JPS6022603A - 表示制御装置 - Google Patents
表示制御装置Info
- Publication number
- JPS6022603A JPS6022603A JP13226383A JP13226383A JPS6022603A JP S6022603 A JPS6022603 A JP S6022603A JP 13226383 A JP13226383 A JP 13226383A JP 13226383 A JP13226383 A JP 13226383A JP S6022603 A JPS6022603 A JP S6022603A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- output
- measured
- memory
- display
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、冷延鋼板形状検出・1−■において形状ヲ
CRTモニターに表示するための制ζ1]F!;、j4
’i’)−’:に関するものである。
CRTモニターに表示するための制ζ1]F!;、j4
’i’)−’:に関するものである。
一般に′帯状体の冷間圧延に関しては、その板厚精度と
ともに重要なことは形状(平坦度ともいう)である。し
かしながら、冷間圧延(′喝では、圧延中高い張力をか
けて圧延するので、被圧延4g即ち帯状体の弾性伸びの
為に該帯状体に例えは、中伸び又は耳波等の形状不良が
発生していてもその2τ2位イ直が減少または消失して
検出できないのが秋通である。従って、上記の如く高い
張力をイ」与した状態では、帯状体の形状不良部をI+
′−「液検出することはできないが、該帯状体の幅方1
「′oのす」(力分布を知ることにより1−j接的に形
状を検出できることは知られている。以下に周知の形状
検出・皆ト11について記す。
ともに重要なことは形状(平坦度ともいう)である。し
かしながら、冷間圧延(′喝では、圧延中高い張力をか
けて圧延するので、被圧延4g即ち帯状体の弾性伸びの
為に該帯状体に例えは、中伸び又は耳波等の形状不良が
発生していてもその2τ2位イ直が減少または消失して
検出できないのが秋通である。従って、上記の如く高い
張力をイ」与した状態では、帯状体の形状不良部をI+
′−「液検出することはできないが、該帯状体の幅方1
「′oのす」(力分布を知ることにより1−j接的に形
状を検出できることは知られている。以下に周知の形状
検出・皆ト11について記す。
第1図において、(1)は被11111定体即ち・11
1状体で、(2)は例えばデフレクタ−ローμの如き支
4′−40−ルである。(3)は1駆動信号発生器で、
例えば矩形波光信器でケ14成される。(3a)は、j
・υ(Jy器である。(4)は検出ヘッドで、被測定体
の11餡方向に沿いかつ適宜の停止手段により被測定体
表面に適宜間内をもって11「隔して設けられる。
1状体で、(2)は例えばデフレクタ−ローμの如き支
4′−40−ルである。(3)は1駆動信号発生器で、
例えば矩形波光信器でケ14成される。(3a)は、j
・υ(Jy器である。(4)は検出ヘッドで、被測定体
の11餡方向に沿いかつ適宜の停止手段により被測定体
表面に適宜間内をもって11「隔して設けられる。
該検出ヘッド(4)は外力印加装j7j(4a)及び変
位検出器(4b)で構成される。外力印加装置(4a)
は、被測定体(1)の幅方向に沿いlti面コ面状字状
+!Aに励イみコイ/L/ Bを設けた′1E磁石から
なり、載位検出器(4bχよ被flll定休(1)の1
.方向に沿ったノ人体部Cに復数個の変位測定用′申:
l;tj pを被i1+、lI定体表面にうめこまぜ
て設け、かつ外力印加装置(4a)と一体向に設けられ
る。(4c)は例えば静電容1^→電圧変換器の如き反
位変換回路である。(9)は信号処理回路で、極性[、
!J替器(5)、積分回路(6)、サンプルホールド回
路(7)、および前記各装置(5) 、 (Q) 、
(7)の動作タイミングを司どるタイミング発生回路(
8)で構成されタイミング発生回路(8)は111J記
各装置α(5) 、 (6) j(7)および矩形波発
信器(3)にそれぞれ連設されている。信号処理回路(
0)は表示裟置制御装誼α1を介して、例えばCRTモ
ニターのηIIき表示装置f((II)に連設される。
位検出器(4b)で構成される。外力印加装置(4a)
は、被測定体(1)の幅方向に沿いlti面コ面状字状
+!Aに励イみコイ/L/ Bを設けた′1E磁石から
なり、載位検出器(4bχよ被flll定休(1)の1
.方向に沿ったノ人体部Cに復数個の変位測定用′申:
l;tj pを被i1+、lI定体表面にうめこまぜ
て設け、かつ外力印加装置(4a)と一体向に設けられ
る。(4c)は例えば静電容1^→電圧変換器の如き反
位変換回路である。(9)は信号処理回路で、極性[、
!J替器(5)、積分回路(6)、サンプルホールド回
路(7)、および前記各装置(5) 、 (Q) 、
(7)の動作タイミングを司どるタイミング発生回路(
8)で構成されタイミング発生回路(8)は111J記
各装置α(5) 、 (6) j(7)および矩形波発
信器(3)にそれぞれ連設されている。信号処理回路(
0)は表示裟置制御装誼α1を介して、例えばCRTモ
ニターのηIIき表示装置f((II)に連設される。
tyこ、信号処理回1洛(9)はロールクヲウン制御回
路02)を介しロールクラウンNう・、)ト・々tii
: (13)へ連設することもできる。
路02)を介しロールクラウンNう・、)ト・々tii
: (13)へ連設することもできる。
次に、従来の表示装置側ζjl IJ 7.の(プJ作
(Ill明を第2図を用いて説明する。第2図においそ
、パルス発振器噸)より発生する均一パルス(2Oa)
をカウンタ回路(2iによりカウントして(21a−1
)、 (,21a−2)なるBCD出力を出し、そのB
CDコードを10進酉換回路02)により1の位の1〜
9と10の位の1〜9の101数に変換しく22a−1
)、 (22a−2)として出力する。
(Ill明を第2図を用いて説明する。第2図においそ
、パルス発振器噸)より発生する均一パルス(2Oa)
をカウンタ回路(2iによりカウントして(21a−1
)、 (,21a−2)なるBCD出力を出し、そのB
CDコードを10進酉換回路02)により1の位の1〜
9と10の位の1〜9の101数に変換しく22a−1
)、 (22a−2)として出力する。
その信号を受けて出力装置V31により、1,2,4゜
4 j5 、6 、7 、8 、9.10,11,12
・・・nと1111詩切換で行き(Z3a)として出力
しアナログ入力唆よりの1・・・n′=1でのアナログ
入力信号を(23a)の信号に順行アナログ出力(イ)
としてCRTモニクーの如き表示装置(If)に出力す
るものである。
4 j5 、6 、7 、8 、9.10,11,12
・・・nと1111詩切換で行き(Z3a)として出力
しアナログ入力唆よりの1・・・n′=1でのアナログ
入力信号を(23a)の信号に順行アナログ出力(イ)
としてCRTモニクーの如き表示装置(If)に出力す
るものである。
従来の制御回路では1ヱ極ピツチが第3図の様に同一間
隔であれば、制も11力式が均一パフレスで行っている
のでCRTモニターの表示にはi:!、5! i罠がな
かったが、第4図の()′Cに、′通極ピッチが均一で
なくなると、CRTモニターには、1五極ピツチにあっ
た表示が出来なくなる欠点があった。
隔であれば、制も11力式が均一パフレスで行っている
のでCRTモニターの表示にはi:!、5! i罠がな
かったが、第4図の()′Cに、′通極ピッチが均一で
なくなると、CRTモニターには、1五極ピツチにあっ
た表示が出来なくなる欠点があった。
この発明は上記のような従来のものの欠点を除去するた
めになされたもので、メモリ回?イとカウンタ回路及び
比較回路、ゲート切換回路などを用いて、被測定体の形
状を変位検出器のピッチにあった表示にしてCRTモニ
ターへ出力することと変位検出器の出力の有効判定を行
ない、被測定体の幅に対応した表示を行なうことを目的
とするものである。
めになされたもので、メモリ回?イとカウンタ回路及び
比較回路、ゲート切換回路などを用いて、被測定体の形
状を変位検出器のピッチにあった表示にしてCRTモニ
ターへ出力することと変位検出器の出力の有効判定を行
ない、被測定体の幅に対応した表示を行なうことを目的
とするものである。
以下、この発明の一実施例を第5図および第6図につい
て説明する。第6図において、(社)は基準クロック発
振器、(3I)は変位検出器アクセス回路、(3々はカ
ウンタ回路、1331 、 C(ηは比較回路、C→は
表示回数設定回路、(3鴫は信号処理回路指定アドレス
メモリ、011Ilは外部トリガ発生回路、賭は電極ピ
ッチj(さ指定メモリ、 (:+:+) 、 (41)
はアドレス切換回路、(4(2)は絶縁AhlP回路で
あり、これらを組合せて篇5図に示す表示装置用制御回
路側が(偶成されている。
て説明する。第6図において、(社)は基準クロック発
振器、(3I)は変位検出器アクセス回路、(3々はカ
ウンタ回路、1331 、 C(ηは比較回路、C→は
表示回数設定回路、(3鴫は信号処理回路指定アドレス
メモリ、011Ilは外部トリガ発生回路、賭は電極ピ
ッチj(さ指定メモリ、 (:+:+) 、 (41)
はアドレス切換回路、(4(2)は絶縁AhlP回路で
あり、これらを組合せて篇5図に示す表示装置用制御回
路側が(偶成されている。
次に、上記のように114成されるこの発明の一実施例
の動作を説明する。
の動作を説明する。
まず、第41図に示す(0−C]、Otでの)1ソ位訓
定用電枦りにりjし、11イ・づの(iFぢ鵠す1u1
烙(9)があり、それらの信号処理回路(9)の0〜1
0までの各同!洛を珀′、7.;+する指定番地をメモ
リ(3テに格納する。隋rJ’i方法は例えば原4図に
示す、、及位i+i:I定’+i−j:伴りの配列ピッ
チがtlの時は指定番地を1回メモリク(しパへ格納す
る。
定用電枦りにりjし、11イ・づの(iFぢ鵠す1u1
烙(9)があり、それらの信号処理回路(9)の0〜1
0までの各同!洛を珀′、7.;+する指定番地をメモ
リ(3テに格納する。隋rJ’i方法は例えば原4図に
示す、、及位i+i:I定’+i−j:伴りの配列ピッ
チがtlの時は指定番地を1回メモリク(しパへ格納す
る。
配列ピッチが1.の2倍のt2の1+irは、指定’(
+’r地を2回、メモリへ格納する。同様に配列ピッチ
が11の3倍のt3の時は指定番地を3回、メモリ(叫
へ格に1+1する。
+’r地を2回、メモリへ格納する。同様に配列ピッチ
が11の3倍のt3の時は指定番地を3回、メモリ(叫
へ格に1+1する。
次に、電極ピッチ指定メモリ0(へ)に各秒位1i1j
1定用重1i COイ10に対する有効IQ +111
定休幅を上記信号処理回路指定アドレスメモリ(鉗)と
同一方法でメモリ□□□へ格納する。
1定用重1i COイ10に対する有効IQ +111
定休幅を上記信号処理回路指定アドレスメモリ(鉗)と
同一方法でメモリ□□□へ格納する。
上記信号処理回路指定番地をメモリj(II・へ格納し
り結果を第7図に、電極ピッチに7Jするイ〕効波II
!11定体幅をメモリ(3四へ格納した17(“4!:
をり158図に示す。
り結果を第7図に、電極ピッチに7Jするイ〕効波II
!11定体幅をメモリ(3四へ格納した17(“4!:
をり158図に示す。
上記初期設定を実行して7J”ら、4人(、J’4クロ
ック51)振器(財))の信号(30b)をカウンタ回
路(32でカウントし、その値(32a)を信号処理回
II指定アドレスメモリ(ト)に入力すると、そのカウ
ント値に対する信号処理回路の指定脩地をメモリがら出
力(35a)Lt、。
ック51)振器(財))の信号(30b)をカウンタ回
路(32でカウントし、その値(32a)を信号処理回
II指定アドレスメモリ(ト)に入力すると、そのカウ
ント値に対する信号処理回路の指定脩地をメモリがら出
力(35a)Lt、。
アドレス切4・l!開回路3te)を経由して、0−1
01での信号処理回路の指定番地を出力(3C+a)す
ると同時に、変位15I出器アクセス回路(31)にて
、RDY信号(aza)を出力する。指定さA″Iた信
号処理回路(9)から被測定体(1)の変位信−号(4
0a)を出力すると同時に、変位信−号(4Oa)出力
完了ということでRPY信号(31b)を出力する。上
記r’、py +yi−δ(31b)入力で、変位検出
アクセス回路(31)が1 jjiIlf(′:完了信
号(31C)を出力し、次の信号処」j回+(4=、指
定番地を出力するためにカウンタ回+>、) 02へ、
クロック信y (30b) 全入力し順次侶七処坤回路
の指定番地を出方する。変位信号(4oa)を入力する
と絶j、雫AMP回路顛を仙って表示ヲ°i i?:i
Hへ出力を行なう。
01での信号処理回路の指定番地を出力(3C+a)す
ると同時に、変位15I出器アクセス回路(31)にて
、RDY信号(aza)を出力する。指定さA″Iた信
号処理回路(9)から被測定体(1)の変位信−号(4
0a)を出力すると同時に、変位信−号(4Oa)出力
完了ということでRPY信号(31b)を出力する。上
記r’、py +yi−δ(31b)入力で、変位検出
アクセス回路(31)が1 jjiIlf(′:完了信
号(31C)を出力し、次の信号処」j回+(4=、指
定番地を出力するためにカウンタ回+>、) 02へ、
クロック信y (30b) 全入力し順次侶七処坤回路
の指定番地を出方する。変位信号(4oa)を入力する
と絶j、雫AMP回路顛を仙って表示ヲ°i i?:i
Hへ出力を行なう。
カウンタ回11!δ(321の出力(32a)と表示回
数設定回1=’+s Nでr、’、3+定された悟−号
(34a)を比較回を各9刊で比較して一致したならば
、外rIS) !Iガ発生回路贈にて表示装置直(II
)へ外部トリガー信−υ(36a)の出力を行なうと同
時にカウンタ回路(3カのカウント値をリセットする。
数設定回1=’+s Nでr、’、3+定された悟−号
(34a)を比較回を各9刊で比較して一致したならば
、外rIS) !Iガ発生回路贈にて表示装置直(II
)へ外部トリガー信−υ(36a)の出力を行なうと同
時にカウンタ回路(3カのカウント値をリセットする。
上1己表示+ilJ御の1!l!I1作をjH%返し実
行する。
行する。
また、カウント回路(321からのカウント信−号C3
2a)を電極♂ツチ長さj盾定メモリ(3べ・へ入力す
ると、そのカウント値(32a)に対し、各厄(、′j
i C(Ic 10に刀1心する彼σill定体有効幅
をメモリ(3→より出力する。
2a)を電極♂ツチ長さj盾定メモリ(3べ・へ入力す
ると、そのカウント値(32a)に対し、各厄(、′j
i C(Ic 10に刀1心する彼σill定体有効幅
をメモリ(3→より出力する。
電極ピッチ長さ指定メモリ唆)からの1jllJ (i
llllll動体有効幅出力a)と被測定体(1)の斬
゛・信−W (37a )入力値とを、比較回路071
で大小判i1+を行なう。
llllll動体有効幅出力a)と被測定体(1)の斬
゛・信−W (37a )入力値とを、比較回路071
で大小判i1+を行なう。
幅1′言号(37a)が、被測定体有効’1’i、’+
7’、jl力(3aa)より大きければ現在メ七す0
0より出力している信号処理回路指定番地出力(35a
)は、冶効と判(1”J+ L、、アドレス1男換回路
(39)のゲートを開いて、11■1−号処胛回路指定
番地出力(35a)を出力する。
7’、jl力(3aa)より大きければ現在メ七す0
0より出力している信号処理回路指定番地出力(35a
)は、冶効と判(1”J+ L、、アドレス1男換回路
(39)のゲートを開いて、11■1−号処胛回路指定
番地出力(35a)を出力する。
信号処理回路指定番地が出力されると、ぞぜ位信−号入
力(4Oa)には、変位検出と)からの′(・テ位出力
が入力され、絶縁AlViP回路(10)を介して表示
!゛′□1′C(11)へ出力される。
力(4Oa)には、変位検出と)からの′(・テ位出力
が入力され、絶縁AlViP回路(10)を介して表示
!゛′□1′C(11)へ出力される。
−また逆に、幅信号(37a)が、岐測定体イJ効幅出
力(3Sa)より小さければ、現在メモリ(拘より出力
している信号処I]1′1回路指定番地出方(3Sa)
を無効と判断し、アドレス切換回路t411のゲートを
開いて、無効信号処(」1回路指定借地(41a)を出
力する。
力(3Sa)より小さければ、現在メモリ(拘より出力
している信号処I]1′1回路指定番地出方(3Sa)
を無効と判断し、アドレス切換回路t411のゲートを
開いて、無効信号処(」1回路指定借地(41a)を出
力する。
無効信号処理回路指定番地が出力されると、変位信号入
力(40a)には、Ovが入力され、絶縁AMPl!′
iJ路(10)を介して表示装置l″L(11)へ出方
される。
力(40a)には、Ovが入力され、絶縁AMPl!′
iJ路(10)を介して表示装置l″L(11)へ出方
される。
以上のように、この発明によれば各信号処理凹1洛の指
定番地を記憶しておくメモリ、電極配列に対する有効幅
を記1.へしておくメモリ、信号処理回路の指定番地を
順次指定するスキャニング回路と変位検出器出力の有効
・無効判定を備えたことにより、検出器配置ピッチに1
j司合しtコ表示が可能になった。また破11111定
休の1品に対応した表示が可能になった。
定番地を記憶しておくメモリ、電極配列に対する有効幅
を記1.へしておくメモリ、信号処理回路の指定番地を
順次指定するスキャニング回路と変位検出器出力の有効
・無効判定を備えたことにより、検出器配置ピッチに1
j司合しtコ表示が可能になった。また破11111定
休の1品に対応した表示が可能になった。
)°込1図は()亡来一般的な冷延り1・夷板形状検出
装置ttの11・1成を示すブロック図、′パシ2図は
従来の表示方式を説明するためのブロック1ンj、第3
図は検出器ピッチが等間隔に配列された検出ヘッドとそ
の表示形r歩を示す図、第4図は検出器ピッチが不等間
隔に配列された検出ヘッドとその表示月3態を小才19
第5図はこの発明の一実施例における冷延f’)’j板
形状検出装置°7の(16成を示すブロックト;1、第
61ン1は第5図に鰺ける装置の主匹部を昂)J戊する
表示:史i:’ffi、 Itl制御回路の構成を示す
ブロック図、第7し1及び渇8図は信号処理回路指定番
地及び被測定体幅をメモリに格納した結果を示す図であ
る。 図中、(1)は帯状体、(3)はf!iス動信−リー発
生))1+、(4)は検出ヘッド(4b)は変位検出器
、(9)はイ^8処J!ll囲1f’?1111)は表
示装装置、QQlは表示装置用制御回路である。 尚、各図中同一符号は同−又は相当部を示す。 代理人 大岩増ノ4L 第1I’4 第2図 第:3図 第71図 第す図 L−、、、l 乙10 第(−31)1 第7図
装置ttの11・1成を示すブロック図、′パシ2図は
従来の表示方式を説明するためのブロック1ンj、第3
図は検出器ピッチが等間隔に配列された検出ヘッドとそ
の表示形r歩を示す図、第4図は検出器ピッチが不等間
隔に配列された検出ヘッドとその表示月3態を小才19
第5図はこの発明の一実施例における冷延f’)’j板
形状検出装置°7の(16成を示すブロックト;1、第
61ン1は第5図に鰺ける装置の主匹部を昂)J戊する
表示:史i:’ffi、 Itl制御回路の構成を示す
ブロック図、第7し1及び渇8図は信号処理回路指定番
地及び被測定体幅をメモリに格納した結果を示す図であ
る。 図中、(1)は帯状体、(3)はf!iス動信−リー発
生))1+、(4)は検出ヘッド(4b)は変位検出器
、(9)はイ^8処J!ll囲1f’?1111)は表
示装装置、QQlは表示装置用制御回路である。 尚、各図中同一符号は同−又は相当部を示す。 代理人 大岩増ノ4L 第1I’4 第2図 第:3図 第71図 第す図 L−、、、l 乙10 第(−31)1 第7図
Claims (1)
- 被測定体に対向する位i整に互に所定の間隔ヲ11いて
被測定体の幅方向に配置され、被測定体の変位を611
1定する複数個の検出装置の検出出力分布をCRTモニ
タに表示するものに訃いて、上記各検出装置11出力の
指定アドレスを上記各検出51正の配置間隔に応じて記
憶するメモリ、上記禎数の検出装置;’7iの検出出力
を1県次アクセスし、上記メモリに記憶した検出アドレ
スに従ってCRTモニタに表示する手段、上記各検出テ
51旨の指定アドレスと上記被測定体の幅信−8−とを
比較して各検出装置の出力の有効・無効の1′1]定を
行なう、有効検出出力判定回路を(Qii k、」二化
検出U4 jl”i C’) l’l+!に、2間隔ニ
従ッテ上記検出出力を上記CRTモニタに表示するとと
もに、上記検出出力の有効・ulll;幼判定を行ない
、被測定体の幅に従った表示を1−1なうようにした表
示制御装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13226383A JPS6022603A (ja) | 1983-07-18 | 1983-07-18 | 表示制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13226383A JPS6022603A (ja) | 1983-07-18 | 1983-07-18 | 表示制御装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6022603A true JPS6022603A (ja) | 1985-02-05 |
Family
ID=15077185
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13226383A Pending JPS6022603A (ja) | 1983-07-18 | 1983-07-18 | 表示制御装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6022603A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPWO2010050607A1 (ja) * | 2008-10-31 | 2012-03-29 | 株式会社フジクラ | 静電容量型センサ |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5486368A (en) * | 1977-12-08 | 1979-07-09 | Westinghouse Electric Corp | Surface measuring device |
JPS5870102A (ja) * | 1981-10-22 | 1983-04-26 | Mitsubishi Electric Corp | 形状検出装置 |
-
1983
- 1983-07-18 JP JP13226383A patent/JPS6022603A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5486368A (en) * | 1977-12-08 | 1979-07-09 | Westinghouse Electric Corp | Surface measuring device |
JPS5870102A (ja) * | 1981-10-22 | 1983-04-26 | Mitsubishi Electric Corp | 形状検出装置 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPWO2010050607A1 (ja) * | 2008-10-31 | 2012-03-29 | 株式会社フジクラ | 静電容量型センサ |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Lee et al. | Characteristics of cognitive impairment in patients with post-stroke aphasia | |
Treis et al. | A modular PC based silicon microstrip beam telescope with high speed data acquisition | |
JPS6022603A (ja) | 表示制御装置 | |
JPS61196945A (ja) | X線断層撮影装置 | |
JPS5812551B2 (ja) | 波形表示警報装置 | |
US3639760A (en) | X-ray diffraction apparatus for measuring stress in a specimen | |
JPS62231628A (ja) | X線断層撮影装置 | |
SU830658A2 (ru) | Устройство дл измерени параметраСигНАлА изОбРАжЕНи | |
JPH0251125B2 (ja) | ||
RU2161807C2 (ru) | Радиолокатор | |
JP2594194B2 (ja) | 元素マッピング装置 | |
SU1096568A1 (ru) | Многоканальное устройство дл определени координат развивающейс трещины | |
JPS58127153A (ja) | X線透視検査装置 | |
Perrevoort | ATLAS measurements of CP violation and rare decays processes with beauty mesons | |
JP2651178B2 (ja) | Icカード試験装置 | |
SU928422A1 (ru) | Устройство дл контрол блоков пам ти | |
JPS6223269B2 (ja) | ||
JPS5814062A (ja) | 波高分析装置 | |
JPS6156427A (ja) | ストロボ電子ビ−ム装置 | |
RU2009453C1 (ru) | Многоканальное измерительное устройство | |
JP2850333B2 (ja) | マイクロプロセッサ開発支援装置 | |
SU1348858A1 (ru) | Система дл контрол электрофотографических слоев | |
SU1432459A1 (ru) | Адаптивный регул тор | |
US8380453B2 (en) | Method and device for determining the frequency distribution of the signal levels of a measured signal measured in overlapping observation intervals | |
JPS62128422A (ja) | 電子ビ−ム装置 |