JPS60225429A - 位置検出装置 - Google Patents

位置検出装置

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JPS60225429A
JPS60225429A JP59082601A JP8260184A JPS60225429A JP S60225429 A JPS60225429 A JP S60225429A JP 59082601 A JP59082601 A JP 59082601A JP 8260184 A JP8260184 A JP 8260184A JP S60225429 A JPS60225429 A JP S60225429A
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JP
Japan
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data
mark
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memory
addition
Prior art date
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Pending
Application number
JP59082601A
Other languages
English (en)
Inventor
Akihiro Nakamura
彰浩 中村
Ryozo Hiraga
平賀 亮三
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP59082601A priority Critical patent/JPS60225429A/ja
Publication of JPS60225429A publication Critical patent/JPS60225429A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F9/00Registration or positioning of originals, masks, frames, photographic sheets or textured or patterned surfaces, e.g. automatically
    • G03F9/70Registration or positioning of originals, masks, frames, photographic sheets or textured or patterned surfaces, e.g. automatically for microlithography

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は被検物体の位置を検出するための装置に関し、
殊に半導体焼付工程でウェハを位置合せする場合、テレ
ビカメラあるいはCOD等の撮像手段でウェハの位置検
出用アライメントマークを撮像して得た画像信号からウ
ェハ位置を正確に検知するための装置に関するものであ
る0 従来アライメントマークの周辺に実素子のパターンが配
置されている場合マークと実素子のパターンの区別がつ
かず、しばし、ば誤検知するという欠点があった。
更にアライメントマークのエツジ部を検出することによ
ってウェハの位置を測定していたためにウェハの位置検
出精度があがらなかった。
本発明は、上記欠点を改良するため罠なされたものであ
ル、加算方向に濃度差を有する位置検出用のアライメン
トマークを使用し、加算結果のマークの信号全体から近
似した2直線を計算し、直線の交点からマークの中心を
精度よく検知することによってウェハの位置を検出する
装置を提供することを目的とする。
以下、図面に従って本発明の詳細な説明する。まず外観
を描いた第1図で全体の構成を概説する。
1は集積回路パターンを具えたマスクで、他のマスクセ
ツテングマークやファイン・アライメントマークを具え
るものとする。2はマスク・チャックで、マスク1を保
持してマスク1を平面内並びに回転方向に移動させる。
3は縮小投影レンズ、4は感光層を具えるウェハーで、
ファイン・アライメントマークとブリ・アライメントマ
ークを具えるものとする。5はウニノ飄−・ステージで
ある。ウェハー・ステージ5はウェハー4を保持してそ
れを平面内並びに回転。
方向に移動させるものであり1.またウニノ・−焼付位
置(投影針内)とテレビ・プリアライメント位置間を移
動する。6は、テレビ・プリアライメント用検知装置の
対物レンズ、7は撮像管又は固体撮像素子、8は映倫観
察用のテレビ受像器である。9は双眼ユニットで、投影
レンズ3を介してウェハー4の表面を観察するために役
立つ。10#:i、光源10aを発したマスク照明光を
収束させるための照明光学系並びにファイン・・アライ
メント用の検知装置を収容する上部ユニットである。
ウェハー・ステージ5は、図示しないウェハー搬送手段
によシ搬送されたウェハーを所定の位置で保持し、まず
、テレビ・プリアライメント用対物レンズ6の視野内に
ウェハー上のアライメントマークが入る位置まで移、動
する。この時の位置精度は機械的なプリアライメント精
度によるものであり、対物レンズ6の視野はおよそ直径
1+wm〜2IIIl程度である。この視野内のアライ
メント・マークは撮像管7で検知され、テレビ・プリア
ライメント用の光学系内に設けられたテレビ・プリアラ
イメント用基準マーク(後述)を基準として、そこから
のアライメント・マークの座標位置が検出される。一方
、投影光学系のオートアライメント用検知位置と前述の
テレビ・プリアライメント用基準マークの位置はあらか
じめ設定されているのでこの2点の位置と、テレビ・プ
リアライメントマークの座標位置からオートアライメン
ト位置へのウニノ1−・ステージ5の送シ込み量が決め
られる。
テレビ・プリアライメントの位置検出精度は±5μ以下
であり、テレビ・プリアライメント位置からファイン・
アライメント位置までのウェハーステージの移動で発生
する誤差を考慮に入れても、±10μ程度である。従っ
てファインアライメントは約±10μの範囲で行えばよ
く、これは従来のファインアライメントの視野範囲の1
/100以下の範囲であり、ファインアライメントが従
来より高速で行えることになる。
第2図はテレビ・プリアライメント用検籾装置の実施例
を示しておシ1図中の縮小投影レンズ3.ウニノ・−4
,対物レンズ6、撮像管7は第1図と同一である。
他方、11は照明用光源で、例えばノ・ロゲンランプを
使用中る。12はコンデンサーレンズ。
13Aと13Bは交換的に着脱される明視野絞りと暗視
野絞りで、図では明視野絞り13Aを光路中に装着して
いる。コンデンサーレンズ12は光源11を明視野絞り
上に結像する。14は照明・用リレーレンズo15は接
合プリズムで、接合プリズム15は照明系の光軸と受光
系の光軸を共軸にする機能を持ち、内側反射面15aと
半透過反射面15bを具える0ここで光源11、コンデ
ンサーレンズ12、明又は暗視野絞シ13Aと13B、
照明リレーレンズ14、接合プリズム15、対やレンズ
6は照、量系を構成し、対物レンズ6を射出した光束は
ウニ/%−6上を落射照明する。
次に16はリレーレンズ、17は光路を折曲げる鏡、1
8はテレビ・プリアライメント用基準マークを有するガ
ラス板で、基準マークはいわば座標の原点を与える機能
を持つ、従ってプリアライメントマークはX座標の値と
X座標の値として検出されることになる。19は撮像レ
ンズで、上に述べた接合レンズ15、リレーレンズ16
、鏡17、ガラス板18、撮像レンズ19そして撮像管
7と共に受光系を構成し、対物レンズ6を通る光路は接
合プリズムの内側反射面15aで反射して半透過面15
bで反射し、再度内側反射面15aで反射してリレーレ
ンズ16へ向う。ウェハー4上のプリアライメントマー
ク像は基準マークを有するガラス板18上に形成された
後、基準マーク像と共に撮像管7の撮像面に結像する。
プリアライメントマークの検知作用を述べるが、検知し
たビデオ信号の電気処理については後述する。照明用光
源11からの光束はコンデンサーレンズ12で収斂され
て明視野絞、913A又は暗視野絞り13Bの開口を照
明し、更に照明リレーレンズ14を通過し、接合プリズ
ム、の半透過面15bを透過して反射面15aで反射し
、対物レンズ6を通ってウェハー4を照明する0 ウェハー4の表面で反射した光束は対物レンズ6で結像
作用を受け、接合プリズム15へ入射して反射面15a
で反射し、次いで半透過間15b1反射面15aで反射
してこれを射出し、リレーレンズ16でリレーされて鏡
17で反射し、ガラス板18上に結像した後、撮像レン
ズ19゛によシ撮像管7上に結像する。プリアライメン
トマーク像が明、瞭に見得る様にし、これを撮像してプ
リアライメントマーク像の位置を検出する。後述する電
気的処理により検出された、プリアライメントマークの
位置に応じてウェハー・ステージ5はウェハー4が投影
レンズ3の投影野中の規程位置4′を占める様に移動し
て停止する。なお、ウェハー4を一旦標準位置にアライ
メントし、その投影野中へ移動させる様に変形しても良
い。
第6図はテレビ・プリアライメント検知回路の一実施例
を示すブロック図である。第3図Aに示したテレビ・プ
リアライメントマークを検知する方法は色々あるが、第
6図に示した実施例はテレビの画像を画素に分解し、こ
の画素の濃度をX方向(水平方向)及びY方向(垂直方
向)に夫々、加算するものである。加算することによる
利点は、■加算によシランダム・ノイズが平均化されS
/N比がよくなる。■X方向とY方向の位置検知が独立
に行うことができ検知が簡単になる。0画像データを格
納するメモリの容量が少なくなる等があげられる。
第6図のブロック図において破線で囲まれたブロックX
は、X方向の画素の濃度を加算するブロック、ブロック
YはY方向の画素の濃度を加算するブロックである。
第6図において、31はビデオ・アンプ、32はアナロ
グデジタル変換器、33はラッチであり、テレビカメラ
コントロール部から送られるビデオ信号はビデオアンプ
31で増巾され、アナログデジタル変換器32でデジタ
ル化され、た後ラッチ33に格納される。ラッチ33の
出力データはX方向の加算ブロックXとY方向の加算ブ
ロックYへ出力される。ブロックYにおいて34はY方
向にデータを加算する加算器、35は加算器34の出力
データをラッチする加算出力ラッチ、36は加算出力ラ
ッチ35のデータを格納するY方向積算メモリ、37は
メモリ36の出力データをラッチする加算入力ラッチで
ある0 ブロックXにおいて、38はX方向にデータを加算する
加算器、39は加算器38の出力をラッチするラッチ、
40はラッチ39の出力データを格納するX方向積算メ
モリである。
これらの回路におけるデジタル・データのビット数に特
に限定はないが、例えばアナログ・デジタル変換器32
が8ビツト、加算器34゜38及びメモリ36.40が
16ビツト構成である。
一方、41はテレビ・プリアライメント検知回路のタイ
ミングやシーケンスを制御し、またメモリ36のリード
・ライト及びチップセレクトをコントロールするシーケ
ンス及びメモリコントロール回路、42はブロックX中
のメモリ40を制御するメモリコントロール回路である
43はシーケンス及ヒメモリコントロール回路41をマ
イクロプロセッサ(不図示)が制御するためのコントロ
ールレジスタで、レジスタの入力はマイクロプロセッサ
のデータバス44に接続されている。また、マイクロプ
ロセッサは、このデータバス44を介して、メモリ36
.40をアクセスする事が可能である045,46゜4
7.48はそのだめのバッファでアシ、バッファ45.
47はマイクロプロセッサがメモリにデータをライトす
る時、又バッファ46.48はデータをリードする時動
作する。49はクロック回路、50.51はX方向積算
メモリ36のライト・アドレス及びリード・アドレスを
発生する、メモリ・ライト・アドレス回路及びメモリ・
リード・アドレス回路である。52はメモリのリード・
アドレスとライト・アドレス、を切換えるアドレスセレ
クタ、53はマイクロプロセッサがメモリ36をアクセ
スする時のアドレスバッファであシ、マイクロプロセッ
サがアクセスする時以外は、アドレスセレクタ52の出
力が選択されており、バッファ53の出力は禁止されて
いる。54はX方向積算メモリ40のアドレスを発生す
るメモリ・アドレス回路、55はメモリアドレス回路5
4のアドレスとマイクロ・コンピュータがメモリ40を
アクセスする時発生するアドレスの切換をするアドレス
セレクタである。56はクロック回路49のクロックを
基準にTVの水平同期信号、垂直同期信号、ブランキン
グ信号等を発生するTV同期信号発生回路である。57
.58はマイクロコンピュータのデータバス44に接続
された夫々、X位置表示レジスタ、X位置表示レジスタ
、59はマーカー表示回路であり、テレビ・プリアライ
メントにおいて検出したアライメントマークの位置をマ
イクロプロセッサがX位置表示レジスタ57及びX位置
表示レジスタ58に出力することによシ、マーカ表示回
路59によりミックス信号として、TVカメラコントロ
ール部のビデオ入力端子へ送られる。
続いて第6図のテレビ・プリアライメント検知回路の機
能及び動作について説明する。
テレビ・プリアライメント検知回路の機能は。
■X方向のデータの積算、■Y方向のデータの積算、■
プリアライメントマーク検知位置のTVモニタ上への表
示である。
このうち、X方向のデータの積算及びY方向のデータの
積算は、テレビ・プリアライメント検知回路のハードウ
ェアが加算を実行し、その加算データをメモリに格納す
る。データの加算はテレビ信号の1フレ一ム単位で行わ
れ、後述する様に必要に応じて、1フレームの加算で終
了してもよいし、或は複数のフレームの加算を行っても
よい。いずれの場合でも、加算中は、メモリ36.40
のデータ・バス及びアドレス・バスハ、マイクロプロセ
ッサのデータ・バス44及びアドレス・バスから電気的
に切シ離されており、メモリ36のアドレスはアドレス
セレクタ52、メモリ40のアドレスはアドレス回路5
4のアドレスに接続され、シーケンス及びメモリコント
ロール回路41、及びメモリコントロール回路42から
ハード的に発生するり−ドライト信号及びチップセレク
ト信号の制御のもとに加算が実行される。
所定のフレーム数の加算が終了すると、シーケンス及び
メモリコントロール回路41からインタラブド信号線I
NT上に加算終了信号が発生する。この加算終了信号の
発生後、マイクロプロセッサは、メモリ36及びメモリ
40にアクセスを行い、加算データからテレビ・プリア
ライメントマーク位置を検知する。マイクロプロセッサ
がメモリ36.40をアクセスする時は、当然ながらメ
モリのアドレら・リードライト信号、チップセレクト信
号等はマ・rクロコンピユータの制御信号によって行わ
れる。またメモリ36のデー4はバッファ46、メモリ
40のデータはバッファ48を経由してデータバス44
に送られ、マ、イクロプロセッサに読み取られる。
ところで、第6図中プロツクXにおけるX方向の加算、
ブロックYにおけるY方向の加算を説明する前に第7図
を参照して画素の分割方法について述べる。第7図はテ
レビ画面をX方向にN分割、Y方向にM分割した画素を
表わしている。画素Ptiは、行を番目、列i番目の画
素を示す。Y方向の分割数Mは通常、水平走査ライン数
と一致しておシ、従って画素に分割するためには、−水
平同期信号区間内に、アナログ−デジタル変換器(第6
図32)にてN回サンプリングを行えばよい。
従ってX方向の加算は Sx、 −DATA (’pH) + DATA (P
u ) +−・・+ DATA (Pt N )、Sx
t = DATA (Pt1 ) + DATA (P
2! ) + −−+ DATA(Pt N )、8X
M=DATA(PMI)+DATA(PMり+・・・・
・・+DATA(PMN)、Y方向の加算は Syt = DATA (Pu ) + DATA (
P2+ )+・・・・・・DATA(PMI)、SYt
 =DATA(PIF) 十DATA(Pu)+・・・
・・・DATA (P Mt )、SYN = DAT
A(P+ N) + DATA(PtN)+・・・・・
・DATA (PMN )、であられされる。
加算が終了した時点で、X方向積算メモリ40内にはS
Xt + SXt・・・・・・SXMのデータが、Y方
向積算メモリ36内にはSY+ y Syt・・・・・
・8YNのデータが格納される。
本発明は、加算方向に濃度差を有するアライメン・トマ
ークに対して面積形法を積極的に利用し、マークを検知
するものである。本発明に使用するアライメントマーク
の一例は、第3回置に示すパターンで座標方向に加算し
た加算データが直線に近似できるパターンである。
第3図(4)に示したアライメントマークをX方向及び
Y方向に加算したときの濃5度の分布は、各々第3図(
B)及び(C)である。第3図0においてまず適当なス
ライスレベルを設けて背景の部分のデータを無視する。
このときデータ列の差分値をとり、その差分値の一定個
数の平均の値が一定スライスレベルを超えたかどうかに
より、背景とマークとのデータの区別をすることも可能
である。このようにしてマークの存在する部分だけのデ
ータ列を作成する。
次に、このデータ列の中のピーク値を検出し、そのピー
ク値を中心にデータ列を2分割する。
2分割されたデータ列は一本の直線に近似できる。2分
割した後のデータ列を次の様に定義し、最小2乗法を用
いる。
データの座標(xsyt) データ列 (x+ yt ) t=l−N近似式 )r
=ax+b 2乗平均誤差を最小にするための条件 する。
条件(a)よシ 2分割した1つのデータ列からめた近似式をy=a、x
+b、とし残りのデータ列からめた近似式をy=alx
+btとするとめるマークの中心位第3図(Qにおいて
も同様にマークの中心位置がまる。そして、この2つの
値がアライメントマークの中心座標となる。
この演算手順を示したものが第4図フローチャートであ
る。
工程401でスタートし、工程402において所定フレ
ーム数の加算が行なわれる。
工程403において背景部をカットする。
工程404においてピーク値を検出し、工程405にお
いて2分割する。この工程405において精度向上のた
めピーク位置付近のデータを無視してもよい。工程40
6にて直線に近似し、工程407でマークの中心の座標
を計算する0 第5図は、本発明に使用するアライメントマークの他の
例を列挙したものである。
第5装置に示すパターンを使用するときは、暗視野照明
とし直接反射光はカットする。ハツチングパターンから
の散乱(回折)光だけを堆シだすと、そのときの強度分
布の加算データは第3図(6)及びC)に一致する。
第5図の)に示すパターンを使用するときには暗視野照
明とする。このとき、ディテクタに方向性を持たせるこ
とによシ第3図(B)及び(C)に一致する信号を取シ
出すことが可能である。
本発明ではデータ列に含まれるデータを多数使用できる
ため精度のよいマーク位置検出ができる。
以上説明したように本発明によれば、アライメントマー
クの高精度位置検出ができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の実施例に係る位置合わせ装置の斜視
図、 第2図はテレビ・プリアライメント検知装置の光学系斜
視図である。 第3図は本発明の実施例に係るテレビアライメントマー
クの平面図と座標方向に関しての積算画像データ分布で
ある。 第4図は、本発明の実施例に係る位置検出装置の動作を
説明するためのフローチャート図である。 第5図は本発明に使用されるアライメントマークの他の
例である。 第6図は本発明の実施例に係るテレビプリアライメント
検知回路である。 第7図はテレビ画面の画素分割例を示す。 31・・・ビデオアンプ 32・・・ADコンバータ 33.35,37.39・・・ラッチ 34.38・・・アダー 36.40・・・メモリ 41・・・シーケンス/メモリコントロール回路42・
・・メモリコントロール回路 43・・・コントロールレジスタ 44・・・データバス 45〜48.5−3・・・バッファ 49・・・クロック回路 50・・・メモリライトアドレス回路 51・・・メモリリードアドレス回路 52.55・・・アドレスセレクタ 54・・・メモリアドレス回路 56・・・TV同期信号発生回路 57・・・X位置表示レジスタ 58・・・Y位置表示レジスタ 59・・・マーカ表示回路。 (Lt−山 (A) (B)

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1) 所定形状の位置検出用マークを備えた物体を撮
    像する撮像手段と。 前記撮像手段によシ得られ良画像濃度データを所定の座
    標方向に関して加算する加算手段と。 前記加算手段によって加算されたデータを直線に近似し
    、直線の交点からマークの中心位置をめる手段と から構成される装置検出装置。
  2. (2) 前記位置検出用マークの形状は、対向する三角
    形の対を形成するように四角形を対角線で区切った形状
    であシ対向する三角形の対は他の三角形の対に対して濃
    度の点において相違することを特徴とする特許請求の範
    囲第1項記載の位置検出装置。
JP59082601A 1984-04-24 1984-04-24 位置検出装置 Pending JPS60225429A (ja)

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JP59082601A JPS60225429A (ja) 1984-04-24 1984-04-24 位置検出装置

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