JPS60200219A - 偏向光学系を介して導かれるレーザ光線の変位を補償する装置 - Google Patents
偏向光学系を介して導かれるレーザ光線の変位を補償する装置Info
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- JPS60200219A JPS60200219A JP60032969A JP3296985A JPS60200219A JP S60200219 A JPS60200219 A JP S60200219A JP 60032969 A JP60032969 A JP 60032969A JP 3296985 A JP3296985 A JP 3296985A JP S60200219 A JPS60200219 A JP S60200219A
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- G02B26/08—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、部内光学系を介して導かするレーザ光線の変
位を補償する装置に関する。
位を補償する装置に関する。
従来技術
レーザ光線を導くためには、可撓性のグラスファイバの
形式の光導波体が使用されるか、あるいは偏向光学系(
一般に鏡)を有する伝送系が使用されろ。特に、高出力
C02レーザによる材料加工には、専ら上記後者のタイ
プの伝送系が使用さtている。なぜなら、CO2レーザ
の波長領域においてほとんど損失なく伝送を行う光ファ
イバは従来存在しなかったからである。
形式の光導波体が使用されるか、あるいは偏向光学系(
一般に鏡)を有する伝送系が使用されろ。特に、高出力
C02レーザによる材料加工には、専ら上記後者のタイ
プの伝送系が使用さtている。なぜなら、CO2レーザ
の波長領域においてほとんど損失なく伝送を行う光ファ
イバは従来存在しなかったからである。
公知のレーザ加工機の大多数は、例えば薄板などの平ら
な加工物を切断したシあるいは溶接するために用いられ
る。これらのレーザ加工機においては、レーザは、その
光導波糸および集束糸と共に固定配置されており、加工
物は、レーザ光線を集束させろカッティングヘラPの下
で所望の輪郭に応じて2つの方向に水平に動かされる。
な加工物を切断したシあるいは溶接するために用いられ
る。これらのレーザ加工機においては、レーザは、その
光導波糸および集束糸と共に固定配置されており、加工
物は、レーザ光線を集束させろカッティングヘラPの下
で所望の輪郭に応じて2つの方向に水平に動かされる。
この種の機械は、例えば米国特許第4403134号明
細書に記載されている。
細書に記載されている。
しかしまた、例えばPイツ連邦共和国特許出願公開第3
226448号公報から、従来の工作機械のタイプのレ
ーザ加工装置も公知である。これらのレーザ加工装置に
おいては、カッティングヘッド自身を多数の座標で動か
すことができる。この装置では、レーザ発生器は、本来
の加工機に隣接して設けられており、レーザ発生器の光
線は、可動な機械部分に設けられた鏡を介して加工機の
軸線に沿って導かれる。
226448号公報から、従来の工作機械のタイプのレ
ーザ加工装置も公知である。これらのレーザ加工装置に
おいては、カッティングヘッド自身を多数の座標で動か
すことができる。この装置では、レーザ発生器は、本来
の加工機に隣接して設けられており、レーザ発生器の光
線は、可動な機械部分に設けられた鏡を介して加工機の
軸線に沿って導かれる。
発明が解決しようとする問題点
レーザ発生器が本来の加工機に対して別個に隣接して設
けられている場合、機械の光導波糸ヘレーザ光線を正確
に入力結合するのが困難になる。というのは、例えば基
台部の振動や温度変化等によって生じる発生器と機械と
の間の相対運動によってレーザ光線が変位しまうからで
ある。その際焦点の位置は変化するの〒、加工誤差が生
じる。レーザ光線の変位が大きくなると、レーザ光線が
その集束光学系のフレームに当り、数キロワットの出力
の高出力レーザの場合には集束光学系を必然的に破壊し
てしまう。
けられている場合、機械の光導波糸ヘレーザ光線を正確
に入力結合するのが困難になる。というのは、例えば基
台部の振動や温度変化等によって生じる発生器と機械と
の間の相対運動によってレーザ光線が変位しまうからで
ある。その際焦点の位置は変化するの〒、加工誤差が生
じる。レーザ光線の変位が大きくなると、レーザ光線が
その集束光学系のフレームに当り、数キロワットの出力
の高出力レーザの場合には集束光学系を必然的に破壊し
てしまう。
情報メモリディスクを読出すレーザ装置において、レー
ザ光線の焦点を所定のトラックに対して半径方向に追従
制御する制御装置を設けることは公知である(ドイツ連
邦共和国特許第2630381号明細書)。しかし、非
常に少い出力で動作するそのようなレーザ装置用の制御
装置は、可視的にあらかじめマークさ扛たデータトラッ
クからの焦点のずれを評価する。レーザ加工装置に対し
ては、上記のように動作する制御装置を使用することは
できない。レーザ加工装置においては、例えばドイツ連
邦共和国特許出願公開第313牛556号公報に記載さ
扛ているように、作業工程中での再校正によって焦点位
置の変位ケ修正することで満足していた本発明の課題は
、レーザ発生器と光導波糸との間のインタフェース部分
における相対運動な自動的に修正できろような、偏向光
学系を介して導かれ加工機内に入力結合さnるレーザ光
線に対する制御装置を提供することである。
ザ光線の焦点を所定のトラックに対して半径方向に追従
制御する制御装置を設けることは公知である(ドイツ連
邦共和国特許第2630381号明細書)。しかし、非
常に少い出力で動作するそのようなレーザ装置用の制御
装置は、可視的にあらかじめマークさ扛たデータトラッ
クからの焦点のずれを評価する。レーザ加工装置に対し
ては、上記のように動作する制御装置を使用することは
できない。レーザ加工装置においては、例えばドイツ連
邦共和国特許出願公開第313牛556号公報に記載さ
扛ているように、作業工程中での再校正によって焦点位
置の変位ケ修正することで満足していた本発明の課題は
、レーザ発生器と光導波糸との間のインタフェース部分
における相対運動な自動的に修正できろような、偏向光
学系を介して導かれ加工機内に入力結合さnるレーザ光
線に対する制御装置を提供することである。
問題点を解決するための手段
上記の課題は、本発明によりば次のようにして解決され
る。即ち、少くとも2つの偏向素子の位置ないし角度状
態が制御回路によって制御可能であり、また位置光電検
出器が前記偏向素子に対応して設けられており前記位置
光電検出器には、光の進行方向に見て前記制御可能な偏
向素゛子の前方で出力結合さtた部分光線ビームが照射
され、前記位置光電検出器の出力信号は前記制御回路に
供給されることにより解決される。
る。即ち、少くとも2つの偏向素子の位置ないし角度状
態が制御回路によって制御可能であり、また位置光電検
出器が前記偏向素子に対応して設けられており前記位置
光電検出器には、光の進行方向に見て前記制御可能な偏
向素゛子の前方で出力結合さtた部分光線ビームが照射
され、前記位置光電検出器の出力信号は前記制御回路に
供給されることにより解決される。
本発明は次のような認識に基いている。即ち、例えば加
工機に固定された鏡素子を介しての十分正確な光導波は
、通例、レーザ光線がその位置変位及び角度偏位を修正
して常に同じ位置で機械の光導波糸へ入力結合されれば
、容易に保証されるということである。そうした位置修
正は、光導波系の入力側の前に設けられた制御可能な少
くとも2つの光線偏向素子によって保証される。それら
のうちの第1の光線偏向素子は、光線の半径方向への位
置変位を補償するために用いられ、また第2の光線偏向
素子は、角度誤差の補償のために用いられる。その際第
2の光線偏向素子は、ず扛の補償の際に第1の光線偏向
素子によって発生された角度誤差も付加的に補償する。
工機に固定された鏡素子を介しての十分正確な光導波は
、通例、レーザ光線がその位置変位及び角度偏位を修正
して常に同じ位置で機械の光導波糸へ入力結合されれば
、容易に保証されるということである。そうした位置修
正は、光導波系の入力側の前に設けられた制御可能な少
くとも2つの光線偏向素子によって保証される。それら
のうちの第1の光線偏向素子は、光線の半径方向への位
置変位を補償するために用いられ、また第2の光線偏向
素子は、角度誤差の補償のために用いられる。その際第
2の光線偏向素子は、ず扛の補償の際に第1の光線偏向
素子によって発生された角度誤差も付加的に補償する。
閉ループ制御回路間の望ましくない結合に基く制御振動
を防止するために、制御信号を発生する前に両方のす扛
を分離するのが有利である。これは、第2の光位置検出
器の前方にコリメータを前置接続することにより達成さ
れる。なぜなら、フリメータ装置においては、焦点の位
置は角度誤差のみに影響さt、位置変位の影響は受けな
いからである。
を防止するために、制御信号を発生する前に両方のす扛
を分離するのが有利である。これは、第2の光位置検出
器の前方にコリメータを前置接続することにより達成さ
れる。なぜなら、フリメータ装置においては、焦点の位
置は角度誤差のみに影響さt、位置変位の影響は受けな
いからである。
高出力の作業レーザの光線路に出力結合素子を直接挿入
することには問題があるのマ、作業レーザの光線に対し
て平行かつ非同軸に補助レーザ光線を導き、この補助レ
ーザ光線路に出力結合素子を設けるのが効果的である。
することには問題があるのマ、作業レーザの光線に対し
て平行かつ非同軸に補助レーザ光線を導き、この補助レ
ーザ光線路に出力結合素子を設けるのが効果的である。
この補助レーザは、例えば、作業レーザの不可視の焦点
をマーキングするために用いらnろパイロットレーザで
ある。
をマーキングするために用いらnろパイロットレーザで
ある。
実施例
次に本発明の実施例を図面を用いて詳しく説明する。
第1図に示す原理図において、参照番号lを付した破線
で囲ん〒示す領域は加工または測定機〒あって、光導波
糸を有している。また参照番号2は、機械工とは別個に
設けられた高出力co2レーザ牛のケーシングを示す。
で囲ん〒示す領域は加工または測定機〒あって、光導波
糸を有している。また参照番号2は、機械工とは別個に
設けられた高出力co2レーザ牛のケーシングを示す。
保護管3はケーシング2と機械1を、レーザ光線が機械
lへ入力結合される個所f連結さねている。
lへ入力結合される個所f連結さねている。
レーザ4のケーシン〆2の領域においてレーザ牛の光線
は、方向転換用反射鏡5を介し、さらにケーシング2の
出力側に調節鏡6の形式で設けられた光線偏向器を介し
て導か扛る。光線偏向器6の偏向角度は、鏡面7をその
保持部材8に接続している圧電曲げ素子9によって小さ
い角度範囲で調節できる。第5図に示すように、圧電曲
げ素子9は4つの個別に制御可能な圧電素子で構成され
ている。相互に対向配置さnている素子ないし素子対が
?対方向に制御されると、曲げ素子はノ9イメタル片の
ように屈曲し、鏡面7の法線が、照射される光線に基い
て小さな角度で調節される。調節される角度の値および
方向は、圧電素子に印加さ扛る電圧に依存する。
は、方向転換用反射鏡5を介し、さらにケーシング2の
出力側に調節鏡6の形式で設けられた光線偏向器を介し
て導か扛る。光線偏向器6の偏向角度は、鏡面7をその
保持部材8に接続している圧電曲げ素子9によって小さ
い角度範囲で調節できる。第5図に示すように、圧電曲
げ素子9は4つの個別に制御可能な圧電素子で構成され
ている。相互に対向配置さnている素子ないし素子対が
?対方向に制御されると、曲げ素子はノ9イメタル片の
ように屈曲し、鏡面7の法線が、照射される光線に基い
て小さな角度で調節される。調節される角度の値および
方向は、圧電素子に印加さ扛る電圧に依存する。
反射鏡7で反射したレーザ光線は、保護管3を通って第
2の調節鏡12に照射される。第2の調節鏡12は、測
定ないし加工機1の光導波系の入力側に設けらtている
。第2の調節鏡12は、調節鏡6と同じ構造を有してい
る。
2の調節鏡12に照射される。第2の調節鏡12は、測
定ないし加工機1の光導波系の入力側に設けらtている
。第2の調節鏡12は、調節鏡6と同じ構造を有してい
る。
機械l内の光導波系は、実質的に、機械の個々の調節可
能な軸に対して設けら扛た平面鏡16.17により構成
されている。平面鏡16゜17は、矢印で示すように、
可動の機械部分上に固定されている。18はもう1個の
鏡を表わす。鏡18を介して光線は、第2図に示す、高
さを調節可能なレーザ加工ヘッドに対して垂直方向に向
けられる。
能な軸に対して設けら扛た平面鏡16.17により構成
されている。平面鏡16゜17は、矢印で示すように、
可動の機械部分上に固定されている。18はもう1個の
鏡を表わす。鏡18を介して光線は、第2図に示す、高
さを調節可能なレーザ加工ヘッドに対して垂直方向に向
けられる。
このレーザ加工ヘッド25は、2つの平面鏡21.22
と1つの放物面鏡23を有している。放物面鏡23によ
って光線は、加工すべき加工物2牛上に集束される。鏡
21.22および23は、それらに後続の光学系と共に
、それらに照射される光線の軸線を中心として回転可能
である。鏡22.23の回転によシ、レーザ光線が加工
物24上に照射される角度を自由に設定調整することが
できる。さらにヘッド25全体の回転により、レーザ光
線の偏波方向を設定調整することがfきる。この偏波方
向は、最善の作業結果が得られるように、切削方向に一
致させなければならない。
と1つの放物面鏡23を有している。放物面鏡23によ
って光線は、加工すべき加工物2牛上に集束される。鏡
21.22および23は、それらに後続の光学系と共に
、それらに照射される光線の軸線を中心として回転可能
である。鏡22.23の回転によシ、レーザ光線が加工
物24上に照射される角度を自由に設定調整することが
できる。さらにヘッド25全体の回転により、レーザ光
線の偏波方向を設定調整することがfきる。この偏波方
向は、最善の作業結果が得られるように、切削方向に一
致させなければならない。
冒頭で既に述べたように、基台部における振動や、別個
に設けられたレーザ発生器2と機械lとの間の熱的運動
が原因f、レーザ焦点がその設定位置から変位してしま
うことがある。こうした変位を防止するために、機械l
の光導波系の入力側にビームスシリツタ10が設けられ
ている。ビームスシリツタlOは、レーザ光線の僅かな
部分を位置光電検出器ll上へ反射する。検出器11は
、第4図に示すようないわゆる象限形検出器である。第
4図に示すよう罠。
に設けられたレーザ発生器2と機械lとの間の熱的運動
が原因f、レーザ焦点がその設定位置から変位してしま
うことがある。こうした変位を防止するために、機械l
の光導波系の入力側にビームスシリツタ10が設けられ
ている。ビームスシリツタlOは、レーザ光線の僅かな
部分を位置光電検出器ll上へ反射する。検出器11は
、第4図に示すようないわゆる象限形検出器である。第
4図に示すよう罠。
検出器11の感光面は個々の象限に分割されている。こ
tらの象限は、感光面へ反射された光線部分が正確に中
央に照射される場合にのみ同一信号を送出する。
tらの象限は、感光面へ反射された光線部分が正確に中
央に照射される場合にのみ同一信号を送出する。
検出器11の出力側は、制御回路19と接続さnている
。制御回路19において、例えば2つの演算増幅器20
&、20bにより、対角線上に対向して存在する象限か
らの信号の差が増幅されろ。そのようにして得られた調
節信号によシ、調節鏡6は旋回さする。調節鏡6と機械
1への入力結合点(その近傍に検出器11が設けられて
いる)との間の空間的間隔がかなり大きいので、調節鏡
6の旋回によシ既にレーザ光線の空間的位置を、X方向
およびX方向において小さな角度だけ良好に修正できる
。従って、このように構成された閉ループ制御回路は、
レーザ発生器のケーシング2と機械1との位置変位にか
かわりなくレーザ牛の光線が常に同じ位置f機械l内へ
入力結合されるようにする。
。制御回路19において、例えば2つの演算増幅器20
&、20bにより、対角線上に対向して存在する象限か
らの信号の差が増幅されろ。そのようにして得られた調
節信号によシ、調節鏡6は旋回さする。調節鏡6と機械
1への入力結合点(その近傍に検出器11が設けられて
いる)との間の空間的間隔がかなり大きいので、調節鏡
6の旋回によシ既にレーザ光線の空間的位置を、X方向
およびX方向において小さな角度だけ良好に修正できる
。従って、このように構成された閉ループ制御回路は、
レーザ発生器のケーシング2と機械1との位置変位にか
かわりなくレーザ牛の光線が常に同じ位置f機械l内へ
入力結合されるようにする。
光線の位置変位を既述のように修正する他に、さらに、
光線が機械1内へ入力結合される角度状態を一定に維持
する必要がある。というのは、そうした角度状態の変動
は同様に焦点の位置に影響を及ぼし、しかもその影響は
、入力結合点と焦点との間の光学路が長けtば長いほど
一層強くなるからである。
光線が機械1内へ入力結合される角度状態を一定に維持
する必要がある。というのは、そうした角度状態の変動
は同様に焦点の位置に影響を及ぼし、しかもその影響は
、入力結合点と焦点との間の光学路が長けtば長いほど
一層強くなるからである。
第2の調節鏡とこれに接続、された第2の光電f見て調
節鏡12の型刃に設けらtたビームスグリツタ13から
、レーザ光線の一部分が照射される。検出器15は検出
器11と同じ構造を有し、かつその出力側は、同様にし
て制御回路M n ly 鋺婢代れている。制御1回路
19 (2つの別個の演算増幅器2Qc、20dによっ
て略示さ牡ている)において、調節鏡12による角度θ
、ψ↑のレーザ光線の角度調節を行うための調節信号が
発生さnる。
節鏡12の型刃に設けらtたビームスグリツタ13から
、レーザ光線の一部分が照射される。検出器15は検出
器11と同じ構造を有し、かつその出力側は、同様にし
て制御回路M n ly 鋺婢代れている。制御1回路
19 (2つの別個の演算増幅器2Qc、20dによっ
て略示さ牡ている)において、調節鏡12による角度θ
、ψ↑のレーザ光線の角度調節を行うための調節信号が
発生さnる。
ビームスシリツタ13と象限形検出器15の間にはコリ
メータ14が設けらtてt・る。コリメータ装置は、検
出器15がレーザ光線の角度変化に対してのみ感応する
よう圧する。なぜなら検出器15によって検出さnた焦
点位置%家、コリメータ装置においては、光線がX方向
?jLSしX方向にずtても変化しないからである。
メータ14が設けらtてt・る。コリメータ装置は、検
出器15がレーザ光線の角度変化に対してのみ感応する
よう圧する。なぜなら検出器15によって検出さnた焦
点位置%家、コリメータ装置においては、光線がX方向
?jLSしX方向にずtても変化しないからである。
こうした手段によシ、2つの閉ループ制御回路1O−1
1−20a、20b−6と13−1冬−15−20c、
20a−12は相互に減結合サレ、コレら2つの閉ルー
プ制御回路の干渉に基づく調整振動は前もって防止され
る。
1−20a、20b−6と13−1冬−15−20c、
20a−12は相互に減結合サレ、コレら2つの閉ルー
プ制御回路の干渉に基づく調整振動は前もって防止され
る。
第3図に、本発明の別の実施例を示す。この実施例にお
いても高出力の作業レーザ104力1使用さnている。
いても高出力の作業レーザ104力1使用さnている。
作業レーザ104は、別個のケーシング102内におい
て、測定または加工機101に隣接する図示さ扛ていな
い固有の振動減衰材上に設けらnており、測定または加
工機101の光導波系ヘレーザ光線は入力結合さ扛る。
て、測定または加工機101に隣接する図示さ扛ていな
い固有の振動減衰材上に設けらnており、測定または加
工機101の光導波系ヘレーザ光線は入力結合さ扛る。
2つの制御可能な調節鏡106および112は、それら
を介して導かnる作業レーザ104の光線のずれや角度
変化を修正するために用いらする。しかし、第1図に示
した実施例の場合のように、レーザ光線の位置および角
度状態を監視するために、作業レーザの光線部分をビー
ムスプリッタを介して反射して検出することはしない。
を介して導かnる作業レーザ104の光線のずれや角度
変化を修正するために用いらする。しかし、第1図に示
した実施例の場合のように、レーザ光線の位置および角
度状態を監視するために、作業レーザの光線部分をビー
ムスプリッタを介して反射して検出することはしない。
そうfはなくて、同様にケーシング102内に設けられ
た付加的な・ぞイロットレーザ116が使用さnる。パ
イロットレーザ116の光線は、作業レーザ104の光
線に対して平行にずらされて、同様に調節鏡106およ
び112を介して導かれる。
た付加的な・ぞイロットレーザ116が使用さnる。パ
イロットレーザ116の光線は、作業レーザ104の光
線に対して平行にずらされて、同様に調節鏡106およ
び112を介して導かれる。
調節鏡112の前方の、機械101の光導波糸の入力側
に設けられたビームスプリッタ110は、光線の位置変
位を修正するための調節信号を発生するために、パイロ
ットレーザ116の光線の一部を象限形検出器111へ
反射するロ/ξイロット光線の残りの部分は、調節鏡1
12によって方向変換されて、固定の鏡113へ照射さ
れる。固定の鏡113の後方にはコリメータ114が設
けられており、コリメータ11牛の後方には角度誤差を
検出するための第2の象限形検出器115が設けられて
いる。
に設けられたビームスプリッタ110は、光線の位置変
位を修正するための調節信号を発生するために、パイロ
ットレーザ116の光線の一部を象限形検出器111へ
反射するロ/ξイロット光線の残りの部分は、調節鏡1
12によって方向変換されて、固定の鏡113へ照射さ
れる。固定の鏡113の後方にはコリメータ114が設
けられており、コリメータ11牛の後方には角度誤差を
検出するための第2の象限形検出器115が設けられて
いる。
2つの検出器111,115は、電子制御回路119に
接続されている。この電子制御回路119において検出
器111,115からの信号は、調節鏡の位置決めのた
めの調節電圧を発生するために処理される。第1図およ
び第2図を用いて既に説明したような、機械101内に
おける作業レーザ10牛の光線のさらに先の経過に対す
る光導波系はここfは図示されていなしSo 調節信号を発生するためにパイロットレーザ116を用
いることによシ、作業レーザ104の光線路に伝送光学
系(ビームスシリツタ)を設けずに済む。このことは、
高い出力密度を有する赤外線レーザの場合に特に重要↑
ある。なぜなら、例えばOO2レーザの波長領域におい
て十分良好な透明度を有するビームスプリッタを実現す
ることは困難だからである。
接続されている。この電子制御回路119において検出
器111,115からの信号は、調節鏡の位置決めのた
めの調節電圧を発生するために処理される。第1図およ
び第2図を用いて既に説明したような、機械101内に
おける作業レーザ10牛の光線のさらに先の経過に対す
る光導波系はここfは図示されていなしSo 調節信号を発生するためにパイロットレーザ116を用
いることによシ、作業レーザ104の光線路に伝送光学
系(ビームスシリツタ)を設けずに済む。このことは、
高い出力密度を有する赤外線レーザの場合に特に重要↑
ある。なぜなら、例えばOO2レーザの波長領域におい
て十分良好な透明度を有するビームスプリッタを実現す
ることは困難だからである。
第1図および第3図に示した2つの実施例においては、
作業レーザ光の位置変位は、レーザの近傍に設けられた
調節鏡を介しての角度調節によシ補償される。その際に
生じた角度誤差は別の偶然の角度誤差と共に、測定ない
し加工機の入力側に設けられた第2の調節鏡によって修
正される。しかし、回転動作をする調節鏡6゜106の
代りに、並進運動をする偏向素子を用いて光線の位置変
位を修正することも可能であシ、それは本発明の範囲を
逸離するもの〒はな℃ゝ0 発明の効果 本発明によれば別個に設けられたレーザと、そのレーザ
光線が供給される加工機との間の相互位置設定を正確に
維持することに対する要求は低くなり、従って機械的お
よび熱的な安定化に対する費用を低減できる。このこと
は多数の機械に1つのレーザ発生器から光線を供給する
場合にレーザ光の案内のために安価な装置費用でよ、い
のマ特に有利フある。
作業レーザ光の位置変位は、レーザの近傍に設けられた
調節鏡を介しての角度調節によシ補償される。その際に
生じた角度誤差は別の偶然の角度誤差と共に、測定ない
し加工機の入力側に設けられた第2の調節鏡によって修
正される。しかし、回転動作をする調節鏡6゜106の
代りに、並進運動をする偏向素子を用いて光線の位置変
位を修正することも可能であシ、それは本発明の範囲を
逸離するもの〒はな℃ゝ0 発明の効果 本発明によれば別個に設けられたレーザと、そのレーザ
光線が供給される加工機との間の相互位置設定を正確に
維持することに対する要求は低くなり、従って機械的お
よび熱的な安定化に対する費用を低減できる。このこと
は多数の機械に1つのレーザ発生器から光線を供給する
場合にレーザ光の案内のために安価な装置費用でよ、い
のマ特に有利フある。
第1図は、加工ないし測定機内へ入力結合されるレーザ
光線路を付加して示す本発明の第1実施例の原理図、第
2図は、第1図に示す機械のカッティングヘッド内にお
ける光線経過を示す斜視略図、第3図は、加工ないし測
定機内へ入力結合されるレーザ光線路を付加して示す本
発明の第2実施例の原理図、第牛図は、第1図および第
3図に示す光位置検出器の平面略図、第5図は、第1図
および第3図に示す調節鏡の略図を表わす。
光線路を付加して示す本発明の第1実施例の原理図、第
2図は、第1図に示す機械のカッティングヘッド内にお
ける光線経過を示す斜視略図、第3図は、加工ないし測
定機内へ入力結合されるレーザ光線路を付加して示す本
発明の第2実施例の原理図、第牛図は、第1図および第
3図に示す光位置検出器の平面略図、第5図は、第1図
および第3図に示す調節鏡の略図を表わす。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、少くとも2つの偏向素子(6,12;106.11
2)の位置ないし角度状態が制御回路(19;119)
によって制御可能fあり、また位置光電検出器(11,
,15;Ill、、115)が前記偏向素子に対応して
設けられており、この位置光電検出器には、光の進行方
向に見て前記制御可能な偏向素子の前方で出力結合され
た部分光線ビームが照射され、位置光電検出器の出力信
号は前記制御回路に供給さすることを特徴とする、偏向
光学系ケ介して導かれるレーザ光線の変位を補償する装
置。 2、角度状態を制御可能な2つの偏向素子が設けられて
おり、光の進行方向に見て、第2の偏向素子(12,1
12)の前方に対応して設けられた位置光電検出器(1
5,115)に、フリメータ(14,114)が設けら
れている、特許請求の範囲第1項記載の装置。 3、 偏向素子として鏡が用いられている、特許 □請
求の範囲第1項または第2項記載の装置。 4、部分光線ビームへの出力結合が補助レーザ(116
)の光線路に設けらtたビームスプリッタ(110,1
13)によつ【行われる、特許請求の範囲第1項から第
3項までのいずれかに記載の装置。 5、補助レーザ(116)の光線が、作業レーザ(10
4)の光線に対して平行にずらして導かれる、特許請求
の範囲第4項記載の装置6、測定ないし加工機(1)の
外部に設けられたレーザ発生器(2)から放射されて、
前記測定ないし加工機の調節可能な軸(26,27)に
沿って導かれるレーザ光線の位置監視のために用いられ
る、特許請求の範囲第1項から第5項までのいずれかに
記載の装置。
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DE3406677.2 | 1984-02-24 |
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EP (1) | EP0154866B1 (ja) |
JP (1) | JPS60200219A (ja) |
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