JPS60254649A - 半導体集積回路装置 - Google Patents
半導体集積回路装置Info
- Publication number
- JPS60254649A JPS60254649A JP59110157A JP11015784A JPS60254649A JP S60254649 A JPS60254649 A JP S60254649A JP 59110157 A JP59110157 A JP 59110157A JP 11015784 A JP11015784 A JP 11015784A JP S60254649 A JPS60254649 A JP S60254649A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wiring
- bonding
- vcc
- gnd
- pad
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L24/49—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/4813—Connecting within a semiconductor or solid-state body, i.e. fly wire, bridge wire
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/49—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/49—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
- H01L2224/491—Disposition
- H01L2224/4912—Layout
- H01L2224/49175—Parallel arrangements
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/14—Integrated circuits
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(技術分野)
本発明は半導体集積回路装置に関し、特にボンディング
ワイヤーによシボンディングパッド間の電気的内部配線
を含むパターンレアウトをした半導体集積回路装置に関
する。
ワイヤーによシボンディングパッド間の電気的内部配線
を含むパターンレアウトをした半導体集積回路装置に関
する。
(従来技術)
従来、半導体集積回路装置のパターンレアウトはチップ
内に目的とする回路機能の全てを閉じた状態でレアウト
しなければならなかった。即ち、例えばGND電源配線
は、チップ上にそれぞれ分離して配置された回路ブロッ
ク群のGND端子について全部に渡シ、接続配線しなけ
ればならない。
内に目的とする回路機能の全てを閉じた状態でレアウト
しなければならなかった。即ち、例えばGND電源配線
は、チップ上にそれぞれ分離して配置された回路ブロッ
ク群のGND端子について全部に渡シ、接続配線しなけ
ればならない。
ところで近年、特に半導体記憶回路装置のパターンレア
ウトに見られるように記憶素子群以外のいわゆる周辺回
路ブロックがチップの互いに向い合った2辺部にのみ配
置された場合、他の2辺部でのGND電源配線は単に、
互いに分離して配置された周辺回路ブロック間のGND
電源線接続用のみとして機能している。このことはGN
D電源配線のみならずVcc電源配線でも同様である。
ウトに見られるように記憶素子群以外のいわゆる周辺回
路ブロックがチップの互いに向い合った2辺部にのみ配
置された場合、他の2辺部でのGND電源配線は単に、
互いに分離して配置された周辺回路ブロック間のGND
電源線接続用のみとして機能している。このことはGN
D電源配線のみならずVcc電源配線でも同様である。
電源配線のパターンレイアウトは特に回路特性のみなら
ず機能遂行の有無にも大きく影智を与えることから、配
線抵抗に対する考慮が十分に成されていなければならな
い。一般的にその配線幅は、30μm前稜となっている
。従って回路ブロックの配置されていない前記電源配線
領域においては、特にレイアウト面積が、その配線幅で
制約されるという欠点があった。
ず機能遂行の有無にも大きく影智を与えることから、配
線抵抗に対する考慮が十分に成されていなければならな
い。一般的にその配線幅は、30μm前稜となっている
。従って回路ブロックの配置されていない前記電源配線
領域においては、特にレイアウト面積が、その配線幅で
制約されるという欠点があった。
この欠点はチップ面積の制約にも直接関係するもので、
特に近年の半導体記憶装置装置尋においては、記憶容量
の増大に伴って前記欠点がよシ表面化してきている。
特に近年の半導体記憶装置装置尋においては、記憶容量
の増大に伴って前記欠点がよシ表面化してきている。
第1図は従来から実施されているパターンレイアウトと
パッケージ上でのボンディング後の半導体集積回路の斜
視図である。なお第1図では、わかシ易くするため、v
CC及びGNDN重両配線に関するレイアウト及びボン
ディングのみを図示しである。第1図において、互いに
向い合った2辺に配置されたVcc電源用パ、ド1とG
ND電源用パッド2は、それぞれ沖」一方向に配置され
たパッケージのVcc端子用ステッチ3及びGND端子
用ステッチ4ヘボンディングワイヤーによって接続され
ている。
パッケージ上でのボンディング後の半導体集積回路の斜
視図である。なお第1図では、わかシ易くするため、v
CC及びGNDN重両配線に関するレイアウト及びボン
ディングのみを図示しである。第1図において、互いに
向い合った2辺に配置されたVcc電源用パ、ド1とG
ND電源用パッド2は、それぞれ沖」一方向に配置され
たパッケージのVcc端子用ステッチ3及びGND端子
用ステッチ4ヘボンディングワイヤーによって接続され
ている。
チップ上にレイアウトされた回路機能ブロックはGND
バッド側ブロック5.6とvCCパッド側ブロック7.
8とにそれぞれ分離して配置されている。又、vCC配
線9及びGND配#10は前記回路機能プEll15+
り5.6.7.8にそれぞれ供給するために、チップの
全周に渡って30μmの配線幅で配線されている。この
ようにチップ上の電源配線を全周に渡ってレイアウトす
ることによって回路ブロックが配置されていない側の2
辺部では、互いに分離して配置された周辺回路ブロック
の電源線接続用のみの意味合いが強くなっている。又、
前記領域での電源配線幅は配線抵抗の考慮から一概に狭
くすることは出来ない。従って前記したようにレイアウ
ト面積の増大をまぬがれることが出来なくなシ、特に前
記したように、回路ブロックが配置されていない前記電
源配線領域においては、特にレアウト面積がその配線幅
で制約されるという欠点があった。
バッド側ブロック5.6とvCCパッド側ブロック7.
8とにそれぞれ分離して配置されている。又、vCC配
線9及びGND配#10は前記回路機能プEll15+
り5.6.7.8にそれぞれ供給するために、チップの
全周に渡って30μmの配線幅で配線されている。この
ようにチップ上の電源配線を全周に渡ってレイアウトす
ることによって回路ブロックが配置されていない側の2
辺部では、互いに分離して配置された周辺回路ブロック
の電源線接続用のみの意味合いが強くなっている。又、
前記領域での電源配線幅は配線抵抗の考慮から一概に狭
くすることは出来ない。従って前記したようにレイアウ
ト面積の増大をまぬがれることが出来なくなシ、特に前
記したように、回路ブロックが配置されていない前記電
源配線領域においては、特にレアウト面積がその配線幅
で制約されるという欠点があった。
(発明の目的)
本発明の目的紘、前記欠点を緩和するか、更には除去し
、回路機能及び特性を確保し、チップ面積の効果的利用
をはかると共に、特に半導体記憶装置の記憶容量の増大
にも対応できるパターンレイアウトを施した半導体集積
回路装置を提供することにある。
、回路機能及び特性を確保し、チップ面積の効果的利用
をはかると共に、特に半導体記憶装置の記憶容量の増大
にも対応できるパターンレイアウトを施した半導体集積
回路装置を提供することにある。
(発明の構成)
本発明の半導体集積回路装置は、ボンディングバット間
に内部配線を必要とする半導体集積回路の複数個のポン
ディングパッド間をボンディングワイヤーで電気的に接
続することによ多構成される。
に内部配線を必要とする半導体集積回路の複数個のポン
ディングパッド間をボンディングワイヤーで電気的に接
続することによ多構成される。
(実施例)
以下、本発明の実施例について、図面を参照して説明す
る。
る。
第2図は本発明の一実施例のパターンレイアウトとパッ
ケージ上でのボンディング状況を示す斜視図である。な
お第2図においても、従来例の第1図と同様Vcc及び
GNDN重両配線に関するレイアウト及びボンディング
のみを図示している。
ケージ上でのボンディング状況を示す斜視図である。な
お第2図においても、従来例の第1図と同様Vcc及び
GNDN重両配線に関するレイアウト及びボンディング
のみを図示している。
第2図に示すように、Vcc電源用パッド11及びGN
D電源用パッド12は従来例同様同一方向に配置された
パッケージのVcc端子用ステッチ13及びGND端子
用ステッチ14ヘボンディングワイヤーによって接続さ
れている。又、回路機能ブロック15,16,17.1
8も従来例同様GNDパッド側及びVccパッド側のみ
に配置されている。
D電源用パッド12は従来例同様同一方向に配置された
パッケージのVcc端子用ステッチ13及びGND端子
用ステッチ14ヘボンディングワイヤーによって接続さ
れている。又、回路機能ブロック15,16,17.1
8も従来例同様GNDパッド側及びVccパッド側のみ
に配置されている。
次に、チップ上のVcc配線19及びGND配線20は
従来例とは違い、チップの全周を配線せず回路機能ブロ
ックのある2辺側のみに行い、更に両辺のみに配線した
Vcc配f5!19及びGND配線20の一端に、それ
ぞれVcc配線用ポンディングパッド21及びGND配
線用ボンディングバット22を設ける。最稜にパッケー
ジ上において、Vcc及びGND配線用ポンディングパ
ッド21及び22同志をボンディングワイヤーでボンデ
ィングすることによシ本実施例は完成する。
従来例とは違い、チップの全周を配線せず回路機能ブロ
ックのある2辺側のみに行い、更に両辺のみに配線した
Vcc配f5!19及びGND配線20の一端に、それ
ぞれVcc配線用ポンディングパッド21及びGND配
線用ボンディングバット22を設ける。最稜にパッケー
ジ上において、Vcc及びGND配線用ポンディングパ
ッド21及び22同志をボンディングワイヤーでボンデ
ィングすることによシ本実施例は完成する。
以上説明したように、本実施例によれは、回路機能ブロ
ックのないチップ領域はボンティングワイヤーでバイパ
スすることによシ、チップ面積の縮小化が計れるばかシ
でなく、更に従来よシ配線抵抗が小さくでき特性向上に
も効果がある。
ックのないチップ領域はボンティングワイヤーでバイパ
スすることによシ、チップ面積の縮小化が計れるばかシ
でなく、更に従来よシ配線抵抗が小さくでき特性向上に
も効果がある。
すなわち図示のように回路機能ブロックのないチップ領
域のポンディングパッド間の内部配線を省略しボンデイ
ン少ワイヤーで接続することによシチップ面積の有効利
用ができる。またVcc配線。
域のポンディングパッド間の内部配線を省略しボンデイ
ン少ワイヤーで接続することによシチップ面積の有効利
用ができる。またVcc配線。
GND配線も通常の配線幅で形成し配線面積の縮小化を
はかシ、配線抵抗が小さく、電流容量を必要とするポン
ディングパッド間をボンティングワイヤーで接続するこ
とによシ目的を達成することができる。
はかシ、配線抵抗が小さく、電流容量を必要とするポン
ディングパッド間をボンティングワイヤーで接続するこ
とによシ目的を達成することができる。
なおボンティングワイヤーの接続位置にボンディングワ
イヤー接続用のボンティングパッドを設けておけば、よ
シ容易に接続ができる。
イヤー接続用のボンティングパッドを設けておけば、よ
シ容易に接続ができる。
なお、本実施例ではボンディングワイヤーによるバイパ
スをVcc及びGNDの両電源について行なったが、ど
ちらか一方だけでも効果があることは勿論である。
スをVcc及びGNDの両電源について行なったが、ど
ちらか一方だけでも効果があることは勿論である。
又、本発明を半導体記憶回路装置K適用すると特に効果
的である。
的である。
(発明の効果)
以上説明したとおシ、本発明によれば、回路機能及び特
性を確保し、チップ面積の効果的利用をすることが可能
で特に半導体記憶装置の記憶容量の増大に対応できるパ
ターンレイアウトを持った半導体集積回路装置が得られ
る。
性を確保し、チップ面積の効果的利用をすることが可能
で特に半導体記憶装置の記憶容量の増大に対応できるパ
ターンレイアウトを持った半導体集積回路装置が得られ
る。
第1図は従来の半導体集積回路装置のパターンレイアウ
トとパッケージ上でのボンディング状況を示す斜視図、
第2図は本発明の一実施例のパターンレイアウトとパッ
ケージ上でのボンディング状況を示す斜視図である。 1.11・・・・・・Vcc電源用ポンディングパッド
、2.12・・・・・・GND電源用ポンディングパッ
ド、3.13・・・・・・Vcc電源用ステッチ、4.
14・・・・・・GND電源用ステッチ、5,6,7,
8,15,16゜17.18・・・・・・回路機能ブロ
ック、9.19・・川・Vcc配線、10.20・・・
・GND配糾、21・・・・・・Vccバイパス用ポン
ディングパッド、22・・・山GNDバイハス用ポンデ
ィングパッド。 茶 1 図 某 2 図
トとパッケージ上でのボンディング状況を示す斜視図、
第2図は本発明の一実施例のパターンレイアウトとパッ
ケージ上でのボンディング状況を示す斜視図である。 1.11・・・・・・Vcc電源用ポンディングパッド
、2.12・・・・・・GND電源用ポンディングパッ
ド、3.13・・・・・・Vcc電源用ステッチ、4.
14・・・・・・GND電源用ステッチ、5,6,7,
8,15,16゜17.18・・・・・・回路機能ブロ
ック、9.19・・川・Vcc配線、10.20・・・
・GND配糾、21・・・・・・Vccバイパス用ポン
ディングパッド、22・・・山GNDバイハス用ポンデ
ィングパッド。 茶 1 図 某 2 図
Claims (3)
- (1) ボンディングバット間に内部配線を必要とする
半導体集積回路の複数個のポンディングパッド間をボン
ディングワイヤーで電気的に接続することを特徴とする
半導体集積回路装置。 - (2)ボンディングワイヤーで相互に電気的に接続され
た複数個のポンディングパッド間は内部配線が省略され
ていることを特徴とする特許請求の範囲第(1)項記載
の半導体集積回路装置。 - (3) ボンディングワイヤで相互に接続されているボ
ンディングパットに接続されている配線は電源供給用配
線であることを特徴とする特許請求の範囲第(1)項又
祉第(2)項記載の半導体集積回路装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59110157A JPS60254649A (ja) | 1984-05-30 | 1984-05-30 | 半導体集積回路装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59110157A JPS60254649A (ja) | 1984-05-30 | 1984-05-30 | 半導体集積回路装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60254649A true JPS60254649A (ja) | 1985-12-16 |
Family
ID=14528494
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59110157A Pending JPS60254649A (ja) | 1984-05-30 | 1984-05-30 | 半導体集積回路装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60254649A (ja) |
-
1984
- 1984-05-30 JP JP59110157A patent/JPS60254649A/ja active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5596225A (en) | Leadframe for an integrated circuit package which electrically interconnects multiple integrated circuit die | |
JP2859223B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP2943781B2 (ja) | 半導体メモリ | |
JP2685037B2 (ja) | セラミックケース | |
JP2681427B2 (ja) | 半導体装置 | |
JPS60254649A (ja) | 半導体集積回路装置 | |
CN106298709B (zh) | 低成本扇出式封装结构 | |
JPH05243482A (ja) | 半導体集積回路 | |
JPH07169840A (ja) | 半導体装置 | |
JPH04349640A (ja) | アナログ・デジタル混在集積回路装置実装体 | |
JPS6265449A (ja) | 半導体集積回路装置 | |
GB2285335A (en) | Semiconductor device | |
JPH0770666B2 (ja) | 集積回路装置実装パツケ−ジ | |
JP3184384B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP2842592B2 (ja) | 半導体集積回路装置 | |
JPH01145842A (ja) | 半導体装置 | |
JPH0241904B2 (ja) | ||
JPH01111342A (ja) | 集積回路用パッケージ | |
JPH0377324A (ja) | 半導体集積回路 | |
US20080128877A1 (en) | Semiconductor device | |
JPH05226568A (ja) | 半導体装置 | |
JPS6240752A (ja) | 半導体装置 | |
JPH0478172B2 (ja) | ||
JPS6020239Y2 (ja) | バブルメモリチツプ | |
JPH05175414A (ja) | 集積回路の実装方法 |