2 (ja) | 1980-04-30 | 1980-04-30 | 光学濁度測定装置の自動洗浄制御方法およびその装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS56154646A JPS56154646A (en) | 1981-11-30 |
| JPS6025736B2 true JPS6025736B2 (ja) | 1985-06-20 |
Family
ID=13075165
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5812280A Expired JPS6025736B2 (ja) | 1980-04-30 | 1980-04-30 | 光学濁度測定装置の自動洗浄制御方法およびその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6025736B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3390354B2 (ja) * | 1999-01-22 | 2003-03-24 | 松下電器産業株式会社 | 光学特性測定系の制御方法 |
| KR100720136B1 (ko) | 2006-07-19 | 2007-05-18 | 한창기전주식회사 | 복합 세정장치 및 방법 |
| JP5843284B2 (ja) * | 2011-11-28 | 2016-01-13 | 横河電機株式会社 | 不純物除去装置及び分光分析装置 |
| JPWO2022264532A1 (ja) * | 2021-06-17 | 2022-12-22 |
-
1980
- 1980-04-30 JP JP5812280A patent/JPS6025736B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS56154646A (en) | 1981-11-30 |
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