JPS60231372A - 半導体装置作製方法 - Google Patents

半導体装置作製方法

Info

Publication number
JPS60231372A
JPS60231372A JP59087523A JP8752384A JPS60231372A JP S60231372 A JPS60231372 A JP S60231372A JP 59087523 A JP59087523 A JP 59087523A JP 8752384 A JP8752384 A JP 8752384A JP S60231372 A JPS60231372 A JP S60231372A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
film
substrate
conductive film
thickness
semiconductor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP59087523A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2585503B2 (ja
Inventor
Shunpei Yamazaki
舜平 山崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
Original Assignee
Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd filed Critical Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
Priority to JP59087523A priority Critical patent/JP2585503B2/ja
Publication of JPS60231372A publication Critical patent/JPS60231372A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2585503B2 publication Critical patent/JP2585503B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/04Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
    • H01L31/042PV modules or arrays of single PV cells
    • H01L31/0445PV modules or arrays of single PV cells including thin film solar cells, e.g. single thin film a-Si, CIS or CdTe solar cells
    • H01L31/046PV modules composed of a plurality of thin film solar cells deposited on the same substrate
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy

Landscapes

  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Sustainable Development (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Sustainable Energy (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Electrodes Of Semiconductors (AREA)
  • Drying Of Semiconductors (AREA)
  • Photovoltaic Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は金属膜に300〜3000人の薄さを有せしめ
、レーザ光の熱エネルギを横方向に伝導放散させること
を防ぐとともに、下側には熱伝導率のき(2) わめて小さい有機樹脂膜を配設し、かかる被加工物にレ
ーザ光(Qスイッチパルス)を照射し、開港または開孔
を形成する方法に関する。
この発明は、光照射により光起電力を発生しうる接合を
少なくとも1つ有するアモルファス半導体を含む非単結
晶半導体を、有機樹脂の絶縁表面を有する基板特に可曲
性を有する基板に設けた光電変換素子(単に素子ともい
う)を複数個電気的に直列接続した、高い電圧の発生の
可能な光電変換装置の作製方法に関する。
本発明は有機樹脂表面上にアルミニュームまたはアルミ
ニュームを主成分とする金属を配設し、この導電膜をレ
ーザ光でスクライブする(以下単にLSという)ことに
より開講または開孔を形成し、この導電膜を複数の領域
に分離し、電極を形成せんとするものである。即ち、半
導体装置の電極材料として反射性を有すること、レーザ
加工を施しやすくするため昇華性を有し、かつ熱伝導率
が小さいこと、加えてこの後の半導体の積層等の工程に
際し、上下の材料と合金を作らないいわゆる耐(3) 熱性を有することがきわめて重要な要件である。
反射性を有し、電気伝導度に優れたアルミニュームまた
はアルミニュームを主成分とする金属(以下アルミニュ
ームまたはAIという)とその上に酸化インジューム、
酸化スズを主成分とする透光性導電膜(以下CTFとい
う)を積層した構造を有モ・しめ、特にこのAl下の基
板の上層部の絶縁物の熱伝導度が無機絶縁物よりも5〜
10倍も小さい有機樹脂絶縁物としたことにより、レー
ザ加工性を有し、反射率が高< (400〜800nm
の範囲で90%以上)、シート抵抗が低く (0,5〜
1Ω/口八000人の厚さ)、かつその上の半導体との
非反応性用および反射防止膜用にCTFとを積層した構
造とせしめたものである。
従来、レーザ加工を行うための金属膜としてクロム41
体(純度99.9%以上)を電極として用いることが知
られている。しかしこの金属クロムはその反射係数が小
さいいわゆるブラック・クロムとなってしまう。また硬
度が大きいため絶縁被膜上に形成され、熱処理(200
℃、2時間)を行うと微小(4) のクランクが発生してしまう。
このため、電極用の被膜としてはある程度の柔らかさを
有することが光電変換装置の下側電極である第1の電極
としてはめられている。加えてレーザ光の照射された開
溝周辺部の残差物がその近傍に散在しないことがレーザ
加工が行われる導電膜として重要な要件である。
このためにはアルミニュームは優れた材料である。しか
しこのアルミニュームは熱伝導率が大きく (有機フィ
ルム0.22W/mK、クロム90.3W/mK、ガラ
ス1.4讐/mK、アルミニューム237讐/mK)か
つ昇華性を有さない。その結果、一般にはレーザ加工用
の被加工材料としては不適当であると考えられていた。
特にこのアルミニュームがガラス基板等の無機絶縁物上
に形成された場合には開溝が充分に形成されず、さらに
周辺には酸化アルミニュームの残差物が残ってしまった
本発明はこれらの欠点を除去するためになされたもので
ある。
即ち、本発明は、金属膜の横方向への熱拡散を(5) 少なくするため、その薄さを300〜3000人とし、
また可曲性(フレキシブル)の金属箔の母材の苗土に耐
熱性有機樹脂絶縁被膜を0.1〜5μの厚さにコートし
た絶縁性表面を有する耐熱性可曲性基板シート(以下単
に基板という)を用いたものである。
そしてこの本発明の被加工物にLS用のレーザ光例えば
波長1.06μまたは0.53μ好ましくは600nm
以下の波長のQスイッチがかけられたYAGレーザ(焦
点距離40mm、レーザ光径20〜70μ)を照射させ
た。
さらにそれを0.05〜5IIl/分例えば30cm/
分の操作速度で移動せしめ、有機樹脂に損傷を与えるこ
となく金属膜(以下特にその代表例としてアルミニュー
ムを記す)に開港または開孔を作製することができた。
以下にさらにかかる加工方法を用いた光電変換半導体装
置について記す。
本発明の装置における素子の配置、大きさ、形状は設計
仕様によって決められる。しかし本発明(6) の内容を簡単にするため、以下の詳細な説明においては
、第1の素子の下側(基板側)の第1の電極と、その右
隣りに配置した第2の素子の第2の電極(半導体上即ち
基板から離れた側)とを電気的に直列接続させた場合の
パターンを基として記す。
(7) この有機樹脂の熱伝導率を他の材料と比較すると以上の
ごとくである。
このことより、有機樹脂はすべて熱伝導率が低く無機絶
縁物の代表例であるガラスの175シか有さない。その
結果、その厚さが0.1 μ以上あればレーザ光の熱エ
ネルギを下側の金属箔に伝播せず保存できることがわか
った。
このため金属膜に対しレーザ光(60)を照射すると、
第1図(八)に示されるごとく、金属箔(6)とその上
の有機樹脂(7)とよりなる基板に被加工物(2)を形
成してレーザを照射した時、下方向の熱損失(61)横
方向の熱損失(62) 、 (62”)、上方向の熱損
失(63)が存在する。
第1図において、クロムが被加工物であった場合は横方
向の熱転i (62) (62′)が少なく、かつ昇華
性を有するため、下方向の熱転i (61)がガラス基
板程度を有していても、十分な開講を得ることができた
しかしこの被加工物がアルミニュームの場合、下方向の
熱伝導がガラスにあっては開溝を十分得(8) ることができず、特にこのアルミニュームの厚さを30
0〜2000人のごとく横方向への熱伝導が少ない条件
にしても残差物が残ってしまった。これはレーザ光の光
エネルギにより照射部を蒸発温度よりも高い温度にさせ
ることができず、溶けた状態である程度で保存されてし
まうためと推定される。
しかし本発明において、この基板を有機樹脂膜(7)と
するならば、この下方向での熱伝導(61)がガラスの
115となるためアルミニュームのごとき横方向の熱伝
導(62) (62’ )が大きい材料でもレーザ加工
を行うことができることを実験的に見出したものである
さらにこの場合第1図(八)の構造よりもさらにこのア
ルミニューム(67)上に透光性導電膜(68)、即ち
、昇華性を有し、熱伝導度が余り大きくなく特にレーザ
光に対し反射防止膜となる材料を形成する第1図(B)
はさらにその加工性の向上に優れていた。
この材料として、ITO+5nOz+酸化チタン、クロ
ムシリサイド、ニッケルシリサイド等の非酸化物(9) 透光性導電膜も用いることができる。
第2図は本発明の製造工程を示す縦断面図である。
図面において、絶縁表面処理がなされた金属箔の可曲性
基板(6)例えば10〜200μ一般には20〜50μ
の厚さのステンレス箔にポリイミド樹脂(7)を0.1
〜5μ一般的には約1.5 μの厚さに形成された基板
(1)であって、長さく図面では左右方向)60cm 
、中20cmを用いた。さらにこの上面に全面にわたっ
て第1の導電膜(2)を形成させた。即ちアルミニュー
ムを300〜3000人の厚さに、さらにその上に酸化
スズ膜を1000人の厚さにスパッタ法、特にマグネト
ロンDCスパッタ法により形成させた。
さらに、透光性導電膜として弗素等のハロゲン元素が添
加された酸化スズを主成分とする透光性導電膜またはI
TO(酸化スズ・インジュ−ム)(15)(50〜20
00人代表的には500〜1500人)をマグネトロン
スパッタ法により形成させて、第1の導電膜とした。こ
のため同一スパッタ装置でターゲットを金属例えばアル
ミニュームと5nOzとにするこ(10) とにより大気圧にすることなく連続しての形成が可能と
なった。
この第1の導電膜としてのアルミニュームは、金属膜が
後の250℃、3時間の熱処理工程で半導体中に逆拡散
してしまうことを防ぐため、酸化スズ(13)のブロッ
キング層は有効であった。さらにこの酸化スズはその上
面のP型半導体層と、またこれをITOとするとその上
面のN型半導体層とのオーム接触性に優れており、加え
て入射光のうちの長波長光の裏面電極(第1の電極)で
の反射による実質的な光路長を大きくする時の反口・1
効果を向上させるためにも有効であった。
この後、このW板の上側より、YAGレーザ加工機(日
本電気製)により平均出力0.3〜舖(焦点距離40m
m)を加え、スポット径20〜7011φ代表的には4
0μφをマイクロコンピュータにより制御卸して上方よ
りレーザ光を照射し、その走査によりスクライブライン
用の第1の開溝(13)を形成させ、各素子間領域(3
1)、 (11)に第1の電極(37)を作製した。
(11) ■、Sにより形成された開溝(13)は、rl約50μ
長さ20cmであり、深さはそれぞれ第1の電極を構成
させるために完全に切断分離した。
かくして第1の素子(31)および第2の素子(11)
を構成する領域の巾は5〜40mm例えば15mmとし
て形成させた。
この後、この上面にプラズマCVD法、フォトCVD法
またはLPCVD法により光照射により光起電力を発生
する非単結晶半導体即ちPNまたはPIN接合を有する
水素またはハロゲン元素が添加された非単結晶半導体層
(3)を0.3〜1.0μ代表的には0.71!の厚さ
に形成させた。
その代表例はP型(SixC+−XO< x < 1 
)半導体(約300人)(42) −1型アモルファス
またはセミアモルファスのシリコン半導体(約0.7 
μ)(43)−N型の微結晶(粒径約200人)を有す
る半導体(44)よりなる一つのPIN接合を有する非
単結晶半導体、またはN型微結晶珪素(約300人)半
導体−I型半導体(約0.7 メt> −P型微結晶化
St半導体(約200人)−P型5txC+−x(約5
0人 x =0.2(12) 〜0.3)半導体である。
かかる非単結晶半導体(3)を全面にわたって均一の膜
厚で形成させた。
さらに第2図(11)に示されるごとく、第1の開溝(
13)の左方向側(第1の素子側)にわたって第2の開
溝(18)を第2の1、S工程により形成させた。
かくして第2の開講(18)は第1の電極の側面または
側面と−L端面(8) 、 (9)を露出さゼた。
さらに本発明は、第1の電極(37)の透光性導電膜(
]5)さらに金属膜(5)の表面のみを露呈させてもよ
いが、製造歩留りの向」二のためにはレーザ光が0.1
〜1誓例えば0.8判で多少ばらついてもよいように、
この第1の電極(37)の深さ方向のすべてを除去した
。 その結果、側面(8)(側面のみまたは側面と上面
の端部)に第1図(C)で第2の電極(3日)のITO
とコネクタ(30)で連結させてもその接触抵抗は酸化
物−酸化物コンタクト(酸化スズ−ITOコンタクト)
となりその界面に絶縁物バリア(絶縁物)が形成されな
いため、長期使用において抵抗が増大する等の異常がな
く、実用上杆(13) ましいものであった。
第2図において、さらにこの上面に第1図(C)に示さ
れるごとく、表面の第2の導電膜(5)およびコネクタ
(30)を形成した。
この後、第3のLSにより切断分離をして複数の第2の
電極(39) 、 (3B)をアイソレイションして形
成し、第3の開溝(20)を得た。
この第2の導電膜(4)は透光性導電膜(CTF) (
45)を用いた。
このCTFとして、ここではN型半導体と良好なオーム
接触をするITO(酸化インジューム酸化スズを主成分
とする混合物)(45)を900〜1500人の厚さに
形成した。このCTFとして酸化スズを主成分として形
成させることも可能であった。この結果、半導体に密接
して第2の電極(3B) 、 (39)を有せしめた。
このCTFとしてクロム−珪素化合物等の非酸化物導電
膜よりなる透光性導電膜を用いてもよい。
これらは電子ビーム蒸着法またはスパッタ法、フォ)C
VD法、フォト・プラズマCVD法を含むCVD(14
) 法を用い、半導体層を劣化させないため、250℃以下
の温度で形成させた。
さらにこの第3の開溝の深さを単に第2の電極のみを除
去するのみでなくその下の半導体層(3)を含め同時に
除去し第1の電極をもその一部に露呈せしめることによ
り、アイソレイション(20)を施した。これはレーザ
光がガウス分布をし、開溝形成の際の1.sの照射強度
(パワー密度)のバラツキにより、第2の電極の一部が
残存して、電気的に2つの素子が分離できなくなること
を防ぐために有効であった。
かくして第2図(C)に示されるごとく、複数の素子(
31) 、 (11)を連結部(4)で直列接続する光
電変換装置を作ることができた。
第2図(D)はさらに本発明を光電変換装置として完成
させんとしたものである。即ちパッシベイション膜とし
てプラズマ気相法またはフォト・プラズマ気相法により
窒化珪素膜(21)を500〜2000人の厚さに均一
に形成させ、各素子間のリーク電流の湿気等の吸着によ
る発生をさらに防いだ。
(15) さらに外部引出し端子(23)を周辺部に設けた。
斯くして照射光(10)に対しこの実施例のごとき基板
(60cm X 2Or、m)において、各素子を中1
4.35mmX192 mmの短冊上に設け、さらに連
結部の中150mm、外部引出し電極部の巾10mm、
周辺部4mmにより、実質的に580mm X 192
mm内に40段を有し、有効面積(192mm X 1
4.35mm 40段1102cm”即ち、91.8χ
)を得ることができた。
その結果、セグメントが10.8%(1,05cm2)
の変換効率を有する場合、パネルにて5.8%(理論的
には7.3%になるが、40段直列連結の抵抗により実
効変換効率が低下した(AMI C1C10O/cm2
) )にて、38.0Wの出力電力を有せしめることが
できた。
またさらにこのパネル例えば40cm X 40cmま
たは60cm X 20cmを3ケまたは4ヶ直列にア
ルミサツシの固い枠内またカーボン・ブラックによる可
曲性枠内に組み合わせることによりパッケージさせ、1
20cm X 40cmのNEDO規格の大電力用のパ
ネルを設けることが可能である。
(16) またこのNEDO規格のパネル用にはシーフレックスに
よりガラス基板の裏面(照射面の反対側)に本発明の光
電変換装置の上面をはりあわせて、風圧、雨等に対し機
械強度の増加を図ることも有効である。
さらに本発明を以下に実施例を記してその詳細を補完す
る。
実施例1 第1図の図面に従ってこの実施例を示す。
即ち絶縁性被膜を有する金属箔基板(1)として約50
μの厚さのステンレス箔の表面にポリイミド樹脂をPI
Qを用いて1.5μの厚さにコー1− した基板長さ6
0cmX1]20c++を用いた。
さらにその上にアルミニュームをマグネトロンDCスパ
ッタ法法により1200人の厚さに形成し、さらにその
上面に5n02を1050人の厚さに同じ装置でのマグ
ネトロンDCスパッタ法により作製した。
次にこの後、第1の開溝をスポラ1〜径50μ、出力0
.5−のWAGレーザーをマイクロコンピュータにより
制御して0.3χ分の走査速度にて作製した。
(17) 素子領域(31)、 (11)は15IIIIIl巾と
した。
この後公知のPCVD法、フォトCVD法またはフォト
・プラズマCVD法により第2図に示したPIN接合を
1つ有する非単結晶半導体を作製した。
その全厚さは約0.7μであった。
かかる後、第1の開講をテレビにてモニターして、そこ
より50μ第1の素子(31)側にシフトさせ、スポッ
ト径50μ、平均出力0.5W、室温、周波数3KIl
z、操作スピード60cm/分にてLSにより第2の開
溝(14)を作製した。
かくして得られた半導体全体上に、CTFであるITO
をスパッタ法により平均膜厚700人に作製して、第2
の導電膜(5)およびコネクタ(30)を構成せしめた
さらに第3の開溝(20)を同様にLSにより第2の開
溝(14)より50μのわたり深さに第1の素子(31
)側にシフトして形成させ第2図(C)を得た。
この時第3の開溝の深さは図面に示すごとく、その底部
は第1の電極の表面にまで至っていた。
このため、CTFおよび半導体層は完全に除去さく18
) れていた。
レーザ光は平均出力0.5−とし、他は第2の開溝の作
製と同一条件とした。
かくして第2図(C)を作製した。
第2図(C)の工程の後、パネルの端部をレーザ光出力
1−にて第1の電極、半導体、第2の電極のすべてをガ
ラス端より4mm内側で長方形に走査し、パネルの枠と
の電気的短絡を防止した。
この後、パッシベイション膜(2])をPCVD法また
はフォト・プラズマCVD法により窒化珪素膜を100
0人の厚さに250℃の温度にて作製した。
すると20cm X 60cmのパネルに15mn+中
の素子を40段作ることができた。
パネルの実効効率として八Ml (100mW/cm2
)にて6.7%、出力58.2Wを得ることができた。
有効面積は1102cm2であり、パネル全体の91.
8%を有効に利用することができた。
実施例2 基板としてステンレス箔厚さ30μ川上にPIOコート
処理をした大きさ20cm X 60cmを用いた。さ
ら(19) に一つの電卓用光電変換装置を5cm X1cmとして
5個同一基板上に直列に連結して作製した。
第1の電極はアルミニュームとした。ITOを同様のス
パッタ法で形成し、下側の第2の電極をLSにより形成
した。
さらに下側よりNIP接合を有する非単結晶半導体を実
施例1と同様に積層した。この後、裏面に水銀灯にて光
照射を行い1000Å以下の深さの表面近傍を多結晶化
させた。さらに第2の電極をP型半導体上に酸化スズ(
500人)を用いて作った。その他は実施例1と同様で
ある。
連結部は100μとし、外部電極とは第1図(A)(B
)の左端、右端を外部引き出し電極構造として設けた。
すると250ケの電卓用装置を一度に作ることができた
5.6%の実効変換効率以上を良品として螢光打丁50
0 lxでテストをした。
その結果76%の最終製造歩留りを得ることができた。
(20) これは従来方法においては40〜50%しか得られず、
かつ連結部の必要面積が大きかったことを考えると、き
わめて有効なものであった。
その他は実施例1と同様である。
さらにこのシートより切断する場合、10〜15Wの強
いパルス光を用いたLSにより自動切断が可能となった
この実施例においては、上側の光照射側に透光性保護用
有機樹脂(22)例えば2P(紫外線照射により硬化す
る樹脂)を重合わセることにより、金属層と有機樹脂と
の間に光電変換装置をはさむ構造とすることができ、可
曲性を有し、きわめて安価で多量生産が可能になった。
本発明において、300〜3000人の薄さの金属膜と
してアルミニューl、を主として示した。しかしアルミ
ニュームに任意の添加物を加えたアルミニューム合金、
例えばジュラルミン、また銅、または珪素が添加された
アルミニューム合金であっても本発明の有機樹脂膜を形
成する場合は同様にレーザ加工性を有していた。さらに
反射率、電気伝(21) 導度を考慮しなくてもよいならば、クロム、ステンレス
、ニッケル、モリブデン、チタン等の材料であっても、
本発明構造とするならばレーザ加工が可能であった。ま
たこの金属膜をアルミニュームとその上にチタンを10
〜300人(平均)形成した多層膜であっても、その厚
さが3000Å以下であるならば残差物がほとんどない
状態でのレー加工が可能であった。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のレーザ加工の原理を示す縦断面図であ
る。 第2図は本発明の光電変換装置の製造工程を示す縦断面
図である。 特許出願人 (22)

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、有機樹脂の絶縁表面を有する基板」二に、300〜
    3000人の薄さを有する金属膜または該金属膜上の透
    光性導電膜とよりなる導電膜を形成し、前記金属膜にレ
    ーザ光を照射して開溝または開孔を形成することを特徴
    とする半導体装置作製方法。 2、有機樹脂の絶縁表面を有する基板上に、300〜3
    000人の薄さを有する金属膜または該金属膜と該金属
    膜上の透光性導電膜とを形成する工程と、前記第1の導
    電膜にレーザ光を照射して第1の開溝を形成し、前記第
    1の導電膜を複数の所定の形状に分割して複数の第1の
    電極を形成する工程と、該電極および前記開溝上に光照
    射により光起電力を発生させる非単結晶半導体を形成す
    る工程と、該半導体にレーザ光を照射して第2の開講ま
    たは開孔を(1) 形成する工程と、前記半導体および上記第2の開溝上に
    透光性導電膜を形成する工程と、該工程後、第2の導電
    膜にレーザ光を照射して前記第2の導電膜およびその下
    側の半導体を同時に除去して第3の開溝を形成し、複数
    の第2の電極を構成せしめることにより光電変換用半導
    体装置を作製することを特徴とする半導体装置作製方法
    。 3、特許請求の範囲第1項または第2項において、金属
    膜はアルミニュームまたはアルミニュームを主成分とし
    て有機物絶縁表面上に形成されたことを特徴とする半導
    体装置作製方法。 4、特許請求の範囲第1項および第2項において、有機
    膜は0.1〜5メツの厚さを有して金属箔基板上に形成
    されたことを特徴とする半導体装置作製方法。
JP59087523A 1984-04-28 1984-04-28 レ−ザ加工方法 Expired - Lifetime JP2585503B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59087523A JP2585503B2 (ja) 1984-04-28 1984-04-28 レ−ザ加工方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59087523A JP2585503B2 (ja) 1984-04-28 1984-04-28 レ−ザ加工方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS60231372A true JPS60231372A (ja) 1985-11-16
JP2585503B2 JP2585503B2 (ja) 1997-02-26

Family

ID=13917350

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP59087523A Expired - Lifetime JP2585503B2 (ja) 1984-04-28 1984-04-28 レ−ザ加工方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2585503B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01179466A (ja) * 1988-01-06 1989-07-17 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 薄膜形成方法
JPH01179465A (ja) * 1988-01-06 1989-07-17 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 薄膜形成方法
CN102918657A (zh) * 2010-07-06 2013-02-06 薄膜硅公司 光伏模块和制造具有电极扩散层的光伏模块的方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5683940A (en) * 1979-12-12 1981-07-08 Matsushita Electric Ind Co Ltd Manufacturing of semiconductor device
JPS5712568A (en) * 1980-06-02 1982-01-22 Rca Corp Method of producing solar battery

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5683940A (en) * 1979-12-12 1981-07-08 Matsushita Electric Ind Co Ltd Manufacturing of semiconductor device
JPS5712568A (en) * 1980-06-02 1982-01-22 Rca Corp Method of producing solar battery

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01179466A (ja) * 1988-01-06 1989-07-17 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 薄膜形成方法
JPH01179465A (ja) * 1988-01-06 1989-07-17 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 薄膜形成方法
CN102918657A (zh) * 2010-07-06 2013-02-06 薄膜硅公司 光伏模块和制造具有电极扩散层的光伏模块的方法
JP2013539595A (ja) * 2010-07-06 2013-10-24 シンシリコン・コーポレーション 光電池モジュール及び電極拡散層を持つ光電池モジュールの製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2585503B2 (ja) 1997-02-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4824488A (en) Photovoltaic device
EP1727211B1 (en) Method of fabricating a thin-film solar cell, and thin-film solar cell
JPS60227484A (ja) 半導体装置作製方法
JPS60231372A (ja) 半導体装置作製方法
JPH0476227B2 (ja)
JP3720254B2 (ja) 薄膜太陽電池及びその製造方法
JPS5996778A (ja) 光電変換装置作製方法
JP3209702B2 (ja) 光起電力装置製造方法
JPH0638512B2 (ja) 光電変換半導体装置
JPH06112514A (ja) 光電変換半導体装置作製方法
JP3505201B2 (ja) 光起電力装置の製造方法
JPH0558585B2 (ja)
JPH0518275B2 (ja)
JP2000049371A (ja) 光起電力装置及びその製造方法
JPH11126914A (ja) 集積化太陽電池の製造方法
JPH0443432B2 (ja)
JPH0572113B2 (ja)
JPH0614556B2 (ja) 光電変換装置及びその作製方法
JPS60227485A (ja) 半導体装置作製方法
JPS59225578A (ja) 光電変換半導体装置作製方法
JPS6242465A (ja) 光電変換装置
JPH0758797B2 (ja) 光電変換半導体装置の作製方法
JPS60211881A (ja) 半導体装置作製方法
JPS6158277A (ja) 半導体装置
JPS6081874A (ja) 光電変換装置

Legal Events

Date Code Title Description
EXPY Cancellation because of completion of term