JPS60219644A - 光デイスク芯振れ量測定装置 - Google Patents
光デイスク芯振れ量測定装置Info
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- JPS60219644A JPS60219644A JP7604284A JP7604284A JPS60219644A JP S60219644 A JPS60219644 A JP S60219644A JP 7604284 A JP7604284 A JP 7604284A JP 7604284 A JP7604284 A JP 7604284A JP S60219644 A JPS60219644 A JP S60219644A
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B17/00—Guiding record carriers not specifically of filamentary or web form, or of supports therefor
- G11B17/34—Guiding record carriers during transducing operation, e.g. for track following
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B33/00—Constructional parts, details or accessories not provided for in the other groups of this subclass
- G11B33/10—Indicating arrangements; Warning arrangements
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- G—PHYSICS
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/095—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble
- G11B7/0953—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble to compensate for eccentricity of the disc or disc tracks
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- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/24—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material
- G11B7/26—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of record carriers
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明はビデオディスク等に使用される光ディスクの芯
振れ量を測定する光デイスク検査装置に関するものであ
る。
振れ量を測定する光デイスク検査装置に関するものであ
る。
従来例の構成とその問題点
光ディスクにおいては、芯振れ量が大きいと光デイスク
装置の光学ピックアップのサーボ追従性が悪くなシ、記
録再生ができなくなる。このため光ディスクの芯振れ量
を測定する必要がある。
装置の光学ピックアップのサーボ追従性が悪くなシ、記
録再生ができなくなる。このため光ディスクの芯振れ量
を測定する必要がある。
以下に従来の光デイスク検査装置について説明する。
第１図は従来の光デイスク検査装置の１例の概略構成図
を示すものであシ、１は光ディスクで半径方向に同一ピ
ッチ間隔の同心円状あるいはスパイラル状の情報トラッ
ク１ａが形成されている計２は光ディスクを回転させる
ディスクモータである。３はレーザ光源でコヒーレント
な光ビームを発生する。４はコリメータレンズでレーザ
光源３からのレーザ光を平行光にする。６は偏光ビーム
スプリッタ、６はλ／４波長板である０７は絞シレンズ
でレーザ光を微小スポットに絞って光ディスク１の情報
トラック１ａに照射する。８は光学ピックアップであり
、絞りレンズ７を収容したレンズホルダー８ａとレンズ
ホルダー８ａをフォーカス方向（面振れ方向）及びトラ
ッキング方向（芯振れ方向）に駆動するボイスコイル等
からなる駆動手段８ｂとから構成されている。９は光デ
ィスク１からの反射光を絞る凸レンズ、１０は反射光を
分割する分割ミラーである。１１はフォーカス用光検出
器で、これにてフォーカス制御信号を得、１２はトラッ
キング用光検出器で、これにてトラッキング制御信号を
得る。またこの２つの光検出器は２分割の光検出器であ
る。１２はレンズホルダー８ａのトラッキング方向の動
きを検出する非接触変位計である。
を示すものであシ、１は光ディスクで半径方向に同一ピ
ッチ間隔の同心円状あるいはスパイラル状の情報トラッ
ク１ａが形成されている計２は光ディスクを回転させる
ディスクモータである。３はレーザ光源でコヒーレント
な光ビームを発生する。４はコリメータレンズでレーザ
光源３からのレーザ光を平行光にする。６は偏光ビーム
スプリッタ、６はλ／４波長板である０７は絞シレンズ
でレーザ光を微小スポットに絞って光ディスク１の情報
トラック１ａに照射する。８は光学ピックアップであり
、絞りレンズ７を収容したレンズホルダー８ａとレンズ
ホルダー８ａをフォーカス方向（面振れ方向）及びトラ
ッキング方向（芯振れ方向）に駆動するボイスコイル等
からなる駆動手段８ｂとから構成されている。９は光デ
ィスク１からの反射光を絞る凸レンズ、１０は反射光を
分割する分割ミラーである。１１はフォーカス用光検出
器で、これにてフォーカス制御信号を得、１２はトラッ
キング用光検出器で、これにてトラッキング制御信号を
得る。またこの２つの光検出器は２分割の光検出器であ
る。１２はレンズホルダー８ａのトラッキング方向の動
きを検出する非接触変位計である。
以上のように構成された光デイスク検査装置について、
以下その動作について説明する。
以下その動作について説明する。
レーザ光源３から発光したレーザ光はコリメータレンズ
４を通り平行光となり、その後偏光ビームスプリッタ５
．λ／４波長板６を通シ、絞シレンズ７によりディスク
１の情報トラック１ａに照射される。ディスク１の情報
トラック１ａからの反射光は入射光と同一経路を逆行す
るが、λ／４波長板を２度通過することにより入射光と
偏光面が異なるレーザ光となる。このため反射光は偏光
ビームスプリッタ６を直進して行き凸レンズ９を通過し
、分割ミラー１ｏで分割され、一方フオーカス用光検出
器１１に、他方はトラッキング用光検出器１２に照射さ
れる。この時、光ディスク１の面振れ量、芯振れ量に対
応したフォーカス誤差信号およびトラッキング誤差信号
が光検出器１１゜１２にそれぞれ発生する。かかるフォ
ーカス誤差信号、トラッキング誤差信号により光学ピッ
クアップ８の駆動手段８ｂに駆動電流を流し、絞シレン
ズ７を収容したレンズホルダー８ ａ ヲ光ｆイスク１
の面振れ、芯振れに追従するように動作させフォーカス
制御、−トラッキング制御を行う。そして光ディスク１
の芯振れに追従しているレンズホルダー８ａのトラッキ
ング方向の動きを非接触変位計１２によって検出し、光
ディスク１の芯振れ量を測定する。
４を通り平行光となり、その後偏光ビームスプリッタ５
．λ／４波長板６を通シ、絞シレンズ７によりディスク
１の情報トラック１ａに照射される。ディスク１の情報
トラック１ａからの反射光は入射光と同一経路を逆行す
るが、λ／４波長板を２度通過することにより入射光と
偏光面が異なるレーザ光となる。このため反射光は偏光
ビームスプリッタ６を直進して行き凸レンズ９を通過し
、分割ミラー１ｏで分割され、一方フオーカス用光検出
器１１に、他方はトラッキング用光検出器１２に照射さ
れる。この時、光ディスク１の面振れ量、芯振れ量に対
応したフォーカス誤差信号およびトラッキング誤差信号
が光検出器１１゜１２にそれぞれ発生する。かかるフォ
ーカス誤差信号、トラッキング誤差信号により光学ピッ
クアップ８の駆動手段８ｂに駆動電流を流し、絞シレン
ズ７を収容したレンズホルダー８ ａ ヲ光ｆイスク１
の面振れ、芯振れに追従するように動作させフォーカス
制御、−トラッキング制御を行う。そして光ディスク１
の芯振れに追従しているレンズホルダー８ａのトラッキ
ング方向の動きを非接触変位計１２によって検出し、光
ディスク１の芯振れ量を測定する。
しかしながら、上記のような構成では、装置が複雑で高
価になり、実用性に乏しいという欠点がある。
価になり、実用性に乏しいという欠点がある。
発明の目的
本発明は上記従来の欠点を解消するもので簡単な構成で
正確に光ディスクの芯振れ量を測定できる光デイスク検
査装置を提供する事を目的とする。
正確に光ディスクの芯振れ量を測定できる光デイスク検
査装置を提供する事を目的とする。
発明の構成
本発明は光デイスク上に形成された、溝を有する情報ト
ラック部と溝のない平面部との境界にレーザ光の中心が
位置するように照射し、前記レーザ光の透過光あるいは
反射光あるいは１次の回折光を検出する光検出器を備え
た光デイスク検査装置であり、透過光あるいは反射光を
検出する光検出器と１次の回折光を検出する光検出器と
のそれぞれの出力の比により光ディスクの芯振れ量を測
定できるものである。
ラック部と溝のない平面部との境界にレーザ光の中心が
位置するように照射し、前記レーザ光の透過光あるいは
反射光あるいは１次の回折光を検出する光検出器を備え
た光デイスク検査装置であり、透過光あるいは反射光を
検出する光検出器と１次の回折光を検出する光検出器と
のそれぞれの出力の比により光ディスクの芯振れ量を測
定できるものである。
実施例の説明
第２図は本発明の実施例における光デイスク検査装置の
概略図を示すものである。第２図において、１４は光デ
ィスクで溝のない平面部１４．ａと ゛半径方向に同一
ピッチ間隔の同心円状あるいはスパイラル状の溝を有す
る情報トラック１４ｂが形成されている。１６は光ディ
スク１４を回転させ ・るディスクモーターである。１
６はコヒーレントな光ビームを発生するレーザ光源であ
り、そのビーム径は光ディスクの芯振れ量の３倍程度を
必要とする。１了はビームスプリッタで光ナイスク１４
の平面部１４ａからの反射光を光検出器の方向へ向ける
。１８は光ディスク１４の平面部１４ａからの反射光を
検出する光検出器である。１９は光ディスク１４の溝を
有する情報トランク１４ｂからの１次の回折光を検出す
る光検出器で、芯振れのない光ディスクからの１次の回
折光の光軸上に位置している。
概略図を示すものである。第２図において、１４は光デ
ィスクで溝のない平面部１４．ａと ゛半径方向に同一
ピッチ間隔の同心円状あるいはスパイラル状の溝を有す
る情報トラック１４ｂが形成されている。１６は光ディ
スク１４を回転させ ・るディスクモーターである。１
６はコヒーレントな光ビームを発生するレーザ光源であ
り、そのビーム径は光ディスクの芯振れ量の３倍程度を
必要とする。１了はビームスプリッタで光ナイスク１４
の平面部１４ａからの反射光を光検出器の方向へ向ける
。１８は光ディスク１４の平面部１４ａからの反射光を
検出する光検出器である。１９は光ディスク１４の溝を
有する情報トランク１４ｂからの１次の回折光を検出す
る光検出器で、芯振れのない光ディスクからの１次の回
折光の光軸上に位置している。
第３図、第４図は、本発明の実施例における光、ディス
ク芯振れ量測定装置の動作説明図である０１４ａは光デ
ィスク１４の溝のない平面部で、１、４ ｂは光ディス
ク１４の溝を有する情報トラック部である。２ｏはレー
ザ光の照射光である。
ク芯振れ量測定装置の動作説明図である０１４ａは光デ
ィスク１４の溝のない平面部で、１、４ ｂは光ディス
ク１４の溝を有する情報トラック部である。２ｏはレー
ザ光の照射光である。
２１．２３は光ディスク１４の溝を有する情報トラック
部１４ｂからの１次の回折光、２２．２４は光ディスク
１４の平面部１４ａからの反射光であ、る。
部１４ｂからの１次の回折光、２２．２４は光ディスク
１４の平面部１４ａからの反射光であ、る。
以上のように構成されたこの実施例の光ディスク芯振れ
量測定装置について、第２図、第３図。
量測定装置について、第２図、第３図。
第４図を用いて、以下その動作について説明する。
レーザ光源１ｅから発光したレーザ光はビームスプリッ
タ１７を経て光ディスク１４に垂直に入射する。レーザ
光は光ディスク１４の平面部１４ａで反射する光と溝を
有する情報トラック１４ｂで反射す゛る光とに分かれ、
光ディスク１４の平面部１４ａからの反射光は入射光軸
に沿って反射する。
タ１７を経て光ディスク１４に垂直に入射する。レーザ
光は光ディスク１４の平面部１４ａで反射する光と溝を
有する情報トラック１４ｂで反射す゛る光とに分かれ、
光ディスク１４の平面部１４ａからの反射光は入射光軸
に沿って反射する。
情報トラック１４ｂからの反射光は、情報トラック１４
ｂが半径方向に同一間隔の凹部構造になっているため、
回折格子と同一の働きをすることになシ、光デイスク１
４０牛径方向に回折されることになる。この回折光の１
次の回折光は光検出器１９に入射し、光ディスク１４の
平面部１４ａでの反射光は光検出器１８に入射する。光
ディスクの芯振れ量の測定原理を第３図、第４図を用い
て説明する。光ディスク１４に偏心があると入射光２１
の光デイスク１４上に照射される位置が、光ディスクの
回転によって、第３図２第４図に示すように異なってく
る。つま９、光ディスク１４の溝のない平面部１４ａと
溝を有する情報トラック部１４ｂとにレーザ光２０が入
射する割合が異なってくる。したがって、光ディスク１
４の平面部１４ａでの反射光と情報トラック１４ｂでの
１次の回折光の光量は変化する。この変化は光ディスク
１４の芯振れ量により変化するものであり、光ディスク
１４の平面部１４ａでの反射光２２．２４を検出する光
検出器１８の出力、あるいは、溝を有する情報トラック
部１４ｂでの１次の回折光２１．２３を検出する光検出
器１９の出力を測定することにより光ディスク１４の芯
振れ量を測定することができる。また、透過光を検出す
ることにより芯振れ量が測定できることも明らかである
。
ｂが半径方向に同一間隔の凹部構造になっているため、
回折格子と同一の働きをすることになシ、光デイスク１
４０牛径方向に回折されることになる。この回折光の１
次の回折光は光検出器１９に入射し、光ディスク１４の
平面部１４ａでの反射光は光検出器１８に入射する。光
ディスクの芯振れ量の測定原理を第３図、第４図を用い
て説明する。光ディスク１４に偏心があると入射光２１
の光デイスク１４上に照射される位置が、光ディスクの
回転によって、第３図２第４図に示すように異なってく
る。つま９、光ディスク１４の溝のない平面部１４ａと
溝を有する情報トラック部１４ｂとにレーザ光２０が入
射する割合が異なってくる。したがって、光ディスク１
４の平面部１４ａでの反射光と情報トラック１４ｂでの
１次の回折光の光量は変化する。この変化は光ディスク
１４の芯振れ量により変化するものであり、光ディスク
１４の平面部１４ａでの反射光２２．２４を検出する光
検出器１８の出力、あるいは、溝を有する情報トラック
部１４ｂでの１次の回折光２１．２３を検出する光検出
器１９の出力を測定することにより光ディスク１４の芯
振れ量を測定することができる。また、透過光を検出す
ることにより芯振れ量が測定できることも明らかである
。
第６図に光検出器の出力例を示す。このｐ−ｐ値が芯振
れ量に対応する。
れ量に対応する。
また第６図に光検出器１８．１９の出力を割算回路を通
して出力比より゛芯振れ量を測定する装置の構成を示す
。光ｆイスク１４の溝のない平面部１４ａでの反射光２
６を検出する光検出器１８の出力をＰｌ とし、溝を有
する情報トラック１４ｂでの１次の回折光２７を検出す
る光検出器１９の出力をＰ２とすれば割算回路２６の出
力Ｐは、Ｐ−Ｐ２／Ｐ１となる。この出力Ｐは光ディス
ク１４の芯振れ量に対応している。このように割算回路
２６を通し、両者の出力比をとることによシ、反射光と
１次の回折光の光量は、第３図、第４図に示すように、
反射光量が多ければ、１次回折光量は小さいので、割算
回路２６の出力比の変化率が大きくなり、芯振れ量の測
定精度が増す。また何らかの要因（例えばノイズ等）で
入射レーザ光に外乱が生じたとしても、反射光２６に対
する光検出器１８の出力で回折光２７に対する光検出器
の出力を割算しているために、打ち消される。
して出力比より゛芯振れ量を測定する装置の構成を示す
。光ｆイスク１４の溝のない平面部１４ａでの反射光２
６を検出する光検出器１８の出力をＰｌ とし、溝を有
する情報トラック１４ｂでの１次の回折光２７を検出す
る光検出器１９の出力をＰ２とすれば割算回路２６の出
力Ｐは、Ｐ−Ｐ２／Ｐ１となる。この出力Ｐは光ディス
ク１４の芯振れ量に対応している。このように割算回路
２６を通し、両者の出力比をとることによシ、反射光と
１次の回折光の光量は、第３図、第４図に示すように、
反射光量が多ければ、１次回折光量は小さいので、割算
回路２６の出力比の変化率が大きくなり、芯振れ量の測
定精度が増す。また何らかの要因（例えばノイズ等）で
入射レーザ光に外乱が生じたとしても、反射光２６に対
する光検出器１８の出力で回折光２７に対する光検出器
の出力を割算しているために、打ち消される。
またより芯振れ量測定精度を高めるために、レーザ光の
照射光軸上にコリメータレンズおよびスリットを設ける
。第７図を用いて説明する。第７図ａに示すようにレー
ザ光源１６より発光したレーザ光は、広がり角をもち、
その光強度分布は、ガウス分布となる。そのため、光強
度はビームの中心と外側とでは、かなシ差異が見られ、
測定精度を悪くする事になる。そのために、レーザ光の
光軸上にコリメータレンズ２６を設け、レーザ光を平行
光にし、さらにスリット２７を通すことにより、光強度
がほぼ一定となる範囲（第７図すの光強度分布の実線部
分）で、測定できるので測定精度は高まる。
照射光軸上にコリメータレンズおよびスリットを設ける
。第７図を用いて説明する。第７図ａに示すようにレー
ザ光源１６より発光したレーザ光は、広がり角をもち、
その光強度分布は、ガウス分布となる。そのため、光強
度はビームの中心と外側とでは、かなシ差異が見られ、
測定精度を悪くする事になる。そのために、レーザ光の
光軸上にコリメータレンズ２６を設け、レーザ光を平行
光にし、さらにスリット２７を通すことにより、光強度
がほぼ一定となる範囲（第７図すの光強度分布の実線部
分）で、測定できるので測定精度は高まる。
以上のように、この実施例によれば光ディスクに形成さ
れた溝を有する情報トラック部と溝のない平面部との境
界に光ビームの中心がくるように照射されたレーザ光の
回折光あるいは反射光あるいは透過光を検出する光検出
器の出力を測定する事により簡単に芯振れ量を測定でき
る。また、反射光を検出する光検出器の出力で、あるい
は、透過光を検出する光検出器の出力で、回折光を検出
する光検出器の出力を割算する事にょシ、一層正確な芯
振れ量が測定でき、さらにレーザ光軸上にコリメータレ
ンズとスリットを設け、光ビームを波形整形することに
より測定精度を高めて、測定することができる。
れた溝を有する情報トラック部と溝のない平面部との境
界に光ビームの中心がくるように照射されたレーザ光の
回折光あるいは反射光あるいは透過光を検出する光検出
器の出力を測定する事により簡単に芯振れ量を測定でき
る。また、反射光を検出する光検出器の出力で、あるい
は、透過光を検出する光検出器の出力で、回折光を検出
する光検出器の出力を割算する事にょシ、一層正確な芯
振れ量が測定でき、さらにレーザ光軸上にコリメータレ
ンズとスリットを設け、光ビームを波形整形することに
より測定精度を高めて、測定することができる。
発明の効果
本発明の光ディスク芯振れ量測定装置は、光ディスクに
形成された溝のある情報トラックと溝のない平面部との
境界に、コヒーレントな光ビームの中心が照射されるよ
うに設け、その光ビームの透過光あるいは反射光あるい
は１次の回折光を検出する光検出器を設けることにより
、従来に比べて簡単な構成にて光ディスクの芯振れ量を
測定することができる。
形成された溝のある情報トラックと溝のない平面部との
境界に、コヒーレントな光ビームの中心が照射されるよ
うに設け、その光ビームの透過光あるいは反射光あるい
は１次の回折光を検出する光検出器を設けることにより
、従来に比べて簡単な構成にて光ディスクの芯振れ量を
測定することができる。
なお、透過光あるいは反射光を検出する光検出器の出力
で、１次の回折光を検出する光検出器の出力を割算する
ことにより、芯振れ量の検出感度が向上するようにすれ
ば、入射レーザ光に外乱が生じたとしても外乱成分が除
去されるため、測定精度が向上する。さらに、レーザ光
の出射光軸上にコリメータレンズおよびスリットを設け
れば、光ビームの光強度分布がほぼ一定となり、リニア
リティ範囲が拡大し測定範囲及び測定精度が向上する。
で、１次の回折光を検出する光検出器の出力を割算する
ことにより、芯振れ量の検出感度が向上するようにすれ
ば、入射レーザ光に外乱が生じたとしても外乱成分が除
去されるため、測定精度が向上する。さらに、レーザ光
の出射光軸上にコリメータレンズおよびスリットを設け
れば、光ビームの光強度分布がほぼ一定となり、リニア
リティ範囲が拡大し測定範囲及び測定精度が向上する。
【図面の簡単な説明】
第１図は従来の光デイスク検査装置の原理図、第２図は
本発明の一実施例における゛光デイスク芯振れ量測定装
置の原理図、第３図、第４図、第６図は本発明の一実施
例における光ディスク芯振れ量測定装置の動作説明のだ
めの原理図、第６図。 第７図は同動作説明のための図である。 −１４・・・
・・・光ディスク、１７・・・・・・ビームスプリッタ
、１８．１９・・・・・・光検出器、２６・・・・・・
割算回路、１４ａ・・・・・・溝のない平面部、１４ｂ
・・・・・・溝を有する情報トラック部、２０・・・・
・・レーザ光。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか１名第１
図 第２図 第３図 第６図 第 ７ 図 光Ｓ東影濤 ｔ（１） Ｌ６轍彦
本発明の一実施例における゛光デイスク芯振れ量測定装
置の原理図、第３図、第４図、第６図は本発明の一実施
例における光ディスク芯振れ量測定装置の動作説明のだ
めの原理図、第６図。 第７図は同動作説明のための図である。 −１４・・・
・・・光ディスク、１７・・・・・・ビームスプリッタ
、１８．１９・・・・・・光検出器、２６・・・・・・
割算回路、１４ａ・・・・・・溝のない平面部、１４ｂ
・・・・・・溝を有する情報トラック部、２０・・・・
・・レーザ光。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか１名第１
図 第２図 第３図 第６図 第 ７ 図 光Ｓ東影濤 ｔ（１） Ｌ６轍彦
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 Ｏ） コヒーレントな光ビームを発生するレーザ光源を
、光ディスクに形成された、溝を有する情報トラック部
と溝のない平面部との境界が、前記レーザ光源より発光
した光ビームの中心に照射されるように設け、前記光ビ
ームの透過光あるいは反射光あるいは１次の回折光を検
出する光検出器を設け、この光検出器により光ディスク
の芯振れ量を測定することを特徴とする光ディスク芯振
れ量測定装置。 （２）透過光を検出する光検出器の出力で１次の回折光
を検出する光検出器の出力を、あるいは、反射光を検出
する光検出器の出力で１次の回折光を検出する光検出器
の出力を割算する事を特徴とする特許請求の範囲第１項
記載の光ディスク芯振れ量測定装置。 ０） し〜ザ光源より発光しさ光ビームの光軸上にコリ
メータレンズおよびスリットを設けた特許請求の範囲第
１項または第２項記載の光ディスク芯振れ量測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7604284A JPS60219644A (ja) | 1984-04-16 | 1984-04-16 | 光デイスク芯振れ量測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7604284A JPS60219644A (ja) | 1984-04-16 | 1984-04-16 | 光デイスク芯振れ量測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60219644A true JPS60219644A (ja) | 1985-11-02 |
Family
ID=13593739
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7604284A Pending JPS60219644A (ja) | 1984-04-16 | 1984-04-16 | 光デイスク芯振れ量測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60219644A (ja) |
-
1984
- 1984-04-16 JP JP7604284A patent/JPS60219644A/ja active Pending
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