JPS5961739A - 光ケ−ブルの接続損失測定装置 - Google Patents
光ケ−ブルの接続損失測定装置Info
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- JPS5961739A JPS5961739A JP17244882A JP17244882A JPS5961739A JP S5961739 A JPS5961739 A JP S5961739A JP 17244882 A JP17244882 A JP 17244882A JP 17244882 A JP17244882 A JP 17244882A JP S5961739 A JPS5961739 A JP S5961739A
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
不発明は、光ケーブルの損失測定方式、特に元ケーブル
内で反射して戻ってきた光信号全電気信号に変換し、平
均化処理及び対数変換処理を行って表示装置に表示され
た反射信号波形から被測定ケーブルの損失を求める損失
測定方式において、反射信号波形の近似式Ｗ （！）る
のに最小二乗法の手法全纏入して直線近似式を求め、該
直線近似式から損失を求めるようにした元ケーブルの損
失測定方式に関するものである。
内で反射して戻ってきた光信号全電気信号に変換し、平
均化処理及び対数変換処理を行って表示装置に表示され
た反射信号波形から被測定ケーブルの損失を求める損失
測定方式において、反射信号波形の近似式Ｗ （！）る
のに最小二乗法の手法全纏入して直線近似式を求め、該
直線近似式から損失を求めるようにした元ケーブルの損
失測定方式に関するものである。
光ケーブル、すなわち元ファイバの一端から元ノぞルス
金入射したとき、その元ファイバの入射端側に戻ってく
る反射光には２種類がある。一つは破断点の端面から反
り＝Ｉ して戻ってくるフレネル反射光であり、もう一
つは元ファイバコアに存在する屈折率の微小なゆらぎに
よって元が散乱するレーリ散乱のうち入射端方向に戻っ
てくる後方散乱光である。後方散乱光は元ファイバ内の
めらゆる点から戻ってくるので、長さ方向に対し指数関
数的に散乱量が分布してお９、それｔ対数変換すること
によって直線で表示される。従がって第１図（Ｉｆ）図
示のモデル化された後方散乱波形の一例に示されている
如く、後方散乱光は直線となる。そして光ファイバの破
断点４は後方散乱光の消滅Ｇによって判定でき、接続損
失は段差Ａ、Ｂとして、また光損失（ｄＢ／ｋｍ ）は
その傾きによシそれぞれ求めることができる。なお＠１
南（１）において、符号１ ｒ、を光ケーブル、２は融
層接続点、３はコネクタ接続点％４は破断点を表わし、
第１図＋ＩＩ）において、縦軸は受信レベル（ｄＢＪを
、横軸は距離（ｋｍｌを表わしている。また符号りは元
ケーブル１の入射端面からのフレネル反射、Ｂ１コネク
タ接続面（点）３からのフレネル反射、Ｆは破断面（点
ン４からの７レネル反射、０１ないしＣ３は後方散乱波
形それぞれ表わしている。
金入射したとき、その元ファイバの入射端側に戻ってく
る反射光には２種類がある。一つは破断点の端面から反
り＝Ｉ して戻ってくるフレネル反射光であり、もう一
つは元ファイバコアに存在する屈折率の微小なゆらぎに
よって元が散乱するレーリ散乱のうち入射端方向に戻っ
てくる後方散乱光である。後方散乱光は元ファイバ内の
めらゆる点から戻ってくるので、長さ方向に対し指数関
数的に散乱量が分布してお９、それｔ対数変換すること
によって直線で表示される。従がって第１図（Ｉｆ）図
示のモデル化された後方散乱波形の一例に示されている
如く、後方散乱光は直線となる。そして光ファイバの破
断点４は後方散乱光の消滅Ｇによって判定でき、接続損
失は段差Ａ、Ｂとして、また光損失（ｄＢ／ｋｍ ）は
その傾きによシそれぞれ求めることができる。なお＠１
南（１）において、符号１ ｒ、を光ケーブル、２は融
層接続点、３はコネクタ接続点％４は破断点を表わし、
第１図＋ＩＩ）において、縦軸は受信レベル（ｄＢＪを
、横軸は距離（ｋｍｌを表わしている。また符号りは元
ケーブル１の入射端面からのフレネル反射、Ｂ１コネク
タ接続面（点）３からのフレネル反射、Ｆは破断面（点
ン４からの７レネル反射、０１ないしＣ３は後方散乱波
形それぞれ表わしている。
ところで、平均化処理を行いＳ／Ｎの改善がなされた後
方散乱光は、第１図ｔＵ＞に示されたような雑音の全く
ない理想的な直線性１ＦＣ有する波形が表示装置に表示
される訳ではない。元ケーブル１の接続損失、例えば融
Ｎ接続点２での接続損失Ａ全測定するに当って、従来は
次のようにしてその接続損失Ａ’を求めていた。すなわ
ち、第２因は融着接続点２前後の後方散乱光の拡大波形
を示しており、当該後方散乱光の波形が表示装置のＣＲ
Ｔディスプレイ或いはＸ−Ｙレコーダに表示される。こ
の波形に基づいて、測定者鉱融府接続点２による影響を
受けていない位置での２点８ｏと８．及びＳ糞とＳｓを
適宜選出し、当該２点Ｓｏと８ｗｋ通る直線Ｌ１４及び
８２と８ｓｋ通る直線Ｌｓ’に定規等で求め、さらにこ
れらの直線Ｌｌ、Ｌ、が融着接続点２前後の後方散乱光
のｔ＆確直線であるとの仮定の上に立って、段差Ａが生
じる直前の位［Ｔでの上記直線Ｌｌ、Ｌ、の差Ａ ＝
ＬＩＴ ＬＩＴ ｋ求め、これ會もって融着接続点２の
融層接続損失としている。
方散乱光は、第１図ｔＵ＞に示されたような雑音の全く
ない理想的な直線性１ＦＣ有する波形が表示装置に表示
される訳ではない。元ケーブル１の接続損失、例えば融
Ｎ接続点２での接続損失Ａ全測定するに当って、従来は
次のようにしてその接続損失Ａ’を求めていた。すなわ
ち、第２因は融着接続点２前後の後方散乱光の拡大波形
を示しており、当該後方散乱光の波形が表示装置のＣＲ
Ｔディスプレイ或いはＸ−Ｙレコーダに表示される。こ
の波形に基づいて、測定者鉱融府接続点２による影響を
受けていない位置での２点８ｏと８．及びＳ糞とＳｓを
適宜選出し、当該２点Ｓｏと８ｗｋ通る直線Ｌ１４及び
８２と８ｓｋ通る直線Ｌｓ’に定規等で求め、さらにこ
れらの直線Ｌｌ、Ｌ、が融着接続点２前後の後方散乱光
のｔ＆確直線であるとの仮定の上に立って、段差Ａが生
じる直前の位［Ｔでの上記直線Ｌｌ、Ｌ、の差Ａ ＝
ＬＩＴ ＬＩＴ ｋ求め、これ會もって融着接続点２の
融層接続損失としている。
このような元ケーブルの損失測定方式では、現実に多く
の雑音全包含する後方散乱光の２点の位ｔ ８ｏと８１
ｓ及びＢ２と８３の選出如何によって上記直線Ｌｌ、Ｌ
、が一義的に決まらず、その直線Ｌｌ、Ｌ、の各傾きが
色々に変わる。従がって当該直線り、、Ｌ。
の雑音全包含する後方散乱光の２点の位ｔ ８ｏと８１
ｓ及びＢ２と８３の選出如何によって上記直線Ｌｌ、Ｌ
、が一義的に決まらず、その直線Ｌｌ、Ｌ、の各傾きが
色々に変わる。従がって当該直線り、、Ｌ。
の段差Ａが生じる直前の位置Ｔでの差Ａ１すなわち融層
接続損失が正しく求められない欠点があることは容易に
理解される。これは１図図示のコネクタ接続損失につい
ても同様であり、また元７アイパの単位長さ当りの損失
、即ち光損失（ｄＢ／ｋｍ）全求める場合についても同
様の欠点がおる。
接続損失が正しく求められない欠点があることは容易に
理解される。これは１図図示のコネクタ接続損失につい
ても同様であり、また元７アイパの単位長さ当りの損失
、即ち光損失（ｄＢ／ｋｍ）全求める場合についても同
様の欠点がおる。
不発明は、上記の欠点全解決することを目的としており
、設定された２点間の反射信号波形上の座標点のデータ
から、最小二乗法により当該設定された２点間の反射信
号波形の直線近似式を一義的に求め、当該直線近似式か
ら光ケーブルの各損失を求める元ケーブルの損失測定方
式を提供することを目的としている。そしてそのため本
発明の光ケーブルの損失測定方式は、被測定光ケーブル
の一端から元ノξルスを送出する元パルス送出部と。
、設定された２点間の反射信号波形上の座標点のデータ
から、最小二乗法により当該設定された２点間の反射信
号波形の直線近似式を一義的に求め、当該直線近似式か
ら光ケーブルの各損失を求める元ケーブルの損失測定方
式を提供することを目的としている。そしてそのため本
発明の光ケーブルの損失測定方式は、被測定光ケーブル
の一端から元ノξルスを送出する元パルス送出部と。
被測定光ケーブル内で反射して戻ってきた反射信号を受
信し電気（Ｗ号に変換する光電変換部と、光電変換され
た電気信号に対し平均化処理を行うと共に対数変換処理
を行う演算処理部と、対数変換された反射信号波形を表
示する表示装置と全備え。
信し電気（Ｗ号に変換する光電変換部と、光電変換され
た電気信号に対し平均化処理を行うと共に対数変換処理
を行う演算処理部と、対数変換された反射信号波形を表
示する表示装置と全備え。
該表示装置に表示された反射信号波形から損失を求める
元ケーブルの損失測定方式において、反射信号波形が表
示されている表示装置の画面に基準点Ｍのマーカ及び４
個の参照点Ｉｔｏ、几１ｔＲ４ｓ几３のマーカが任意に
設定される入力手段を設け、該入力手段で反射信号波形
の段差の位置に基準点Ｍ’ｔ−設定すると共に、該基準
点Ｍの左右に各２個の参照点Ｒ，と拘及びＲ黛と几３と
を設定し、この参照点Ｒ，。
元ケーブルの損失測定方式において、反射信号波形が表
示されている表示装置の画面に基準点Ｍのマーカ及び４
個の参照点Ｉｔｏ、几１ｔＲ４ｓ几３のマーカが任意に
設定される入力手段を設け、該入力手段で反射信号波形
の段差の位置に基準点Ｍ’ｔ−設定すると共に、該基準
点Ｍの左右に各２個の参照点Ｒ，と拘及びＲ黛と几３と
を設定し、この参照点Ｒ，。
ともとの間及び参照点Ｕｔと島との間にそれぞれ存在す
る反射信号波形上のそれぞれの座標データＰｌｊ（”５
ｙＹＳ）＋Ｐｌｊ （ｚｓｅｙｓ）をｎ個づつ選び出す
と共に、このｎ個の座イ塾データ”Ｄ （”ｊ 、ｙｔ
） ｔＰ□（”ｉ＋１１４）からそれぞれ最ｌ」・二
乗法を用いて反射信号波形の直線近似式 ％式％ 全求め、上記２つの直線近似式から上記基準点Ｍにおけ
るＪ２差を求める一連の処理全土Ｈｄ演算処理部で実行
せしめ、最小二乗法を用いて求めた反射信号波形の直線
近似式から損失を求めるようにしたことを特徴としてい
る。以下第３図以降の図面を参１１ｆｉ Ｌながら説明
する。
る反射信号波形上のそれぞれの座標データＰｌｊ（”５
ｙＹＳ）＋Ｐｌｊ （ｚｓｅｙｓ）をｎ個づつ選び出す
と共に、このｎ個の座イ塾データ”Ｄ （”ｊ 、ｙｔ
） ｔＰ□（”ｉ＋１１４）からそれぞれ最ｌ」・二
乗法を用いて反射信号波形の直線近似式 ％式％ 全求め、上記２つの直線近似式から上記基準点Ｍにおけ
るＪ２差を求める一連の処理全土Ｈｄ演算処理部で実行
せしめ、最小二乗法を用いて求めた反射信号波形の直線
近似式から損失を求めるようにしたことを特徴としてい
る。以下第３図以降の図面を参１１ｆｉ Ｌながら説明
する。
第３図は不発明に係る元ケーブルの損失側屋方式の一果
１ｆｉｊ例構成、第４図は最小二乗法の導入の仕方を説
明している説明図、第５図は本発明による融屑接続損失
金求める求め方の説明全している説明図を示している。
１ｆｉｊ例構成、第４図は最小二乗法の導入の仕方を説
明している説明図、第５図は本発明による融屑接続損失
金求める求め方の説明全している説明図を示している。
第３図において、符号１１は光パルス発生器。
１２は元方向性結合器、１３はコネクタ％ １４は被測
定光ケーブル、１５は光電変換部、１６は演算処理部、
１７はマイクロプロセッサ、１８はメモリ、１９は入カ
キ−１２０はＣＲＴディスプレイをそれぞれ表わしてい
る。
定光ケーブル、１５は光電変換部、１６は演算処理部、
１７はマイクロプロセッサ、１８はメモリ、１９は入カ
キ−１２０はＣＲＴディスプレイをそれぞれ表わしてい
る。
光パルス発生器１１は元出力全一定に保つため温間制御
されたレーザダイオード等で所望の波長の元ノξルスを
発生させ、それｔ元方同性結合器１２を介してコネクタ
１３より被測定光ケーブル１４へ送出する。
されたレーザダイオード等で所望の波長の元ノξルスを
発生させ、それｔ元方同性結合器１２を介してコネクタ
１３より被測定光ケーブル１４へ送出する。
元方向性結合器１２は元ノぞルス発生器１１から発生し
た元パルス金被測定元ケーブル１４へ迭１ｕすると共に
、当該被測定ケーブル１４内から元パルス送出部に戻っ
てくる反射信号、すなわち７レネル反射光或いは後方散
乱光を上記元ノξルス発生器１１から送出されてくる元
／ぞルスと分離させ、上記反射信号を元ＩＪＬ変換部１
５に送出する。
た元パルス金被測定元ケーブル１４へ迭１ｕすると共に
、当該被測定ケーブル１４内から元パルス送出部に戻っ
てくる反射信号、すなわち７レネル反射光或いは後方散
乱光を上記元ノξルス発生器１１から送出されてくる元
／ぞルスと分離させ、上記反射信号を元ＩＪＬ変換部１
５に送出する。
光電変換部１５は元方向性結合器１２で分離された反射
信号を電気信号に変換する。
信号を電気信号に変換する。
演算処理部１６は光電変換部１５で光電変換された反射
信号の電気信号であって雑音にうずもれた中から微弱な
上記反射１ぎ号を抽出し、 ＳＩＮ改善を行う平均化処
理と、このＳ／Ｎの改畳された反射信号を対数に変換す
る対数りざ換処理と、次に説明する光ケーブルの損失金
求めるための演４￥処理を行う。
信号の電気信号であって雑音にうずもれた中から微弱な
上記反射１ぎ号を抽出し、 ＳＩＮ改善を行う平均化処
理と、このＳ／Ｎの改畳された反射信号を対数に変換す
る対数りざ換処理と、次に説明する光ケーブルの損失金
求めるための演４￥処理を行う。
マイクロプロセッサ１７はメモリ１２に格納されている
平均化処理後の波形データ全＋ａ次読出し、対数変換処
理の演算を実行し、その対数変換処理されたデータ金再
びメモリ１２の所定のアドレス上に格納すると共に、不
発明に係る処理、すなわち最小二乗法による直線近似式
金求める演算や、２つの直巌近似式から２点間の距離等
會求める演ｌ処理七行う。
平均化処理後の波形データ全＋ａ次読出し、対数変換処
理の演算を実行し、その対数変換処理されたデータ金再
びメモリ１２の所定のアドレス上に格納すると共に、不
発明に係る処理、すなわち最小二乗法による直線近似式
金求める演算や、２つの直巌近似式から２点間の距離等
會求める演ｌ処理七行う。
例えば、座標系（π、ｖ）の２軸上の２点〜。
Ｒ１が指定され、当該ＲＯｙ几ｘ’に含めて２点几０と
ＩＬｌとの間に存在するｎ個の点ＰＤ（”４ ｓＹ＜）
＝”１１（”＋ｔｆｔＬ”ｊ ２（”？ ”２ ） ＊
”−・・ｍ Ｐｌ ｎ （”ｎ ｅ ３１ Ｂ ）に
ついて、これらの点Ｐ□（”５ｅｙｉ）が予め直線ｔ１
すなわち１＝、＝α＋ｂｚ ・・・・・・・・−・・
・（１）で近似されることが判っている場合、これらの
点Ｐ１ （ｘ＋ ＋ ｖｘ） ＊Ｐ２（ｚ＊ ＃ １２
） ｓ ・・・・・−・・・ｅ １’％（”？Ｌ１１
／％）から式（１）のａ、ｂの＊ ８ｉ値は最小二乗法
を用いて求めることができる。
ＩＬｌとの間に存在するｎ個の点ＰＤ（”４ ｓＹ＜）
＝”１１（”＋ｔｆｔＬ”ｊ ２（”？ ”２ ） ＊
”−・・ｍ Ｐｌ ｎ （”ｎ ｅ ３１ Ｂ ）に
ついて、これらの点Ｐ□（”５ｅｙｉ）が予め直線ｔ１
すなわち１＝、＝α＋ｂｚ ・・・・・・・・−・・
・（１）で近似されることが判っている場合、これらの
点Ｐ１ （ｘ＋ ＋ ｖｘ） ＊Ｐ２（ｚ＊ ＃ １２
） ｓ ・・・・・−・・・ｅ １’％（”？Ｌ１１
／％）から式（１）のａ、ｂの＊ ８ｉ値は最小二乗法
を用いて求めることができる。
令弟４図に示された如く、第４番目の点Ｐｊ（ｔ ｉ
ｅ Ｖ ％ ）に着目したとき、２軸のｚ４に誤差がな
くｙ軸のｔｔｉに誤差（変動）がある場合１点Ｐ４２通
ｐｙ軸に平行な直線が式（１）の＠線と父わる点全Ｑと
すると、点ｐ（はｙｓの変動によって直線ＰｉＱ上のい
ずれかの位置にあシ、その位置は点Ｑに平均上もつ正規
確率密度曲線ｔが示す確率に応じて変動する。
ｅ Ｖ ％ ）に着目したとき、２軸のｚ４に誤差がな
くｙ軸のｔｔｉに誤差（変動）がある場合１点Ｐ４２通
ｐｙ軸に平行な直線が式（１）の＠線と父わる点全Ｑと
すると、点ｐ（はｙｓの変動によって直線ＰｉＱ上のい
ずれかの位置にあシ、その位置は点Ｑに平均上もつ正規
確率密度曲線ｔが示す確率に応じて変動する。
従がって偏差Ｐ＜Ｑ＝δｉとおくと
δ１＝ｙｉ （ｃ＋ｂｇ＜）’ｉ ０ ・＝ −−−
（２）であるから ＝（ｙｘ−α−ｂｚｔ）２＋Ｃｙ２ａ １）ｚ２）２＋
−＋（ｙｎ−ａ−１）ｅ、）！・・・・・・・・・・・
・（３） が最小となるよりなσ、ｂを求めることになる。
（２）であるから ＝（ｙｘ−α−ｂｚｔ）２＋Ｃｙ２ａ １）ｚ２）２＋
−＋（ｙｎ−ａ−１）ｅ、）！・・・・・・・・・・・
・（３） が最小となるよりなσ、ｂを求めることになる。
故に上記式（３）のＥを最小にするようなα、ｂの値は
つＥ つＥ １１″″Ｏ・か−＝０ 全解けば必要かつ十分条件全満足する。
つＥ つＥ １１″″Ｏ・か−＝０ 全解けば必要かつ十分条件全満足する。
α＋ｂトド・・・・・・・・・・・（４）ここで＝、ｉ
は平均値ケ表わし 外
ｎαｎ″′ｉ、＋ｂΣｚ！＝Σ’Ｄｉｖｉ ”’ ”
’ −（５１ｉ＝ １ ’ ｉ＝１ 式（４）、（５）７１）らａ、ｂ？求めるとることによ
って６．ｂが求まシ、式（１）で表わされる直線ｔが求
められる。
は平均値ケ表わし 外
ｎαｎ″′ｉ、＋ｂΣｚ！＝Σ’Ｄｉｖｉ ”’ ”
’ −（５１ｉ＝ １ ’ ｉ＝１ 式（４）、（５）７１）らａ、ｂ？求めるとることによ
って６．ｂが求まシ、式（１）で表わされる直線ｔが求
められる。
同様に、座標系（ｚ、ｙ）の２軸上の２点孔２．几３が
指定され、当該島、几３を含めて２点孔２とＲ３との間
に存在するｎ個の点Ｐｔｔ（ｔ ｓＹ（）＝Ｐ、１（ｚ
ｓ ｔｙ６） ｅ”１２（２２ｓ １１ ） ｅ・・・
・・・・・・ｔ ｐ、、（％ ＃ １１Ｂ ）について
これらの点Ｐ□Ｃ”ｉ ｓ Ｓｌｉ ）から直線ｔ′、
すなわちｔ／王、 ＝σ／ ＋ ｂ ／ Ｚ 、−、、
、・、・、 （７）が求められる。
指定され、当該島、几３を含めて２点孔２とＲ３との間
に存在するｎ個の点Ｐｔｔ（ｔ ｓＹ（）＝Ｐ、１（ｚ
ｓ ｔｙ６） ｅ”１２（２２ｓ １１ ） ｅ・・・
・・・・・・ｔ ｐ、、（％ ＃ １１Ｂ ）について
これらの点Ｐ□Ｃ”ｉ ｓ Ｓｌｉ ）から直線ｔ′、
すなわちｔ／王、 ＝σ／ ＋ ｂ ／ Ｚ 、−、、
、・、・、 （７）が求められる。
従がって式（１） 、 （７）で表わされる２直綜の同
一２値（Ｚ＝ＸＴ）に対する隔たシＹは Ｙ ＝ （ａ ＋ ｂＸＴ） （ａ’＋ｂ’ＸＴ）＝ａ
−ｉ’＋（ｂ ｂ’ ）Ｘ７＝ −（８）で求められる
。
一２値（Ｚ＝ＸＴ）に対する隔たシＹは Ｙ ＝ （ａ ＋ ｂＸＴ） （ａ’＋ｂ’ＸＴ）＝ａ
−ｉ’＋（ｂ ｂ’ ）Ｘ７＝ −（８）で求められる
。
また、例えば式（１）で表わされる直線ｔにおいて２点
間（ｅ＝Ｘ（１，勿＝Ｘ１ ）の距離りだけ変化すると
、Ｖの変化量ΔＶは Δｙ＝ｂ（Ｘｏ Ｘｔ ン＝ ｂ Ｌ−・−−−
−−・（９１で求められる。
間（ｅ＝Ｘ（１，勿＝Ｘ１ ）の距離りだけ変化すると
、Ｖの変化量ΔＶは Δｙ＝ｂ（Ｘｏ Ｘｔ ン＝ ｂ Ｌ−・−−−
−−・（９１で求められる。
このように座標系（ｓｐｙ）の２軸上の２点馬。
几１の間に存在するｎ個の点ｐＨ（”ｌ ＋１１１ ）
＋ＰＢ（２’２＊ｆ２ ） ＋・・・＝’ ｌ ”１
７１（”ｎ ＊ １１ｎ ）、或いは他の２点Ｒ，，Ｒ
３が指定され、当該Ｒｚと１１・３０間に存在する九個
の点Ｐ２１（”１ ｙＹｌ ） ｌ”２２（”２ ＃
１１２ ） ＋Ｐ２．（ｍａｙｔ／Ｊが与えらると共に
、！＋軸の任意の値ｘＴ％或いはＸ軸の１１意の２点π
＝Ｘ６ 、 ｘ＝Ｘ（が与えられると、マイクロプロ′
Ｊ！１．金行い、式（６）で表わされたα、ｂ或いはａ
′、ｂ′の値全算出する。そしてこれらの１直を用いて
式（８）或いは式（９）の演シー、処理全行う。
＋ＰＢ（２’２＊ｆ２ ） ＋・・・＝’ ｌ ”１
７１（”ｎ ＊ １１ｎ ）、或いは他の２点Ｒ，，Ｒ
３が指定され、当該Ｒｚと１１・３０間に存在する九個
の点Ｐ２１（”１ ｙＹｌ ） ｌ”２２（”２ ＃
１１２ ） ＋Ｐ２．（ｍａｙｔ／Ｊが与えらると共に
、！＋軸の任意の値ｘＴ％或いはＸ軸の１１意の２点π
＝Ｘ６ 、 ｘ＝Ｘ（が与えられると、マイクロプロ′
Ｊ！１．金行い、式（６）で表わされたα、ｂ或いはａ
′、ｂ′の値全算出する。そしてこれらの１直を用いて
式（８）或いは式（９）の演シー、処理全行う。
入カキ−１９は後で説明される基準点及び参照点のマー
カ會表示装置のＣＲＴディスプレイ２０に設定する入力
手段である。
カ會表示装置のＣＲＴディスプレイ２０に設定する入力
手段である。
元パルス発生器１１から送出されたπ；ノクルスは元方
向性結合器１２及びコネクタ１３を介して被測定光ケー
ブル１４に入射される。被測定ケーブル１４内で反射し
て戻ってきた反射信号は元方向性結合器１２を介して光
電変換部１５に入力し、ここで電気信号に変換される。
向性結合器１２及びコネクタ１３を介して被測定光ケー
ブル１４に入射される。被測定ケーブル１４内で反射し
て戻ってきた反射信号は元方向性結合器１２を介して光
電変換部１５に入力し、ここで電気信号に変換される。
この電気信号に変換された反射信号は雑音の中にうずも
れておシ、反射信号を抽出するために演鎧、処理部１６
のマイクロプロセッサ１７及びメモリ１８を用いてＳ／
／Ｎ改善の平均化処理を行う。雑音の中から抽出された
反射信号はＯＲＴディスプレイ２０で直線を描き測定し
やすいように、さらに対数変換処理が実行される。この
対数変換処理のなされた反射信号波形のデータはメモリ
１８の所定のアドレス上にそれぞれ格納される。メモリ
１８に格納された上記反射信号波形のデータは図示され
ていないＯＲＴ制御装置等によって順次読出され、それ
が０ ’ＲＴディスプレイ２０に表示される。
れておシ、反射信号を抽出するために演鎧、処理部１６
のマイクロプロセッサ１７及びメモリ１８を用いてＳ／
／Ｎ改善の平均化処理を行う。雑音の中から抽出された
反射信号はＯＲＴディスプレイ２０で直線を描き測定し
やすいように、さらに対数変換処理が実行される。この
対数変換処理のなされた反射信号波形のデータはメモリ
１８の所定のアドレス上にそれぞれ格納される。メモリ
１８に格納された上記反射信号波形のデータは図示され
ていないＯＲＴ制御装置等によって順次読出され、それ
が０ ’ＲＴディスプレイ２０に表示される。
第５図は０几Ｔデイスプレイに表示された敵情接続点前
後の反射信号波形の拡大図４示している。
後の反射信号波形の拡大図４示している。
入カキ−１９から反射信号波形の段差が生じ始める位置
に基準点Ｍのマーカ２１に一設定し、さらに同図図示の
如く、上記段差の影響を受けていない位置に参照点Ｒ１
ｗＲ２のマーカ２２，２３’ｅ設定する。そして当該参
照点Ｒ１１，Ｒ，のマーカ２２．２３の位置から所定の
距離だけ離れ、かつ段差や７レネル反射の影響全党けて
いない位置に上記入力キ−１９によって、或いは上記参
照点１１．１ 、侮のマーカ２２，２３ｆｆ：設定した
とき自動的に参照点几０．Ｒ３のマーカ２４．２５が設
定される。
に基準点Ｍのマーカ２１に一設定し、さらに同図図示の
如く、上記段差の影響を受けていない位置に参照点Ｒ１
ｗＲ２のマーカ２２，２３’ｅ設定する。そして当該参
照点Ｒ１１，Ｒ，のマーカ２２．２３の位置から所定の
距離だけ離れ、かつ段差や７レネル反射の影響全党けて
いない位置に上記入力キ−１９によって、或いは上記参
照点１１．１ 、侮のマーカ２２，２３ｆｆ：設定した
とき自動的に参照点几０．Ｒ３のマーカ２４．２５が設
定される。
今０几′ｒディスプレイ２０に設定された基準点Ｍ及び
４つの参照点ｔｔｏ 、几１ ＋Ｒ１１ｊ几１の２座標
をそれぞれＸＭｓＸＯ＊Ｘｌ ｌＸ２ ｅＸｓ （ＸＯ
＜ＸＩ ＜ＸＭ＜ＸＩ ＜ＸＩ ）とすると、２座標が
Ｘｏ、！：Ｘ１との間で反射１号波形金描いているＯＲ
Ｔディスプレイ２ｏの中から。
４つの参照点ｔｔｏ 、几１ ＋Ｒ１１ｊ几１の２座標
をそれぞれＸＭｓＸＯ＊Ｘｌ ｌＸ２ ｅＸｓ （ＸＯ
＜ＸＩ ＜ＸＭ＜ＸＩ ＜ＸＩ ）とすると、２座標が
Ｘｏ、！：Ｘ１との間で反射１号波形金描いているＯＲ
Ｔディスプレイ２ｏの中から。
最小二乗性全適用してこの反射信号波形の近似直線を金
求めるだめのｎ個の点及びその座標（ｗｅｔ）は、次の
ようにして演算処理部１６のメモリ１８から求められる
。
求めるだめのｎ個の点及びその座標（ｗｅｔ）は、次の
ようにして演算処理部１６のメモリ１８から求められる
。
すなわち、光電変換部１５で電気信号に変換され、演３
１処理部で平均化処理及び対数変換処理を受けた反射信
号の波形データは上記説明の如くメモリ１８の所定のア
ドレス上に格納されている。
１処理部で平均化処理及び対数変換処理を受けた反射信
号の波形データは上記説明の如くメモリ１８の所定のア
ドレス上に格納されている。
この反射信号の波形データはメモリＪ８のアドレスとＣ
几Ｔディスプレイ２０の２軸の位置とが１対１に対応付
けられたメモリ１８に格納されている。従がって入カキ
−１９で参照点几０．几！のマーカ２４．２２をＯＲＴ
ディスプレイ２０に設定することは、上記メモリー８の
アドレスＸｏ番地とＸｉ番地を指定していることになる
。そしてこのメモリ１８のアドレスＸＯ番地とＸ１番地
の間であって。
几Ｔディスプレイ２０の２軸の位置とが１対１に対応付
けられたメモリ１８に格納されている。従がって入カキ
−１９で参照点几０．几！のマーカ２４．２２をＯＲＴ
ディスプレイ２０に設定することは、上記メモリー８の
アドレスＸｏ番地とＸｉ番地を指定していることになる
。そしてこのメモリ１８のアドレスＸＯ番地とＸ１番地
の間であって。
適当な選択基準１例えば１つおき、或いは２つおき等の
手法でｎ個のアドレスを選出し６選出されたアドレス上
に格納されているメモリ１８の内容を読み出す。このよ
うにマイクロプロセンサー７がメモリー８のアドレスＥ
ｓを選出し、そのアドレス上の内容Ｖ・を順次外回メモ
リ１８１Ｃアクセスす＄ ることによって、ＣＲＴディスプレイ２０に表示されて
いる反射信号波形のｎ個の座標データＰｔ Ｓ （ｚｓ
＋ ｙｓ ） ＝Ｐ１１ （ｚ １ ＊ ｙ １ ）
＊ Ｐ１＊ （” ！ ” ２ ）、”” ”” Ｐｌ
％’ ” ｎ ’ｖ７）を得る。
手法でｎ個のアドレスを選出し６選出されたアドレス上
に格納されているメモリ１８の内容を読み出す。このよ
うにマイクロプロセンサー７がメモリー８のアドレスＥ
ｓを選出し、そのアドレス上の内容Ｖ・を順次外回メモ
リ１８１Ｃアクセスす＄ ることによって、ＣＲＴディスプレイ２０に表示されて
いる反射信号波形のｎ個の座標データＰｔ Ｓ （ｚｓ
＋ ｙｓ ） ＝Ｐ１１ （ｚ １ ＊ ｙ １ ）
＊ Ｐ１＊ （” ！ ” ２ ）、”” ”” Ｐｌ
％’ ” ｎ ’ｖ７）を得る。
これによって上記ですでに説明した最小二乗法による反
射信号波形の直線近似ｔを求める演算処璋がマイクロプ
ロセンサー７で実行され１式（６）で表わされるａ、ｂ
の値が算出される。
射信号波形の直線近似ｔを求める演算処璋がマイクロプ
ロセンサー７で実行され１式（６）で表わされるａ、ｂ
の値が算出される。
また２座標がＸＩと為との間で反射信号波形を描いてい
るＣＲＴディスプレイ２０の中から、！手工乗法全適用
してこの反射（Ｂ号波形の近似直線ｌ′や・求めるため
のｎ個の点及びその座標（ｅ 、 ｖ）は、上記と同様
にして求められ、反射１６号波形のｎ個の座標データＰ
２，４ｆｆｚ ＋Ｙｊ ）＝ｐ２１（ｇ１＋ｆｔ） ｙ
”＊１（２２ｓＶ、、）・・・・・・＋ Ｐ２ｎ（”？
Ｓ １１１−全得る。
るＣＲＴディスプレイ２０の中から、！手工乗法全適用
してこの反射（Ｂ号波形の近似直線ｌ′や・求めるため
のｎ個の点及びその座標（ｅ 、 ｖ）は、上記と同様
にして求められ、反射１６号波形のｎ個の座標データＰ
２，４ｆｆｚ ＋Ｙｊ ）＝ｐ２１（ｇ１＋ｆｔ） ｙ
”＊１（２２ｓＶ、、）・・・・・・＋ Ｐ２ｎ（”？
Ｓ １１１−全得る。
これによって式（７）で表わされる旧線近似式のａｌ。
ｂ′の値が同様にして算出される。
このようにして求められたαｅ ｂ ｅ ａ’ ｔｂ′
及びＣＲＴディスプレイ２０に表示された反射イキ号波
形の段差が生じ始める位置に測定者が予め設定した基準
点Ｍのマーカ２１の２座標ＸＭとから、式（８）によっ
て段差Ｙの値が算出される。この段差Ｙの値は第１図で
説明したように接続点損失、特に第５図で示されている
段差は融着接続損失を表わす。
及びＣＲＴディスプレイ２０に表示された反射イキ号波
形の段差が生じ始める位置に測定者が予め設定した基準
点Ｍのマーカ２１の２座標ＸＭとから、式（８）によっ
て段差Ｙの値が算出される。この段差Ｙの値は第１図で
説明したように接続点損失、特に第５図で示されている
段差は融着接続損失を表わす。
なおコネクタ接続損失の測定に当っては、上記基ｆｌ／
Ｘ点Ｍのマーカ２１をコネクタ接続点でのフレネル反射
で受信レベルが上昇する直前の位置に設定することによ
り、当該コネクタ接続損失を測定することができる。
Ｘ点Ｍのマーカ２１をコネクタ接続点でのフレネル反射
で受信レベルが上昇する直前の位置に設定することによ
り、当該コネクタ接続損失を測定することができる。
そして上記で求められたす、ｂ’は、被測定ケーブル１
４の各党ファイバの光損失（ｄＢ／ｋｍ） ’に表わし
ておシ、−！た同−元ファイバの２点間りでの伝送損失
は上記参照点Ｒｏ、几ｌのマーカ２４．２２をそれぞれ
の位１ｔｉ （ｗ＝Ｘｏ ｔ ｗ＝Ｘ１）に設定し、上
記説明の式（１）のｂｔ−求め、式（９）を用いること
によｐΔｖ１すなわち２点間ｚ＝Ｘ６からｇ＝Ｘ１まで
の距離りの伝送損失全測定することができる。
４の各党ファイバの光損失（ｄＢ／ｋｍ） ’に表わし
ておシ、−！た同−元ファイバの２点間りでの伝送損失
は上記参照点Ｒｏ、几ｌのマーカ２４．２２をそれぞれ
の位１ｔｉ （ｗ＝Ｘｏ ｔ ｗ＝Ｘ１）に設定し、上
記説明の式（１）のｂｔ−求め、式（９）を用いること
によｐΔｖ１すなわち２点間ｚ＝Ｘ６からｇ＝Ｘ１まで
の距離りの伝送損失全測定することができる。
なお参照点ＩＬｔｗＢａのマーカ２２．２３は入カキ−
１９で設定するように説明したが、基準点Ｍのマーカ２
１の設定に伴なって、該基準点Ｍのマーカ２１の位置か
ら所定の距離を隔てた位置に上記参照点几１２石のマー
カ２２，２３が設定されるようにしておき、この所定の
距離全人カキ−１９で入力するようにしてもよい。また
参照点Ｒ１のマーカ２２は基準点Ｍのマーカ２１と同一
の位置に設定されるようにしておき、入カキ−１９によ
る参照点の入力数を１回だけ少なくすることも可能であ
る。
１９で設定するように説明したが、基準点Ｍのマーカ２
１の設定に伴なって、該基準点Ｍのマーカ２１の位置か
ら所定の距離を隔てた位置に上記参照点几１２石のマー
カ２２，２３が設定されるようにしておき、この所定の
距離全人カキ−１９で入力するようにしてもよい。また
参照点Ｒ１のマーカ２２は基準点Ｍのマーカ２１と同一
の位置に設定されるようにしておき、入カキ−１９によ
る参照点の入力数を１回だけ少なくすることも可能であ
る。
以上説明した如く、不発明によれば、基準点を中に当該
基準点前後に任意に設定された２点間にわたる反射信号
波形上の座標点のデータから、最小二乗法を用い上記設
定された２点間の反射信号波形の直線式を求めているの
で、一義的に直線近似式が定まり、しかも当該直線近似
式は反射信号の最（ｔＶ値となっているので、この直線
近似式に基づいて測定される接続損失、同一ファイバに
おける２点間の伝送ｔｉ失、光ケーブルの光損失（ｄＢ
／Ｋｍ〕の測定値の精Ｉｆを向上させることができる。
基準点前後に任意に設定された２点間にわたる反射信号
波形上の座標点のデータから、最小二乗法を用い上記設
定された２点間の反射信号波形の直線式を求めているの
で、一義的に直線近似式が定まり、しかも当該直線近似
式は反射信号の最（ｔＶ値となっているので、この直線
近似式に基づいて測定される接続損失、同一ファイバに
おける２点間の伝送ｔｉ失、光ケーブルの光損失（ｄＢ
／Ｋｍ〕の測定値の精Ｉｆを向上させることができる。
第１図は光ケーブルとこれに対応するモデル化された後
方散乱波形の一例、第２図は従来の融着接続損失を求め
る求め方の説明図、第３図は本発明に係る光ケーブルの
損失測定方式の一実施例構成、第４図は最小二乗法の導
入を説明している説明図、第５図は本発明による融着接
続１１Ｈ失を求める求め方を説明している説明図を示し
ている。 図中、１１は光ノＲルス発生器、１２は光方向性結合ど
診、１３はコネクタ、１４は被測定光ケーブル、１５は
光電変換部、１６は演１４：処理部、１７はマイク四プ
ロセッサ、１８はメモリ、１９は入カキキー、２０はＣ
ＲＴディスプレイ全それぞれ表わしている。 特許出願人 安立電気株式会社 日本電信遊結公社 第１ 図 （Ｉ） イ（コ２１’／１ １＋ →新離
方散乱波形の一例、第２図は従来の融着接続損失を求め
る求め方の説明図、第３図は本発明に係る光ケーブルの
損失測定方式の一実施例構成、第４図は最小二乗法の導
入を説明している説明図、第５図は本発明による融着接
続１１Ｈ失を求める求め方を説明している説明図を示し
ている。 図中、１１は光ノＲルス発生器、１２は光方向性結合ど
診、１３はコネクタ、１４は被測定光ケーブル、１５は
光電変換部、１６は演１４：処理部、１７はマイク四プ
ロセッサ、１８はメモリ、１９は入カキキー、２０はＣ
ＲＴディスプレイ全それぞれ表わしている。 特許出願人 安立電気株式会社 日本電信遊結公社 第１ 図 （Ｉ） イ（コ２１’／１ １＋ →新離
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 被測定光ケーブルの一端から元、ｅルス葡送出する光パ
ルス送出部と、被測定光ケーブル内で反射して戻ってき
た反射信号紮受１ｇシ電気信号に変換する光電変換部と
、光電変換された電ヌ情号に対し平均化処理を行うとと
もに対数変換処理を行う演算処理部と、対数変換された
反射信号波彫金表示する表示装置と全備え、該表示装置
に表示された反射信号波形から損失全求める光ケーブル
の損失測定方式において二反射信号波形が表示されてい
る表示装置睨の画面に基準点Ｍのマーカ及び４個の参照
点ＲＯｐ Ｒ１＊几２．Ｒ１のマーカが任意に設定され
る入力手段を設け、該入力手段で反射信号波形の段差の
位置に基準点Ｍ金設足するとともに、該基準点へ１の左
右に各２個づつの参照点ＩＬｏとＲ，及びＲ２とＲ３と
全設定し、この参照点ａｏとｉｔｘとの間及び参照点Ｒ
ｘとＲ３３との間にそれぞれ存在する反射信号波形上の
それぞれの座標データＰ１＜ （−”ｉ ｅ ！／Ｊ
＊Ｐ、・（”１ｅｖｔ）ｋｎ個づつ選び出すとともに、
このか個の座標データＰＩｉ（ｌｉ ＊ｆｊＬ Ｐ２ｉ
（ｆｌ：ｉ、１／ｉ）からそれぞれ最小二乗法を用いて
反射信号波形の直線近似式 ％式％ を求め、上記２つの直線近似式から上＾已基準点Ｍにお
ける段差を求める一連の処理を上記演算処理部で実行せ
しめて損失を求めるようにしたこと全特徴とする元ケー
ブルの損失測定方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17244882A JPS5961739A (ja) | 1982-09-30 | 1982-09-30 | 光ケ−ブルの接続損失測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17244882A JPS5961739A (ja) | 1982-09-30 | 1982-09-30 | 光ケ−ブルの接続損失測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5961739A true JPS5961739A (ja) | 1984-04-09 |
| JPH0331213B2 JPH0331213B2 (ja) | 1991-05-02 |
Family
ID=15942166
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17244882A Granted JPS5961739A (ja) | 1982-09-30 | 1982-09-30 | 光ケ−ブルの接続損失測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5961739A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60253833A (ja) * | 1984-05-30 | 1985-12-14 | Tohoku Electric Power Co Inc | 光フアイバアナライザ |
| FR2720162A1 (fr) * | 1993-05-21 | 1995-11-24 | Tektronix Inc | Procédé de caractérisation d'événements dans des données numériques acquises. |
| FR2733593A1 (fr) * | 1995-04-28 | 1996-10-31 | Ando Electric | Dispositif et procede de test de ligne optique |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57134762A (en) * | 1981-02-12 | 1982-08-20 | Hitachi Ltd | Digital picture processing system |
-
1982
- 1982-09-30 JP JP17244882A patent/JPS5961739A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57134762A (en) * | 1981-02-12 | 1982-08-20 | Hitachi Ltd | Digital picture processing system |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60253833A (ja) * | 1984-05-30 | 1985-12-14 | Tohoku Electric Power Co Inc | 光フアイバアナライザ |
| FR2720162A1 (fr) * | 1993-05-21 | 1995-11-24 | Tektronix Inc | Procédé de caractérisation d'événements dans des données numériques acquises. |
| FR2733593A1 (fr) * | 1995-04-28 | 1996-10-31 | Ando Electric | Dispositif et procede de test de ligne optique |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0331213B2 (ja) | 1991-05-02 |
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