JPS60256993A - 磁気デイスクメモリにおける誤差信号検出を行う方法および装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、テスト用磁気ディスクが、磁気ディスクの有
効な記録範囲にわたって分散した複数のテストトラック
を有し、その際テストトラックのテスト信号を読取り、
かつ設定位置および設定振幅て対する読取り信号の偏差
を検出し、かつその際平均値を形成する、テスト用磁気
ディスクを用いて磁気ヘッド位置決めシステムを有する
磁気ディスク駆動機構における誤差信号検出を行う方法
および装置に関する。

従来技術 磁気ディスクメモリにおける記録および／または読取り
過程の品質は、相対運動中の記録ディスクと磁気ヘッド
との設定および対応関係によって決まる。特に可撓記録
ディスク、例えばフロッピーディスクと記録および／ま
たは読取り用の付属装置とにおいて、装置、特に磁気ヘ
ッドおよび／またはヘッド設定ユニットを記録担体に対
して相対的て動かすことは重要である。この設定過程は
トラック位置設定と称する。そのため監視マークを有す
るいわゆる設定またはＣＥディスクを使用する。例えば
ドイツ連邦共和国特許出願公開第２５５４０８３号明細
書によれば、監視マークは、トラック中心から交互にそ
れぞれの側へ延びた磁束変化であり、これら磁束変化は
、ディスク中央範囲の１つのテストトラックに記録され
ている。これら監視マークは位置パルスであり、テスト
トラックのまわりに設けられており、かつ異なった振幅
の方向パルスによってグループに分けられている。

種々の位置パルスと方向パルスを使用することにより、
パルスを良好に区別でき、かつトストドラックの全周を
写し出すことができるオシログラフ上に簡単に表示でき
、かっこのようにして簡単なヘッド位置テストおよびヘ
ッド調整が可能である。

ドイツ連邦共相国材許出願公開第３１１７９１１号明細
書によれば、走査トラックの正常位置に対して正または
負のトラックずれをゼする少なくとも一部隣接した走査
トラック対を有するテスト部材を使用することカー公知
になっている。走査ヘッドの整列のため、トラックずれ
を有する走査トラックを読取り、かつあらかじめ装置に
おいて決めた読取り誤りが生じるとすぐに、走査トラッ
ク対の読取り信号から平均値を形成し、かつ走査ヘッド
の調整のため使用する。ここには次のことも記載されて
いる。すなわち隣接しない２つの走査トラックにおいて
同じ大きさの誤りが生じた場合、一方の正の走査トラッ
クの読取り信号と他方の負の走査トラックの読取り信号
の間の平均値形成によってヘッド調整用の信号値を形成
してもよい、さらにここでは、読取ったテスト信号の偏
差が最大でありまだ処理できる場合、それぞれの正のお
よびそれぞれの負のトラックずれの絶対値を記録し、か
つこれら２つの値から品質値を表わす平均値を形成する
ことも公知である。

従っていずれの場合にも、平均値は２つの誤り信号から
形成され、従ってヘッド位置決め範囲の品質が推定され
る。前記の走査トラック対を使用することによって、ト
ラック走査に対して２倍の読取り時間が必要である。そ
の上さらに最大限で、理論的に可能な全トラック数の半
分しか収容できない。１つのトラック内に識別不能では
ない同じ大きさのテスト信号を使用することにより、例
えば偏心に関する角度に依存した情報を検出できるが、
これに（１手間がかかる。テストプログの制御のためト
ラックを空けておかなければいけない場合、このトラッ
ク範囲においてちょうど偏差に関する情報が失われる。

発明の目的 本発明の課題は、一層良好かつ広い範囲にわたる誤差信
号の検出および評価の方法を提供することにある。

発明の構成 本発明によればこの課題は、次のようにして解決される
。すなわち ０テスト信号が、トラック中心から交互にそれぞれの側
へ記録しかつ同じ振幅値を有する位置パルスと、位置パ
ルスをグループに区分しかつ位置パルスとは相違した振
幅値を刹する方向パルスから成り、かつ ０それぞれのグループ内において位置パルスの位置と振
幅を測定し、かつ位置パルスのグループ平均値を形成し
、 ０テストトランクのグループ平均値を介してトラック平
均値を形成し、かつ記憶し、かつ０テストトラツクの数
からトランク平均値の総合平均値を形成し、かつ記憶す
る。

それてより最高の場合には可能な全トラック数に関して
かつ通常の場合には特別なパラメータに依存してまたは
特別の誤り作用に関して、所望の精度で誤差信号を検出
でき、かつ場合によっては評価でき、例えば品質テスト
のため、または例えば装置製造中に場合によってはヘッ
ド調節のため、または例えば読取り動作の際のヘッド制
御のため、または場合によっては読取り信号の計算によ
る修正のため（装置の読取り動作の際）使用できる。

その他の方法処置においてステップモータ位置決めシス
テムを有する駆動機構に対して、テストディスク上のト
ラックの位置と数は、ちょうどステップモータのモータ
位相の数と一致しないように選択しかつ走査する。おど
ろくべきことにそれによりステップモータの個々のステ
ップの際に生じる誤差信号もいっしょに検出でき、かつ
ちょうど抑圧されてしまうことはない。

それ故に３相δテップモータ位置決めシステムを有する
駆動機構において４つ回毎のトラックのテスト信号を読
取りかつ評価し、また４相ステップモータ位置決めシス
テムの場合には３つ回毎のトラックを読取りかつ評価す
ると有利である。

テスト用磁気ディスクの第２、第５および第７等のトラ
ックのテスト信号を組合わせ、かつ方法に応じて適当に
走査しかつ評価してもよい。

実際にはテスト信号を、基準テストトラックから開始し
てトラック番号の増加するまたは減少する方向に直列に
読取りかつ処理し、かつ続いてトラックのテスト信号を
、トラック番号の減少するまたは増加する方向に直列に
読取りかつ処理し、また２つの方向の平均値を総合平均
値に加えることも有利である。

それにより所定のトラックに対して両方向に走査した場
合のヘッド位置決めのヒステリシスを検出できるので、
総合平均値にはヒステリシス作用が算入される。

その他の処理ステップにおいて総合平均値を検出した後
に、この総合平均値を基準テストトラックのトラック平
均値から引き、かつその結果得られた平均値を基準テス
トトラックに関するヘッド位置修正のため利用する。

それにより基準トラックを適切に配置すれば、存在する
記録面に関して最適な誤差補償が行われる。

この方法に使用するテスト用磁気ディスクは公知のよっ
てテスト信号を含み、これらテスト信号は、トラック中
心から交互にそれぞれの側へ記録されかつ同じ振幅値を
有する位置パルスと、位置パルスをグループに区分しか
つ区別可能な振幅値とを有する方向パルスとから成り、
本発明によればテスト用磁気ディスクは、ディスクの記
録範囲にわたって均一に分散して３つ回毎または４つ回
毎のトラックに記録された複数のテストトラックを有す
る。

それにより簡単に製造でき広範囲に利用できるいワユる
ＣＥティスク（ＣＥ　：　７Ｊスタマーエンジニア）が
提供されろ。例えばテストディスクがテスト信号を含む
できるだけ多数のテストトラックを肴する場合、誤差信
号検出のためちょうど使用したステップモータに応じて
任意の順序のトラック、例えば３つ回毎または４つ回毎
のトラックだけを制御することももちろん可能である。

しかしそれにより極めて広い用途が提供される。

本発明によるテストディスクは、記録範囲の少な（とも
一部にわたって交互に２つ回毎およびそれに続いて３つ
回毎のトラックに記録されたテストトラックを備えてい
てもよい。それにより３または４相ステップモータを有
する装置用の組合わせテストディスクが提供される。

本発明による方法を実施する装置は、ディスクの記録範
囲にわたって均一に分散して３つ回毎または４つ回毎の
トラックに、または３つ回毎およびそれに続いて３つ回
毎のトランクに記録された複数のテストトラックを有す
る、本発明による前記のテストディスクに関連して、次
のようにして提供される。すなわち３トラツクまたは４
トラツクマたは２トラツク走査サイクルで位置決めシス
テムを制御するため制御段を有する回路装置が設けられ
ており、この回路装置は、読取りヘッドて接続されてお
り、かつ誤差信号の評価段、平均値形成段および記憶段
、および総合平均値の表示および／または記録段を含ん
でいる。

このような回路装置は、通常市販の電子回路素子で経済
的に実現できる。

その他、の実際的な構成において制御段が位置決めシス
テムを制御し、走査ヘッドシステムが、所定の開始トラ
ック、特に基準テストトラックから始めてトラック番号
の増加するまたは減少する方向にテストトラックを走査
するようにし、かつ続いて方向転換してトラック番号の
減少するまたは増加する方向にテストトラックを走査す
る。それによりさ程の付加的回路費用なしに、回路装置
は位置決めヒステリシスの検出に適するようになる。

回路装置のその他の構成は次のようになっている。すな
わち総合平均値を検出した後に制御段が、位置決めシス
テムを介して走査ヘッドシステムを基準テストトラック
へ制御し、かつトラック平均値をもう１度測定するか、
またはメモリから読出゛し、かつ続いてトラック平均値
から総合平均値を減算し、かつその結果得られた平均値
を表示し、かつ／または自動ヘッド調整の準備を行う。

それにより手動でまたは自動ヘッド調整装置によって操
作ヘッドシステムの簡単な調節を行うことができる。

実施例の説明 本発明の実施例を以下図面によって説明する。

ディスクおよび装置１９は、大体において概略的に示し
たディスク駆動ユニット１６、テスト用磁気記録ディス
ク１５、スピンドル１２を有する磁気ヘッド位置決めシ
ステム１３および磁気ヘッド１３から成る。磁気ヘッド
１３は、スピンドル１２上で双方向矢印ｄの方向に長手
方向に可動である。ディスク１５上の中心円形トラック
は１４で示されている。

ユニット１６の駆動軸の回転方向は矢印ａで示されてい
る。ディスク１５を通って突出した駆動軸の部分は、わ
ずかに円すい形に形成され又おり、それによりディスク
１５を容易に心出しできるようにする。

第２図には、幾何学的に直列配置されたテストマークの
構成が示されており、これらテストマークは、トラック
中心線１８、例えば前記のトラック１４から出ている。

トラック幅はｂで示されている。

テストマークは、多数の磁束変化から形成されている。

第２図には全体で６つのグループＩないし■のマークが
示されており、それぞれのグループは長さＣを有する。

それぞれのグループは、トラック中心線１８に対して幾
何学的に対称に配置された３つの方向マークまたは方向
パルス（Ｏパルス〕ｌないし３．：、）ラック中心１８
からそれぞれの側へ幾何学的に交互に配置された６つの
位置マークまたは位ｔパルス（Ｌパルス）４，５および
８゜９とから成る。０パルスとＬパルスの振幅は、良好
に区別できるように選定すると有利である。こノコとは
、例えばＯパルスｌないし３が交互に異なった信号周波
数、例えば２ｆ、１ｆ、２ｆ　の周波数から成るように
すれば、簡単に可能である。その際周波数ｆは、データ
ディスクシステムの記録周波数である。フロッピーディ
スクシステムではこ゛の周波数は、毎分３６０回転（ｒ
、ｐ、ｍ、　）の際ｆ’＝２５０ｋＨｚである。この時
Ｌパルスは、周波数ｆを有すると有利である。

第３図は、破ｍ　２０と２１の間のパルスのオシログラ
フ像を示しており、これらパルスは、マークグループ■
のＯパルスｌないし３とＬパルス４゜５および８，９、
およびグループ■の識別マークｌないし３を含んでいる
。アジマスパルス６と７は、このオシログラフ像には示
されていない。概略的に示すように、Ｘ方向て磁気ヘッ
ド１３から走査された読取り電圧Ｕが、Ｘ方向の時間ｔ
に関して示されている。

０パルス１ないし、３は、読取り電圧Ｕ２　ｆｃ　、　
Ｕｌ　ｆｃおよびＵ２ｆｃとして識別可能であり、その
際電圧Ｕｌｆｃの振幅は、振幅Ｕ２ｆｃよりも太きい。

図示した例において読取り電圧ＵｌｆｃとＵｌｆｏの振
幅は同じ大きさである。磁気ヘッド１３の読取り電圧の
振幅は、テストトラック１４に対するヘッド位置に依存
するので、読堆り電圧ＵｌｆｉとＵｌｆｏの振幅値が同
じであろということは次のことを表わしている。

ａ）ヘッドとディスクの設定（調整）が正しい。

ｂ）駆動ユニット上のテストディスクの位置が絶対的な
中心にある。

Ｃ）ディスクまたはクロッピーディスクの形が真円であ
る。

ｄ）駆動ユニットの駆動装置が正確知中心である。

ｅ）磁気ヘッドの位置が正しい。

ＵｌｆｉとＵｌｆｏＯ間に振幅差が生じた場合、差が正
であれば、テストディスク１５は軸に対して内方へずれ
ており、かつ差が負であれば、ずれは逆方向であり、従
、って外方へずれている。

次式によれば、設定位置からのトラックずれΔ８は次の
ように表わされる。

その除トラックずれΔ　はμｍで、また読取りヘッドの
トラック幅Ｓはμｍで衣わす。スピンドル１２上のヘッ
ドの調節によって、このようなトラックヘッド調節誤差
を高精度で修正し、または少なくとも補償するこ・とが
できる。このような補償は、有利にもマークグループｎ
（ｎはＩないし■）の読取り電圧とマークグループｎ＋
３の電圧との振幅差をヘッド調節匠より同じ大きさに調
節することによって行うことができる。それにより半径
方向の偏心を少なくとも最小にすることができろ。

この偏心保証例では６つのマークグループ数を前提とし
ている。その他の数Ｎのマークグループについ℃は、マ
ークグループｎにおけるトラックずれ誤差の場合、半径
方向ｒ対向する誤差を減少するためマークグループｎ　
＋　Ｎ／２において同じずれを調節する。

周波数１ｆと２ｆを使用するが、一般的に問題となる走
査速度またはマーク信号長に適したあらゆる周波数が使
用できる。読取り電圧Ｕ２ｆｃの周波数２ｆは、有利に
も磁気ヘッドのアジマス調節て使用できる。しかつ次の
ような処置によりアジマス調節はさらに改善さｆｔろ。

第２図において例えばＬパルス５と８の間に、−＼ラド
Ｈのアジマス監視のため２つのアジマスパルス（Ａパル
ス）６と７が設けられている。これらＡパルス６．７は
、すべてのグループＩ−ＶＩ内に設けてもよいが、なる
べくＡパルスは、１つのトラックだけ、例えばテストデ
ィスクのトラック１だけに設げられている。

テストマークまたはテスト信号、０パルス、Ｌパルスお
よびＡパルスは、以下において一般的にテスト信号ＴＳ
と称する。

前記テストディスク１５は、通常のフロッピーディスク
の３７または７４トラツクよりも多数のこのようなテス
トトラックを有することができ、３つ回毎または４つ回
毎のトラックか、または２つ回毎およびそれに続く３つ
回毎のトラックにテスト信号を設けることができる。し
かし原則的にはテスト信号の最大振幅、例えば２つの有
効トラック幅と隣接テス））ラックに加えて適当な幅を
有するすき間によって決まる数のテストトラックを設け
ることができる。広範囲の用途のためおよびテスト精度
を高めるため、所定の用途に対して最大数のテス））ラ
ックを記録しかつ使用することが有利である。

組合わせテストディスクのテストトラックは、全記録範
囲にわたって交互に２つ回毎およびそれに続（３つ回毎
のトラックに分散配置してもよい。

この構成ておいてテストトラックは、例えば２番目、５
番目、７番目（以下同様）のトラックに記録されている
。装置のタイプをテストする際、もちろんこの時、位置
決めシステム１１内に３相ステツプモータが設けられて
いるかまたは４相ステツプモータが設けられて匪るかに
応じて、２つ回毎のトラックだけ、または３つ回毎のト
ラックだけが走査される。

誤差信号の検出は次のようにして行われる。

単一ヘッドであっても、または２Ｍヘッド装置の一方の
ヘッドであってもよい走査ヘッドＨは、あらかじめ決め
た任意のトラックに設定され、かつテスト信号、すなわ
ちＯパルスとＬパルス（方向パルスと位置パルス）を読
取る。基準トラックＳＲとしてはトラック扁１６または
３２　（４８または９５　ｔｐｉルミフロッピーディス
ク合）が籍に適している。なぜならこのトラックは、外
周と内周の範囲の記録容量に関してほぼ中間にあるから
である。

０パルスとＬパルスは、ヘッドＨかも到来し正弦波状で
あり、かつ読取り増幅器において尖頭値検波器ＡＭによ
り直流パルスに変換されろ。Ｏパルスは、２ｆの周波数
に応答するフィルタＦを介して分離され、マイクロプロ
セッサＭＰＫそのまま供給され、かつここで回転速度変
動を取除く同期化のために使われる。Ｌパルスは、Ａ／
Ｄ変換器を介して同様にマイクロプロセッサに供給され
る。マイクロプロセッサＭＰは、パルス振幅を判定し、
平均値を形成し、個々の信号または平均値信号をＥＰＲ
ＯＭまたはＲＡＭメモリて供給し、かつさらに装置イン
ターフェース５ＳＩＣ通じる導線りを弁して誤差信号検
出に必要な駆動機構の機能を制御するためて使われる。

その他にマイクロプロセッサＭＰには、表示または記録
ユニットおよび／または自動ヘッド設定ユニットＤ１お
よび入カニニット、例えばキーボードＴが接続されてい
る。図において破線で囲んだ回路装置は２５で示されて
いる。

Ｌパルスの振幅検出およびＯパルスによル同期化の後に
、まずマイクロプロセッサＭＰ内では個別Ｌパルスの平
均値形成（パルス平均値）が行われ、それからそれぞれ
のグループＩ−ＶｌのＬパルスの平均値形成（グループ
平均値）が行われ、その後テストトラック全体にわたる
平均値形成（トラック平均値）が行われる。

平均値形成が可能になる前に、原則としてＬパルスの瞬
時振幅値を介して、一方ではトラック偏差（トラッキン
グ誤差ＴＥ）および他方では偏心誤差（ＥＳ　）が検出
され、かつＲＡＭメモリに記憶される。

基準トラックＳＲにおける誤差信号検出を行った後に次
のトラック、例えばトラックＡ　１９へ移り、かつ最後
のテストトラック、例えばトラック＆３５または７４を
走査して、測定値を記憶しまたはすべてのテストトラッ
クの平均値を形成するまで、この過程をくり返す。

（注二本発明において平均値とは算術平均値を表わす。

） ３７トラツクの場合、４トラック周期で（Ａ　１６゜２
０、・・・・・３６）６つのトラック平均値が、また３
トラック周期で（１６、１９、・・・３４　、３７．）
８つのトラック平均値が得られ、これらトラック平均値
から総合平均値が形成できる。これらの数は、単方向テ
ストにあてはまる。

前記のようにトラック２　、５　、７　、１０　、１２
　。

１５　、１７　、２０　、２２　、２５　、２７　；　
３０　、３２　、３５゜３７に、従って２つ目毎および
それに続く３つ目毎のトランつてテスト信号を設けても
よいので、この時３７トラツクであれば、それぞれ８ま
たは７つの測定値が得られろ。

付加的に第４図の左側のＳ曲線で示すように、誤差信号
ＴＥの完全な分散を行うため、トラック扁ＯないしＡ　
１６の範囲のテストトランクＳを走査してもよい。矢印
Ａは、前記のようにトラックに接近する方向を表わして
おり、ここでは例えば外側トラックＳｘから基準トラッ
クＳＲを介して内側トラックＳ、の方向になっている。

従って実線のＳ曲線は、ＴＥ倍信号検出により形成され
ろ。それに並んだ破線のＳ曲線は、偏心値（ＥＳ＞の分
布範囲を表わしている。

前記方法の説明においていちばん内側のテストトラック
Ｓ１に達した後に、トラック接近方向は矢印ＡからＢへ
切換えられ、かつ誤差信号検出過程はいちばん外側のテ
ストトラックまでくり返される。なるべく総合平均値は
、両方のトラック接近方向の誤差信号ＴＥとＴＥから形
成され、それにより有利にも位置決めヒステリシスも検
出され、かついっしょに評価できるようになる。間隔Ｈ
Ｙを置いて、実線Ｓ曲線のＴＥ倍信号ＥＳ分布曲線を含
む右側の平行Ｓ曲線が得られる。この２方向テス、トの
際、２倍の数の偏差測定値も得られる。

トラックＳＲ上では２ヘッド駆動機構の場合、ヘッドの
間のヘッドずれ０も測定でき、かつ最大誤差信号ＴＥｍ
ａｘの検出に利用できる′。

接近方向ＡまたはＢまたはＡおよびＢを介して得られた
総合平均値は、直線ＩＭ（実際測定値に対して）として
示されている。基準トラックＳＲのトラック平均値から
この直線までの距離△ＴＥは、トラック平均値と総合平
均値ＩＭＯ差に対応している。

全記録範囲にわたる誤差信号を最小にするため、すなわ
ち装置の記録再生品質を最適化するため、基準トラック
ＳＲにおける走査ヘッドＨは、距離ＡＴＥだけずらさな
ければならない。図に平行直線φＭが示されている。こ
れに関して正の最大値（ＰＭＸ）（Ｆ右）が得られ、そ
の際２ヘツドずれＯが最大偏心値Ｅと同様に考えられ、
かつ負の最大値（ＮＭＸ）が左上に生じ、その際最大Ｔ
Ｅ値ＴＥ　ｍａｘの合計が形成される。従って正および
負のＴＥｍａｘ　Ｑｉの大きさは全く相違する。

この最大値ＴＥｍａｘ　（正十負）および値ΔＴＥおよ
び場合罠より（はヒステリシスの値Ｉ（Ｙは、段り。

例えばディスプレイ装置に表示でき、かつそのつとテス
トした装置如関する品質値を表わして（・る。

さらに値ΔＴＥは、手動でヘッド調整をするために使わ
れ、または自動装置を介してこの時りの位置に使用でき
るモータによるヘッド調整に変換される。しかしヘッド
調整を行わすに、それぞれのトラックに対する平均値φ
Ｍに関してそれぞれのＴＥ値ｉ検出し、かつ計算機によ
り電気的に記録また（ま読取り信号を適当に修正し、こ
れら誤差を記録過程または読取り過程の際て直接補償す
るか、または最小化するようにしてもよい。

第５図において消去可能なメモＩＪ　ＥＰＲＯＭが、本
発明による方法を実施する制御命令を含んでおり、それ
てより制御命令は簡単に変更できる。入カユニツ）Ｔは
、キーボードとして形成でき、かつ測定または調節過程
の開始のため使われる。

本発明による方法およびそのための装置によれば、実際
に装置のコンパチビリティをほぼ２０％高め、製品不良
率をほぼ１５ｑ６減少し、かつサービス作業を最小に減
少することができた。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明によるティスフメモリ装置を含むテス
トティスフの略図、第２図は、テストトラックまたはデ
ィスクの幾何学的な直列テストマークな示す図、第３図
は、第２図の分離線２０．２１によるテストマークの１
グループを示す図、第４図は、ディスクの多数のテスト
トラックの測定した偏差を示す曲線図、第５図は、本発
明による方法を実施する回路装置のブロック図である。 １〜３　位置パルス、４．５．１３．９・・・方向・く
ルス、１１・・・位置決めシステム、１２・・・スピン
ドル、１３・・・磁気ヘッド、１４・・・中央トラック
、１５・・・ディスク、１６・・・ディスク駆動ユニッ
ト、１７・・・駆動軸、１８・・・トラック中心、１９
・・・ディスク装置特許出願人　パスフ　ァクナエンゲ
ゼルシャフト代理人弁理士田代点治 第１頁の続き ［相］発　明　者　クラウス、シュルツエーベルゲ ０発　明　者　ローランド、シルト ドイツ連邦共和国、６７０／にムターシュタト、シュト
ウールグルーダーホーフシュトラーセ、１３ ドイツ連邦共和国、６７０／にムターシュタト、ライン
ゲンハイマー、シュトラーセ、１ 手続補正書（自発） 昭和６０年８月１６日 特、ｉ′を斤長官　殿 ］、Ｔｌ：件の表示 特願昭６０１０４１２０号 λ　発明の名称 磁気アイスフメモリにおける誤差信号検出を行う方法お
よび装置 ３、補正をする名 月１件との関係　特許出願人 ５、補正により増加する発明の数　。 ６補正の対象 明細書の特許請求の範囲の欄および発明の詳細な説明の
欄。 ７、７＋ｔｉ正の内容 （１）特許請求の範囲を別紙のように訂正ず−る。 （２）明細書第１１頁第２行［０テストトラツクの数」
を「０いくっかのテストトラック」と訂正する。 ２、特許請求の範囲 （１１テスト用磁気デイスク（Ｉ５）が、磁気ディスク
の有効な記録範囲にわたって分散した複数のテストトラ
ック（Ｓ）を自し、その際テストトラック（Ｓ）のテス
ト信号（ＴＳ）を読取り、かつ設定位置および設定振幅
に対する読取り信号の偏差を検出し、かつその際平均値
を形成する、テスト用磁気ディスク（」５）を用いて磁
気ヘッド位置決めシステムを有す゛る磁気ディスク駆動
機構（］９）における誤差信号検出を行う方法において
、 ０テスト信号（ＴＳ）が、トラック中心（］８）から交
互にそれぞ、れの側へ記録しかつ同じ振幅値を有する（
１’／、　ｆ’、＋“パルス（１ないしム）と、位置パ
ルス（１ないし３）をグループ（Ｉないし■）に区分し
かつ位置パルス（１ないし３）とは相違した振幅値を自
する方向パルス（４，５および８，９）から成り、かつ ０それぞれのグループ（ＩないしＶｌ　’）内において
位置パルス（１ないし３）の位置と振幅を測定し、かつ
位置パルスのグループ平均値を形成し、 ０デストドラツク（Ｓ）のグループ平均値を介してトラ
ック平均値を形成し、かつ記憶し、かつる ことを特徴とする、磁気ディスクメモリにおける誤差信
号検出を行う方法。 （２）ステップモータ位置決めシステム（１１）ををす
る駆’ｆ９ｔ　機構に対して、テストディスク（１５）
−１＝のテストトラック（Ｓ）の位置が、ちょうどそれ
ぞれのステップモータのモーフ位相の数に一致していな
い、特許請求の範囲第１項記載の方法。 （：３）　４相スデップモータ位置決めシステム（１１
）を有する駆動機構に対して、３つ目釘（２つおき）の
トラックテスト信号（ＴＳ）を読取って評価する、特許
請求の範囲第２項記動の方法。 （４）３相ステップモータ位置決めシステム（１１）を
イ１°する駆動機構に対して、４つ日毎（３つおき）の
トラックのテスト信号（ＴＳ）を読取って評価する、特
許請求の範囲第２項記載の方法。 （５ン３イ（〕よたは４相ステップモータ位置決めシス
グ１．．（ＩＩ＞を有する駆’Ｅｔ機構に対して、それ
ぞれ２つｒｌ　４ｒＡ　（１つおき）のトラックのテス
ト信号（ＴＳ）または３つ日毎（２つおき）のトラック
のデスト信ｔシを同じテストディスク（Ｉ５）から読取
って評価する、特許請求の範囲第２項記載の方法。 （６）テスト信号（ＴＳ）を、基準テストトラック（Ｓ
Ｒ）から開始してトラック番号の増加するまたは減少す
る方向に１１１列に読取りかつ処理し、がっ続いでトラ
ックのテスト信号（ＴＳ）を、トラック番号の減少する
または増加する方向に直列に読取りかつ処・理し、また
２つの方向の平均値を総合平均（ｐ！ｆ（ＩＭ）に加え
る、特許請求の範囲第１ないし５項の１つに記載の方法
。 （７）総合平均値を検出した後に、この総合平均イ１“
１を基準グ′ストトラック（ＳＲ）のトラック平均値が
ら引き、かつその結果得られた平均値を基準テストトラ
ック（ＳＲ）に関するヘッド位置修正のため利用する、
特許請求の範囲第１ないし６項の１つに記載の方法。 （８１ｍ　Ｍのテストトラック（Ｓ）が設けられており
、これらテストトラックが、３つ日毎または４つ日毎の
トラックに、テストディスク（１５）の記録範囲にわた
って均一に分散して記録されているテスト用磁気ディス
クを特徴する特許請求の範囲第１Ｊ、１′■ないし４項
の１つに記載の方法。 （９）記録範囲の少なくとも一部にわたって、デストド
ラック（Ｓ）か、交互に２つ日毎およびそれに続いて３
つ日毎の記録トラックに記録されたテスト用磁気ン’／
イスクを使用する、特許請求の範囲第１項１５いし第４
項の１つに記載の方法。 （１０）グ゛スト用磁気ディスク（１５）が、磁気ｉ′
ｆスクのイｊ効な記録範囲にわたって分散した枚数のテ
スト　トラ　ンク（Ｓ）をイ１し、その際テスト　トラ
ック（Ｓ）のシスト１．１号（ＴＳ）を読取り、かつ設
定位ｉ、？、ｊおよび設定振幅に対する読取り信号の偏
差を検出し、かつその際平均値を形成する、テスト用磁
気ディスク（１５）を用いて磁気ヘッド位置決めシステ
ムを有する磁気ディスク駆動機構（１９）における誤差
信号検出を行う方法を実施する装置において、グースト
川磁気ディスク（１５）上てデストイ；；号（ＴＳ）か
、トラック中心（１８）から交互にそれぞれの側へ記録
しかつ同じ振幅値を有する位置パルス（１ないし３　）
と、位置パルスをグループに１×分しかつ５゛−二なっ
た振幅値をイ１する方向パルス（４，５おＪ−び８．！
１）から成り、かつ複数のテストトラック（Ｓ＞か、３
つＰ、、　４ｒｊまたは４つ口％ｊまたは２つｌｌ毎お
よび３つ１１毎のトラックに、ディスク記録範囲にわた
って均一・に分散して記録されており、また回路装置（
２５）が、３トラツクまたは４トラツクまたは２トラツ
ク走査ザイクルで位置決めシスラ°ムを制御するため制
御段を有し、かつこの回路装置が、読取りヘッドに接続
されており、かつ誤差イ菖号の５・１゛価段、平均値形
成段および記憶段、および総合平均値の表示および／ま
たは記録段を含むことを１１＋徴とする、磁気ｉ゛イス
クメモリおける誤差信号検出を行う装置。 （１１）制御段が位置決めシステムを制御し、走査ヘッ
ドシステムが、所定の開始トラック、特に基準テストト
ラック（ＳＲ）から始めてトラック番号の増加するまた
は減少する方向にテストトラック（Ｓ）を走査するよう
にし、かつ続いて方向転換してトラック番号の減少する
または増加する方向にテストトラック（Ｓ）を走査する
、特許請求の範囲第１０項記載の方法。 θ２総合平均値（ＩＭ）を検出した後に制御段が、位置
決めシステムを介して走査ヘッドシステムを基準テスト
トラック（ＳＲ）へ制御し、かつトラック平均値をもう
１度測定するか、またはメモリから読出し、かつ続いて
トラック平均値から総合平均値を減算し、かつその結果
から得られた平均値を表示し、かつ／または自動ヘッド
調整の準備を行う、特許請求の範囲第１０または１１項
記載の装置。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 （１）テスト用蜘気ディスク（ト）が、磁気ディスクの
   有効な記録範囲にわたって分散じた複数のテストトラッ
   ク（Ｓ）を有し、その際テストトラック（Ｓ）のテスト
   信号（ＴＳ　）を読取り、かつ設定位置および設定振幅
   に対する読取り信号の偏差を検出し、かつその際平均値
   を形成する、テスト用磁気ディスクα時を用いて磁気ヘ
   ッド位置決めシステムを有する磁気ディスク駆動機構α
   つにおける誤差信号検出を行う方法において、 ０テスト信号（ＴＳ）が、トラック中心α→から交互に
   それぞれの側へ記録しかつ同じ振幅値を有する位置パル
   ス（１ないし３）と、位置パルス（１ないし３）をグル
   ープ（Ｉないし■）に区分しかつ位置パルス（工ないし
   ３ンとは相違した振幅値を有する方向パルス（４，５お
   よび８，９）から成り、かつ ０それぞれのグループ（■ないし■）内において位置パ
   ルス（ｊないし３′）の位置と振幅を測定し、かつ位置
   パルスのグループ平均値を形成し、０テストトラツク（
   Ｓ）のグループ平均値を弁してトラック平均値を形成し
   、かつ記憶し、かつ０テストトラツク（Ｓ）の数からト
   ラック平均値の総合平均値（ＬＭ）を形成し、かつ記憶
   することを特徴とする、磁気ディスクメモリにおける誤
   差信号検出を行う方法。 （２）ステップモータ位置決めシステムα■を有する駆
   動機構に対して、テストディスクα斥上のテストトラン
   ク（Ｓ）の位置が、ちょうどそれぞれのステップモータ
   のモータ位相の数に一致していない、特許請求の範囲第
   １項記載の方法。 （３）４相ステップモータ位置決めシステムα→を有す
   る駆動機構に対して、３つ回毎（２つおき）のトラック
   のテスト信号（ＴＳ）を読取って評価する、特許請求の
   範囲第２項記載の方法。 （４）３相ステップモーク位置決めシステムαηを有す
   る駆動機構に対して、４つ回毎（３つおき）のトランク
   のテスト信号（ＴＳ）を読取って評価する、特許請求の
   範囲第２項記載の方法。 （５）３−相または４相ステップモータ位置決めシステ
   ムα力を有する駆動機構に対して、それぞれ２つ目毎（
   １つおき）のトラックのテスト信号（ＴＳ）または３つ
   目毎（２つおき）のトラックのテスト信号を同じテスト
   ディスク◇啼から読取って評価する、特許請求の範囲第
   ２項記載の方法。 （６）テスト信号（ＴＳ）を、基準テストトラック（Ｓ
   Ｒ）から開始してトラック番号の増加するまたは減少す
   る方向て直列て読取りかつ処理し、かつ続いてトラック
   のテスト信号（ＴＳ）を、トラック番号の減少するまた
   は増加する方向に直列に読取りかつ処理し、また２つの
   方向の平均値を総合平均値（ＩＭ）に加える、特許請求
   の範囲第１ないし５項の１つに記載の方法。 （７）総合平均値を検出した後に、この総合平均値を基
   準テストトラック（ＳＲ）のトラック平均値から引き、
   かつその結果得られた平均値を基準テストトランク（Ｓ
   Ｒ）に関するヘッド位置修正のため利用する、特許請求
   の範囲第１ないし６項の１つに記載の方法。 （８）複数のテストトラック（Ｓ）が設けられており、
   これらテストトラックが、３つ目毎または４つ目毎のト
   ラックに、テストディスク（ｌの記録範囲にわたって均
   一に分散して記録されているテスト用磁気ディスクを特
   徴する特許請求の範囲第１ないし４項の１つに記載の方
   法。 （９）記録範囲の少なくとも一部にわたって、テストト
   ラック（Ｓ）が、交互に２つ目毎およびそれに続いて３
   つ目毎の記録トラックに記録されたテスト用磁気ディス
   クを特徴する特許請求の範囲第１ないし４項の１つに記
   載の方法。 α０）テスト用磁気ディスク００が、飾気ディスクの有
   効な記録範囲にわたって分散した複数のテストトラック
   （Ｓ）を有し、その際テストトラック（Ｓ）のテスト信
   号（ＴＳ）を読取り、かつ設定位置および設定振幅て対
   する読取り信号の偏差を検出し、かつその際平均値を形
   成する、テスト用磁気ディスク０υを用いて磁気ヘッド
   位置決めシステムを有する磁気ティスフ駆動機構αつに
   おける誤差信号検出を行う方法を実施する装置において
   、 テスト用磁気ディスクαυ上でテスト信号（ＴＳ）が、
   トラック中心へ→から交互にそれぞれの側へ記録しかつ
   同じ振幅値を有する位置パルス（１ないし３）と、位置
   パルスをグループに区分しかつ異なった振幅値を有する
   方向パルス（４，５および８，９）から成り、かつ複数
   のテストトラック（Ｓ）が、３つ目毎または４つ目毎ま
   たは２つ目毎および３つ目毎９トラックに、ディスクの
   記録範囲にわたって均一に分散して記録されており、ま
   た回路装置（ハ）が、３トラツクまたは４トラツクまた
   は２トラツク走査サイクルで位置決めシステムを制御す
   るため制御段を有し、かつこの回路装置が、読取りヘッ
   ドに接続されており、かつ誤差信号の評価段、平均値形
   成段および記憶段、および総合平均値の表示および／ま
   たは記録段を含むことを特徴とする、磁気ディスクメモ
   リにおける誤差信号検出を行う装置。 Ｕ制御段が位置決めシステムを制御し、走査へラドシス
   テムが、所定の開始トラック、特に基準テストトラック
   （ＳＲ）から始めてトラック番号の増加するまたは減少
   する方向にテストトラック（Ｓ）を走査するようにし、
   かつ続いて方向転換してトラック番号の減少するまたは
   増加する方向にテストトラック（Ｓ）を特徴する特許請
   求の範囲第１０項記載の装置。 （２）総合平均値（ＩＭ）を検出した後に制御段が、位
   置決めシステムを介して走査−＼ラドシステムを基準テ
   ストトラック（ＳＲ）へ制御し、かつトラック平均値を
   もう１度測定するか、またはメモリから読出し、かつ続
   いてトラック平均値から総合平均値を減算し、かつその
   結果得られた平均値を表示し、かつ／または自動ヘッド
   調整の準備を行う、特許請求の範囲第１０または１１項
   記載の装置。