DE3117911A1

DE3117911A1 - Sich relativ zu einem abtastkopf bewegendes datenspeichermedium fuer testzwecke (testkoerper), verfahren zum ausrichten des abtastkopfes mittels des testkoerpers und verfahren zu seiner herstellung

Info

Publication number: DE3117911A1
Application number: DE19813117911
Authority: DE
Inventors: Wilhelm 8000 München Müller-Basler
Original assignee: Siemens AG
Current assignee: Siemens AG
Priority date: 1981-05-06
Filing date: 1981-05-06
Publication date: 1982-11-25

Description

Sich relativ zu einem Abtastkopf bewegendes Datenspei-
chermedium für Testzwecke (Testkörper), Verfahren zum Ausrichten des Abtastkopfes mittels des Testkörpers und Verfahren zu seiner Herstellung Die Erfindung betrifft ein sich relativ zu einem Abtastkopf bewegendes, eine Signalaufzeichnung. entlang einer Abtastspur aufweisendes Datenspeichermedium für Testzwecke (Testkörper), ein Verfahren zum Ausrichten des Abtastkopfes mittels des Testkörpers und ein Verfahren zum Herstellen des Testkörpers.
Bei einem Datenspeichermedium, welches sich relativ zu einem Abtastkopf bewegt, beispielsweise einer Speicherplatte, werden die zu speichernden Daten mit einem Abtastkopf eingelesen und die gespeicherten Daten mit dem Abtastkopf wieder ausgelesen. Die Daten sind auf der Oberfläche des Speichermediums gespeichert. Der Abtastkopf muß also zum Ein- bzw. Auslesen an di#e entsprechende Stelle auf der Oberfläche des Speichermediums geführt werden. Auf einem scheibenförmigen Speichermedium können die Daten in konzentrischen Abtastspuren aufgezeichnet sein. Der Abtastkopf kann dann beispielsweise mit einem Schrittmotor an die gewünschte Abtastspur gebracht werden. Durch eine Drehbewegung um den Plattenmittelpunkt wird das Datenspeichermedium relativ zum Abtastkopf bewegt, so daß er die ganze Abtastspur überstreichen kann.
Für ein einwandfreies Ein- und Auslesen der Daten ist eine genaue Justierung des Abtastkopfes erforderlich.
Der Abtastkopf muß gegenüber einer Abtastspur so angeordnet sein, daß ein Signalpegel der Lesespannung der ein- bzw. auszulesenden Daten einen bestimmten Grenzwert nicht unterschreitet.
Zur Soerprüfung der Abtastkopfjustage bei flexiblen Plattenspeichern ist eine Testplatte bekannt, wie sie beispielsweise in einer Firmenschrift der Dysan Corp., Santa Clara, USA mit dem Titel "Dysan 360/2A Alignment Instructions" (Nr. Dys 079/14 (11/79)) beschrieben ist. Bei der Verwendung dieser Meßplatte ist es erforderlich, einen Zweikanaloszillographen an den Signalausgang des Abtastkopfes anzuschließen. Am Signalverlauf des Lesesignals auf dem Bildschirm des Oszillographen ist zu erkennen, ob der Abtastkopf in einer gewünschten Lage justiert ist.
Bei auftretenden Fehlern ist der Abtastkopf nachzujustieren. Da das Lesen und das Auswerten des Signalverlaufes mit Fehlern verbunden sein kann, ist nach jeder Nachjustierung ein weiterer Testlauf zur Uberprufung erforderlich. Ein weiterer Nachteil bei der Verwendung einer derartigen Testplatte ist, daß die Steuerplatine des Kopfantriebes zum Anschluß der Oszillographenleitungen zugänglich sein muß, was den Ausbau des Antriebs bedeuten kann. Aus dem Erläuterten ist ersichtlich, daß die Durchführung der Messungen mit einem erheblichen Zeitaufwand verbunden ist.
Der Erfindung lag die Aufgabe zugrunde, einen Testrper der eingangs genannten Art anzugeben, mit welchem der Abtastkopf ohne zusätzlichen Meßaufwand durchgeführt wird.
Die Aufgabe wird dadurch gelöst, daß die Abtastspuren zumindest streckenweise als mit einem Testsignal versehene Testspuren ausgebildet sind, und daß diese mit einem positiven und negativem räumlichen Spurversatz gegenüber einer Normallage der Abtastspur angeordnet sind.
Es gibt für jeden Abtastkopf einen spezifischen Grenzwert der Lesespannung, unterhalb dessen er nicht mehr fehlerfrei lesen kann. Dieser Grenzwert kann durch den unterschiedlichen, definierten Spurversatz genau ermittelt werden.
Gemäß einer Weiterbildung der Erfindung ist der Spurversatz innerhalb einer Zone bzw. eines Sektors des Testkörpers konstant und ändert sich beim uebergang von einer Zone bzw. eines Sektors in die bzw. den anderen sprunghaft (Versatzsprung). Das hat den Vorteil, daß das Aufbringen des Spurversatzes auf einfache Weise erfolgen kann, wie in einem späteren Abschnitt beschrieben ist.
Vorteilhafterweise weisen die Testspuren vor jedem Spurversatz mindestens eine Spurstrecke ohne Spurversatz auf. Somit wird ein Uberlappen der Testsignalevermieden.
Vorteilhafterweise sind die Abtastspuren, für welche kein Spurversatz vorgesehen ist, zumindest streckenweise mit einem Betriebsprogramm zur Durchführung des Verfahrens zum Ausrichten des Abtastkopfes belegt.
Gemäß einem weiteren Ausfuhrungsbeispiel der Erfindung ist der Testkörper als Speicherplatte ausgebildet.
Vorteilhafterweise weist der Testkörper Testspuren mit betragsmäßig gleich großem positiven und negativen Spurversatz auf, und sind die Testspuren mit betragsmäßig gleich großem aber entgegengesetzten Spurversatz neben-bzw. hintereinander liegend angeordnet.
Damit wird einer physikalischen Eigenschaft der Speicherplatte Rechnung getragen. Durch die auf den innen liegenden Abtastspuren zunehmende Bitdichte nimmt die Lesespan- nung nach innen auch ohne Spurversatz ab. Zu vergleichende Testspuren mit gleich großem positiven und negativen Versatz müssen daher so nah wie möglich beieinander liegen.
Vorteilhafterweise entspricht der Spurversatz jeweils einem ganzzahligen Bruchteil des Umfangs der Speicherplatte.
Der Erfindung lag darüber hinaus die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zum Ausrichten des Abtastkopfes mittels des Testkörpers anzugeben.
Diese Aufgabe wird dadurch gelöst, daß in einem bekannten Abtastsystem ohne Spuridentifikation ein Ausgleichs~ bewegungen unterdrückender Abtastkopf in Lesestellung gebracht wird, daß die auf dem Testkörper aufgezeichneten Signalaufzeichnungen vom Abtastkopf ausgelesen werden, daß die mit einem positiven und einem negativen betragsmäßig gleich großem Spurversatz angeordneten Testsignale miteinander verglichen werden, daß jeweils bei einer Abweichung der ausgelesenen Testsignale der Betrag und das Vorzeichen des positiven und des negativen Spurversatzes festgehalten wird, daß aus beiden der Mittelwert gebildet wird, und daß der Abtastkopf um den Mittelwert versetzt wird.
Zum überprüfen der Abtastkopfabweichung braucht der Antrieb des Abtastkopfes nicht ausgebaut zu werden. Es ist auch kein zusätzliches Meßgerät, wie beispielsweise ein Oszillograph nötig Der Mittelwert ist einfach zu berechnen. Er kann beispielsweise auch von einer Datenverarbeitungsanlage berechnet werden. Schließlich kann noch auf einfache Weise die Qualität der Leseelektronik beurteilt werden, indem mit diesem Verfahren der Grenzwert ermit- telt wird, unterhalb dessen der Abtastkopf nicht mehr fehlerfrei ausliest.
Eine weitere Aufgabe der Erfindung war, ein Verfahren zum Herstellen des Testkörpers anzugeben.
Diese Aufgabe wird dadurch gelöst, daß in einem bekannten Abtastsystem mit einem Spindelantrieb zum Positionieren des Abtastkopfes der Spindelantrieb zusätzlich mit einem Schneckengetriebe und einem zweiten Schrittmotor versehen wird, daß mit Hilfe des Spindelantriebes der Abtastkopf in die gewünschte Normallage der Abtastspur gebracht wird, daß er zum Erzeugen der Testspuren mit Hilfe des Schneckengetriebes und des zweiten Schrittmotors mit einem positiven bzw. negativen Versatz gegenüber der Normalspur angeordnet wird, und daß dann die Testsignale in bekannter Weise auf den Testkörper aufgebracht werden.
Dieses Verfahren hat den Vorteil, daß zum Herstellen des Testkörpers. ein handelsübliches Abtastsystem eingesetzt ist, welches auf eine einfache Weise abgeändert ist. Der Testkörper kann also mit geringem Aufwand hergestellt werden.
Im folgenden wird die Erfindung anhand eines Ausführungsbeispieles näher erläutert.
FIG 1 zeigt eine schematische Ansicht eines Testkörpers, FIG 2 zeigt eine Anordnung von Abtastspuren auf dem Testkörper FIG 3 und FIG 4 zeigen Antriebseinrichtungen des Abtastkopfes zur Anwendung im Verfahren zum Herstellen des Testkörpers.
FIG 1 zeigt ein sich relativ zu einem Abtastkopf bewegendes Datenspeichermedium für Testzwecke (Testkörper) 1, welches als scheibenförmige Speicherplatte ausgebildet ist. Die Oberfläche des Testkörpers 1 ist mit konzentrischen Abtastspuren 3 versehen. Sie kann geometrisch in Sektoren (Fläche zwischen zwei radial vom Mittelpunkt ausgehenden Linien) bzw. in Zonen (Fläche zwischen zwei konzentrischen Kreisen) aufgeteilt sein. in einem Sektor liegen jeweils Teilstrecken aller Abtastspuren 3, während in einer Zone mindestens eine vollständige Abtastspur 3 3 angeordnet ist.
Die Abtastspuren $ 3 werden von einem nicht dargestellten Abtastkopf abgetastet, der sich während des Abtastvorganges fest über einer Abtastspur befindet, wobei sich der Testkörper um seinen Mittelpunkt dreht. Eine einfalls nicht dargestellte Steuerung des gesamten Abtastsystems führt den Abtastkopf über eine gewünschte Abtastspur 3. Während sich der Testkörper bewegt, werden die entlang der Abtastspur aufgezeichneten Signalaufzeichnungen aus- bzw. eingelesen. Dabei darf die Lesespannung für die Signalaufzeichnungen einen bestimmten Signalpegel nicht unterschreiten, bei welchem das Signal noch eindeutig erkannt wird.
Eine häufige Ursache für Abtastfehler ist eine falsche Justierung des Abtastkopfes. Er kann beispielsweise zu weit links oder zu weit rechts von der Abtastspur 3 justiert sein. Dieser Justierfehler kann dadurch erkannt und bestimmt werden, daß die Abtastspuren 3 zumindest streckenweise als mit einem Testsignal versehene Testspuren 61, 62 ausgebildet sind und daß diese zumindest teilweise mit mindestens einem positiven und negativen räumlichen Spurversatz 6, 6' gegenüber einer Normallage 31 der Abtastspur 3 angeordnet sind. Abtastspuren 3, welche keinen Spurversatz 6,6' aufweisen, sind als gestrichelte Linie dargestellt.
In FIG 2 ist mit 31 die Normallage einer Abtastspur 3 bezeichnet. Bei einer optimalen Justierung ist der Abtastkopf genau über der Normallage 31 angeordnet. Für die beabsichtigten Testzwecke ist die Normallage 31 zumindest streckenweise nicht mit einer Signalaufzeichnung versehen. Stattdessen ist mit einem positiven Spurversatz 6 eine posititG Testspur 62 und mit einem negativen Spurversatz 6' eine negative Testspur 61 mit einem Testsignal versehen. Derrgang vom positiven Spurversatz 6 zum negativen Spurversatz 6' ist als Versatzsprung bezeichnet. Der Versatzsprung kann sowohl innerhalb einer Aufzeichnungsspur 3 erfolgen, als auch beim Uebergang von einer Aufzeichnungsspur 3 in eine andere. Zwischen zwei Versatzsprüngen ist der Spurversatz 6 bzw. 6' konstant. Auf dem Testkörper 1 sind Testspuren 61, 62 mit unterschiedlichen Versatz sprüngen angeordnet. Testspuren 61, 62 mit betragsmäßig gleich großem aber e#tgegengesetztem Spurversatz 6, 6' sind unmittelbar hintereinander angeordnet.
Abtastspuren 3, welche keinen Spurversatz 6, 6' aufweisen, sind zumindest teilweise mit einem Betriebsprogramm zur Durchführung des Verfahrens zum Ausrichten des Abtastkopfes belegt.
Der Testkörper 1 weist 76 konzentrische Abtastspuren 3 auf. Die Zählung der Abtastspuren 3 beginnt auf bekannte Weise mit der am Rand des Testkörpers 1 angeordneten Abtastspur. Sie sind mit Spur 00 bis Spur 76 bezeichnet. Der Spurversatz 6, 6' beträgt jeweils ein ganzzahliges Vielfaches des sechzigsten Teiles des Umfangs der äußersten Abtastspur, beginnend mit 12/60.
Die Abtastspuren 3 auf dem Testkörper 1 sind folgendermaßen angeordnet: Spur 00 bis Spur 16: Ohne Spusversatz 6, 6' mit Betriebs-Spur 17: Nicht beschrieben programm Spur 18: Spurversatz 6 + 12/60 Spur 19: Leer Spur 20: Spurversatz 6' - 12/60 Spur 21: Leer Spur 22: Spurversatz 6 + 14/60 Spur 23: Leer Spur 24: Spurversatz 6' - 14/60 Spur 25: Leer Spur 26: Spurversatz 6 + 16/60 Spur 27: Leer Spur 28: Spurversatz 6' - 16/6o Nach diesem Schema sind alle Abtastspuren 3 bis Spur 56 (Spurversatz 6' - 30/60) versetzt. Aufgrund des hohen Spurversatzes werden nun zwei Abtastspuren 3 ohne Spurversatz 6, 6' angeordnet, um die längeren Einschwingzeiten zu berücksichtigen.
Spur 57: Leer Spur 58: Leer Spur 59: Spurversatz 6 + 32/60 Spur 60 Leer Spur 61: Leer Spur 62: Spurversatz 6' - 32/60 Entsprechend diesem Schema sind die Abtastspuren 3 bis Spur 74 (Versatzsprung 6' - 36/60) angeordnet. Die Spuren 75 und 76 bleiben unbenutzt.
Es können auch andere Versatzsprünge gewählt werden.
Die angeführten Werte haben sich in Versuchen als günstig herausgestellt.
Im folgenden ist das Verfahren zum Ausrichten des Abtastkopfes beschrieben. Der Abtastkopf wird auf bekannte Weise in Lesestellung zum Auslesen des Testkörpers 1 gebracht und liest das auf den Spuren 00 bis 16 aufgebrachte Betriebsprogramm zur Durchführung des Verfahrens. Dieses kann Informationen enthalten, die über ein Datensichtgerät dem Bediener angezeigt werden. Das Betriebsprogramm enthält auch die auf den Testspuren 61, 62 aufgezeichneten Testsignale. Diese werden zum späteren Vergleich mit den tatsächlich ausgelesenen Testsignalen abgespeichert.
Danach wird das auf Spur 18 mit einem positiven Spurversatz 6 aufgezeichnete Testsignal und das auf Spur 20 mit negativem Spurversatz 6' aufgezeichnete Testsignal gelesen. Die beiden gelesenen Testsignale werden mit dem abgespeicherten Testsignal verglichen. -Treten keine Abweichungen auf, so wird das Testsignal mit dem nächstgrößten Spurversatz 6, 6' gelesen. Ab einem bestimmten Spurversatz 6, 6' treten Lesefehler auf, da der Spurversatz 6, 6' zu groß. und damit die Lesespannung zu klein ist. Wenn der Lesefehler bei gleich großem positiven Spurversatz 6 und negativem Spurversatz 6' erstmals auftritt, ist der Abtastkopf richtig justiert. Tritt jedoch der Lesefehler nur bei einem der betragsmäßig gleich großen Spurversätze 6, 6' auf, so ist der Abtastkopf außermittig justiert.
Der Betrag und das Vorzeichen des positiven Spurversatzes 6 und. des negativen Spurversatzes 6', bei welchem der Lesefehler auftritt, werden in einer Datenverarbeitungsanlage festgehalten. Diese bildet daraus den Mittelwert, welcher ein genaues Maß für den Versatz des Abtastkopfes darstellt. Die Größe dieses Spurversatzes 6, 6' kann von Abtastsystem zu Abtastsystem verschieden sein und muß in einem Probelauf für jedes Abtastsystem ermittelt werden.
Die charakteristischen Werte können beispielsweise zusammen mit dem Betriebsprogramm auf dem Testkörper gespeichert sein.
Es sei beispielsweise angenommen, daß am richtig justierten Abtastkopf Lesefehler bei einem Spurversatz 6 von +20/ 60 einer Abtastspur auftreten. Der zu überprüfende Abtastkopf ist jedoch um +4/60 dejustiert. Für die einzelnen Testspuren 61, 62 ergibt sich dann folgender vom Abtastkopf festgestellter Spurversatz 6, 6': Spur: Spurversatz: Resultierender Spurversatz: 18 + 12/60 8/60 20 - 12/60 16/60 22 + 14/60 10/60 24 - 14/60 18/60 26 + 16/60 12/60 28 - 16/60 20/60 30 + 18/60 14/60 32 - 18/60 22/60 34 + 20/60 16/60 36 - 20/60 24/60 38 + 22/60 18/60 40 - 22/60 26/60 42 + 24/60 20/60 44 - 24/60 28/60 46 + 26/60 22/60 48 - 26/60 30/60 etc.
Die ersten Lesefehler treten bei Spur 28 (negativer Spurversatz 6') und bei Spur 42 (positiver Spurversatz 6) auf.
Der Abtastkopf kann also die Signalaufzeichnung einer Abtastspur mit einem Spurversatz 6, 6' bis zu -16/60 und +24/60 fehlerfrei lesen. Diese beiden Spurversätze 6, 6' werden in der Datenverarbeitungsanlage mit Betrag und Vorzeichen festgehalten. Aus den beiden Werten wird der Mittelwert gebildet.
(-16/60) (+24/60) . = +4/60 2 Dieser Mittelwert gibt den Betrag und die Richtung der Abweichung der Lage des Abtastkopfes von der Normallage 31 der Abtastspur 3 an. Er wird also um +4/60 in seiner Lage versetzt. Voraussetzung für die Anwendung dieses Verfahrens ist, daß das Abtastsystem relative Kopfbewegungen durchführen kann, d.h., der Abtastkopf muß ohne Spuridentifikation zu bewegen sein. Außerdem muß der Abtastkopf bei Lesefehlern Ausgleichsbewegungen unterdrücken.
Zusätzlich kann mit Testkörper 1 auch die Qualität des Abtastsystems beurteilt werden. Sie läßt sich aus der Größe der Lesespannung ableiten, die im Minimalfall noch verarbeitet werden kann, und mit einem Qualitätswert-festlegen. Dieser gibt den maximalen Spurversatz bei einem nicht dejustierten Abtastkopf an, bei welchem die Lesespannung noch verarbeitet werden kann. Der Qualitätswert ist folgendermaßen zu ermitteln: ((Absolutbetrag maximaler positiver Spurversatz 6) + (Absolutbetrag maximaler negativer Spurversatz 6'): 2= = Qualitätswert Für das oben beschriebene Beispiel ergibt sich folgender Qualitätswert: (16/60 + 24/60) ~ 20/60 2 Je größer der zulässige Spurversatz 6, 6' bzw. der Qualitätswert ist, umso besser ist das Abtastsystem. Für eine Aussage, ob ein Abtastsystem verwendbar ist oder nicht, sind Erfahrungswerte heranzuziehen.
Im folgenden wird das Verfahren zum Herstellen des Testkörper 1 anhand der FIG 3 und 4 weiter beschrieben. In FIG 3 ist mit 8 der Schrittmotor (erster Schrittmotor) ei- nes handelsüblichen Antriebes für ein Abtastsystem bezeichnet. Die Bewegung des Abtastkopfes wird durch einen nicht dargestellten Spindelantrieb bewirkt. Ein rückseitiger Achsenteil 13 des Spindelantriebes ist über eine Kupplungseinrichtung 12 mit einem Schneckengetriebe verbunden, welches im folgenden im einzelnen beschrieben ist. Die Kupplungseinrichtung 12 verbindet den Achsenteil 13 mit einer in zwei Lagern 9 gehaltenen Welle 14. Diese trägt an ihrem anderen Ende ein Schneckenrad 18 mit 60 Zähnen.
Ein zweiter Schrittmotor 16 mit einer Antriebsachse 11 ist mit zwei Bügeln 17 auf einer Grundplatte 15 gehalten. Die Antriebsachse 11 trägt eine eingängige Schnecke 5 zum Eingriff in das Schneckenrad 18. Dazu muß der zweite Schrittmotor 16 natürlich seitlich versetzt zur Welle 14 angeordnet sein. Durch die Wahl des Schneckenrades 18 mit 60 Zähnen wird eine Untersetzung von 1 zu 60 bei der Übertragung der Drehbewegung der Antriebsachse 11 auf die Welle 14 bzw. auf den Spindelantrieb bewirkt.
Die Lager 9 sind in einem auf der Grundplatte 15 angeordneten Gehäuse 10 auf bekannte Weise gehalten. Ebenso ist die Antriebsachse 11 in einem weiteren Lager 19 auf bekannte Weise geführt.
FIG 4 zeigt die eingängige Schnecke 5 in ihrer Anordnung gegenüber dem Schneckenrad' 18. Die Schnecke 5 ist auf die Antriebswelle 11 aufgesteckt, Diese läuft beim Austritt aus dem zweiten Schrittmotor 16 in einer Führung 4, welche auf dem Bügel 17 gehalten ist. Die Grundplatte 15 weist vier Aussparungen auf, welche zur Befestigung am nicht dargestellten Gehäuse des Antriebssystems dienen.
Ein Spurversatz6,6'auf einer Speicherplatte wird folgendermaßen erzeugt. Der Abtastkopf wird mit dem Schneckengetrie- be und dem ersten Schrittmotor 8 über der Normaispur 31 positioniert (Normallage). Dann wird mit Hilfe des zweiten Schrittmotors 16 und des Schneckengetriebes eine weist tere Drehung des Spindelantriebs bewirkt, welche eine seitliche Auslenkung des Abtastkopfes zur Folge hat. Aufgrund der Untersetzung folgt bei jedem Schritt des zweiten Schrittmotors 16 eine Auslenkung um 1/60. Je nach Drehrichtung des zweiten Schrittmotors 16 wird eine positive bzw. negative Auslenkung erreicht. Die Auslenkung entspricht dem gewünschten Spurversatz 6, 6'. Abhängig von der. gewünschten Größe des Spurversatzes 6, 6' ist eine entsprechende Anzahl von Schritten mit dem zweiten Schrittmotor 16 durchzuführen. ist der Abtastkopf in die gewünschte Lage gebracht, so werden auf bekannte Weise die Testsignale auf den Testkörper 1 aufgebracht.
Die Ankupplung des Schneckengetriebes und des zweiten Schrittmotors 16 an den Spindelantrieb verändert durch das Spiel im Schneckengetriebe die Hysterese des Spindelantriebes. Es ist also die Absolutlage des Abtastkopfes bei dem Antriebssystem vor Erzeugung des Testkörpers 1 zu eichen. Die Hysterese des Schneckengetriebes wird dadurch ausgeglichen, daß zum Eichen und beim Einschreiben der Abtastsignale alle Abtastspuren - 3 von einer Richtung her angefahren werden.
10 Patentansprüche 4 Figuren Leerseite

Claims

Patentansprüche "oN Sich relativ zu einem Abtastkopf bewegendes, eine Signalauf zeichnung entlang einer Abtastspur aufweisendes Datenspeichermedium für Testzwecke (Testkörper), d a -d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß die Abtastspuren ( 3) zumindest streckenweise als mit einem Testsignal versehene Testspuren (61, 62) ausgebildet sind, und daß diese mit mindestens einem positiven und negativen räumlichen Spurversatz (6, 6') gegenüber einer Normallage (31) der Abtastspur (: . 3) angeordnet sind.
2. Testkörper nach Anspruch 1, d a d u r c h g e -k e n n z e i c h n e t , daß der Spurversatz (6, 6') innerhalb einer Zone bzw. eines Sektors des Testkörpers (1) konstant ist, und er beim uebergang von einer Zone bzw. eines Sektors in die bzw. den anderen einen Versatzsprung aufweist.
3. Testkörper nach Anspruch 2, d a d u r c h g e -k e n n z e i c h n e t , daß die Testspuren (62, 63) vor jedem Spurversatz (6, 6') eine Spurstrecke (7) ohne Spur--versatz (6, 6') aufweisen.
4. Testkörper nach einem der vorhergehenden Ansprüche, d a d u r c h g ek e n n z e i c h n e t , daß die Abtastspuren ( 3), für welche kein Spurversatz (6, 6') vorgesehen ist, zumindest streckenweise mit einem Betriebsprogramm zur Durchführung des Verfahrens zum Ausrichten des Abtastkopfes bewegt sind.
5. Testkörper nach einem der vorhergehenden Ansprüche, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß der ,Testkörper (1) als Speicherplatte ausgebildet ist.
6. Testkörper nach Anspruch 2, d a d u r c h g e -k e n n z e i c h n e t , daß der Testkörper (1) Testspuren (61, 62) mit betragsmäßig gleich großem positiven und negativen Spurversatz (6, 6') aufweist,# und daß -Testspuren (61, 62) mit betragsmäßig gleich großem aber entgegengesetztem Spurversatz (6, 6') nebeneinander- bzw.

hintereinanderliegend angeordnet sind.
7. Testkörper nach Anspruch 5, d a d u r c h g e -k e n n z e i c h n e t , daß der Spurversatz (6, 6') jeweils einem ganzzahligen Bruchteil des Umfanges der Speicherplatte entspricht.
8. Verfahren zum Ausrichten des Abtastkopfes mittels des Testkörpers, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t, daß in einem bekannten Abtastsystem ohne Spuridentifikation ein Ausgleichsbewegungen unterdrückender Abtastkopf in Lesestellung gebracht wird, daß die auf dem Testkörper (1) aufgezeichneten Signalaufzeichnungen vom Abtastkopf ausgelesen werden, daß die mit einem positiven und einem negativen betragsmäßig gleich großen Spurversatz (6, 6') angeordneten Testsignale miteinander verglichen werden, daß jeweils bei einer Abweichung der ausgelesenen Testsignale der Betrag und das Vorzeichen des positiven und des negativen Spurversatzes (6, 6') festgehalten wird, daß aus beiden der Mittelwert gebildet wird und daß die Lage des Abtastkopfes um den Mittelwert versetzt wird.
9. Verfahren zum Herstellen des Testkörpers, d a -d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß in einem Abtastsystem mit einem Spindelantrieb zum Positionieren des Abtastkopfes der Spindelantrieb zusätzlich mit einem Schneckengetriebe und einem zweiten Schrittmotor (16) versehen wird, daß mit Hilfe des Spindelantriebes der Abtastkopf in die gewünschte Normallage (315 der Abtastspur (3) gebracht wird, daß er zum Erzeugen der Testspuren (61, 62) mit Hilfe des Schneckengetriebes und des zweiten Schrittmotors (8) mit einem positiven bzw. negativen Spurversatz (6, 6') gegenüber der Normallage (31) angeordnet wird, und daß dann die Testsignale auf den Testkörper (1) aufgebracht werden.
10. Verfahren zur Ermittlung eines Qualitätswertes eines Abtastsystems mittels des Testkörpers, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß in einem bekannten Abtastsystem ohne Spuridentifikation ein Aus-gleichsbewegungen unterdrückender, nicht dejustierter Abtastkopf in Lesestellung gebracht wird, daß die auf dem Testkörper (i) aufgezeichneten Signalaufzeichnungen vom Abtastkopf ausgelesen werden, daß die mit einem positiven und einem negativen betragsmäßig gleich großen Spurversatz (6, 6') angeordneten Testsignale miteinander verglichen werden, daß bei einer maximalen, noch verarbeitbaren Abweichung der ausgelesenen Testsignale der Absolutbetrag des jeweiligen positiven und des jeweiligen negativen Spurversatzes (6, 6') festgehalten wird, und daß aus beiden der den Qualitätswert darstellende Mittelwert gebildet wird.