JPS60253833A - 光フアイバアナライザ - Google Patents
光フアイバアナライザInfo
- Publication number
- JPS60253833A JPS60253833A JP10989884A JP10989884A JPS60253833A JP S60253833 A JPS60253833 A JP S60253833A JP 10989884 A JP10989884 A JP 10989884A JP 10989884 A JP10989884 A JP 10989884A JP S60253833 A JPS60253833 A JP S60253833A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical fiber
- point
- waveform
- points
- crt
- Prior art date
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3109—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR
- G01M11/3145—Details of the optoelectronics or data analysis
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（ａ） 発明の技術分野
この発明は、光ファイバからの反射光をＣＲＴに表示す
ることにより、光ファイバの減衰特性を測定するように
した光フアイバアナライザにおいて、Ｃ，ＲＴに表示さ
れた波形が雑音の多い波形になっている場合に、この波
形をｉｌ！ｊａ化して見やすくなるようにするものであ
る。
ることにより、光ファイバの減衰特性を測定するように
した光フアイバアナライザにおいて、Ｃ，ＲＴに表示さ
れた波形が雑音の多い波形になっている場合に、この波
形をｉｌ！ｊａ化して見やすくなるようにするものであ
る。
（ｂ） 従来技術と問題点
最初に、従来装置の構成図を第１図に示す。
第１図の１は光源、２は方向性結合器、３は測定される
光ファイバ、４は検出器、５はＣＲＴである。
光ファイバ、４は検出器、５はＣＲＴである。
第１図の光源１は方向性結合器２を経由して測定光を光
ファイバ３に入射する。光ファイバ３による測定光の反
射波は方向性結合器２を経由して検出；：；４に入射す
る。４ｉｉ？出器４で電気信ぢに変換された反射波は、
ＣＲＴ５に表示される。
ファイバ３に入射する。光ファイバ３による測定光の反
射波は方向性結合器２を経由して検出；：；４に入射す
る。４ｉｉ？出器４で電気信ぢに変換された反射波は、
ＣＲＴ５に表示される。
次に、第１図のＣＲＴ ５に表示される反射波形の一例
を第２図に示す。
を第２図に示す。
第２図の波形ＣＩの左側が光ファイバ３の入射端３１側
の状態を示し、右側に進むにつれて光ファイバ３の端末
３２側の状態を示すようになっている。
の状態を示し、右側に進むにつれて光ファイバ３の端末
３２側の状態を示すようになっている。
波形Ｃ１は右下りになっており、右側にいくにつれて反
射波形が減衰することを示している。
射波形が減衰することを示している。
波形Ｃ＋の点Ｃ＋＋部分はＳＮか良好な部分であるか、
点ＣＩ２の部分になると雑音が増え、ＳＮが不良になっ
ている。また、点ＣＩ３の部分は光ファイバ３の接続個
所などの接続損失を示す。
点ＣＩ２の部分になると雑音が増え、ＳＮが不良になっ
ている。また、点ＣＩ３の部分は光ファイバ３の接続個
所などの接続損失を示す。
第２図から明らからように、点ＣＩ２の部分は雑音か多
く、光ファイバ３の減衰特性か不明確になっている。
く、光ファイバ３の減衰特性か不明確になっている。
（Ｃ） 発明の目的
この発明は、ＣＲＴに表示された波形が雑音の多い波形
になっている場合番ご、波形上に特定点を設け、との特
定点間を直線化することにより、見やすい波形に変換す
ることを目的とする。
になっている場合番ご、波形上に特定点を設け、との特
定点間を直線化することにより、見やすい波形に変換す
ることを目的とする。
（ｄ） 発明の実施例
まず、この発明による定点の決め方を第３図により説明
する。
する。
第３図の波形Ｃ２は第２図の波形Ｃ＋ 七同じように、
第１図の光ファイバ３に対し入（ＩＪＱＷ３１側から測
定光を入射した場合の波形である。
第１図の光ファイバ３に対し入（ＩＪＱＷ３１側から測
定光を入射した場合の波形である。
第３図は３つの光ファイバを接続した場合の波形を例示
したものであり、点Ｃ２＋ １点Ｃ２３および点Ｃ２６
はそれぞれ光ファイバ３の接続点を示す。
したものであり、点Ｃ２＋ １点Ｃ２３および点Ｃ２６
はそれぞれ光ファイバ３の接続点を示す。
接続点Ｃ２＋ ％ Ｃ２３、Ｃ２５に続く部分は光ファ
イバ３の接続損失のため段差が発生しており、この段差
は横方向にずれた形になっている。
イバ３の接続損失のため段差が発生しており、この段差
は横方向にずれた形になっている。
これはアナライザが仔限の帯域幅をもっているためて、
通常は段差の横方向の長さは光ファイバ３に入射する測
定光のパルス幅の２倍以下であり、理想状ＩＢでは測定
光の１パルス分−の幅たけずれる。
通常は段差の横方向の長さは光ファイバ３に入射する測
定光のパルス幅の２倍以下であり、理想状ＩＢでは測定
光の１パルス分−の幅たけずれる。
したかって、理想状態では測定光のパルス幅の長さたけ
、通常は測定光のパルスφｊＡの２倍以−Ｌの長さたけ
接続点Ｃ２＋ 、Ｃ２３からそれぞれ右側に寄った点Ｃ
２２、点Ｃ２４のところでは段差の影響かない波形にな
っている。
、通常は測定光のパルスφｊＡの２倍以−Ｌの長さたけ
接続点Ｃ２＋ 、Ｃ２３からそれぞれ右側に寄った点Ｃ
２２、点Ｃ２４のところでは段差の影響かない波形にな
っている。
なお、測定光にはパルス幅が０．１〜２μ５ｔｕｆｆの
パルスを使用することが多い。
パルスを使用することが多い。
この発明は、接続点Ｃ２Ｉｓ Ｃ２３などの次にそれぞ
れ定点Ｃ２２、Ｃ２４などを定め、定点Ｃ２２と接続点
Ｃ２３の間、定点Ｃ２４と接続点Ｃ２５の間などのよう
に雑音の多い区間を最小二乗法により直線化しようとす
るものである。
れ定点Ｃ２２、Ｃ２４などを定め、定点Ｃ２２と接続点
Ｃ２３の間、定点Ｃ２４と接続点Ｃ２５の間などのよう
に雑音の多い区間を最小二乗法により直線化しようとす
るものである。
最小二乗法による直線化とは、振幅のある波形に対し振
幅の中心付近を通る直線をめるものであり、具体的手段
は次のとおりである。
幅の中心付近を通る直線をめるものであり、具体的手段
は次のとおりである。
求める直線をＹ＝ａＸ＋ｂとしたとき、最小二乗法では
、 ・ Ｆ （ａ、 ｂ） ＝Σ（Ｙ＋ ａＸ＋ ｂ） ’ −
−−・・（１）式（１）が最小になるようにａ、ｂを決
定する。
、 ・ Ｆ （ａ、 ｂ） ＝Σ（Ｙ＋ ａＸ＋ ｂ） ’ −
−−・・（１）式（１）が最小になるようにａ、ｂを決
定する。
例えば定点Ｃ２２と接続点Ｃ２３の間を直線化するには
、この区間のＸ輛、Ｙ軸のデータから、○Ｆ ／ ９
ａ ＝ ０．９ Ｆ ／ ９ ｂ ＝ ０になるような
ａｌｂをめる。これにより、この区間を直ＩＹ＝ａＸ＋
ｂに置換することができる。
、この区間のＸ輛、Ｙ軸のデータから、○Ｆ ／ ９
ａ ＝ ０．９ Ｆ ／ ９ ｂ ＝ ０になるような
ａｌｂをめる。これにより、この区間を直ＩＹ＝ａＸ＋
ｂに置換することができる。
なお、最小二乗法の他に、移動平均法によっても振幅の
多い波形を直線化することができる。
多い波形を直線化することができる。
次に、この発明によりｔｉ１ｇ化した波形図の一例を第
４図に示す。
４図に示す。
第４図では、第３図の接続点Ｃ２１１接続点Ｃ２３の接
続損失による段差のために生じた横方向への拡がりを波
形上なくシ、接続点Ｃ２＋％接続Ｃ２３などを基点にし
てＩｎ′ｍを引いている。
続損失による段差のために生じた横方向への拡がりを波
形上なくシ、接続点Ｃ２＋％接続Ｃ２３などを基点にし
てＩｎ′ｍを引いている。
（ｅ） 発明の効果
この発明によれば、第３図のように雑音の多い波形を第
４図のように直線化して表示することができるので、光
ファイバの初期布設時の損失特性を見やすい形で保管し
、以後の保守測定時の基準特性として利用することがで
きる。
４図のように直線化して表示することができるので、光
ファイバの初期布設時の損失特性を見やすい形で保管し
、以後の保守測定時の基準特性として利用することがで
きる。
第１図は従来装置の構成図、
第２図は第１ｅｉ１７１Ｃ’ＲＴ５に表示される反射波
′形の一例、 第３図はこの発明による定点の決め方の説明図、第４図
はこの発明により直線化した波形図の一例を示す図。 １・・・・・光源、２・・・・・・方向性結合器、３・
・・・光ファイバ、４・・・・・・検出器、５・・・・
・・ＣＲＴ、３１・・・・・入射端、３２・・・・・・
端末。 特許出願人 東北電力株式会社 安藤電気株式会社 代理人 弁理士 小俣欽司 第１図 第２図 第３図 第４因
′形の一例、 第３図はこの発明による定点の決め方の説明図、第４図
はこの発明により直線化した波形図の一例を示す図。 １・・・・・光源、２・・・・・・方向性結合器、３・
・・・光ファイバ、４・・・・・・検出器、５・・・・
・・ＣＲＴ、３１・・・・・入射端、３２・・・・・・
端末。 特許出願人 東北電力株式会社 安藤電気株式会社 代理人 弁理士 小俣欽司 第１図 第２図 第３図 第４因
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、 光ファイバに測定光を入射し、前記光ファイバに
よる前記測定光の反射波を検出器で検出し、前記検出器
出力をＣＲＴに表示する光ファイ／＼アナライザにおい
て、 前記ＣＲＴに表示された波形に対し、ｌｊｌ記■す定光
のパルス幅以上の長さたけ前記光ファイバの各接続一点
から前記光ファイバの端末側に寄ったところを定点とし
、ｆｆｉ＋記定点と次の接続点までの区間を前記区間の
データから最少二乗法により直線化して表示することを
特徴とする光フアイバアナライザ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10989884A JPS60253833A (ja) | 1984-05-30 | 1984-05-30 | 光フアイバアナライザ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10989884A JPS60253833A (ja) | 1984-05-30 | 1984-05-30 | 光フアイバアナライザ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60253833A true JPS60253833A (ja) | 1985-12-14 |
Family
ID=14521954
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10989884A Pending JPS60253833A (ja) | 1984-05-30 | 1984-05-30 | 光フアイバアナライザ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60253833A (ja) |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56103369A (en) * | 1980-01-21 | 1981-08-18 | Nissin Electric Co Ltd | Observing device of acute wave current waveform |
| JPS5842934A (ja) * | 1981-09-08 | 1983-03-12 | Sumitomo Metal Ind Ltd | パワ−スペクトルのスム−ジング方法 |
| JPS58113831A (ja) * | 1981-12-28 | 1983-07-06 | Fujitsu Ltd | 損失分布測定装置 |
| JPS5961739A (ja) * | 1982-09-30 | 1984-04-09 | Anritsu Corp | 光ケ−ブルの接続損失測定装置 |
-
1984
- 1984-05-30 JP JP10989884A patent/JPS60253833A/ja active Pending
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56103369A (en) * | 1980-01-21 | 1981-08-18 | Nissin Electric Co Ltd | Observing device of acute wave current waveform |
| JPS5842934A (ja) * | 1981-09-08 | 1983-03-12 | Sumitomo Metal Ind Ltd | パワ−スペクトルのスム−ジング方法 |
| JPS58113831A (ja) * | 1981-12-28 | 1983-07-06 | Fujitsu Ltd | 損失分布測定装置 |
| JPS5961739A (ja) * | 1982-09-30 | 1984-04-09 | Anritsu Corp | 光ケ−ブルの接続損失測定装置 |
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