JPS60205337A - 不良アンプル剤を検出する方法及び装置 - Google Patents
不良アンプル剤を検出する方法及び装置Info
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- JPS60205337A JPS60205337A JP59062663A JP6266384A JPS60205337A JP S60205337 A JPS60205337 A JP S60205337A JP 59062663 A JP59062663 A JP 59062663A JP 6266384 A JP6266384 A JP 6266384A JP S60205337 A JPS60205337 A JP S60205337A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
- G01N21/9054—Inspection of sealing surface and container finish
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、透明又は半透明容器を自動的に検出する方法
及び装置に関するもので、これにより良品容器と不良品
容器とを容易に選別するにある。
及び装置に関するもので、これにより良品容器と不良品
容器とを容易に選別するにある。
この透明又は半透明容器としては、その代表的なものと
して、アンプル剤をあげ、以下これについて説明する。
して、アンプル剤をあげ、以下これについて説明する。
アンプルの製剤工程においては、液剤や固形剤を充填し
、アンプル頭部の開口部をガスバーナー等で熱溶閉して
アンプル剤を製造するのであるが、この液剤の充填時に
、充填ノズルからの充填液の飛沫が飛び散ったり、充填
ノズルの先端がアンプル頭部の内壁に接触したり、ある
いは溶閉直前のガス置換時にガス圧によって充填液が跳
ね上ったりして、アンプル頭部の上方の内壁に液剤が付
着し、これが溶閉時の熱により炭化してアンプル頭部の
内壁に焼は焦げが発生することが多いのである。
、アンプル頭部の開口部をガスバーナー等で熱溶閉して
アンプル剤を製造するのであるが、この液剤の充填時に
、充填ノズルからの充填液の飛沫が飛び散ったり、充填
ノズルの先端がアンプル頭部の内壁に接触したり、ある
いは溶閉直前のガス置換時にガス圧によって充填液が跳
ね上ったりして、アンプル頭部の上方の内壁に液剤が付
着し、これが溶閉時の熱により炭化してアンプル頭部の
内壁に焼は焦げが発生することが多いのである。
従来、アンプル剤の内を面における焼は焦げや、付着し
た汚れや、異物の検出は、アンプル剤の背景に白色板を
置き、上方より蛍光灯で照射した状態にて目視検査をす
ることより、検出をしていたが、熟練度や感１こ左右さ
れることが多く、検出積度が低く、その上、人手による
ので非能率的であるという欠点があった。
た汚れや、異物の検出は、アンプル剤の背景に白色板を
置き、上方より蛍光灯で照射した状態にて目視検査をす
ることより、検出をしていたが、熟練度や感１こ左右さ
れることが多く、検出積度が低く、その上、人手による
ので非能率的であるという欠点があった。
本発明は、これらの欠点を解決すべく創出されたもので
、その第１の目的は、従来の検査における目視検査から
効率のよい検出を行うにある。この目的を達成するため
ｌこ、本発明の方法は、光源からの光を拡散板を透して
アンプル剤に投射し、そのアンプル剤を透過した透過光
を受光面に投影し、その焼は焦げや汚れによる黒い影を
光センサーで検知するようにする。
、その第１の目的は、従来の検査における目視検査から
効率のよい検出を行うにある。この目的を達成するため
ｌこ、本発明の方法は、光源からの光を拡散板を透して
アンプル剤に投射し、そのアンプル剤を透過した透過光
を受光面に投影し、その焼は焦げや汚れによる黒い影を
光センサーで検知するようにする。
このような方法によれば、白色光を背景とする透過光は
光学系によって焼は焦げや汚れ等を受光面上に投影する
ので、その投影された黒い投影像を光センサーによって
検知して、これを電気信号１こ変換し、その信号のレベ
ルを検知するのであるが、この時、アンプル剤の璧の傷
や泡等も規は焦げや汚れの影像と同じように黒い投影像
となって現われるから、この黒い投影像を変換した電気
信号の処理だけでは、焼は焦げや汚れと、傷や泡との判
別がつき難くなる。
光学系によって焼は焦げや汚れ等を受光面上に投影する
ので、その投影された黒い投影像を光センサーによって
検知して、これを電気信号１こ変換し、その信号のレベ
ルを検知するのであるが、この時、アンプル剤の璧の傷
や泡等も規は焦げや汚れの影像と同じように黒い投影像
となって現われるから、この黒い投影像を変換した電気
信号の処理だけでは、焼は焦げや汚れと、傷や泡との判
別がつき難くなる。
この場合、傷や泡は、アンプルそのものの生地管製造時
に発生下るものであって汚れではないから良品アンプル
剤として使用に耐えることができ、その童は良品アンプ
ル剤の５〜１５％程度のものである。
に発生下るものであって汚れではないから良品アンプル
剤として使用に耐えることができ、その童は良品アンプ
ル剤の５〜１５％程度のものである。
したがって、これを焼は焦げや汚れの不良品とは判別す
る必要がある。
る必要がある。
そこで、本発明の第２の目的は、アンプル剤の焼は焦げ
や汚れでない表面の傷や泡による影像の影響を消して、
焼は焦げや汚れのあるものだけを検出して選別するにあ
る。この目的を達成するために、本発明の方法は、第２
光源からの光をアンプル剤に投射し、その反射光を受光
面に投影させて、その投影像を、前記の第１光源からの
アンプル剤の透過光による投影像に組み重ねることによ
り、透過光による傷や泡の影響をなくし、焼は焦げや汚
れの投影像のものだけを検出して選別するようにしたも
のである。
や汚れでない表面の傷や泡による影像の影響を消して、
焼は焦げや汚れのあるものだけを検出して選別するにあ
る。この目的を達成するために、本発明の方法は、第２
光源からの光をアンプル剤に投射し、その反射光を受光
面に投影させて、その投影像を、前記の第１光源からの
アンプル剤の透過光による投影像に組み重ねることによ
り、透過光による傷や泡の影響をなくし、焼は焦げや汚
れの投影像のものだけを検出して選別するようにしたも
のである。
以−ド、本発明の方法を実施するための装置の実施例を
、被検査容器のアンプル剤について説明下る。
、被検査容器のアンプル剤について説明下る。
第１図に示すものは、アンプル（ａｌであって、その頭
部（１）は上方が開口（２）されていて、この開口（２
）から充填ノズルが挿入されて薬液が充填されるのであ
るが、その際充填ノズルからの充填液の飛沫が飛び散っ
たり、充填ノズルの先端が内壁に触れたり、あるいは溶
閉直前のガス置換時に、ガス圧による充填液の跳ね上り
等で薬液が内壁に付着し、これが開口（２）を溶閉する
とき焼は焦げを生ずるのである。
部（１）は上方が開口（２）されていて、この開口（２
）から充填ノズルが挿入されて薬液が充填されるのであ
るが、その際充填ノズルからの充填液の飛沫が飛び散っ
たり、充填ノズルの先端が内壁に触れたり、あるいは溶
閉直前のガス置換時に、ガス圧による充填液の跳ね上り
等で薬液が内壁に付着し、これが開口（２）を溶閉する
とき焼は焦げを生ずるのである。
そこで、このアンプル剤（Ａｌの焼は焦げ、あるいは汚
れを検知するのに、第２図に示すようにアンプル剤体）
に対して、光源（ｂｌから摺り硝子等の拡散板（ｃｌを
透して拡散光を投射し、これの透過光を結像レンズ（ｄ
ｉを透して光センサ−ｔｅ＋の受光面に投影し、この投
影による焼は焦げや汚れの黒い影像を電気信号に変換し
、これを処理回路（ｆｌにて処理して検出する。このと
き、アンプル剤に対下る投射光は拡散板（ｃｌによって
拡散されるから、アンプル剤（Ａｌに光が均一に投射さ
れてアンプル剤（Ａｌに対する背景が白色光となり、焼
は焦げや汚れの黒い影をもれなく捕えることができるの
である。
れを検知するのに、第２図に示すようにアンプル剤体）
に対して、光源（ｂｌから摺り硝子等の拡散板（ｃｌを
透して拡散光を投射し、これの透過光を結像レンズ（ｄ
ｉを透して光センサ−ｔｅ＋の受光面に投影し、この投
影による焼は焦げや汚れの黒い影像を電気信号に変換し
、これを処理回路（ｆｌにて処理して検出する。このと
き、アンプル剤に対下る投射光は拡散板（ｃｌによって
拡散されるから、アンプル剤（Ａｌに光が均一に投射さ
れてアンプル剤（Ａｌに対する背景が白色光となり、焼
は焦げや汚れの黒い影をもれなく捕えることができるの
である。
拡散板（ｃｌは、アンプル剤囚が白く明るくなるもので
あれば摺り硝子に限ることはない。
あれば摺り硝子に限ることはない。
第３図に示すものは、アンプル剤（Ａｌに対しての投光
が、光源（ｂｌより投光レンズ（ｇｌを透して平行光線
としたものであり、また第４図に示Ｔものは、アンプル
剤（Ａ）に対する投光が光源面より反射板（ｈｌを介し
たものである。
が、光源（ｂｌより投光レンズ（ｇｌを透して平行光線
としたものであり、また第４図に示Ｔものは、アンプル
剤（Ａ）に対する投光が光源面より反射板（ｈｌを介し
たものである。
このように、光源（ｂｌあるいは（ｂｌからのアンプル
剤（Ａｔを透過した透過光は、結像レンズ（ｄｌを透し
て光センサ−（８１の受光面に投影されるのであるが、
第５図（イ）に示すように透過光にかぎってみると、壁
内面の焼は焦げや汚れ（３）は黒い影として投影される
と共に、アンプル剤囚が有する傷や泡（４）をも黒い影
として光センサ−（ｅｌに検知される。
剤（Ａｔを透過した透過光は、結像レンズ（ｄｌを透し
て光センサ−（８１の受光面に投影されるのであるが、
第５図（イ）に示すように透過光にかぎってみると、壁
内面の焼は焦げや汚れ（３）は黒い影として投影される
と共に、アンプル剤囚が有する傷や泡（４）をも黒い影
として光センサ−（ｅｌに検知される。
そこで、本発明は、この傷や泡（４）による黒い影の影
像を消すため、光源（ｂｌからの直進透過光ζこ対して
、これとは別方向からの投射光の第２光源（ｉ）を設け
、投光レンズ（ｊｌを透してアンプル剤（Ａｌに投射し
、その反射光を、結像レンズ（ｄｌを透して光センサ−
（ｅｌの受光面に投影して検知下るようになっている。
像を消すため、光源（ｂｌからの直進透過光ζこ対して
、これとは別方向からの投射光の第２光源（ｉ）を設け
、投光レンズ（ｊｌを透してアンプル剤（Ａｌに投射し
、その反射光を、結像レンズ（ｄｌを透して光センサ−
（ｅｌの受光面に投影して検知下るようになっている。
この反射光は、物体に当って反射する光であるから、光
センサ−ｔｅ＋の受光面には、第５図（ロ）に示すよう
に傷や泡（４）は、その周辺より逆に明るくなって白く
投影されるのである。
センサ−ｔｅ＋の受光面には、第５図（ロ）に示すよう
に傷や泡（４）は、その周辺より逆に明るくなって白く
投影されるのである。
また第４図に示すものは、反射板（ｈｌによる反射透過
光の光源ｔｂｌが、直接の反射光の光源をも兼ねるもの
である。
光の光源ｔｂｌが、直接の反射光の光源をも兼ねるもの
である。
以上のように、アンプル剤（Ａ）に対する透過光による
影像と、反射光による影像とを同時に光センサ−ｔｅ＋
の受光面に重ねて投影させると、第５図Ｅ→に示すよう
に、傷や泡（４）は黒い影となることなく消え去り、焼
は焦げや汚れ（３１は黒い影像として残る。この影像を
光センサ−ｆａｔにて検知して電気信号に変換し、この
信号のレベルの変化を次の処理図絡げ）において処理し
、この処理にて検出されたアンプル剤（Ａｌは、不良品
としてその製造工程から排除されるようになっている。
影像と、反射光による影像とを同時に光センサ−ｔｅ＋
の受光面に重ねて投影させると、第５図Ｅ→に示すよう
に、傷や泡（４）は黒い影となることなく消え去り、焼
は焦げや汚れ（３１は黒い影像として残る。この影像を
光センサ−ｆａｔにて検知して電気信号に変換し、この
信号のレベルの変化を次の処理図絡げ）において処理し
、この処理にて検出されたアンプル剤（Ａｌは、不良品
としてその製造工程から排除されるようになっている。
第６図に示すように、光センサ−（θ）の受光面は縦方
向に細かく区切られた受光部（５）を有するもので、こ
の受光部（６）がアンプル剤（Ａｌの頭部（１）の投影
像の縦方向の中央にあって、アンプル剤（Ａｌを回転し
つつ、この投影像を受光部（４）で検知することによっ
て頭部（１）の全体を検査するようになっている。
向に細かく区切られた受光部（５）を有するもので、こ
の受光部（６）がアンプル剤（Ａｌの頭部（１）の投影
像の縦方向の中央にあって、アンプル剤（Ａｌを回転し
つつ、この投影像を受光部（４）で検知することによっ
て頭部（１）の全体を検査するようになっている。
第７図は、このときの光センサ−ｔｅｌからの光を電気
信号に変換した場合の処理図であって、その（イ）は透
過光のみとした時の信号で、（０）は焼は焦げ部、（７
）、（８）は偏部であり、（ロ）は反射光のみとした時
の信号で、（７１、（８１は偏部である。また（ハ）は
透過光像と反射光像を光センサ−ｔｅｌの受光面上で組
合わせた時の信号で、（６）は焼は焦げ部、（７５は透
過光像と反射光像との信号が相殺されて残った反射光像
側のパ偏部、（８）は同様の透過光側の偏部であって、
これら（７）、（８）は、透過光と反射光の強さのバラ
ンス上全く相殺される（８） こともある。点線Ｉは検知レベル線である。
信号に変換した場合の処理図であって、その（イ）は透
過光のみとした時の信号で、（０）は焼は焦げ部、（７
）、（８）は偏部であり、（ロ）は反射光のみとした時
の信号で、（７１、（８１は偏部である。また（ハ）は
透過光像と反射光像を光センサ−ｔｅｌの受光面上で組
合わせた時の信号で、（６）は焼は焦げ部、（７５は透
過光像と反射光像との信号が相殺されて残った反射光像
側のパ偏部、（８）は同様の透過光側の偏部であって、
これら（７）、（８）は、透過光と反射光の強さのバラ
ンス上全く相殺される（８） こともある。点線Ｉは検知レベル線である。
この結果、検知レベル線（８１より突出してＧ、）るの
は、透過光像による焼は焦げ部（６）であるから、これ
を処理回路（ｆ）で処理して検出し、不良品のアンプル
剤偽）をその製造工程より排除すればよい。
は、透過光像による焼は焦げ部（６）であるから、これ
を処理回路（ｆ）で処理して検出し、不良品のアンプル
剤偽）をその製造工程より排除すればよい。
なお、一般的に物に反射してくる反射光は、直進してく
る透過光に対し光の強さが弱いので、透過光と反射光と
の強さのバランスを調整する必要がある。
る透過光に対し光の強さが弱いので、透過光と反射光と
の強さのバランスを調整する必要がある。
また拡散板や反射板は、アンプル剤に対し、白色光（例
えば散乱光）を背景とする透過光を提供し、焼は焦げや
汚れ、異物等の黒い影を捕え易くするものである。
えば散乱光）を背景とする透過光を提供し、焼は焦げや
汚れ、異物等の黒い影を捕え易くするものである。
これを要するに、本発明は、透明又は半透明の被検査容
器、例えばアンプル剤に対して、光を投射し、それから
の透過光と反射光とを同時に捕えて、アンプル自体が有
する傷や泡の黒い影の影響を消すことにより、焼は焦げ
や汚れ、ら、その検出選別は、迅速確実にして自動的に
効率よく行うことができる。
器、例えばアンプル剤に対して、光を投射し、それから
の透過光と反射光とを同時に捕えて、アンプル自体が有
する傷や泡の黒い影の影響を消すことにより、焼は焦げ
や汚れ、ら、その検出選別は、迅速確実にして自動的に
効率よく行うことができる。
図面は本発明の方法を実施するための装置に係るもので
、第１図（イ）はアンプルの断面図、（ロ）はアンプル
剤の正面図、第２図は装置の説明的図面、第３図及び第
４図は装置の別例の説明的図面、第５図は受光面の投影
像の説明的図面であって、（イ）は透過光のみの場合に
よるもの、（ロ）は反射光のみの場合によるもの、（ハ
）はこれらを重ねたもの、第６図は投影像と受光面との
関係を示す説明的図面、第７図は光センサーからの光を
電気信号に変換した処理図であって、（イ）は透過光の
みの場合の信号、（ロ）は反射光のみの場合の信号、←
１は透過光像と反射光像とを受光面上で組合わせた信号
である。 Ａ・・・・・・・・・・・・アンプル剤ａ・・・・・・
・・・・・・アンプル ｂ、 ｂ・・・・・・光 源 Ｃ・・・・・・・・・・・・拡散板 ｄ・・・・・・・・・・・・結像レンズｅ・・・・・・
・・・・・・光センサ−ｆ・・・・・・・・・・・処理
回路 ｇ・・・・・・・・・・・・投光レンズｈ・・・・・・
・・・・・・反射板 １・・・・・・・・・・・・第２光源 Ｊ・・・・・・・・・・・・投光レンズ・・・・・・・
・・・・・検知レベル線ｌ・・・・・・・・・・・・頭
部 ２・・・・・・・・・・・開 口 ３・・・・・・・・・・・焼は焦げ、汚れ４・・・・・
・・・・・・・傷、泡 ５・・・・・・・・・・・・受光部 （１１） ＜ＩＸ
、第１図（イ）はアンプルの断面図、（ロ）はアンプル
剤の正面図、第２図は装置の説明的図面、第３図及び第
４図は装置の別例の説明的図面、第５図は受光面の投影
像の説明的図面であって、（イ）は透過光のみの場合に
よるもの、（ロ）は反射光のみの場合によるもの、（ハ
）はこれらを重ねたもの、第６図は投影像と受光面との
関係を示す説明的図面、第７図は光センサーからの光を
電気信号に変換した処理図であって、（イ）は透過光の
みの場合の信号、（ロ）は反射光のみの場合の信号、←
１は透過光像と反射光像とを受光面上で組合わせた信号
である。 Ａ・・・・・・・・・・・・アンプル剤ａ・・・・・・
・・・・・・アンプル ｂ、 ｂ・・・・・・光 源 Ｃ・・・・・・・・・・・・拡散板 ｄ・・・・・・・・・・・・結像レンズｅ・・・・・・
・・・・・・光センサ−ｆ・・・・・・・・・・・処理
回路 ｇ・・・・・・・・・・・・投光レンズｈ・・・・・・
・・・・・・反射板 １・・・・・・・・・・・・第２光源 Ｊ・・・・・・・・・・・・投光レンズ・・・・・・・
・・・・・検知レベル線ｌ・・・・・・・・・・・・頭
部 ２・・・・・・・・・・・開 口 ３・・・・・・・・・・・焼は焦げ、汚れ４・・・・・
・・・・・・・傷、泡 ５・・・・・・・・・・・・受光部 （１１） ＜ＩＸ
Claims (3)
- （１）透明又は半透明の被検査容器に光線を投射し、そ
の透過光による影像と、反射光による影像とを同時に組
合わせることにより、被検査容器面にある傷、泡等の影
響を打ち消し、その容器に付着した焼き焦げや汚れの影
像を検知するようにした不良容器を検出する方法。 - （２） 透明又は半透明の被検査容器に対して、透過光
及び反射光となる光源をそれぞれ備えると共に、被検査
容器よりの透過光と反射光とを投影させる光学系を介し
て同時に投影させる受光面と、この受光面の投影像を電
気信号ｉこ変換させる光センサーとより構成した不良容
器を検出する装置。 - （３） 透過光線は、拡散板による拡散光、反射板によ
る反射光、投光レンズによる平行光である特許請求の範
囲第１項及び第２項記載の不良容器を検出する方法及び
装置。
Priority Applications (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59062663A JPS60205337A (ja) | 1984-03-30 | 1984-03-30 | 不良アンプル剤を検出する方法及び装置 |
| US06/712,604 US4664525A (en) | 1984-03-30 | 1985-03-18 | Method and apparatus for detecting inferior container |
| AT85103495T ATE57260T1 (de) | 1984-03-30 | 1985-03-25 | Verfahren und vorrichtung zum nachweis von minderwertigen behaeltern. |
| EP85103495A EP0156346B1 (en) | 1984-03-30 | 1985-03-25 | Method and apparatus for detecting inferior container |
| DE8585103495T DE3579928D1 (de) | 1984-03-30 | 1985-03-25 | Verfahren und vorrichtung zum nachweis von minderwertigen behaeltern. |
| CA000477537A CA1234610A (en) | 1984-03-30 | 1985-03-26 | Method and apparatus for detecting inferior container |
| MX204783A MX158299A (es) | 1984-03-30 | 1985-03-28 | Mejoras en metodo y aparato para detectar un recipiente de calidad inferior |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59062663A JPS60205337A (ja) | 1984-03-30 | 1984-03-30 | 不良アンプル剤を検出する方法及び装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60205337A true JPS60205337A (ja) | 1985-10-16 |
| JPH0426423B2 JPH0426423B2 (ja) | 1992-05-07 |
Family
ID=13206752
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59062663A Granted JPS60205337A (ja) | 1984-03-30 | 1984-03-30 | 不良アンプル剤を検出する方法及び装置 |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4664525A (ja) |
| EP (1) | EP0156346B1 (ja) |
| JP (1) | JPS60205337A (ja) |
| AT (1) | ATE57260T1 (ja) |
| CA (1) | CA1234610A (ja) |
| DE (1) | DE3579928D1 (ja) |
| MX (1) | MX158299A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62161043A (ja) * | 1985-11-22 | 1987-07-17 | Eisai Co Ltd | 容器に付着した汚れを検出する方法 |
| JPH02134547A (ja) * | 1988-11-16 | 1990-05-23 | Canon Inc | 異物検出装置 |
| JP2007078498A (ja) * | 2005-09-14 | 2007-03-29 | Hitachi Information & Control Solutions Ltd | 光透過性容器充填液体中の異物検査装置 |
| WO2011125927A1 (ja) | 2010-04-01 | 2011-10-13 | 新日本製鐵株式会社 | 粒子測定装置および粒子測定方法 |
| JP2012242148A (ja) * | 2011-05-17 | 2012-12-10 | Kurabo Ind Ltd | 透明体ボトルの外観検査装置及び外観検査方法 |
| JP2021099310A (ja) * | 2019-11-15 | 2021-07-01 | エフ ホフマン−ラ ロッシュ アクチェン ゲゼルシャフト | 検査室サンプル容器の特性を判定するための装置、検査室自動化システム、および検査室サンプル容器の特性を判定するための方法 |
Families Citing this family (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4868404A (en) * | 1987-04-23 | 1989-09-19 | Hajime Industries, Ltd. | Surface inspection apparatus using a mask system to monitor uneven surfaces |
| US4975568A (en) * | 1988-02-10 | 1990-12-04 | Takeda Chemical Industries, Ltd. | Container inspecting apparatus with a light shielding member shaped to container profile |
| DE4002034C1 (ja) * | 1989-12-05 | 1991-05-02 | Elpatronic Ag, Zug, Ch | |
| DE10322459B3 (de) * | 2003-05-16 | 2004-11-11 | Krones Ag | Inspektionsvorrichtung für Flaschen |
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