JPS60201241A - 缶蓋のシ−リングコンパウンド検査装置 - Google Patents
缶蓋のシ−リングコンパウンド検査装置Info
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- JPS60201241A JPS60201241A JP5623384A JP5623384A JPS60201241A JP S60201241 A JPS60201241 A JP S60201241A JP 5623384 A JP5623384 A JP 5623384A JP 5623384 A JP5623384 A JP 5623384A JP S60201241 A JPS60201241 A JP S60201241A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
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- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
- G01N21/909—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents in opaque containers or opaque container parts, e.g. cans, tins, caps, labels
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（蚊東上Ｖ利用分野）
この発＠８懺缶酷缶の麩等の周辺部内側に一布芒れたシ
ーりングコンバウンドの血イシ不良を検出ブーるための
装置、に関ブーる。
ーりングコンバウンドの血イシ不良を検出ブーるための
装置、に関ブーる。
（便米（文術）
缶詰缶の＆等の周辺部内側ＫＭ、二隻鴨紬綿ヲ密封する
ためシーりングコンパウンドが全周にわたって慮布され
ている。ライナーにおりるコンパウンド量の垂らし込め
不良等、棟々Ｑ原因によってコンパウンドの塗布不良が
生ずると缶等ｖ布封不良を生じる結果となる。
ためシーりングコンパウンドが全周にわたって慮布され
ている。ライナーにおりるコンパウンド量の垂らし込め
不良等、棟々Ｑ原因によってコンパウンドの塗布不良が
生ずると缶等ｖ布封不良を生じる結果となる。
仁のため、コンパウンドの勉布不良の検出が不可欠であ
り、従来人＋による快食が行なわれていたり この＠全工程の自動化のため、本発明者等は、コンベア
等で搬送される無のコンパウンド頼布部を、コンベアの
１側双いは両側に配置したス射製光亀ヘッドによって、
光の反釣率の変化の有無として＠食する恢慨するシステ
ムを開発したロ （％公陥５６−１３２５２号、同餡５
７−３５４１９号） しかし、これらの＠資システムは、向足配置された反射
型光電ヘッドを用いるため、缶殖の全周辺の凱布状紘を
検出するためには何らかの方法で光−ヘッドυ下で新を
回転させることか不可欠となる＠蛛にも、コンベヤ等で
連続的に送シながら固定された光電ヘッドの下で蓋を回
転させることは国難であシ、田無Ｏ移送後へか複雑なも
Ｑとならざるを得なかった。そして、回転４！を栴がう
まく作動しない場合には蓋の全周の潰食が小米ないこ七
は明らかである。
り、従来人＋による快食が行なわれていたり この＠全工程の自動化のため、本発明者等は、コンベア
等で搬送される無のコンパウンド頼布部を、コンベアの
１側双いは両側に配置したス射製光亀ヘッドによって、
光の反釣率の変化の有無として＠食する恢慨するシステ
ムを開発したロ （％公陥５６−１３２５２号、同餡５
７−３５４１９号） しかし、これらの＠資システムは、向足配置された反射
型光電ヘッドを用いるため、缶殖の全周辺の凱布状紘を
検出するためには何らかの方法で光−ヘッドυ下で新を
回転させることか不可欠となる＠蛛にも、コンベヤ等で
連続的に送シながら固定された光電ヘッドの下で蓋を回
転させることは国難であシ、田無Ｏ移送後へか複雑なも
Ｑとならざるを得なかった。そして、回転４！を栴がう
まく作動しない場合には蓋の全周の潰食が小米ないこ七
は明らかである。
（発明の目的）
とＶ発明は、コンベヤ上ｔｌ一連絖移送される缶飼の全
周の元反射率を、はぼｌ＋ｙ＞時に検出する憤出装電を
用いることによル、上ｓｌ：８のような蕪の回転を不要
にしようというものでおる。
周の元反射率を、はぼｌ＋ｙ＞時に検出する憤出装電を
用いることによル、上ｓｌ：８のような蕪の回転を不要
にしようというものでおる。
（発ｔ１１ｊυ帽１
以下、図面を１照してＷ＋袖に説明する。
第１図口こυ発明の１１ｉの１実−カυ揖地を示す軌怠
−である。
−である。
検出会は反射截り■１出しとして鉤欣されるが、投ｙｔ
＆＃ ｔｉｔ ｔｒ！出ヘッド１の外ＭＩＫ尋問隔に起
振された１８ケのランフ”２．２’である。
＆＃ ｔｉｔ ｔｒ！出ヘッド１の外ＭＩＫ尋問隔に起
振された１８ケのランフ”２．２’である。
反射光ｈランプ２．２′の中心ＶＬ起振された演出ヘッ
ド１申の対物レンズ３及びリレーレンズ４によって、リ
ングセンサー５上にリング状に集束される。
ド１申の対物レンズ３及びリレーレンズ４によって、リ
ングセンサー５上にリング状に集束される。
リングセンサー５は、第２図にその代表的な構造を拡大
して示すよう忙、半鏡Ｒが約１ ｍｍの円周上に幅Ｗが
０゜ｌｙｍ！ｉｉｌ＆のダイオード６を６４ケ配服した
ものであ夛、借金のコンパウンド塗布部からの反射光祉
このダイオード６上に集束される。
して示すよう忙、半鏡Ｒが約１ ｍｍの円周上に幅Ｗが
０゜ｌｙｍ！ｉｉｌ＆のダイオード６を６４ケ配服した
ものであ夛、借金のコンパウンド塗布部からの反射光祉
このダイオード６上に集束される。
第１図中、７はコンベヤ、８は田無であ夛、９はフード
であクランプ２■光が直接にレンズ糸３４に入射するの
を防止する口 なお、鉄８の進行方向前面には、投光器１０、受光躇１
１からなる数位ｉ＆、＠出器が配飯されている。
であクランプ２■光が直接にレンズ糸３４に入射するの
を防止する口 なお、鉄８の進行方向前面には、投光器１０、受光躇１
１からなる数位ｉ＆、＠出器が配飯されている。
この蓋位＊ｔ＊出器祉検出ヘッド１１２）ヒ取シタイミ
ング信号を発するためのもので、缶に８がフード９の真
下に釆たとき、論ＳＶ縁が光路を過断し、リングセンサ
５の翫込与開始１８号を発するように１４金される〇 コンベヤ７で連続的に諏迭される賑８が１ｉｌｉｔ位ｔ
Ｉｌ［検出に―の投光器１０からの元称を連動すると、
胱込与開始伯号により、光＆検出１社リングセンサーの
６４ケのダイオード出力ｔ−ｍ次＆７１．ミ込む。こ■
どき断線フード９の−、下にあシ、賑胸辺部υシーリン
グコンパウンドの勉布部の縁かＴ１リングセンサー５ｖ
ダイオード６上に形成されている。そして谷ダイオード
の出力は入射先組に比レリするので、出力１６号の強弱
によってシーリングコンパウンドＶ）塗布不良部の有無
を刊別するり 上記のダイオードｖｖ：、込みを％向えは２５０Ｋｋｊ
、のクロックでヤゴない、１パルス毎に１つのダイオー
ドの情報を航込むとすれは、１枚Ｏ翫Ｖ顔布状級の軌込
娶に炊すゐ時間ｔは Ｌ＝ −Ｘ １ｏ−６Ｘ６４＝２５６μｂ＠ａ５０ でろシ、コンベヤ速度を２１ｉ秒とすると、１回のデー
タ画定中に蓋か移動する距離は約０．５ ｍｍであり、
約５０ ｍｍφの無を２ ｍｔｎφに結隊するとして、
＋ＡＩＷ！Ｉ率は１／２５で、測定中υリングセンサ上
υ泳Ｖ移動は約Ｑ、 ０２ ｍｍにすぎず一リングセン
サ上のダイオード６０大きさ０．１ ｍｍに灼り、て十
分に小さい。
ング信号を発するためのもので、缶に８がフード９の真
下に釆たとき、論ＳＶ縁が光路を過断し、リングセンサ
５の翫込与開始１８号を発するように１４金される〇 コンベヤ７で連続的に諏迭される賑８が１ｉｌｉｔ位ｔ
Ｉｌ［検出に―の投光器１０からの元称を連動すると、
胱込与開始伯号により、光＆検出１社リングセンサーの
６４ケのダイオード出力ｔ−ｍ次＆７１．ミ込む。こ■
どき断線フード９の−、下にあシ、賑胸辺部υシーリン
グコンパウンドの勉布部の縁かＴ１リングセンサー５ｖ
ダイオード６上に形成されている。そして谷ダイオード
の出力は入射先組に比レリするので、出力１６号の強弱
によってシーリングコンパウンドＶ）塗布不良部の有無
を刊別するり 上記のダイオードｖｖ：、込みを％向えは２５０Ｋｋｊ
、のクロックでヤゴない、１パルス毎に１つのダイオー
ドの情報を航込むとすれは、１枚Ｏ翫Ｖ顔布状級の軌込
娶に炊すゐ時間ｔは Ｌ＝ −Ｘ １ｏ−６Ｘ６４＝２５６μｂ＠ａ５０ でろシ、コンベヤ速度を２１ｉ秒とすると、１回のデー
タ画定中に蓋か移動する距離は約０．５ ｍｍであり、
約５０ ｍｍφの無を２ ｍｔｎφに結隊するとして、
＋ＡＩＷ！Ｉ率は１／２５で、測定中υリングセンサ上
υ泳Ｖ移動は約Ｑ、 ０２ ｍｍにすぎず一リングセン
サ上のダイオード６０大きさ０．１ ｍｍに灼り、て十
分に小さい。
ダイオード６からの出力中、一定のレベルをこえるもの
があるときはコンパウンドの塗布不良によシ缶論自体Ｃ
）表向が露出しているものと刊の１され、リジェクタが
作動し、不良爺をライン外に排出する。この抽の制−装
置は上記本発明省等の出願ｔ−始め谷裡のものが知られ
ている。
があるときはコンパウンドの塗布不良によシ缶論自体Ｃ
）表向が露出しているものと刊の１され、リジェクタが
作動し、不良爺をライン外に排出する。この抽の制−装
置は上記本発明省等の出願ｔ−始め谷裡のものが知られ
ている。
（発明の効架）
とＶ発明は上記の栴成を有するので、
Ｑ） 缶餘を連続してコンベヤ等で杉迭中にコンパウン
ド塗布の良台を６ＩＩＪ足でき、一時ｆ１ｐ正や凱をＬ
ＱＩ ＩＩＡさぜる（ｔの抜帷な連動を式ぜることをｖ
し外い。このため、猷辻部の輪の移送装置が−（めて聞
Ｊになる。
ド塗布の良台を６ＩＩＪ足でき、一時ｆ１ｐ正や凱をＬ
ＱＩ ＩＩＡさぜる（ｔの抜帷な連動を式ぜることをｖ
し外い。このため、猷辻部の輪の移送装置が−（めて聞
Ｊになる。
■ 帽少結鐵糸によってに金時の轍〇位置ずれも細少し
てリングセンサ上に投影嘔れるので、ｆｉｌ叔−１願も
比較的も、易であり、コンベヤ上の賑と刀イドとのクリ
アランスはｌｍｍＷｍ迄許谷される。
てリングセンサ上に投影嘔れるので、ｆｉｌ叔−１願も
比較的も、易であり、コンベヤ上の賑と刀イドとのクリ
アランスはｌｍｍＷｍ迄許谷される。
■ 蓋全周を同時に検出小米、飯の回転等を繁しないた
め、益の回転不良等による態検出がなく、快出持匿か高
まる 吟の顕著な効果を奥する。
め、益の回転不良等による態検出がなく、快出持匿か高
まる 吟の顕著な効果を奥する。
４、 図１面Ｖ関嗅な％シ：明
嫡１図はこの発明のコンパウンド検査装首の−５に施鉤
の偽凧似念図、鶴２図をよリングセンサＶ干向仏大図、
第３図は愉（ｉｌｃｂｑ出ｋｄｖ配置ヒ明図、 １：浜田ヘッド ２：ランプ ３：対物レンズ ４：リ
レーレンズ ５；リングセンサｂ：ダイオード ７：コ
ンベヤ ８；餘９：フード １０：艮光し １１：受九
話特許出願人 東洋浅−味式会仕 出願人代理人 弁理士 佐 藤 文 め（ｔｌか１名） 第 １ 図 第２図
の偽凧似念図、鶴２図をよリングセンサＶ干向仏大図、
第３図は愉（ｉｌｃｂｑ出ｋｄｖ配置ヒ明図、 １：浜田ヘッド ２：ランプ ３：対物レンズ ４：リ
レーレンズ ５；リングセンサｂ：ダイオード ７：コ
ンベヤ ８；餘９：フード １０：艮光し １１：受九
話特許出願人 東洋浅−味式会仕 出願人代理人 弁理士 佐 藤 文 め（ｔｌか１名） 第 １ 図 第２図
Claims (1)
- 演出ヘッド、その膨曲に配設された投光に検電及び刺査
対象である缶蓋が上記検出ヘッド真下に米たことを検出
する皇位＆憔出しからなυ、上記Ｎ出ヘッドはに６少投
し光学系及びその結隊位敏に自己叙されたリングセンサ
ーｔ−含へ、上真己鉦位置演出識の１ｄ号によシ上記り
ングセンサのタイオードの出力から顔面の良否を検出す
ることを特数とする缶甑のシーリングコンパウンド謙盆
装ｈ
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5623384A JPS60201241A (ja) | 1984-03-26 | 1984-03-26 | 缶蓋のシ−リングコンパウンド検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5623384A JPS60201241A (ja) | 1984-03-26 | 1984-03-26 | 缶蓋のシ−リングコンパウンド検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60201241A true JPS60201241A (ja) | 1985-10-11 |
| JPH0345785B2 JPH0345785B2 (ja) | 1991-07-12 |
Family
ID=13021383
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5623384A Granted JPS60201241A (ja) | 1984-03-26 | 1984-03-26 | 缶蓋のシ−リングコンパウンド検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60201241A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4746212A (en) * | 1985-03-29 | 1988-05-24 | Hajime Industries Ltd. | Bottle cap inspection apparatus |
| FR2630205A1 (fr) * | 1988-04-13 | 1989-10-20 | Telsa Inf | Dispositif et procede de controle des deformations de la levre de sertissage superieure d'une boite de conserve vide |
| US5011289A (en) * | 1988-11-21 | 1991-04-30 | Heuft-Qualiplus B.V. | Method and an apparatus for checking an object for the presence of filling compound |
| US5062711A (en) * | 1988-11-23 | 1991-11-05 | W. R. Grace & Co.-Conn. | Method and apparatus for inspecting workpieces |
| US5127727A (en) * | 1991-05-30 | 1992-07-07 | Northern Telecom Limited | Illumination devices for inspection systems |
| DE102007018870A1 (de) * | 2007-04-19 | 2008-10-23 | Krones Ag | Inspektionsvorrichtung zum Untersuchen von Behältnisverschlüssen |
| WO2020059743A1 (ja) * | 2018-09-20 | 2020-03-26 | 三菱電機株式会社 | 不良検出装置および不良検出方法 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP7161905B2 (ja) | 2018-10-15 | 2022-10-27 | アルテミラ株式会社 | 缶蓋検査機並びにカメラ位置調整方法 |
-
1984
- 1984-03-26 JP JP5623384A patent/JPS60201241A/ja active Granted
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4746212A (en) * | 1985-03-29 | 1988-05-24 | Hajime Industries Ltd. | Bottle cap inspection apparatus |
| FR2630205A1 (fr) * | 1988-04-13 | 1989-10-20 | Telsa Inf | Dispositif et procede de controle des deformations de la levre de sertissage superieure d'une boite de conserve vide |
| US5011289A (en) * | 1988-11-21 | 1991-04-30 | Heuft-Qualiplus B.V. | Method and an apparatus for checking an object for the presence of filling compound |
| US5062711A (en) * | 1988-11-23 | 1991-11-05 | W. R. Grace & Co.-Conn. | Method and apparatus for inspecting workpieces |
| US5127727A (en) * | 1991-05-30 | 1992-07-07 | Northern Telecom Limited | Illumination devices for inspection systems |
| DE102007018870A1 (de) * | 2007-04-19 | 2008-10-23 | Krones Ag | Inspektionsvorrichtung zum Untersuchen von Behältnisverschlüssen |
| US7911602B2 (en) | 2007-04-19 | 2011-03-22 | Krones Ag | Inspection device for inspecting container closures |
| WO2020059743A1 (ja) * | 2018-09-20 | 2020-03-26 | 三菱電機株式会社 | 不良検出装置および不良検出方法 |
| JPWO2020059743A1 (ja) * | 2018-09-20 | 2021-02-18 | 三菱電機株式会社 | 不良検出装置および不良検出方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0345785B2 (ja) | 1991-07-12 |
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